JP2023057530A - 測定装置、測定システム及び測定方法 - Google Patents

Abstract

【課題】複数の溶接部の状態を測定するための時間を短くする。
【解決手段】測定装置１は、被溶接物に溶接物２１を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する。この測定装置１は、一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄと、これらの電流の印加により溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する検出回路５０と、を含む。そして測定装置１は、検出回路５０により検出される電圧に基づき複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する処理部を含む。
【選択図】図１

Description

本発明は、溶接部の状態を測定する測定装置、測定システム及び測定方法に関する。

特許文献１には、タブ群と導電部材が溶接された溶接部を備える二次電池に対し、溶接部の抵抗値を計測する装置が開示されている。このような装置は、一方の第一プローブから溶接部に電流を印加して、その溶接部の周囲の互いに異なる部位に接触された一対の第二プローブから、その出力信号を検出することによって溶接部の状態を測定する。

特開２０１９－６０７６９号公報

上述のような測定装置において、溶接部の測定を行うには電圧を検出するための一対のプローブを溶接部の周囲に間隔を空けて配置させることが必要になる。それゆえ、複数の溶接部が存在する場合、一つ目の溶接部の測定を行った後に別の場所に形成された溶接部の測定を行うときには、別の溶接部の周囲に一対のプローブを配置させることが必要になる。

このように、測定対象となる溶接部ごとに一対のプローブの接触位置を変更して測定を行うことが必要となるため、全ての溶接部を測定するには測定時間が長くなってしまうという問題がある。

本発明は、このような問題に着目してなされたものであり、複数の溶接部の状態を測定するための時間を短くすることを目的とする。

本発明のある態様によれば、測定装置は、被溶接物に溶接物を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部の状態を測定する。そして測定装置は、一又は複数の前記溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加回路と、前記電流の印加により前記溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する検出回路と、前記合成された電圧に基づき前記複数の溶接部の状態を示す情報を出力する処理部と、を含む。

本態様によれば、一又は複数の溶接部の各々に排他的に電流が印加されることにより、溶接部の各々に生じる電圧が合成された電圧は、溶接部の各々の状態に応じて異なる値を示す。それゆえ、その合成された電圧の値を検出することにより、電流が印加されている複数の溶接部の状態が不良であるか否かを判別することが可能となる。

したがって、溶接部ごとに電流を印加し、そのたびに溶接部に生じる電圧を検出する場合に比べて、複数の溶接部の状態を測定するための時間を短くすることができる。

図１は、本発明の第一実施形態における測定装置の構成を示す図である。 図２Ａは、測定装置と測定対象物との接続関係を示す図である。 図２Ｂは、測定対象物における複数の溶接部を示す外観図である。 図３は、溶接部の各々に電流が印加された状態において測定対象物に形成される電位分布の一例を示す図である。 図４は、複数の溶接部の不良箇所と検出回路で検出される合成電圧の電圧値との関係の一例を示す図である。 図５は、第一実施形態における一群の溶接部の状態を測定する測定方法の処理手順例を示すフローチャートである。 図６は、第二実施形態における測定装置と測定対象物との接続関係を示す図である。 図７は、測定装置の構成を示すブロック図である。 図８は、一群の溶接部の不良箇所と合成電圧の電圧値との関係の一例を示す図である。 図９は、第三実施形態における測定システムの構成を示す図である。

以下、添付図面を参照しながら本発明の各実施形態について説明する。本明細書においては、全体を通じて、同一の要素には同一の符号を付する。

（第一実施形態）
図１は、第一実施形態における溶接部を測定する測定装置の構成を示すブロック図である。

測定装置１は、測定対象物２に形成された複数の溶接部の状態を測定するための状態測定装置である。測定対象となる複数の溶接部のことを以下では溶接部の一群とも称する。

測定対象物２は、被溶接物に溶接物を複数箇所溶接した接合体である。第一実施形態における測定対象物２は、円筒型の二次電池の電極部品であり、被溶接物が電極部品を構成する電極２２である。

上述した電極部品は、二次電池の外側に配置される溶接物２１を二次電池の電極２２に対して四箇所溶接したときに形成された四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄを有する。溶接物２１の裏面の一部は電極２２の外面に溶接され、溶接物２１の表面は、電源線等を介して、外部の負荷装置、例えば電動モータ又はインバータ等に接続される。

第一実施形態における測定対象物２は、電動自動車に用いられる電極部品であり、溶接部２３ａ乃至２３ｄには、数百Ａ（アンペア）の電流が流れることがある。このような場合、溶接部２３ａ乃至２３ｄの少なくとも一つが確実に溶接されていない不良状態では、過剰に熱が発生したり、電極２２から溶接物２１が外れたりすることが懸念される。

この対策として、測定装置１は、測定対象物２の溶接状態が不良であるか否かを判断するために、溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する。測定装置１は、一又は複数の測定機器によって構成される。

測定装置１は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群のうち一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加（供給）する。この状態において測定装置１は、一又は複数の溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出することによって、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を判定することが可能となる。以下では、溶接部ごとに生じる電圧降下にかかる各電圧が合成された電圧のことを合成電圧と称する。

第一実施形態において、測定装置１は、プローブ群Ｐと、操作部１０と、制御部２０と、測定部３０と、複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄを有する印加部４０と、検出回路５０と、記憶部６０と、表示部７０と、通信部８０と、を備える。

プローブ群Ｐは、複数の一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４と、他の一対の検出プローブＰｄと、を有する。

複数の一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４は、印加回路４０ａ乃至４０ｄの各々の両端に一端がそれぞれ電気的に接続される複数の導線と、その複数の導線の他端がそれぞれ電気的に接続される導電性を有する複数の一対の接触子（第一接触子）とからなる。複数の一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４は、それぞれ複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍における溶接物２１及び電極２２の双方の部位にそれぞれ接触する。

第一実施形態において、四つの一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４は、それぞれ溶接部２３ａ乃至２３ｄに電流を流すために用いられる。例えば、一対の印加プローブＰａ１は、一方の印加プローブの接触部と他方の印加プローブの接触部との間を結ぶ直線が溶接部２３ａを通過するよう配置される。他の一対の印加プローブＰａ２乃至Ｐａ４についても同様である。

一対の検出プローブＰｄは、検出回路５０の両端に接続される導電性を有する他の一対の接触子（第二接触子）である。一対の検出プローブＰｄは、溶接部２３ａ乃至２３ｄごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成される合成電圧を検出するために用いられる。

一対の検出プローブＰｄは、一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４ごとに一対の印加プローブがそれぞれ接触する溶接物２１及び電極２２の部位よりも複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄから離れた溶接物２１及び電極２２の部位にそれぞれ接触する。

例えば、一対の検出プローブＰｄは、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄにより形成される多角形の重心からその多角形の各辺の中点を通過する各線のいずれかの線上に位置する溶接物２１及び電極２２の双方の部位にそれぞれ接触する。

第一実施形態における一対の検出プローブＰｄは、図１に示すように、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１及び電極２２の双方の部位Ｄ１及びＤ２にそれぞれ接触する。具体的には、一対の検出プローブＰｄにおいて、一方の検出プローブが、溶接物２１の表面の中心に位置する部位に接触し、他方の検出プローブが、電極２２の溶接物２１から露出した露出面のうち、溶接物２１における部位の近傍に位置する部位に接触する。

操作部１０は、表示部７０を構成する表示画面の周囲に設けられた複数の押しボタン、表示画面内に配置されるタッチセンサ、又は、キーボード及びマウス等によって構成される。操作部１０は、測定装置１を利用する利用者の入力操作を受け付け、その受け付けた入力操作の内容を示す操作信号を生成する。

利用者による入力操作としては、例えば、電源ボタンを押下する操作、測定条件を設定する操作、測定処理の実行を指示する操作、測定処理の停止を指示する操作等が挙げられる。

操作部１０は、測定条件を設定する入力操作を受け付けると、測定条件を示す操作信号を記憶部６０に記録するために、その操作信号を制御部２０に出力する。また、操作部１０は、測定処理の実行を指示する入力操作を受け付けると、測定処理の実行を示す操作信号を制御部２０に出力する。

制御部２０は、一又は複数のプロセッサによって構成される。プロセッサとしては、ＣＰＵ（Central Processing Unit）又はＭＰＵ（Micro Processor Unit）等が挙げられる。

制御部２０は、測定対象物２の溶接状態を測定するための測定処理を実行する。第一実施形態における制御部２０は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に電流を印加するための印加指令を測定部３０に出す。

測定部３０は、印加回路４０ａ乃至４０ｄからそれぞれ溶接部２３ａ乃至２３ｄに同時に電流を印加して溶接物２１又は電極２２の部位に生じる電圧を測定するよう、印加部４０及び検出回路５０の動作を制御する。

溶接物２１の部位は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍に比べて電圧勾配が緩やかな領域内に配置される。同様に、電極２２の部位も、溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍に比べて電圧勾配が緩やかな領域内に定められる。

なお、全ての電流を溶接物２１から電極２２に向かって印加したときの測定対象物２における等電位線の間隔と、全ての電流を電極２２から溶接物２１に向かって印加したときの測定対象物２における等電位線の間隔とは変わらない。そのため、溶接物２１及び電極２２の部位は、電流の向きが変わっても、それぞれ同じ領域、すなわち電圧勾配が緩やかな領域に定められる。

上記の溶接物２１及び電極２２の部位間には、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成される合成電圧が生じる。例えば、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一部が不良である場合、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して同一方向に電流を印加した状態では、不良である溶接部に生じる電圧降下が大きくなるので、溶接物２１及び電極２２の部位間の合成電圧は大きくなる。

測定部３０は、溶接物２１の部位と電極２２の部位との間の電位差を示す合成電圧を測定する。そして測定部３０は、測定した合成電圧に基づき複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す測定情報を生成する。測定部３０は、測定した合成電圧を示す測定結果を記憶部６０に記録するために、その測定結果を制御部２０に出力する。

例えば、測定部３０は、測定した合成電圧に基づいて、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群の溶接状態が不良であるか否かを判定する。具体例としては、溶接部２３ａ乃至２３ｄの全ての溶接状態が良好であるときの合成電圧の大きさを示す閾値が記憶部６０にあらかじめ記憶されており、測定部３０は、合成電圧の測定値が閾値を超えるか否かを判断する。

そして、合成電圧の測定値が閾値を超える場合には、測定部３０は、全ての溶接部２３ａ乃至２３ｄの一部が不良であると判定し、その旨を示す状態情報を生成する。一方、合成電圧の測定値が閾値を超えない場合には、測定部３０は、全ての溶接部２３ａ乃至２３ｄが良好であると判定し、その旨を示す状態情報を生成する。測定部３０は、生成した状態情報を上記の測定情報として制御部２０に出力する。

第一実施形態において、測定部３０は、測定した合成電圧の大きさを示す電圧情報を測定情報として生成する。そして、この電圧情報を利用者に通知することによって、利用者は、電圧情報に示される合成電圧の測定値が既知の閾値を超えていなければ、溶接状態が良好であると判断することが可能となる。

また、測定部３０は、印加部４０に対し、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群に同時に電流を印加するための印加指令を出すとともに、検出回路５０に対し、合成電圧を検出するための検出指令を出す。

印加部４０は、複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄによって構成される。第一実施形態における印加部４０は、四つの印加回路４０ａ乃至４０ｄを有し、一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４を介して、印加回路４０ａ乃至４０ｄからそれぞれ溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群に同時に電流を印加する。

例えば、印加部４０から溶接部２３ａ乃至２３ｄに印加される電流の各々は、直流の定電流でもよく、交流の定電流であってもよい。ただし、印加電流として交流の定電流を採用する場合は、印加回路４０ａ乃至４０ｄの各々から同位相の電流を出力することが望ましい。

また、溶接部２３ａ乃至２３ｄに印加される電流の各々の大きさは、互いに同等の電流値でもよく、互いに異なる電流値に設定されてもよい。また、印加電流の向きとしては、溶接物２１から電極２２に電流を流す向き、及び電極２２から溶接物２１に電流を流す向きの二つがあり、全ての印加電流が同じ向きでもよく、少なくとも一つの印加電流が異なる向きであってもよい。

複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄは、溶接物２１に形成された溶接部２３ａ乃至２３ｄのうちの一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加する。

第一実施形態において、印加回路４０ａ乃至４０ｄは、溶接部２３ａ乃至２３ｄに対して一対一で対応し、異なる領域に同等の定電流を同一方向に印加する。

例えば、印加回路４０ａは溶接物２１から溶接部２３ａに他の印加電流と同等の直流電流を印加し、印加回路４０ｂは溶接物２１から溶接部２３ｂに他の印加電流と同等の直流電流を印加する。また、印加回路４０ｃは溶接物２１から溶接部２３ｃに他の印加電流と同等の直流電流を印加し、印加回路４０ｄは溶接物２１から溶接部２３ｄに他の印加電流と同様の直流電流を印加する。

検出回路５０は、電流の印加により溶接部２３ａ乃至２３ｄごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された合成電圧を検出する。

第一実施形態において、検出回路５０は、一対の検出プローブＰｄを介して、溶接物２１の部位と電極２２の部位との間の合成電圧を検出する。検出回路５０は、検出した合成電圧の大きさを示す検出信号を測定部３０に出力する。測定部３０において、上述のとおり検出回路５０からの検出信号に基づいて測定情報が生成される。

記憶部６０は、ＲＡＭ及びＲＯＭによって構成される。記憶部６０は、制御部２０により書き込まれた測定情報を記憶する。記憶部６０は、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を判定するための閾値を保持する保持部として用いられてもよい。

また、記憶部６０には、制御部２０が第一実施形態における測定処理を実行するためのプログラムが記憶されている。すなわち、記憶部６０は、測定装置１の各部位を制御するためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体である。

表示部７０は、画像を表示するためのＬＥＤ（Light Emitting Diode）ディスプレイ、液晶パネル又はタッチパネル等によって構成される。表示部７０は、例えば、制御部２０から受け付けた測定情報又は測定条件を表示する。

通信部８０は、測定装置１とは異なる外部装置と通信を行う通信回路によって構成される。例えば、通信部８０は、外部装置からインターネット網又は電話網等のネットワークを通じて無線又は有線により測定条件を受信して外部装置に測定結果を送信することが可能である。

次に、測定対象物２に形成された溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群の溶接状態を測定する手法について図２乃至図４を参照して説明する。

図２Ａは、第一実施形態における測定装置１と測定対象物２との接続構成の一例を示す図である。図２Ｂは、測定対象物２の外観を示す斜視図である。図２Ａ及び図２Ｂに示すように、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群は、電極２２の外面に溶接物２１の裏面を四個所溶接したときに形成される。

図２Ａに示す例では、印加回路４０ａ乃至４０ｄ同士が同等の直流電流を出力する定電流回路によって構成されている。そして四つの印加回路４０ａ乃至４０ｄは、図１に示した一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４を介して、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々の近傍に位置する電極２２の部位から、それぞれ排他的に同一方向の定電流を溶接部２３ａ乃至２３ｄに印加している。

溶接部２３ａに対しては、一対の印加プローブＰａ１の一方が電極２２の露出面のうち溶接部２３ａ近傍の部位に接触されている。そして印加プローブＰａ１の他方は、溶接物２１の表面において電極２２の部位から溶接部２３ａを跨ぐように定められた部位に接触されている。他の溶接部２３ｂ乃至２３ｄについても、同様に溶接物２１及び電極２２の双方の部位がそれぞれの溶接部を跨ぐように定められている。

このような状態において検出回路５０は、図１に示した一対の検出プローブＰｄを介して、溶接部２３ａ乃至２３ｄごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧同士が合成される合成電圧を検出する。

一対の検出プローブＰｄについては、その双方が四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄに対してほぼ同等の距離に位置する部位Ｄ１及びＤ２にそれぞれ接触されている。具体的には、一対の検出プローブＰｄの一方が、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄに対してほぼ同等距離に位置する溶接物２１の部位Ｄ１に接触される。そして一対の検出プローブＰｄの他方が四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄに対してほぼ同等距離に位置する電極２２の部位Ｄ２に接触されている。

次に、溶接物２１及び電極２２の部位Ｄ１及びＤ２について図３を参照して説明する。

図３は、図２Ａに示した印加回路４０ａ乃至４０ｄからそれぞれ溶接物２１の溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍に同一方向の定電流を印加したときの測定対象物２における電位分布のシミュレーション結果を示す図である。

図３の破線に示すように、溶接物２１では、溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍における等電位線の間隔が密であり、電位勾配が急峻である。それゆえ、この領域においては、検出プローブＰｄの一方（図２Ａ参照）の接触点の位置ズレによって合成電圧の検出誤差が大きくなる。

一方、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各中心点から形成される四角形の重心を起点とし、その四角形の各辺の中点を通過する仮想的な各線の線上又はその近傍は、等電位線の間隔が疎であり、電位勾配が緩やかである。それゆえ、仮に、溶接物２１における検出プローブＰｄの接触点が所望の部位Ｄ１から若干ズレたとしても、合成電圧の検出値の変動が抑えられる。したがって、検出回路５０により検出される合成電圧の値を精度よく検出することが可能となる。

また、図３の実線に示すように、電極２２においては、電流経路が溶接物２１よりも広範であり、かつ、溶接物２１の表面から直流電流が印加されていることから、溶接物２１の電位分布に比べて等電位線の間隔が広い。しかしながら、溶接物２１の電位分布と同様、溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍では電位勾配が急であり、上述の仮想的な各線の線上又はその近傍では電位勾配が緩やかである。

このため、溶接物２１から溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に電流が印加される場合、少なくとも検出プローブＰｄの一方を、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１の部位Ｄ１に接触させることが好ましい。

また、電極２２においては、溶接物２１の電位分布に比べて等電位線の間隔が疎であるものの、検出プローブＰｄの他方も、同様に溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する電極２２の部位Ｄ２に接触させることが望ましい。

第一実施形態では、図２Ａの点線及び一点鎖線で示したように一対の検出プローブＰｄの双方は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１及び電極２２の部位Ｄ１及びＤ２にそれぞれ接触する。

なお、第一実施形態では印加回路４０ａ乃至４０ｄを用いて溶接物２１から溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に電流が印加されたが、これに代えて、電極２２から溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に電流が印加されてもよい。

このような場合でも、溶接物２１及び電極２２の双方における等電位線の間隔は変わらない。そのため、合成電圧の検出精度を高める観点では、少なくとも検出プローブＰｄの他方を、上述の仮想的な各線のいずれかの線上又はその近傍に位置する電極２２の部位Ｄ２に接触させることが好ましい。特に、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する電極２２の部位Ｄ２に検出プローブＰｄの他方を接触させることが好ましい。

続いて、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群の溶接状態と検出回路５０で検出される合成電圧の電圧値との関係について図４を参照して説明する。

図４は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群の溶接状態に応じて合成電圧が変化することを説明するための図である。図４には、一例として、印加回路４０ａ乃至４０ｄの各々から１．０［Ａ］の直流電流が溶接物２１の部位に印加された状態での合成電圧の測定結果が示されている。

図４に示すように、全ての溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態が良好である場合には、合成電圧が６．７［μＶ］となり、溶接部２３ａ乃至２３ｄのいずれか一つが不良である場合には、合成電圧が概ね１０［μＶ］となる。

また、二つの溶接部２３ａ及び溶接部２３ｄが不良である場合には、合成電圧が１４．４［μＶ］となり、三つの溶接部２３ａ、溶接部２３ｂ及び溶接部２３ｃが不良である場合には、合成電圧が２０．８［μＶ］となる。

それゆえ、測定部３０において、溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態が全て良好であるか否かを判定する場合は、溶接状態の良否判定するための第一閾値は、測定誤差等を考慮し、例えば７［μＶ］から９［μＶ］までの範囲内の値に定められる。このように第一閾値を設定することにより、制御部２０は、合成電圧の測定値が第一閾値を上回る場合には、溶接部２３ａ乃至２３ｄの全てが良好であると判定することが可能となる。

同様に、二つの溶接部が不良であるか否かを判定するための第二閾値は、例えば１３［μＶ］から１９［μＶ］までの範囲内の値に定められる。そして制御部２０は、合成電圧の測定値が第二閾値を上回る場合には、溶接部２３ａ乃至２３ｄのうちいずれか二つが不良であると判定することが可能となる。さらに、三つの溶接部が不良であるか否かを判定するための第三閾値についても同様に定めることができる。

第一実施形態では、制御部２０が表示部７０に合成電圧の測定値を表示させる。これにより、利用者は、表示部７０に表示された合成電圧の測定値を確認し、その測定値に応じて溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち溶接状態が不良である溶接部の個数を把握することができる。

図４に示した例では印加回路４０ａ乃至４０ｄから同等の電流を同一方向に出力する例について説明したが、第一実施形態はこれに限られるものではない。

例えば、印加回路４０ａ乃至４０ｄは互いに異なる大きさの電流を出力するものであってもよい。具体例としては、印加回路４０ａの出力電流に対して印加回路４０ｂ乃至４０ｄの出力電流がそれぞれ二倍、三倍、四倍の電流値に設定される。これにより、溶接部２３ａのみが不良であるときの合成電圧の電圧値と、溶接部２３ｂのみが不良であるときの合成電圧の電圧値とは、互いに異なる値を示すため、合成電圧の値によって溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち溶接状態が不良である溶接部を特定することが可能となる。

また、印加回路４０ａ乃至４０ｄのうち少なくとも一つの出力電力の向きが他の出力電流の向きとは逆方向となるようにプローブ群Ｐを配置してもよい。例えば、印加回路４０ａ乃至４０ｃの出力電流を溶接物２１から電極２２へ流し、印加回路４０ｄの出力電流を電極２２から溶接物２１へ流してもよい。このような場合でも、溶接部２３ａ乃至２３ｄの少なくとも一つが不良である状態では、合成電圧の電圧値が変化するので、一群の溶接状態の良否を判定することが可能となる。

また、合成電圧については、溶接物２１の厚さが薄くなるにつれて合成電圧の電圧値が高くなる。それゆえ、溶接物２１の厚さが薄くなるほど、溶接状態が不良であるときの合成電圧の電圧値と溶接状態が良好であるときの合成電圧の電圧値との差分が大きくなるので、良否の判定精度を高めることが可能となる。同様に、溶接物２１の電流経路が狭くなるにつれて合成電圧の電圧値が高くなるので、判定精度を高めることが可能となる。

続いて、第一実施形態における測定装置１の動作について図５を参照して説明する。

図５は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの一群の溶接状態を測定するための測定方法の処理手順例を示すフローチャートである。

ステップＳ１において測定装置１は、溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち互いに異なる所定の溶接部ごとに排他的に電流を印加する。

第一実施形態では、印加回路４０ａ乃至４０ｄと溶接部２３ａ乃至２３ｄとは一対一で対応していることから、測定装置１は、一つの溶接部ごとに、その溶接部の近傍に位置する溶接物２１及び電極２２の部位間を結んだ仮想的な直線が互いに交差しないよう、異なる領域に電流を印加する。

ステップＳ２において測定装置１は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に生じる電圧を合成した合成電圧を検出する。

第一実施形態では、測定装置１は、図２Ａに示したように、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１及び電極２２の部位にそれぞれ接触する。そして測定装置１は、溶接物２１及び電極２２の部位間の電圧を合成電圧として検出し、検出した合成電圧の値を取得する。

ステップＳ３において測定装置１は、取得した合成電圧の検出値に基づき溶接部２３ａ乃至２３ｄ一群の溶接状態を示す測定情報を生成する。

第一実施形態では、測定装置１は、検出回路５０の出力信号に基づいて合成電圧の測定値を算出し、算出した測定値を示す測定情報を生成する。そして測定装置１は、生成した測定情報を表示部７０又は通信部８０に出力する。これにより、利用者に測定情報が通知されることになるので、利用者は、測定情報に示された合成電圧の電圧値に応じて一群の溶接状態の良否を把握又は推定することが可能となる。

ステップＳ３の処理が完了すると、図５に示された測定方法の一連の処理が終了する。

次に、第一実施形態の作用効果について説明する。

第一実施形態における測定装置１は、被溶接物に相当する電極２２に対して溶接物２１を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する。この測定装置１は、溶接部２３ａ乃至２３ｄのうちの一の溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄを備える。さらに測定装置１は、印加回路４０ａ乃至４０ｄによる電流の印加により一の溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された合成電圧を検出する検出回路５０と、検出回路５０によって検出される合成電圧に基づき複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する制御部２０と、を含む。

また、第一実施形態における複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する測定方法は、一の溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加ステップ（Ｓ１）と、複数の印加ステップでの電流印加により上述の合成電圧を検出する検出ステップ（Ｓ２）と、を含む。この測定方法は、さらに、検出ステップにより検出された合成電圧に基づき、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する処理ステップ（Ｓ３）を含む。

これらの構成によれば、一つの溶接部ごとに排他的に電流が印加されることによって、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々の電圧降下に伴って生じる合成電圧は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各状態に応じて異なる値を示す。それゆえ、合成電圧を検出することにより、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄが不良であるか否かを判別することが可能となる。

したがって、溶接部２３ａ乃至２３ｄに生じる電圧の各々を、時間をズラして検出する場合に比べて、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定するための時間を短くすることができる。

また、第一実施形態における測定装置１は、印加回路４０ａ乃至４０ｄの各々の両端に接続される複数の一対の接触子を構成する印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４と、検出回路５０の両端に接続される他の一対の接触子を構成する検出プローブＰｄと、を含む。

上述した複数の一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４は、それぞれ複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄ近傍における溶接物２１の部位、又は電極２２の部位に接触する。そして、他の一対の検出プローブＰｄは、複数の一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４がそれぞれ接触する溶接物２１の部位又は電極２２の部位よりも複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄから離れた溶接物２１の部位Ｄ１又は電極２２の部位Ｄ２に接触する。

具体的には、一対の検出プローブＰｄのうち一方は、溶接部ごとに設けられた溶接物２１の部位に比べて複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄから離れた溶接物２１の部位Ｄ１に接触してもよい。あるいは、他方が、溶接部ごとに設けられた溶接物２１の部位に比べて複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄから離れた電極２２の部位Ｄ２に接触してもよい。

溶接物２１及び電極２２においては、部位が複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄから離れるにつれて部位近傍の電位勾配は緩やかになる。このため、上記構成によれば、一対の検出プローブＰｄの少なくとも一方を、電位勾配の緩やかな溶接物２１又は電極２２の部位Ｄ１又はＤ２に接触させる際に、検出プローブＰｄの位置ズレに起因する合成電圧の測定誤差を抑制することができる。

また、第一実施形態における一対の検出プローブＰｄは、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄによって形成される多角形の重心を起点としてその多角形の各辺の中点を通過する各線のいずれかの線上又はその近傍に位置する溶接物２１の部位Ｄ１又は電極２２の部位Ｄ２に接触する。

図３に示すように、溶接部２３ａ乃至２３ｄによって形成される四角形の重心からその各辺の中点を通過する線上は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの近傍に比べて電位勾配が緩やかである。例えば、三角形及び五角形などの多角形を形成する溶接部を有する測定対象物２であっても同様であると考えられる。

したがって、上記構成によれば、多角形の重心から各辺の中点を通過する各線のいずれかの線上又はその近傍に一対の検出プローブＰｄが配置されるので、一対の検出プローブＰｄの位置ズレに伴う測定精度の低下を抑制することができる。

また、第一実施形態における一対の検出プローブＰｄは、図２Ａの点線及び一点鎖線で示したように、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１及び電極２２の部位Ｄ１及びＤ２に接触する。具体的には、検出プローブＰｄの一方は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１の部位Ｄ１に接触し、検出プローブＰｄの他方は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する電極２２の部位Ｄ２に接触する。

図３に示すように、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に対して略等距離に位置する溶接物２１及び電極２２の部位Ｄ１及びＤ２は、電位勾配が緩やかな領域である。そのため、上記構成によれば、溶接物２１及び電極２２の部位間の合成電圧を精度よく測定することができる。

また、測定装置１は、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を判定するための閾値を保持する保持部として記憶部６０を備えるものであってもよい。この場合、制御部２０は、検出回路５０により検出される合成電圧が上記閾値を超える場合には、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報として、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態が良好である旨を示す状態情報を生成する。

この構成によれば、測定装置１において、制御部２０が検出回路５０により検出される合成電圧に基づいて複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態が良好であるか否かを判定する。これにより、利用者による溶接状態の良否判断が不要になるので、利用者は容易に溶接状態を把握することが可能となる。

また、第一実施形態における複数の印加回路４０ａ乃至４０ｄは、それぞれ異なる溶接部、具体的には当該印加回路に対応する溶接部に対し、同じ方向に電流を印加する。

この構成によれば、溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち溶接状態が不良である溶接部の個数が増えるにつれて合成電圧が単調に上昇する。そのため、溶接状態が不良である溶接部の個数を容易に判別することができる。

上記実施形態では印加回路４０ａ乃至４０ｄがそれぞれ異なる一つの溶接部に対して電流を印加する例について説明したが、印加回路４０ａ乃至４０ｄがそれぞれ異なる複数の溶接部に電流を印加してもよい。そのため、以下では、印加部４０から複数の溶接部ごとに電流を印加する実施形態について説明する。

（第二実施形態）
図６は、第二実施形態における溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する手法を説明するための図である。第一実施形態では、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄに電流を印加するための印加回路の個数が第一実施形態とは異なる。

第一実施形態における測定装置１Ａは、図１に示した測定装置１を構成する四つの印加回路４０ａ乃至４０ｄに代えて、二つの印加回路４０ａ及び４０ｂを備えている。検出回路５０については、第一実施形態と同じ構成であるため、同一符号を付して重複する説明は省略する。

二つの印加回路４０ａ及び４０ｂは、それぞれ異なる同数の溶接部に対して電流を印加する。第一実施形態では、印加回路４０ａは、二つの溶接部２３ａ及び２３ｂに電流を印加するとともに、印加回路４０ｂは、溶接部２３ａ及び２３ｂとは異なる二つの溶接部２３ｃ及び２３ｄに電流を印加する。

印加回路４０ａの両端に接続される一対の印加プローブＰａ１に関しては、一方の印加プローブは、溶接部２３ｂ近傍に位置する溶接物２１の部位に接触し、他方の印加プローブは、他の溶接部２３ａ近傍に位置する電極２２の部位に接触する。

印加回路４０ｂの両端に接続される一対の印加プローブＰａ２に関しては、一方の印加プローブは、溶接部２３ｃの近傍に位置する溶接物２１の部位に接触し、他方の印加プローブは、他の溶接部２３ｄの近傍に位置する電極２２の部位に接触する。

このように、一対の印加プローブＰａ１又はＰａ２の一方は、２Ｎ個（第一実施形態ではＮ＝２）の溶接部２３ａ乃至２３ｄにおける最初のＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ｂ又は２３ｃの近傍に位置する部位に接触する。また、一対の印加プローブＰａ１又はＰａ２の他方は、２Ｎ個の溶接部における残りのＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ａ又は２３ｄの近傍に位置する部位に接触する。なお、第一実施形態ではＮ＝２としたが、Ｎは３以上の自然数であってもよい。

図７は、第一実施形態における測定装置１Ａの機能構成を示すブロック図である。

測定装置１Ａは、測定器１１０及び測定器１２０を備える。測定器１１０及び測定器１２０は、例えば、テスター又は抵抗計などによって構成される。

測定器１１０は、図６に示した印加回路４０ａに加え、測定部３０Ａ及び本体部１００Ａを備えている。測定器１２０は、図６に示した印加回路４０ｂ及び検出回路５０に加え、測定部３０Ｂ、温度センサ９０及び本体部１００Ｂを備えている。

測定部３０Ａ及び測定部３０Ｂは、図１に示した測定部３０と同じ機能を有する。本体部１００Ａ及び本体部１００Ｂの各々は、第一実施形態では、図１に示した操作部１０、制御部２０、記憶部６０、表示部７０及び通信部８０によって構成される。

温度センサ９０は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの少なくとも一つの溶接部の温度又は溶接部の周囲温度を検出する。温度センサ９０は、検出した温度の大きさを示す温度信号を生成して測定部３０Ｂに出力する。

測定部３０Ｂは、第一実施形態と同様、検出回路５０から出力される検出信号に基づいて溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に生じる電圧降下を示す各電圧の合成電圧を測定する。さらに第一実施形態では、測定部３０Ｂは、温度センサ９０からの温度信号に応じて合成電圧の測定値を補正する補正処理を実行する。

具体的には、溶接部の温度と合成電圧の補正量との関係を示す補正テーブルが本体部１００Ｂの記憶部６０にあらかじめ記憶されている。補正テーブルにおいては、例えば、溶接部の温度が２５℃であるときの補正量がゼロに設定されている。また、溶接部の温度が２５℃よりも上昇するにつれて補正量がゼロよりも小さくなり、溶接部の温度が２５℃よりも低下するにつれて補正量がゼロよりも大きくなる。

そして、測定部３０Ｂは、温度センサ９０から温度信号を取得すると、記憶部６０に記憶された補正テーブルを参照し、その温度信号が示す温度に対応する補正量を取得する。測定部３０Ｂは、取得した補正量を、検出信号に示された合成電圧の電圧値に加算することによって合成電圧の測定値を算出する。

このように、測定部３０Ｂは、温度センサ９０からの温度信号に応じて合成電圧の測定値を補正する。測定部３０Ｂは、補正した合成電圧の測定値を本体部１００Ｂの制御部２０に出力する。

なお、溶接部２３ａ乃至２３ｄの温度変動が小さい場合には、上述の補正処理を省略してもよい。また、この補正処理は、第一実施形態における測定部３０において実行されてもよい。

続いて、第一実施形態における溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態と合成電圧の電圧値との関係について図８を参照して説明する。

図８は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態に応じて合成電圧が変化することを説明するための図である。図８には、印加回路４０ａ及び印加回路４０ｂの各々から２．０［Ａ］の直流電流が溶接物２１に印加された状態での合成電圧の測定結果が例示されている。

図８に示すように、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄ全ての溶接状態が良好である場合には、合成電圧が１０．１［μＶ］となる。そして溶接部２３ａのみが不良である場合には、合成電圧が１１．３［μＶ］となり、溶接部２３ｂのみが不良である場合には、合成電圧が１６．６［μＶ］となる。また、二つの溶接部２３ｂ及び溶接部２３ｄが共に不良である場合には、合成電圧が１８．３［μＶ］となる。

このため、測定部３０Ｂにおいて、溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態が全て良好であるか否かを判定する場合には、判定するために用いられる第一閾値は、測定誤差等を考慮し、例えば１０．５［μＶ］に定められる。このように第一閾値を設定することにより、制御部２０は、合成電圧の測定値が第一閾値を上回る場合には、溶接部２３ａ乃至２３ｄの全てが良好であると判定することが可能となる。

同様に、二つの溶接部２３ｂ及び２３ｄが不良であるか否かを判定するための第二閾値は、例えば１７［μＶ］に定められる。そして制御部２０は、合成電圧の測定値が第二閾値を上回る場合には、溶接部２３ｂ及び２３ｄが不良であると判定することができる。

このように、実験又はシミュレーションを通じて、溶接部２３ａ乃至２３ｄにおいて起こり得る全ての不良状態での合成電圧の電圧値を取得して各閾値を定めることにより、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々の溶接状態の良否判定を行うことが可能となる。

なお、第二実施形態では印加回路４０ａ及び４０ｂの各々から二つの溶接部ごとに排他的に電流を印加する例について説明したが、第二実施形態はこれに限られるものではない。例えば、一つの印加回路の出力電流によって各溶接部に電圧降下が生じていずれかの溶接部の不良時に合成電圧が変化すればよいので、このような条件を満たすようであれば、一つの印加回路から三つ以上の溶接部に電流が印加されるように構成してもよい。

次に、第二実施形態の作用効果について説明する。

第二実施形態における測定装置１Ａは、被溶接物に相当する電極２２に対して溶接物２１を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する。そして測定装置１は、溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち、これらの個数よりも少ない複数（例えば二つ）の溶接部ごとに、排他的に電流を印加する複数の印加回路４０ａ及び４０ｂを備える。さらに測定装置１Ａは、印加回路４０ａ及び４０ｂによる電流の印加により複数の溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された合成電圧を検出する検出回路５０と、検出回路により検出される合成電圧に基づき複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する制御部２０と、を含む。

また、第二実施形態における複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する測定方法は、複数（例えば二つ）の溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加ステップ（Ｓ１）と、複数の印加ステップでの電流印加により上述の合成電圧を検出する検出ステップ（Ｓ２）と、を含む。この測定方法は、さらに、検出ステップにより検出された合成電圧に基づき、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する処理ステップ（Ｓ３）を含む。

これらの構成によれば、複数の溶接部ごとに排他的に電流が印加されるので、各溶接部の電圧降下に伴って生じる合成電圧は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各状態に応じて異なる値を示す。それゆえ、合成電圧を検出することによって複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄが不良であるか否かを判別することが可能となる。

したがって、溶接部２３ａ乃至２３ｄに生じる電圧の各々を、時間をズラして検出する場合に比べて、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの測定時間を短くすることができる。

また、第二実施形態における測定装置１Ａは、印加回路４０ａ及び４０ｂの各々の両端に接続される複数の一対の接触子を構成する印加プローブＰａ１及びＰａ２と、検出回路５０の両端に接続される他の一対の接触子を構成する検出プローブＰｄと、を含む。

そして、複数の一対の印加プローブＰａ１及びＰａ２の各一方は、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち２Ｎ個（Ｎは２以上の自然数）の溶接部における最初のＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部の近傍に位置する部位に接触する。また、複数の一対の印加プローブＰａ１及びＰａ２の各他方は、２Ｎ個の溶接部における残りのＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部の近傍に位置する部位に接触する。

複数の一対の印加プローブＰａ１及びＰａ２の各一方に接触される部位は、溶接物２１及び電極２２のうち一方の部位であり、複数の一対の印加プローブＰａ１及びＰａ２の各他方に接触される部位は、溶接物２１及び電極２２のうち他方の部位であることが望ましい。この構成により、測定精度を高めることができる。

具体的には、一対の印加プローブＰａ１の一方の印加プローブは、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄのうち最初の２個の溶接部２３ｂ及び２３ｃの中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ｂの近傍に位置する溶接物２１の部位に接触する。そして一対の印加プローブＰａ２の一方の印加プローブは、最初の２個の溶接部２３ｂ及び２３ｃの中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ｃの近傍に位置する溶接物２１の部位に接触する。

また、一対の印加プローブＰａ１の他方の印加プローブは、残りの２個の溶接部２３ａ及び２３ｄの中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ａの近傍に位置する電極２２の部位に接触し、一対の印加プローブＰａ２の他方の印加プローブは、残りの２個の溶接部２３ａ及び２３ｄの中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部２３ｄの近傍に位置する電極２２の部位に接触する。

この構成によれば、第一実施形態と同様、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に電流が流れるので、図８に示すように、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々の溶接状態に応じて合成電圧の電圧値が変化する。このため、検出回路５０により検出される合成電圧の大きさに応じて、溶接部２３ａ乃至２３ｄの溶接状態の良否を判別することができる。

その他、第二実施形態において、第一実施形態と同様の構成については第一実施形態と同等の作用効果を奏することができる。

（第三実施形態）
図９は、第三実施形態における測定対象物２の溶接部２３ａ乃至２３ｄを測定する測定システム１Ｂの構成を示す図である。

測定システム１Ｂは、プローブ群Ｐと、複数の電流印加装置１１ａ乃至１１ｄと、電圧検出装置１２と、情報処理装置１３と、を備える。第三実施形態のプローブ群Ｐについては、第一実施形態と同様、四つの一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４がそれぞれ四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄを跨ぐように配置されている。そして一対の検出プローブＰｄは、それぞれ溶接物２１及び電極２２における溶接部２３ａ乃至２３ｄ間の略等距離の部位Ｄ１及びＤ２に接触するよう配置される。

複数の電流印加装置１１ａ乃至１１ｄは、一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加する装置であり、それぞれ第一実施形態における印加回路４０ａ乃至４０ｄとして機能する。

第三実施形態では、電流印加装置１１ａは、一対の印加プローブＰａ１を通じて溶接部２３ａに電流を印加し、電流印加装置１１ｂは、一対の印加プローブＰａ２を通じて溶接部２３ｂに電流を印加する。さらに、電流印加装置１１ｃは、一対の印加プローブＰａ３を通じて溶接部２３ｃに電流を印加し、電流印加装置１１ｄは、一対の印加プローブＰａ４を通じて溶接部２３ｄに電流を印加する。

このように、四つの電流印加装置１１ａ乃至１１ｄは、それぞれ、四つの一対の印加プローブＰａ１乃至Ｐａ４を介して排他的に溶接部２３ａ乃至２３ｄに電流を印加する。

電圧検出装置１２は、電流印加装置１１ａ乃至１１ｄによる電流の印加により溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する装置であり、第一実施形態における検出回路５０として機能する。第三実施形態の電圧検出装置１２は、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々に印加された電流により一対の検出プローブＰｄ間に生じる合成電圧を検出する。

情報処理装置１３は、電圧検出装置１２により検出される合成電圧に基づき複数の溶接部の状態を示す情報を出力する装置であり、第一実施形態における測定部３０として機能する。第三実施形態の情報処理装置１３は、第一実施形態と同様、検出した合成電圧に基づいて、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す測定情報を生成する。そして情報処理装置１３は、その測定情報を表示したり、外部に送信したり、記憶したりする。

第三実施形態では、四つの電流印加装置１１ａ乃至１１ｄが四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄに排他的に電流を印加する例について説明したが、これに限られるものではない。例えば、電流印加装置１１ａ乃至１１ｄのうち少なくとも一つの電流印加装置が複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄに排他的に電流を印加する構成であってもよい。

また、第三実施形態では、電流印加装置１１ａ乃至１１ｄが、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄのうちの一つの溶接部ごとに排他的に電流を印加することにより、溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す測定情報を生成する例について説明したが、これに限られるものではない。例えば、第二実施形態のように、複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加して溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す測定情報を生成してもよい。

次に、第三実施形態の作用効果について説明する。

第三実施形態における測定システム１Ｂは、被溶接物に相当する電極２２に対して溶接物２１を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定する。測定システム１Ｂは、四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄのうちの一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流を印加する一又は複数の電流印加装置１１ａ乃至１１ｄと、一又は複数の電流印加装置１１ａ乃至１１ｄによる電流の印加により溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する電圧検出装置１２と、を備える。さらに測定システム１Ｂは、溶接部ごとに生じる電圧同士が合成された電圧に基づき複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を示す情報を出力する情報処理装置１３を備える。

この構成によれば、第一実施形態及び第二実施形態と同様、一又は複数の溶接部ごとに排他的に電流が印加されることによって、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各々の電圧降下に伴って生じる合成電圧が、溶接部２３ａ乃至２３ｄの各状態に応じて異なる値を示す。それゆえ、合成電圧を検出することにより、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄが不良であるか否かを判別することが可能となる。

したがって、溶接部２３ａ乃至２３ｄに生じる電圧の各々を、時間をズラして検出する場合に比べて、複数の溶接部２３ａ乃至２３ｄの状態を測定するための時間を短くすることができる。

以上、本発明の実施形態について説明したが、上記実施形態は本発明の適用例の一部を示したに過ぎず、本発明の技術的範囲を上記実施形態の具体的構成に限定する趣旨ではない。

例えば、上記実施形態では四つの溶接部２３ａ乃至２３ｄを測定対象としたが、測定対象は、二つ、三つ、五つ以上の溶接部であってもよい。

例えば、上記実施形態では溶接物２１の形状は十字形状であったが、円状、楕円状、又は矩形状であってもよい。

また、上記実施形態における測定装置１及び１Ａには操作部１０、表示部７０及び通信部８０が設けられているが、測定装置１及び１Ａから操作部１０、表示部７０及び通信部８０の少なくとも一つの機能を省略してもよい。

１、１Ａ 測定装置
１Ｂ 測定システム
１１ａ～１１ｄ 電流印加装置
１２ 電圧検出装置
１３ 情報処理装置
３０、３０Ａ、３０Ｂ 測定部（処理部）
４０ａ～４０ｄ 印加回路
５０ 検出回路
Ｐa１～Ｐa４ 一対の印加プローブ（印加回路の一対の接触子）
Ｐｄ 一対の検出プローブ（検出回路の一対の接触子）

Claims (9)

1. 被溶接物に溶接物を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部の状態を測定する測定装置であって、
   一又は複数の前記溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加回路と、
   前記電流の印加により前記溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する検出回路と、
   前記合成された電圧に基づき前記複数の溶接部の状態を示す情報を出力する処理部と、
   を含む測定装置。
2. 請求項１に記載の測定装置であって、
   前記印加回路の各々の両端に接続される複数の一対の接触子と、
   前記検出回路の両端に接続される他の一対の接触子と、を含み、
   前記複数の一対の接触子は、それぞれ前記複数の溶接部の近傍における前記溶接物又は前記被溶接物の部位に接触し、
   前記他の一対の接触子は、前記複数の一対の接触子がそれぞれ接触する前記部位よりも前記複数の溶接部から離れた前記溶接物又は前記被溶接物の部位に接触する、
   測定装置。
3. 請求項２に記載の測定装置であって、
   前記他の一対の接触子は、前記複数の溶接部によって形成される多角形の重心から前記多角形の各辺の中点を通過する各線のいずれかの線上又はその近傍に位置する前記溶接物又は前記被溶接物の部位に接触する、
   測定装置。
4. 請求項２又は請求項３に記載の測定装置であって、
   前記他の一対の接触子は、前記溶接部の各々に対して略等距離に位置する前記溶接物及び前記被溶接物の部位に接触する、
   測定装置。
5. 請求項２又は請求項３に記載の測定装置であって、
   前記複数の一対の接触子の各一方は、前記複数の溶接部のうち２Ｎ個（Ｎは２以上の自然数）の溶接部における最初のＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部の近傍に位置する部位に接触し、前記複数の一対の接触子の各他方は、前記２Ｎ個の溶接部における残りのＮ個の中から排他的に選択されるいずれか一つの溶接部の近傍に位置する部位に接触する、
   測定装置。
6. 請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の測定装置であって、
   前記状態を判定するための閾値を保持する保持部をさらに含み、
   前記処理部は、前記検出回路により検出される電圧が前記閾値を超える場合には、前記情報として前記複数の溶接部の状態が良好である旨を示す状態情報を生成する、
   測定装置。
7. 請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の測定装置であって、
   前記複数の印加回路は、それぞれ、異なる前記一又は複数の溶接部に対し、同じ方向に前記電流を印加する、
   測定装置。
8. 被溶接物に溶接物を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部の状態を測定する測定方法であって、
   一又は複数の前記溶接部ごとに排他的に電流を印加する複数の印加ステップと、
   前記電流の印加により前記一又は複数の溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する検出ステップと、
   前記合成された電圧に基づき前記複数の溶接部の状態を示す情報を出力する処理ステップと、
   を含む測定方法。
9. 被溶接物に溶接物を複数個所溶接したときに形成される複数の溶接部の状態を測定する測定システムであって、
   一又は複数の前記溶接部ごとに排他的に電流を印加する一又は複数の電流印加装置と、
   前記電流の印加により前記溶接部ごとに生じる電圧降下の大きさを示す電圧が合成された電圧を検出する電圧検出装置と、
   前記合成された電圧に基づき前記複数の溶接部の状態を示す情報を出力する情報処理装置と、
   を備える測定システム。

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