JP2014202702A - 検査装置及び検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 交流信号の印加と電流信号の測定を複数の配線同時に実施することにより、タッチパネルの位置検出機能を高速で検査することができる検査装置及び検査方法。【解決手段】 複数のｘ軸配線のｘ軸表示配線と複数のｙ軸配線のｙ軸表示配線が直交して配置される検査物の表示配線の検査装置であって、所定の電圧を有する交流信号を供給する第一供給部と、該所定の電圧を有するとともに該交流信号と180度位相の相違する交流信号を供給する第二供給部を有する電源手段と、複数のｘ軸配線と電気的に夫々接続される電流検出部を複数備え、電流検出部からの検出値を基に配線の評価を行う評価手段と、接続手段が行う電源手段とｙ軸配線の接続において、第一供給部と接続されるｙ軸配線の数と第二供給部と接続されるｙ軸配線の数を一定となるよう制御を促すことを特徴とする。【選択図】 図２

Description

本発明は、タッチパネルの電気的特性を検出して、タッチパネルを検査する検査装置に関し、より詳しくは、交流信号の印加と電流信号の測定を複数の配線同時に実施することにより、タッチパネルの位置検出機能を高速で検査することができる検査装置及び検査方法に関する。
尚、本発明は、タッチパネルのように、ｘ軸方向及びｙ軸方向にマトリクス状に配列される配線（又はパタ−ン）を有する検査対象物に対して検査を好適に実施することができ、そのような検査対象物を総称して、本明細書では「タッチパネル」と称する。

従来、タッチパネル（又は、タッチスクリ−ンやタッチ画面）と呼ばれるITO膜上に形成されるｘ軸方向及びｙ軸方向に形成されるマトリクス状に配置される配線を有する検査対象物は、ｘ軸方向とｙ軸方向に配置される夫々の配線に夫々接触子（針状の導通プロ−ブ）を接触させて、各配線の導通と隣接する配線との短絡の検査が実施されていた。

しかしながら、このように接触子を各配線に接触させて検査を実施する方法では、ITO膜に形成される配線と接触子に安定性がなく、酸化膜による接触抵抗の不安定性から電気的特性が正確に測定できない問題を有していた。また、接触子がタッチパネルの表示部位を形成する表示配線と圧接されることになるため、表示配線に接触子が触れることによる打痕が形成される問題を有していた。

一方、特許文献１に開示されるように、組み立てられたタッチパネル上の所定のタッチ入力位置の検出を精度良く行うことができるタッチパネル全体の抵抗値等の電気的特性を正確に検査する検査技術が提案されている。このように、組み立てられたタッチパネルの機能の電気的特性を検査する技術が開示されている。

また、特許文献１に開示される技術以外にも、タッチパネルは、上記の如く、ｘ軸配線とｙ軸配線がクロスするように配置されているため、このｘ軸配線とｙ軸配線がクロスする交点箇所に接触子を接触させ、ｘ軸配線とｙ軸配線から夫々検査信号を供給して、接触子からの検出信号からｘ軸配線とｙ軸配線の良／不良の判定を実施している。

しかしながら、このような検査方法では、ｘ軸配線の総数とｙ軸配線の総数との乗算分だけ検査を実施する必要があり、このため、検査時間が冗長してしまう問題を有していた。

近年では、生産性を向上させる要求が高まっており、タクトタイムを短縮し、短時間で検査を完了させる必要がある。また特に近年では、タッチパネルがマルチタッチできる入力手段として利用されるため、パネル面全体が正確に位置検出機能を有しているか短時間で評価する要求が高まっている。

特開2005−274225号公報

本発明は、このような実情に鑑みてなされたもので交流信号の印加と電流信号の測定を複数の配線同時に実施することにより、タッチパネルの位置検出機能を高速で検査することができる検査装置及び検査方法に関する。

請求項１記載の発明は、複数のｘ軸配線のｘ軸表示配線と複数のｙ軸配線のｙ軸表示配線が直交して配置される検査物の表示配線の検査装置であって、所定の電圧を有する交流信号を供給する第一供給部と、該所定の電圧を有するとともに該交流信号と180度位相の相違する交流信号を供給する第二供給部を有する電源手段と、前記複数のｙ軸配線から所望のｙ軸配線を、前記電源手段の第一供給部及び／又は第二供給部と、電気接続させる接続手段と、前記複数のｘ軸配線と電気的に夫々接続される電流検出部を複数備える電流検出手段と、前記電流検出手段の電流検出部からの検出値を基に配線の評価を行う評価手段と、前記電源手段、前記接続手段、前記電流検出手段と前記評価手段の制御を行い、表示配線の検査を実施する制御手段を有し、前記制御手段は、前記接続手段が行う前記電源手段と前記ｙ軸配線の接続において、前記第一供給部と接続される前記ｙ軸配線の数と前記第二供給部と接続される前記ｙ軸配線の数を一定となるよう制御を促すことを特徴とする。
請求項２記載の発明は、前記制御手段は、前記接続手段の制御が全ての前記ｙ軸配線に対して順番に行われることを特徴とする。
請求項３記載の発明は、前記第一供給部に接続される前記ｙ軸配線と前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線の配置が、所定の順番に設定されていることを特徴とする。
請求項４記載の発明は、前記配置は、前記第一供給部又は前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が、三つ及び／又は二つ連続して並設される配置を有することを特徴とする。
請求項５記載の発明は、前記配置は、前記第一供給部又は前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が、該第二供給部又は該第一供給部に接続される一つの前記ｙ軸配線を挟み込むような配置を有していることを特徴とする。
請求項６記載の発明は、前記第一供給部に接続される前記ｙ軸配線と、前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が同数であることを特徴とする。
請求項７記載の発明は、前記電源手段は、電圧値がゼロである第三供給部を有し、
前記接続手段が、前記第三供給部を所望の前記ｙ軸配線に接続することを特徴とする。
請求項８記載の発明は、前記評価手段は、前記電流検出部からの検出値を基に、検査物の平面度を算出することにより、前記検査物の評価を行うことを特徴とする。
請求項９記載の発明は、複数のｘ軸配線のｘ軸表示配線と複数のｙ軸配線のｙ軸表示配線が直交して配置される検査物の表示配線の検査方法であって、所定のｙ軸配線に第一交流信号を供給するとともに、他の所定のｙ軸配線に該交流信号と大きさが同じで180度位相の相違する第二交流信号を供給するステップと、複数のｘ軸配線から夫々の該ｘ軸配線からの電気信号を検出するステップと、これらのステップが繰り返し行われて、複数の前記電気信号を収集して、これらの電気信号を基に表示配線の評価を行うステップとを有し、前記交流信号を供給するステップにおいて、第一交流信号が供給されるｙ軸配線の数と、第二交流信号が供給されるｙ軸配線の数が一定となるよう制御されていることを特徴とする。

請求項１及び９記載の発明によれば、大きさが同じで180度位相が相違する二つの交流信号を第一供給部と第二供給部によりｙ軸配線へ供給するとともに、この第一供給部と第二供給部に接続されるｙ軸配線の数を一定にして、表示配線の検査が実施されるため、一定出力での表示配線の動作検査を行うことで、検査物の表示配線の特性を基に検査が実施される。このため、タッチパネルの位置検出機能を高速で検査することができる。
請求項２記載の発明によれば、接続手段が全てのｙ軸配線に対して順番に実施されるので、タッチパネルの表示配線全体に対して効率良く検査を実施することができる。
請求項３記載の発明によれば、第一供給部に接続されるｙ軸配線と第二供給部に接続されるｙ軸配線の配置が、所定の順番に設定されているので、供給される交流信号により検査状態を設定して検査することができる。
請求項４記載の発明によれば、第一供給部と第二供給部の配置が、少なくとも第一供給部又は第二供給部に接続されるｙ軸配線が、三つ及び／又は二つ連続して並設されているので、三つに並設される場合には真ん中のｙ軸配線は両隣のｙ軸配線と等電位で検査することができ、二つに並設される場合にはｙ軸配線の一方片側のｙ軸配線は等電位で他方片側のｙ軸配線は非等電位という検査条件を設定することができる。
請求項５記載の発明によれば、第一供給部又は第二供給部に接続されるｙ軸配線に挟まれるように第二供給部又は第一供給部に接続されるｙ軸配線となるよう配置されるので、他の供給部からの交流信号の影響を確認することができる。
請求項６記載の発明によれば、第一供給部に接続されるｙ軸配線と、第二供給部に接続されるｙ軸配線が同数であるので、タッチパネルに供給される交流信号の出力をゼロとして検査することができる。
請求項７記載の発明によれば、電源手段が電圧値がゼロである第三供給部を利用して、ｙ軸配線に供給することになるので、信号印加の無いｙ軸配線を設定して検査を行うことができる。
請求項８記載の発明によれば、評価手段は、電流検出部からの検出値を基に、検査物の平面度を算出することができるので、平面度が突出するような位置情報を把握し、当該位置情報によりタッチパネルの不良部位を特定することができる。

本発明の検査対象となるタッチパネルの一実施形態を示す概略平面図である。 本検査装置の概略構成を示す図である。尚、図２で示されるタッチパネルTPはｘ軸配線が5本形成され、ｙ軸配線が4本形成されている。 本発明にかかる検査手順に関する第一実施例である。 本発明にかかる検査手順に関する第二実施例である。

本発明を実施するための最良の形態を説明する。
本検査装置は、タッチパネルのようなｘ軸方向とｙ軸方向のマトリクス状に配置される複数の配線を有する基板やガラス基板に対して、検査効率を向上させることができる。
このため、まず、本検査装置の検査対象となるタッチパネルについて簡単に説明する。
図１は、本発明の検査対象となるタッチパネルの一実施形態を示す概略平面図である。この図１のタッチパネルTPでは、ガラス基板上にｘ軸方向に配置されるｘ軸配線とｙ軸方向に配置されるｙ軸配線が夫々複数配置されている。この図１では、ｘ軸配線が１４本（符号で示されるLine：Ｘ1〜Line:Ｘe）形成され、ｙ軸配線が８本（符号で示されるLine：Ｙ1〜Line:Ｙ8）形成されている。
タッチパネルTPのｘ軸配線とｙ軸配線は、これらの配線にて画面上のタッチエリア（P1とP2で覆われる部分）を覆うように配置されるため、図１で示す如き１本のｘ軸配線（及びｙ軸配線）が幅広部と幅狭部が繰り返して形成されることにより、タッチエリア全体を覆うように形成される。このように形成されることにより、タッチパネルTPが使用された場合に、タッチされた箇所（接触箇所）がどのｘ軸配線とどのｙ軸配線上に位置するのかを検出することができる。このタッチエリアは、ｘ軸配線のｘ軸表示配線ｘPと、ｙ軸配線のｙ軸表示配線ｙPから形成される。

図１のタッチパネルTPでは、ｘ軸配線とｙ軸配線が、夫々１４本と８本に形成されているが、これは特に限定されるものではなく、タッチパネル製造者によって適宜調整される。また、タッチパネルTPのタッチエリアや後述するタブ配線もその製造者により適宜調整されて形成され、幅広部と幅狭部の長さやその大きさもタッチパネル製造者により適宜調整される。

これらのｘ軸配線とｙ軸配線は、その一端がドライバなどの電子部品と接続が可能なように夫々、ｘ軸タブ配線ｘTとｙ軸タブ配線ｙT（タブ配線部T）が形成されており、他の電子部品との電気的接続部が夫々延設されて形成されている。このタブ配線部Tは、タッチエリアから平面視において離間した場所に形成され、電気的接続ができるようにされている。図１のタッチパネルTPでは、紙面に向かって右側に夫々（ｘ軸配線とｙ軸配線）のタブ配線部Tが形成されている。このタブ配線部Tは、タッチエリア以外の場所に一箇所に並列して形成されることができる。ｘ軸配線は、ｘ軸表示配線ｘPとｘ軸タブ配線ｘTとから形成されてなり、ｙ軸配線は、ｙ軸表示配線ｙPとｙ軸タブ配線ｙTとから形成されている。
なお、本明細書では、説明の都合上、ｘ軸表示配線ｘP及び／又はｙ軸表示配線ｙPを示す場合には表示配線ｗ１とし、ｘ軸タグ配線ｘT及び／又はｙ軸タグ配線ｙTをタグ配線ｗ２とする。

本検査装置１は、電源手段２、接続手段３、電流検出手段４、評価手段５と制御手段６を有している。図２では、本検査装置１の概略構成を示す図である。尚、図２で示されるタッチパネルTPはｘ軸配線が5本形成され、ｙ軸配線が4本形成されている。

電源手段２は、所定の電圧を有する交流信号を供給する第一供給部２１と、この所定の電圧を有するとともに交流信号と180度位相の相違する交流信号を供給する第二供給部２２を有している。第一供給部２１と第二供給部２２は、交流信号を発生させる交流電源を用いることができる。なお、第一供給部２１と第二供給部２２は互いに180度位相の相違する交流信号を発生させるため、出力が合計されるとゼロになる。

第一供給部２１と第二供給部２２は、例えば、二つの交流電源をその間を接地して、二つの交流電源を直列接続し、位相を調整することで設定することができる（図２参照）。この第一供給部２１と第二供給部２２が供給する交流信号は、例えば、周波数が10k〜1000kHzの範囲で、実効値が1〜10Vの範囲の電圧値を有する交流信号に設定することができる。

電源手段２には、図示しない第三供給部（図示せず）を設けることができる。この第三供給部は、出力がゼロである信号を供給するように設定される。この第三供給部は、例えば、第一供給部２１と第二供給部２２の間の接地点される電位を、供給信号として設定することができる。

接続手段３は、複数のｙ軸配線ｙｗから所望のｙ軸配線ｙｗを選出して、電源手段２の第一供給部２１及び／又は第二供給部２２と、選出されたｙ軸配線ｙｗを電気接続させる。この接続手段３は、ｙ軸配線ｙｗのｙ軸タブ配線ｙｔｗと接続され、ｙ軸タブ配線ｙｔｗを経由して、ｙ軸表示配線ｙｔｗに検査信号が供給されることになる。接続手段３は、例えば、ｙ軸タブ配線ｙｔｗに接続する接触子３１と、電源手段２の第一供給部２１と第二供給部２２との電気的接続される切替部３２を利用することができる。接触子３１はｙ軸タブ配線ｙｔｗの数と同数用意される。切替部３２は、例えばON/OFF動作するスイッチ素子を採用することができる。電源手段２が第一供給部２１と第二供給部２２を備える場合には、夫々に接続される二つの切替部３２が設けられ、第一乃至第三供給部の三つの供給部が設定される場合には三つの切替部３２が設けられることになる。この切替部３２の動作により、ｙ軸配線ｙｗと電源手段２のいずれからの供給部が導通接続されることになる。

この接続手段３は、第一供給部２１と接続されるｙ軸配線ｙｗの数と、第二供給部２２と接続されるｙ軸配線ｙｗとが一定となるように制御されている。接続手段３が第一供給部２１に接続されるｙ軸配線の数と第二供給部２２に接続されるｙ軸配線の数を一定とすることによって、ｘ軸配線ｘｗに供給される検査信号の出力は常に一定となる。

接続手段３は、第一供給部２１と第二供給部２２が夫々接続されるｙ時配線ｙｗの数は一定であるが、第一供給部２１と第二供給部２２のｙ軸配線ｙｗは同数であることが好ましい。この場合、ｘ軸配線ｘｗにはｙ軸配線ｙｗからの信号の影響が結果的にゼロとなり、電流検出部４１がｘ軸配線ｘｗから検出する電流もゼロとなる。また、第三供給部を設定する場合も、第三供給部の供給する検査信号はゼロであるため、接続手段３によりｘ軸配線ｘｗに供給される検査信号の出力は一定又はゼロとなる。
なお、接続手段３は、上記のような条件で動作するように制御手段６に制御されることになる。

また、接続手段３は、第一供給部２１に接続されるｙ軸配線ｙｗと第二供給部２２に接続されるｙ軸配線ｙｗの配置が、所定の順番に設定されるように、後述する制御手段６に制御されることもできる。
例えば、接続手段３による配置には、第一供給部２１に接続されるｙ軸配線ｙｗを、三つ及び／又は二つ連続して並設される配置を採用することができる。第一供給部２１に三つの連続したｙ軸配線ｙｗが接続される組み合わせを持つよう制御される。三つ連続で第一又は第二供給部に接続されたｙ軸配線ｙｗでは、その真ん中に位置するｙ軸配線ｙｗは、両隣のｙ軸配線ｙｗと等電位に接続されることになり、このような条件の場合のｘ軸配線ｘｗの影響を電流検出部４１は検出することになる。

また、接続手段３は、第一供給部２１に二つの連続したｙ軸配線ｙｗが接続される組み合わせを持つよう制御されることもできる。また同様に、第二供給部２２と三つ又は二つの連続したｙ軸配線ｙｗが接続される組み合わせを持つように制御される。この場合、第一又は第二供給部に接続される一方側のｙ軸配線ｙｗは、一方隣側のｙ軸配線ｙｗ（第一又は第二供給部に接続される他方側のｙ軸配線ｙｗ）とは等電位となるが、他方隣側のｙ軸配線ｙｗとは相違する電位となり、このような条件の場合のｘ軸配線ｘｗの影響を電流検出部４１は検出することになる。

また更に、接続手段３は、第一供給部２１又は第二供給部２２に接続されるｙ軸配線ｙｗが、第二供給部２２又は第一供給部２１に接続される一つのｙ軸配線ｙｗを挟み込むような配置となるよう制御される。この場合、挟み込まれたｙ軸配線ｙｗは、相違する交流信号に接続されるｙ軸配線ｙｗに挟まれることになり、このような条件の場合のｘ軸配線ｘｗの影響を電流検出部４１は検出することになる。

接続手段３の上記の如き配置は、制御手段６により制御されており、これら配置の組み合わせを順番に処理することで、タッチパネルTPの後述する評価を行うことができるようになる。

電流検出手段４は、複数のｘ軸配線ｘｗと電気的に夫々接続される電流検出部４１を複数備えている。この電流検出手段４は、電流検出部４１を検査対象となるタッチパネルTPのｘ軸配線ｘｗの数だけ準備されることになる。電流検出部４１は、例えば、電流計を採用することができる。電流検出部４１は夫々が後述する評価手段５へ検出結果を送信する。この電流検出部４１は、上記の電源手段２から接続手段３を介してｙ軸配線ｙｗに供給される交流信号による影響をｘ軸配線ｘｗが受け、その影響がｘ軸配線ｘｗの電流として検出することになる。

評価手段５は、電流検出手段４の電流検出部４１からの検出値を基に配線の評価を行う。この評価手段５は、電流検出部４１の検出値の情報をｙ軸配線ｙｗの情報と紐付けして記憶する記憶部（図示せず）を有しており、電流検出部４１の検出結果を記憶する。この評価手段５は、電源手段２から供給される検査信号の状態情報も合わせて記憶される。この検査信号の状態情報とは、例えば、第一供給部２１と接続されるｙ軸配線ｙｗの情報や、第二供給部２２と接続されるｙ軸配線ｙｗの情報、更には第三供給部と接続されるｙ軸配線ｙｗの情報などであり、第一乃至第三供給部が夫々供給した検査信号がどのｙ軸配線ｙｗに供給されたかを把握することができる。

本検査装置１では、ｘ軸配線ｘｗに供給される電源手段２からの供給される検査信号は一定の出力であり、この一定出力の検査信号が繰り返し供給されることになるので、配線が良好に形成されている場合には検出値も一定となる。このため、評価手段５は収集される複数の検出値を基に、一定ではない検出値を測定し、その部位を特定することで、タッチパネルTPの位置検出機能の不良を検出することができる。

評価手段５は、上記の如く、電流検出部４１からの検出値を基に、タッチパネルTPの平面度を算出することにより、タッチパネルTPの配線（特に表示配線）の評価を行うことができる。具体的には、電流検出部４１からの検出値を基にして平均値との差や偏差を求めたり、予め設定される基準値から検出値の差を算出したりすることで、各配線又はｘ軸配線とｙ軸配線の交点毎の出力を算出し、この算出結果を平面度としてプロットする。このとき、良好なタッチパネルTPであれば、各配線又は各交点で均一な出力を有するため、平面度は均一となる。しかしながら、配線に不良が存在すると、不良の影響を受けた出力が検出されることになり、平面度が粗いものとなる。
なお、評価手段５は、上記の如き検査値を基にタッチパネルTPの表示配線の評価を行うが、可視化することで、タッチパネルTPの評価を単純に且つ容易に行うことができるようになる。

制御手段６は、電源手段２、接続手段３、電流検出手段４（電流検出部４１）又は評価手段５の制御を行い、上記の表示配線の検査を実施する。この制御手段６は、接続手段３の制御が全てのｙ軸配線ｙｗに対して順番に行われることによって、タッチパネルTPに形成される全ての表示配線の検査を実施することができる。

本検査装置１が行う接続手段の電源手段の接続動作を説明する。
なお、図３では、電源手段２として第一乃至第三供給部が設定されており、便宜的に第一供給部２１の交流信号を（＋）とし、第二供給部２２の交流信号を（−）とし、第三供給部からの信号を（０）としている。図３（ａ）はタッチパネルTPを模式的に示した図であり、ｘ軸配線ｘｗが8本、ｙ軸配線ｙｗが12本描かれている。（ｂ）は第一乃至第三供給部を用いた検査手順（ステップS1からステップS12）が示されている。この図３の検査方法では、電源手段２と接続されるｙ軸配線ｙｗは6本と設定されるとともに、6本から供給される交流信号は、その合計の出力がゼロとなるよう設定されている。

この検査方法では、第一供給部２１の交流信号（＋）が二つのｙ軸配線ｙｗに供給され、第二供給部２２の交流信号（−）が二つのｙ軸配線ｙｗに供給され、第三供給部の交流信号（０）が二つのｙ軸配線ｙｗに供給されるようになっている。ステップS1では、ｙ軸配線ｙｗ１とｙ軸配線ｙｗ２に第一供給部２１が接続され、ｙ軸配線ｙｗ３とｙ軸配線ｙｗ４に第二供給部２２が接続され、ｙ軸配線ｙｗ５とｙ軸配線ｙｗ６が接続されている。なお、制御手段６は、上記のように接続手段３が動作するように制御信号を送信するとともに、各ｘ軸配線ｘｗに接続される電流検出部４１からの検出信号を評価手段５へ送信するように設定される。

次の検査工程として、ｙ軸配線ｙｗ２とｙ軸配線ｙｗ３に第一供給部２１が接続され、ｙ軸配線ｙｗ４とｙ軸配線ｙｗ５に第二供給部２２が接続され、ｙ軸配線ｙｗ６とｙ軸配線ｙｗ７が接続される。この接続が実施されると、電流検出部４１が夫々の電気信号を検出し、評価手段５へ検出値を送信する。
なお、この検査方法では、交流信号は（＋）（＋）（−）（−）（０）（０）の順番になっているが、上記の如き交流信号の合計がゼロとなれば、特にこの順番に限定されるものではない。

ステップS2の検査工程にて検出値が評価手段５へ送信されると、次のステップS3へ検査工程が移行される。ステップS3では、ｙ軸配線ｙｗ３とｙ軸配線ｙｗ４に第一供給部２１が接続され、ｙ軸配線ｙｗ５とｙ軸配線ｙｗ６に第二供給部２２が接続され、ｙ軸配線ｙｗ７とｙ軸配線ｙｗ８が接続される。この接続が実施されると、電流検出部４１が夫々の電気信号を検出し、評価手段５へ検出値を送信する。
同様の処理が、ステップS4からステップS12まで繰り返し実施され、ｙ軸配線ｙｗ１からｙ軸配線ｙｗ１２まで繰り返し処理が実施されることになる。
そして、ｙ軸配線ｙｗ１からｙ軸配線ｙｗ１２までの接続手段３により切替が行われ、その各検査工程での検出値が評価手段５に送信され、これらの検出値に基づいて評価が実施されることになる。なお、この場合、タッチパネルTPの位置検出機能に問題がなければ、供給される検査信号の合計出力がゼロであるため、電流検出手段４の検出値も一定値（例えば、ゼロ）が検出されることになる。もし、位置検出機能に問題があれば、特異な検出値が測定結果として得られ、その特異な部位をx軸配線とy軸配線からの位置情報により特定されることになる。

本検査装置１が行う接続手段の電源手段の他の接続動作を説明する。
なお、図４では、電源手段２として第一及び第二供給部が設定されており、便宜的に第一供給部２１の交流信号を（＋）とし、第二供給部２２の交流信号を（−）としている。図４（ａ）はタッチパネルTPを模式的に示した図であり、ｘ軸配線ｘｗが8本、ｙ軸配線ｙｗが12本描かれている。（ｂ）は第一及び第二供給部を用いた検査手順（ステップS1からステップS12）が示されている。

この図４の検査方法では、電源手段２と接続されるｙ軸配線ｙｗは9本と設定される。また、この検査方法では、第一供給部２１と接続されるｙ軸配線ｙｗが三つ連続して設定され、第二供給部２２に接続される一つのｙ軸配線ｙｗが設定され、第一供給部２１と接続されるｙ軸配線ｙｗが二つ連続して設定され、第二供給部２２に接続される一つのｙ軸配線ｙｗが設定され、第一供給部２１に接続される一つのｙ軸配線ｙｗが設定され、第二供給部２２に接続される一つのｙ軸配線ｙｗが設定され、この順番を一つの組として実施される。つまり、この検査方法では、交流信号は（＋）（＋）（＋）（−）（＋）（＋）（−）（＋）（−）の順に設定されることになる。なお、制御手段６は、上記のように接続手段３が動作するように制御信号を送信するとともに、各ｘ軸配線ｘｗに接続される電流検出部４１からの検出信号を評価手段５へ送信するように設定される。

次の検査工程（ステップS2）として、ｙ軸配線ｙｗ２からｙ軸配線ｙｗ１０までのｙ軸配線ｙｗに対して、交流信号が（＋）（＋）（＋）（−）（＋）（＋）（−）（＋）（−）の順に設定されるように、制御手段６が接続手段３を動作制御することになる。この接続が実施されると、電流検出部４１が夫々の電気信号を検出し、評価手段５へ検出値を送信する。

ステップS2の検査工程にて検出値が評価手段５へ送信されると、次のステップS3へ検査工程が移行される。このステップS3でも、ｙ軸配線ｙｗ３からｙ軸配線ｙｗ１１に交流信号が（＋）（＋）（＋）（−）（＋）（＋）（−）（＋）（−）の順に設定されるように、制御手段６が接続手段３を動作制御することになる。この接続が実施されると、電流検出部４１が夫々の電気信号を検出し、評価手段５へ検出値を送信する。
同様の処理が、ステップS4からステップS12まで繰り返し実施され、ｙ軸配線ｙｗ１からｙ軸配線ｙｗ１２まで繰り返し処理が実施されることになる。
そして、ｙ軸配線ｙｗ１からｙ軸配線ｙｗ１２までの接続手段３により切替が行われ、その各検査工程での検出値が評価手段５に送信され、これらの検出値に基づいて評価が実施されることになる。なお、この場合も、タッチパネルTPの位置検出機能に問題がなければ、供給される検査信号の合計出力が一定であるため、電流検出手段４の検出値も一定値が検出されることになる。もし、位置検出機能に問題があれば、特異な検出値が測定結果として得られ、その特異な部位をx軸配線とy軸配線からの位置情報により特定されることになる。
以上が本検査装置に関する構成の説明である。

次に、本発明の検査装置の動作について説明する。
本検査装置１にタッチパネルTPが設定されると、ｙ軸配線ｙｗには接続手段３の接触子３１が導通接続され、ｘ軸配線ｘｗには電流検出手段４の電流検出部４１が夫々導通接続される。このとき、制御手段６には、タッチパネルTPの検査に必要な情報が格納されることになる。例えば、タッチパネルTPのｘ／ｙ軸配線の本数・位置情報などや第一供給部や第二供給部が供給する交流信号の出力情報や接続手順などの検査方法が格納される。
また、タッチパネルTPのｘ軸配線ｘｗとｙ軸配線ｙｗが夫々電流検出部４１と接続手段３に接続される。このようにしてタッチパネルTPの検査準備が整えられる。検査準備が整うと検査が開始される。

制御手段６は、接続手段３を動作するための動作信号を送信する。このとき、所望する検査が実施されるよう電源手段２の第一供給部２１と第二供給部２２を、ｙ軸配線ｙｗ１乃至ｙｗ４に夫々所望の組み合わせにより接続される。なお、電源手段３へ接続される組み合わせは、予め検査実施者により設定されることになる（例えば、図３又は図４参照）。

制御手段６が接続手段３に制御信号を送信した後に、ｘ軸配線ｘｗ１乃至ｘｗ５に接続される電流検出部４１が動作するよう促し、電流検出部４１は電流を測定して検出値を評価手段５へ送信する。次に、制御手段６は、次の順番の検査を実施するよう接続手段３へ制御信号を送信し、同様に、電流検出部４１が検出値を評価手段５へ送信する。

この順番が最後まで繰り返されると、評価手段５は収集された検出値を基に検査対象のタッチパネルTPの平面度が算出される。この平面度に応じてタッチパネルTPの位置検出機能が良好であるか、不良箇所が存在するかが評価されることになる。特に、本検査装置や本検査方法では、一方の配線の数の検査手順で検査が可能となるため、従来の位置検査方法では約20秒の検査時間が必要であったものが、約2秒で検査することが可能となり、大幅に検査時間を短縮することが可能となる。

１・・・・検査装置
２・・・・電源手段
３・・・・接続手段
４・・・・電流検出手段
５・・・・評価手段
６・・・・制御手段

Claims (9)

1. 複数のｘ軸配線のｘ軸表示配線と複数のｙ軸配線のｙ軸表示配線が直交して配置される検査物の表示配線の検査装置であって、
   所定の電圧を有する交流信号を供給する第一供給部と、該所定の電圧を有するとともに該交流信号と180度位相の相違する交流信号を供給する第二供給部を有する電源手段と、
   前記複数のｙ軸配線から所望のｙ軸配線を、前記電源手段の第一供給部及び／又は第二供給部と、電気接続させる接続手段と、
   前記複数のｘ軸配線と電気的に夫々接続される電流検出部を複数備える電流検出手段と、
   前記電流検出手段の電流検出部からの検出値を基に配線の評価を行う評価手段と、
   前記電源手段、前記接続手段、前記電流検出手段と前記評価手段の制御を行い、表示配線の検査を実施する制御手段を有し、
   前記制御手段は、
   前記接続手段が行う前記電源手段と前記ｙ軸配線の接続において、前記第一供給部と接続される前記ｙ軸配線の数と前記第二供給部と接続される前記ｙ軸配線の数を一定となるよう制御を促すことを特徴とする検査装置。
2. 前記制御手段は、前記接続手段の制御が全ての前記ｙ軸配線に対して順番に行われることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
3. 前記第一供給部に接続される前記ｙ軸配線と前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線の配置が、所定の順番に設定されていることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
4. 前記配置は、前記第一供給部又は前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が、三つ及び／又は二つ連続して並設される配置を有することを特徴とする請求項３記載の検査装置。
5. 前記配置は、前記第一供給部又は前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が、該第二供給部又は該第一供給部に接続される一つの前記ｙ軸配線を挟み込むような配置を有していることを特徴とする請求項３又は４に記載の検査装置。
6. 前記第一供給部に接続される前記ｙ軸配線と、前記第二供給部に接続される前記ｙ軸配線が同数であることを特徴とする請求項１又は２に記載の検査装置。
7. 前記電源手段は、電圧値がゼロである第三供給部を有し、
   前記接続手段が、前記第三供給部を所望の前記ｙ軸配線に接続することを特徴とする請求項６記載の検査装置。
8. 前記評価手段は、前記電流検出部からの検出値を基に、検査物の平面度を算出することにより、前記検査物の評価を行うことを特徴とする請求項１記載の検査装置。
9. 複数のｘ軸配線のｘ軸表示配線と複数のｙ軸配線のｙ軸表示配線が直交して配置される検査物の表示配線の検査方法であって、
   所定のｙ軸配線に第一交流信号を供給するとともに、他の所定のｙ軸配線に該交流信号と大きさが同じで180度位相の相違する第二交流信号を供給するステップと、
   複数のｘ軸配線から夫々の該ｘ軸配線からの電気信号を検出するステップと、
   これらのステップが繰り返し行われて、複数の前記電気信号を収集して、これらの電気信号を基に表示配線の評価を行うステップとを有し、
   前記交流信号を供給するステップにおいて、第一交流信号が供給されるｙ軸配線の数と、第二交流信号が供給されるｙ軸配線の数が一定となるよう制御されていることを特徴とする検査方法。

Images