TWI681199B - 單層型檢查對象物的檢查裝置及檢查方法 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種在檢查單層型的檢查對象物的檢查裝置中能夠抑制檢查電路的增加、效率良好地進行檢查的構成。作為感測器面板檢查裝置(1)的檢查對象物的感測器面板(50)是複數個第一電極(51)和複數個第二電極(52)在厚度方向配置於同一層而構成的。第一電極(51)排列佈置成直線狀。各第一電極(51)在與第一電極(51)排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部(3)。第二電極(52)在第一電極(51)排列的方向和沿著長尺狀部(3)的方向排列佈置成矩陣狀。感測器面板檢查裝置(1)具備線或部(39)和電流檢測部(41)。線或部(39)在檢查時對第二電極(52)中在第一電極(51)排列的方向上對應的各第二電極的訊號輸出進行合成。電流檢測部(41)檢測線或部(39)的輸出。
Description
本發明主要有關於被稱為單層型的面板狀的檢查對象物的檢查裝置。
一直以來,作為檢測觸碰位置的觸碰面板裝置的一種,已知有所謂的靜電電容方式的觸碰面板裝置。靜電電容式觸碰面板裝置的感測器面板例如具有在由玻璃等形成的透明的基板上設有第一圖案透明導電層和第二圖案透明導電層的結構。該圖案透明導電層例如可以藉由使用酸化銦錫(Indium Tin Oxide,ITO)進行成膜而形成。
該圖案透明導電層分別作為電極發揮功能。應予說明,以下有時將第一圖案透明導電層和第二圖案透明導電層稱為第一電極和第二電極。
靜電電容方式的觸碰面板的構成有多種,但作為眾所周知的構成,可舉出如下的觸碰面板的構成,即,以直線狀排列佈置M個第一電極,在與其垂直的方向排列佈置N個第二電極,使第一電極與第二電極隔著感測器面板的厚度方向的間隙而對置,且相互垂直交叉。應予說明,在本說明書中,有時將該結構的觸碰面板稱為“層疊型”的觸碰面板。
在層疊型的觸碰面板中,在第一電極與第二電極的交叉部分形成一種電容器,該電容器的靜電電容藉由接近或接觸導電性物體(例如人體)而變化。對於觸碰面板裝置而言,藉由檢測該靜電電容的變化,從而能夠檢測觸
碰到感測器面板的位置。該方式被稱為所謂的投影型靜電電容方式,優點在於能夠高精度地檢測觸碰位置。
對於觸碰面板裝置的製造商而言,為了避免不合格品的混入而確保產品質量,進行感測器面板的檢查是極其重要的。因此,提出了用於檢查上述靜電電容式的觸碰面板的裝置(例如,參照專利文獻1)。
專利文獻1公開了層疊型的靜電電容式觸碰面板的檢查裝置。在該專利文獻1的檢查裝置中,藉由靜電電容檢測電路來監視作為檢查對象的被測定電極與同該被測定電極對置的對置電極中的特定對置電極之間的靜電電容的兩端間的電壓,基於該監視結果判定被測定電極的狀態。專利文獻1中,根據該裝置,藉由測定由被測定電極和對置電極作為一種電容器發揮作用而產生的靜電電容的微小變化,從而能夠在不使觸碰面板的感測器面與檢查裝置直接接觸的情況下判定靜電電容式觸碰面板中的被測定電極的狀態(例如斷開或短路)。
習知技術文獻
專利文獻
專利文獻1:國際公開第2011/121862號小冊子
如以上所說明,在靜電電容式觸碰面板中,以使相互垂直交叉的電極隔著感測器面板的厚度方向的間隙對置的方式進行配置的構成已經成為主流。然而,在該層疊型的構成中,難以在厚度方向進行壓縮,因此應對近年來智能手機或平板電腦等的越來越薄板化、輕量化的要求存在侷限性。
因此,提出了在一個層中配置全部電極(圖案透明導電層)的所謂單層型的觸碰面板。以下,參照第1圖說明該單層型的觸碰面板的例子。
在第1圖所示的觸碰面板裝置的感測器面板50中,以直線狀(在第1圖中為橫向)排列佈置有複數個(M個)第一電極51。各第一電極51在與該第一電極51排列的方向垂直的方向(第1圖的縱向)具有細長的長尺狀部3。另外,在該感測器面板50中,複數個第二電極52在第一電極51排列的方向和沿著上述長尺狀部3的方向排列佈置成矩陣狀(M×N個)。
各第二電極52具備在與第一電極51排列的方向垂直的方向以對應的方式配置的一對(兩個)導電部4。因此,該感測器面板50可以在橫向排列M個、在縱向排列2×N個導電部4。各導電部4構成為矩形狀。
在第一電極51形成有從長尺狀部3的寬度方向一側垂直突出的複數個突出部5,這些突出部5隔開所排列的2×N個導電部4之間。其結果,第一電極51構成為具有複數個凹部的、整體上像梳狀那樣的形狀,成為在一個一個凹部的內側配置導電部4的佈局。各第二電極52具備引出部6,該引出部6將屬於同一第二電極52的上述兩個導電部4此相互電連接,並且在與第一電極51排列的方向垂直的方向(沿著長尺狀部3的方向,縱向),朝向感測器面板50的邊緣部引出。
根據該構成,在第一電極51與第二電極52接近的部分形成一種電容器,該電容器的靜電電容藉由接近或接觸導電性物體(例如人體)而變化。由此,能夠檢測觸碰位置。
在複數個第一電極51分別單獨連接有第一引板配線部。各第一引板配線部7與第一電極51所具有的長尺狀部3的一端連接。另外,在複數個第二
電極52分別單獨連接有第二引板配線部8。各第二引板配線部8與第二電極52所具有的引出部6的一端連接。
由於第1圖所示的感測器面板50不存在第一電極51與第二電極52交叉的部分,所以能夠將兩個電極物理地配置於單一的層,能夠實現觸碰設備的薄板化、構成的簡化。
然而,對於這樣的單層型的觸碰面板而言,上述的檢查的重要性沒有與其它觸碰面板存在不同之處。因此,考慮使用上述的專利文獻1的檢查裝置來檢查第1圖所示的感測器面板50。
然而,單層型的觸碰面板與上述的層疊型的觸碰面板不同,電極的數目大幅增加。具體而言,形成M×N的矩陣時,如果是層疊型的觸碰面板,則存在M個第一電極、N個第二電極,但單層型的感測器面板50的情況下,存在M個第一電極、M×N個第二電極。因此,在單層型的觸碰面板中,為了檢查各電極間的靜電電容而需要複數個電路,會導致檢查裝置的構成複雜化、高成本化。另外,檢查花費較長時間,從縮短節拍時間的觀點考慮,也存在改善的餘地。
本發明是鑒於以上情況而完成的,其目的在於提供在檢查單層型的檢查對象物的檢查裝置中能夠抑制檢查電路的增加、高效地進行檢查的構成。
技術問題如上,接下來說明技術手段和有益效果。
根據本發明的第一觀點,提供以下構成的檢查裝置。即,該檢查裝置檢查將複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向配置在同一層的、如下構成的面板狀的檢查對象物。上述第一導電體並列配置成直線狀。各
上述第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部。上述第二導電體在上述第一導電體排列的方向和沿著上述長尺狀部的方向排列佈置成矩陣狀。並且,該檢查裝置具備或部和檢測部。上述或部在檢查時對上述第二導電體中在上述第一導電體排列的方向上對應的各第二導電體的訊號輸出進行合成。上述檢測部檢測上述或部的輸出。
即,在如上構成的單層型的檢查對象物中,從圖案上的特徵可以認為第二導電體中在第一導電體的排列方向上對應的第二導電體彼此不相互短路。因此,即使在電極的數目達到複數個的單層型的檢查中,藉由像本發明那樣在合成訊號輸出之後進行檢查,從而以少的檢查電路就能夠進行充分的檢查。其結果,能夠實現檢查裝置的顯著的簡化、低成本化,並且能夠提高檢查效率。
在上述的檢查裝置中,較佳為以下構成。即,該檢查裝置具備複數個第一配線體和複數個第二配線體。上述第一配線體能夠與上述第一導電體的每一個電連接。上述第二配線體能夠與上述第二導電體的每一個電連接。在對矩陣狀的上述第二導電體進行分組,以使在上述第一導電體排列的方向上對應的每一個第二導電體為一組時,上述或部是將連接到屬於同一個上述組的各上述第二導電體的上述第二配線體進行線或連接的線或部。
由此,能夠簡單且合理地進行屬於同一組的第二導電體的訊號輸出的合成。
在上述的檢查裝置中,較佳為以下構成。即,該檢查裝置具備複數個感測器部和測定部。上述感測器部在與上述第一導電體排列的方向垂直的方向排列。上述測定部檢測上述感測器部的輸出。各上述感測器部以能夠與複
數個上述第二導電體電容耦合的方式在上述第一導電體排列的方向細長地形成。
由此,不僅能夠檢查檢查對象物的電極圖案的合不合格,還能夠基於感測器部的訊號輸出而容易確定圖案不合格處。另外,由於感測器部構成為細長的形狀,以能夠與配置成矩陣狀的複數個第二導電體電容耦合,所以能夠用簡單構成的感測器部充分進行不合格處的確定。
在上述的檢查裝置中,較佳為以下構成。即,在上述檢查對象物中,各上述第二導電體具備在與上述第一導電體排列的方向垂直的方向上以對應的方式成對配置的導電部。上述感測器部以與上述導電部的成對的一方和另一方分別對應的方式設置。
由此,能夠更詳細地確定圖案不合格處。
根據本發明的第二觀點,提供以下檢查方法。即,該檢查方法檢查將複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向上配置於同一層的、如下構成的面板狀的檢查對象物。上述第一導電體排列佈置成直線狀。各上述第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向上具有細長的長尺狀部。上述第二導電體在上述第一導電體排列的方向和與其垂直的方向排列佈置成矩陣狀。並且,在該檢查方法中,利用或部對上述第二導電體中在上述第一導電體排列的方向上對應的各第二導電體的訊號輸出進行合成之後,檢查合成後的訊號輸出。
即,在如上所述構成的單層型的檢查對象物中,從圖案上的特徵可以認為,第二導電體中在第一導電體排列的方向對應的第二導電體彼此不相互短路。因此,即使在電極的數目達到複數個的單層型的檢查中,藉由像本發
明那樣在合成訊號輸出之後進行檢查,從而以少的檢查電路就能夠進行充分的檢查。其結果,能夠實現檢查裝置的顯著的簡化、低成本化,並且能夠提高檢查效率。
1‧‧‧感測器面板檢查裝置
11‧‧‧訊號部
3‧‧‧長尺狀部
31‧‧‧訊號供給切換部
32‧‧‧檢測切換部
37‧‧‧第一電纜
38‧‧‧第二電纜
39‧‧‧線或部
4‧‧‧導電部
41‧‧‧電流檢測部
45‧‧‧控制器單元
47‧‧‧檢查部
48‧‧‧感測器部
49‧‧‧測定部
5‧‧‧突出部
50‧‧‧感測器面板
51‧‧‧第一電極
52‧‧‧第二電極
6‧‧‧引出部
7‧‧‧第一引板配線部
8‧‧‧第二引板配線部
第1圖是示意地表示單層型觸碰面板裝置的感測器面板上的電極圖案的俯視圖。
第2圖是表示本發明的第一實施方式的感測器面板檢查裝置的整體構成的示意圖。
第3圖是表示感測器面板檢查裝置在檢查感測器面板上的位置(1,4)的情況下的形成電路的圖。
第4圖是簡略地表示形成電路的圖。
第5圖是表示第二實施方式的感測器面板檢查裝置的整體構成的示意圖。
接下來,參照圖式來說明本發明的實施方式。第1圖是示意地表示單層型觸碰面板裝置的感測器面板50上的電極圖案的俯視圖。第2圖是表示本發明的一個實施方式的感測器面板檢查裝置1的整體構成的示意圖。
第2圖所示的第一實施方式的感測器面板檢查裝置1以能夠檢查第1圖所示的感測器面板50的方式構成。第2圖中示出了將第1圖所示的感測器面板50安裝於檢查裝置的狀態。
作為檢查對象物的感測器面板50是觸碰面板裝置的主要構成部件,成為在由玻璃等構成的透明的基板上設置了第一電極(第一導電體)51和第二電極(第二導電體)52的構成。該感測器面板50構成為上述的單層型。
單層型觸碰面板裝置中的感測器面板50的構成已經參照第1圖進行了說明,因此在此進行簡單說明。第一電極51在第1圖的橫向等間隔地排列而設有M個。第二電極52在第1圖的橫向等間隔地排列而設有M個、在縱向等間隔地排列而設有N個。其結果,由第一電極51、第二電極52構成M×N的矩陣。應予說明,在以後的說明中,有時將第一電極51排列的方向稱為x方向,將與其垂直的方向稱為y方向。
由此,藉由第一電極51和第二電極52中的任一個來覆蓋幾乎所有能夠檢測觸碰位置的區域(以下,有時稱為觸碰區域)。
在上述的觸碰區域中,根據配置成矩陣狀的第一電極51與第二電極52的關係設定感測器坐標系。該坐標系可以由上述x方向和y方向的坐標表示。具體而言,將位於第1圖或第2圖中的觸碰區域的左下角的第二電極52的導電部4、4的對應部分設定為(1,1),將位於右上角的對應部分設定為(M,N)。
應予說明,在第1圖或第2圖的感測器面板50中,第一電極51和第二電極52在橫向排列的數目為4個(M=4),第二電極52在縱向排列的數目為4個(N=4),但不限於該例,可以進行適當增減。另外,對於第一電極51和第二電極52的形狀也不受上述限定,可以根據情況變更成各種形狀。
第一電極51和第二電極52藉由使用上述的ITO,利用濺射或蒸鍍等公知的方法形成圖案透明導電層而構成。然而,作為電極的材料,不限於使用ITO,例如可以使用酸化銦鋅(Indium Zinc Oxide,IZO)等各種材料。
以與第一電極51和第二電極52連接的方式在基板上形成第一引板配線部7和第二引板配線部8。該第一引板配線部7和第二引板配線部8形成在避開上述觸碰區域的位置,以能夠將第一電極51和第二電極52與觸碰面板裝置的驅動器電路(省略圖示)電連接的方式構成。
在本實施方式中,第一引板配線部7和第二引板配線部8藉由使用具有導電性的漿料(具體而言為銀漿),利用絲網印刷而形成。然而,不限於該構成,例如可以使用銅漿代替銀漿,或者可以使用例如噴墨印刷等其它印刷方法代替絲網印刷。另外,藉由在將具有導電性的各種金屬膜蒸鍍後進行選擇性的蝕刻,也能夠形成第一引板配線部7和第二引板配線部8的圖案。
第2圖所示的本實施方式的感測器面板檢查裝置1用於檢查感測器面板50上靠近電極的部分的靜電電容是否符合設計,並且檢查是否正確形成第一電極51、第二電極52。該感測器面板檢查裝置1具備第一電纜(第一配線體)37、第二電纜(第二配線體)38、訊號部11、訊號供給切換部31、檢測切換部32、電流檢測部(檢測部)41和控制器單元(控制部)45作為主要的構成。
第一電纜37和第二電纜38由具有導電性的電線構成。將感測器面板50安裝於感測器面板檢查裝置1時,第一電纜37經由感測器面板50的第一引板配線部7與第一電極51電連接,第二電纜38經由感測器面板50的第二引板配線部8與第二電極52電連接。
由於配置有M個第一電極51,所以與此相對應地具備M根第一電纜37。另一方面,由於配置有M×N個第二電極52,所以具備M×N根第二電纜38。
然而,在本實施方式中,在配置有M×N個的第二電極52中,以將在第一電極51排列的方向(x方向)上對應的M個第二電極分為一組的方式設定有N個組。換言之,以y=1的組、y=2的組、‧‧‧的方式將第二電極52在每個y坐標上分組。並且,與屬同一組的第二電極52對應的第二電纜38彼此藉由作為或部的線或部39連接。
訊號部11作為供給預定電壓的交流訊號的交流電源而構成。該訊號部11供給的交流訊號例如可以設定為頻率在10kHz~1000kHz的範圍內且電壓
的有效值在1V~10V的範圍內。訊號部11的一端接地,另一端與訊號供給切換部31電連接。
訊號部11與控制器單元45連接,能夠基於來自控制器單元45的控制指令產生交流訊號。
訊號供給切換部31能夠從複數個第一電極51中選擇全部或一部分而使該選擇的第一電極51與訊號部11電連接。該訊號供給切換部31具有與第一電極51分別對應的複數個開關。應予說明,在圖式中,對各開關標注“1”~“4”的編號,該編號與上述的感測器坐標系中的x坐標對應。各開關以能夠進行開啟/關閉動作的方式構成,並且經由上述第一電纜37和第一引板配線部7與對應的第一電極51電連接。
訊號供給切換部31與控制器單元45連接,能夠基於來自控制器單元45的控制指令分別切換上述開關的開啟/關閉。
在將配置為M×N個的第二電極52像上述那樣進行了分組時,檢測切換部32能夠選擇全部或一部分的組,使該選擇的第二電極52的組與電流檢測部41電連接。該檢測切換部32具有與第二電極52的組分別對應的複數個開關。應予說明,在圖式中,對各開關標注“1”~“4”的編號,該編號與上述的感測器坐標系中的y坐標對應。這些開關以能夠進行開啟/關閉動作的方式構成,並且經由上述第二電纜38和第二引板配線部8與對應的第二電極52的組電連接。
檢測切換部32與訊號供給切換部31同樣地連接到控制器單元45,能夠基於來自控制器單元45的控制指令切換上述開關的開啟/關閉。
電流檢測部41具有以與複數個第二電極52的組分別對應的方式配置了複數個的電流計。各電流計將檢測到的電流的值發送到控制器單元45。
控制器單元45以微電腦的形式構成,具備未圖示的作為運算部的CPU和作為存儲部的ROM、RAM等。並且,在控制器單元45的上述ROM中存儲
有用於使感測器面板檢查裝置1工作的程序。並且,藉由上述硬件與上述軟件協同工作,從而能夠使控制器單元45作為檢查部47發揮功能。
檢查部47在感測器面板50被安置於感測器面板檢查裝置1的狀態下向訊號部11、訊號供給切換部31、檢測切換部32、電流檢測部41發送控制訊號來進行控制,進行感測器面板50的檢查。
接下來,對感測器面板50的檢查進行說明。第3圖是表示感測器面板檢查裝置1檢查感測器面板50上的位置(1,4)時的形成電路的圖。第4圖是簡略地表示形成電路的圖。
首先,參照第4圖對檢查的考慮方式進行說明。本實施方式的感測器面板檢查裝置1能夠測定第一電極51與第二電極52接近部分的靜電電容。另外,感測器面板檢查裝置1成為能夠基於第一電極51和第二電極52的電阻值(或者根據電阻值而變化的值)來檢查該第一電極51和第二電極52的形狀均一性的構成。這與不僅能夠檢查電極的導通/短路,並且也能夠適當檢查電極的粗/細的需求高漲相對應。
以下,對電阻值的檢查進行詳細說明。配置於感測器面板50的第一電極51和第二電極52在M×N個地方相互接近。如上所述,由於在第一電極51與第二電極52之間形成有間隙,所以可以認為在上述的電極接近部分分別形成有電容器。
另外,第一電極51和第二電極52如上所述由ITO導電膜形成,雖然該ITO在與其它的透明電極材料的關係中顯示了優異的低電阻率,但示出相應的電阻值。因此,只要第一電極51和第二電極52的形狀沒有異常(例如上述的電極的粗/細)、均勻地形成圖案,則經由第一電極51、電極接近部分、第二電極52的電路(以下,有時稱為形成電路)的電阻隨著電極接近部分越遠離第一引板配線部7、第二引板配線部8(感測器坐標系的y坐標越大),由於必須藉由
由ITO導電膜形成的較長的路徑,所以會越大。另一方面,由於第一電極51和第二電極52在x方向是相同形狀的圖案單純重複的構成,所以只要均勻地形成圖案,即使電極接近部分的感測器坐標系的x坐標變化,上述的形成電路的電阻也應該相同。在本實施方式的感測器面板檢查裝置1中,基於以上考慮進行感測器面板50的檢查。
以下,以檢查上述的感測器坐標系中的(1,4)的情況為例說明感測器面板檢查裝置1的具體動作。檢查部47從存在的四個上述第一電極51中選擇與檢查對象的x坐標對應的第一電極51,另外,從存在的四個上述第二電極52的組中選擇與檢查對象的y坐標對應的組,以這些電極成為檢查對象的方式控制訊號供給切換部31和檢測切換部32。在這個例子中,檢查部47使訊號供給切換部31中“1”的開關開啟,使檢測切換部32中“4”的開關開啟。
由此,訊號部11和電流檢測部41的電流計藉由第3圖中粗線所表示的電路連接。該粗線所描畫的電路從第一電極51與第一引板配線部7的連接部分經由上述的(1,4)所表示的電極交叉部分到達第二電極52與第二引板配線部8的連接部分。
第4圖示意地表示感測器面板50中的上述形成電路與感測器面板檢查裝置1連接的狀態。流過該電路的交流電流i藉由電流檢測部41的電流計進行測定。如該第4圖所示,與坐標(1,4)對應的電路包括適當大小的電阻和形成在上述電極接近部分的電容器。
應予說明,如上所述,形成電路根據想要檢查的位置的坐標(x,y)而存在各種變化,因此其電阻值也各異。考慮到這種情況,檢查部47預先計算相對於任意坐標(x,y)的形成電路的電阻值並將其存儲於上述RAM等中。
檢查部47在使訊號部11產生交流訊號的狀態下,對電流檢測部41的電流計的輸出進行相位檢波而計算,由此獲得上述的形成電路的靜電電容和
形成電路的電阻值(形成電路測量值)。將這樣獲得的靜電電容與預定的判定基準值進行比較,在允許範圍以外時判定為不合格品。另外,將所獲得的電阻值與預定的判定基準值比較,在允許範圍以外時,判定為第一電極51、第二電極52的形狀存在異常的不合格品。
靜電電容和形成電路的電阻值的獲得以及是否為不合格品的判定是將想要檢查的位置的坐標切換成(1,1),(1,2),‧‧‧,(M-1,N),(M,N),同時對所有坐標進行檢查。由此,感測器面板50的檢查結束。其中,檢查的坐標的順序不受上述限定,可以進行適當改變。
在此,在本實施方式中,如上所述,將配置了M×N個的第二電極52在每個y坐標上進行分組之後,利用線或部39將與同一組的第二電極52連接的第一電纜37相互連接。
其理由如下。即,如果關注以M×N的形式配置成矩陣狀的第二電極52中的y坐標相等的任意兩個電極,該兩個第二電極52、52之間一定是被以劃分第二電極52的整個矩陣配置區域的方式配置為一根以上的第一電極51(長尺狀部3)隔開。因為這樣的電極圖案的特徵,所以很難認為兩個第二電極52之間會發生(直接)短路。
因此,在本實施方式中,認為y坐標相同的第二電極52彼此不會發生相互短路,藉由使用上述的線或部39,能夠實質上共用檢查電路(具體而言是電流檢測部41的電流計)。由此,能夠減少檢查電路(通道)的數目,能夠實現檢查裝置的簡化、低成本化。另外,由於能夠減少檢查次數,所以也能夠實現檢查效率的提高。
以下,對檢查電路的減少效果進行具體說明。即,如第1圖所示,當想要檢查排列佈置M個第一電極、M×N個第二電極的觸碰面板時,通常所需要的檢查電路的數目是加上兩電極的數目而成為M+M×N=M×(1+N)個。另
一方面,如上所述,用線或部39連接時,對於M個第一電極51需要相應數量的檢查電路,另外,對於N個第二電極52的組也需要相應數量的檢查電路,所以需要的電路數目為M+N個。因此,可知由本實施方式的構成帶來的檢查電路減少的效果高,特別是對於M、N為大規模的大型面板而言,效果更明顯。
如以上所說明,本實施方式的感測器面板檢查裝置1檢查單層型觸碰面板裝置的感測器面板50。作為檢查對象物的感測器面板50是複數個第一電極51和複數個第二電極52在厚度方向上配置於同一層而構成的。第一電極51排列佈置成直線狀。各第一電極51在與該第一電極51排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部3。
第二電極52在第一電極51排列的方向和沿著長尺狀部3的方向排列佈置成矩陣狀。感測器面板檢查裝置1具備線或部39和電流檢測部41。線或部39在檢查時合成第二電極52中的在第一電極51排列的方向對應的各第二電極的訊號輸出。電流檢測部41檢測線或部39的輸出。
即,在如上所述構成的單層型觸碰面板的感測器面板50中,從其圖案上的特徵可以認為,第二電極52中在第一電極51排列的方向對應的第二電極彼此不相互短路。因此,即使在電極的數目達到複數個的單層型的檢查中,藉由像本實施方式那樣在對訊號輸出進行合成之後進行檢查,從而能夠以少的檢查電路就進行充分的檢查。其結果,能夠實現感測器面板檢查裝置1的顯著簡化、低成本化,並且能夠提高檢查效率。
另外,本實施方式的感測器面板檢查裝置1具備第一電纜37和第二電纜38。第一電纜37以能夠與各第一電極51電連接的方式具備複數個。第二電極52以能夠與各第二電極52電連接的方式具備複數個。並且,在對矩陣狀的第二電極52進行分組,以使在第一電極51排列的方向上對應的每一個第二電極
為一組時,線或部39對與屬同一組的各第二電極52連接的第二電纜38進行線或連接。
由此,能夠簡單且合理地進行屬同一組的第二電極52的訊號輸出的合成。
接下來,說明第二實施方式的感測器面板檢查裝置1。第5圖是表示第二實施方式的感測器面板檢查裝置1的整體構成的示意圖。應予說明,在本實施方式的說明中,有時在圖式中對與上述的實施方式相同或類似的部件標注相同的符號,省略說明。
第二實施方式的感測器面板檢查裝置1在與第一電極51排列的方向垂直的方向排列有用於從第二電極52的導電部4中取出電訊號的複數個感測器部48。在感測器面板檢查裝置1上安置感測器面板50時,上述感測器部48以相對於該感測器面板50隔著適當間隙對置的方式而配置。在本實施方式中,感測器部48由導電性的板狀部件構成,具有至少能夠與作為第二電極52的構成元件的導電部4的整面對置的大小。
感測器部48與矩陣狀的第二電極52的配置間隔對應地等間隔地排列佈置。進一步而言,感測器以與為了構成第二電極52而成對佈置的各導電部4對應的方式排列佈置。
各感測器部48與用於測定電流的測定部49(具體而言是電流計)電連接。測定部49的測定結果發送到控制器單元45。
藉由以上構成,各感測器部48藉由與導電部4電容耦合而取出電訊號,利用測定部49測定該電訊號,從而能夠在第一電極51、第二電極52中產生斷線等的情況下容易地確定不合格處。
另外,近年來,在液晶的濾色器基板與偏振片之間形成透明電極圖案的所謂On-Cell型的觸碰面板得到實用化,認為將來對於如第1圖所示的單層
型的觸碰面板也會發展On-Cell型。然而,由於On-Cell型的觸碰面板昂貴,所以有即使在檢查中發現不合格的情況下也要不廢棄而修復不合格處來使用的要求。對於這一點,本實施方式的感測器面板檢查裝置1不僅能夠進行感測器面板50的檢查,還能夠容易地確定所發現的不合格處。因此,能夠迅速準確地進行其後的修復工作。
如以上所說明,本實施方式的感測器面板檢查裝置1具有在與第一電極51排列的方向垂直的方向排列的複數個感測器部48。各感測器部48在第一電極51排列的方向細長地形成。
由此,不僅能夠檢查感測器面板50的電極圖案的合格/不合格,而且能夠基於感測器部48的訊號輸出而容易地確定圖案不合格處。另外,由於以能夠與配置成矩陣狀的複數個第二電極52電容耦合的方式細長地構成感測器部48,所以能夠以簡單的構成的感測器部48充分進行不合格處的確定。
另外,在本實施方式的感測器面板檢查裝置1中,各第二電極52具備在與第一電極51排列的方向垂直的方向上以對應的方式成對配置的導電部4、4。感測器部48以與成對的導電部4的一方和另一方分別對應的方式而設置。
由此,能夠更詳細地確定圖案的不合格處。
以上,說明了本發明的較佳的實施方式,但上述的構成例如可以如下變更。
在上述實施方式中,藉由線或部39連接與同一組的第二電極52連接的第二電纜38。然而,不受該連接方式限定,只要實質上能夠“或”同一組的第二電極52的訊號輸出即可。
例如可以由FPGA構成線或部39,藉由控制器單元45的控制,能夠切換有無線或連接地構成。由此,能夠增大感測器面板檢查裝置1的檢查的通用性。
在上述實施方式中,感測器面板50與訊號供給切換部31藉由作為電線的第一電纜37連接,感測器面板50與檢測切換部32藉由作為電線的第二電纜38連接。然而,並不限於電線,例如可以藉由電路基板的圖案配線來進行電連接。
本發明的檢查裝置及檢查方法不限於觸碰面板裝置的感測器面板,可以將所謂的單層型的檢查對象物廣泛地作為檢查對象。
1‧‧‧感測器面板檢查裝置
11‧‧‧訊號部
3‧‧‧長尺狀部
31‧‧‧訊號供給切換部
32‧‧‧檢測切換部
37‧‧‧第一電纜
38‧‧‧第二電纜
39‧‧‧線或部
4‧‧‧導電部
41‧‧‧電流檢測部
45‧‧‧控制器單元
47‧‧‧檢查部
5‧‧‧突出部
50‧‧‧感測器面板
51‧‧‧第一電極
52‧‧‧第二電極
6‧‧‧引出部
7‧‧‧第一引板配線部
8‧‧‧第二引板配線部
Claims (7)
- 一種檢查裝置,其檢查對象物是複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向上配置於同一層的面板狀,該第一導電體排列佈置成直線狀,各該第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部,該第二導電體在該第一導電體排列的方向和沿著該長尺狀部的方向排列佈置成矩陣狀,該檢查對象物的該檢查裝置係包含:或部,在檢查時對該第二導電體中在該第一導電體排列的方向上對應的各該第二導電體的訊號輸出進行合成;以及檢測部,檢測該或部的輸出。
- 如申請專利範圍第1項所述之檢查裝置,其更包含:能夠與該第一導電體的各個電連接的複數個第一配線體;以及能夠與該第二導電體的各個電連接的複數個第二配線體在對矩陣狀的該第二導電體進行分組,以使在該第一導電體排列的方向上對應的各該第二導電體為一組時,該或部是將連接到屬於同一個該組的各該第二導電體的該第二配線體進行線或連接的線或部。
- 如申請專利範圍第1或2項所述之檢查裝置,其更包含:複數個感測器部,在與該第一導電體排列的方向垂直的方向排列;以及測定部,檢測該感測器部的輸出,各該感測器部以能夠與複數個該第二導電體電容耦合的方式細長地形成在該第一導電體排列的方向。
- 如申請專利範圍第3項所述之檢查裝置,其中在該檢查對象物中,各該第二導電體具備在與該第一導電體排列的方向垂直的方向上以對應的方式成對配置的導電部,該感測器部以與該導電部的成對的一方和另一方分別對應的方式設置。
- 一種檢查方法,其包含下列步驟:檢查對象物是複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向上配置於同一層的面板狀,該第一導電體排列佈置成直線狀,各該第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部,該第二導電體在該第一導電體排列的方向和與其垂直的方向排列佈置成矩陣狀,利用或部對該第二導電體中在該第一導電體排列的方向上對應的各該第二導電體的訊號輸出進行合成之後,檢查合成後的訊號輸出。
- 一種檢查裝置,其檢查對象物是複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向上配置於同一層的面板狀,該第一導電體排列佈置成直線狀,各該第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部,該第二導電體在該第一導電體排列的方向和沿著該長尺狀部的方向排列佈置成矩陣狀,以隔開在與該第一導電體排列的方向垂直的方向上排列的該第二導電體之間的方式形成有從該長尺狀部的寬度方向一側突出的多個突出部,該檢查對象物的該檢查裝置係包含: 或部,在檢查時對該第二導電體中在該第一導電體排列的方向上對應的各該第二導電體的訊號輸出進行合成;以及檢測部,檢測該或部的輸出。
- 一種檢查方法,其包含下列步驟:檢查對象物是複數個第一導電體和複數個第二導電體在厚度方向上配置於同一層的面板狀;該第一導電體排列佈置成直線狀;各該第一導電體在與該第一導電體排列的方向垂直的方向具有細長的長尺狀部;該第二導電體在該第一導電體排列的方向和與其垂直的方向排列佈置成矩陣狀;以隔開在與該第一導電體排列的方向垂直的方向上排列的該第二導電體之間的方式形成有從該長尺狀部的寬度方向一側突出的多個突出部;以及利用或部對該第二導電體中在該第一導電體排列的方向上對應的各該第二導電體的訊號輸出進行合成之後,檢查合成後的訊號輸出。
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KR20210144838A (ko) * | 2019-03-29 | 2021-11-30 | 니혼덴산리드가부시키가이샤 | 측정 방법 및 검사 장치 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS559146A (en) * | 1978-07-06 | 1980-01-23 | Pentel Kk | Tablet testing device |
US20060077181A1 (en) * | 2004-10-07 | 2006-04-13 | Alps Electric Co., Ltd. | Capacitive coordinate detection device |
US20090266624A1 (en) * | 2008-04-23 | 2009-10-29 | Fujitsu Component Limited | Coordinate detection apparatus |
JP2012150078A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-09 | Oht Inc | 回路パターン検査装置 |
CN103440066A (zh) * | 2008-04-25 | 2013-12-11 | 苹果公司 | 用于触摸屏的砖块形布局和叠层 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3285568B2 (ja) * | 1999-05-24 | 2002-05-27 | 日本電産リード株式会社 | 基板の配線検査装置および配線検査方法 |
WO2011121862A1 (ja) | 2010-03-29 | 2011-10-06 | 株式会社アイテス | 静電容量式タッチパネルの検査装置、及び検査方法 |
JP5443251B2 (ja) * | 2010-04-21 | 2014-03-19 | 株式会社ジャパンディスプレイ | タッチパネル、および表示装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS559146A (en) * | 1978-07-06 | 1980-01-23 | Pentel Kk | Tablet testing device |
US20060077181A1 (en) * | 2004-10-07 | 2006-04-13 | Alps Electric Co., Ltd. | Capacitive coordinate detection device |
US20090266624A1 (en) * | 2008-04-23 | 2009-10-29 | Fujitsu Component Limited | Coordinate detection apparatus |
CN103440066A (zh) * | 2008-04-25 | 2013-12-11 | 苹果公司 | 用于触摸屏的砖块形布局和叠层 |
JP2012150078A (ja) * | 2011-01-21 | 2012-08-09 | Oht Inc | 回路パターン検査装置 |
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