TW201410806A - 包含矽氧烷化合物之抗反射塗敷組合物及使用其之抗反射膜 - Google Patents
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Abstract
本發明提供一種抗反射塗敷組合物,其能夠形成具有低折射率的塗敷層;以及提供一種利用該抗反射塗敷組合物製備的抗反射膜及該抗反射膜的製備方法。更具體地,本發明涉及一種使反射率最小化的抗反射膜及該抗反射膜的製備方法,其是使用具有氟烷基的有機矽烷與烷氧基矽烷進行反應以合成出矽氧烷化合物,並以該矽氧烷化合物作為黏結劑包含的抗反射塗敷組合物來形成抗反射膜的塗敷層。由於本發明利用該塗敷組合物製備的抗反射膜具有優異的抗反射效果,因此有望適用於觸控膜等多種顯示器設備。
Description
本發明係關於一種抗反射塗敷組合物,其能夠形成具有低折射率的塗敷層;以及提供一種利用該抗反射塗敷組合物製備的抗反射膜及該抗反射膜的製備方法。更具體地,本發明特別係有關於一種使反射率最小化的抗反射膜及該抗反射膜的製備方法,其是使用具有氟烷基的有機矽烷(organosilane)與烷氧基矽烷進行反應以合成出矽氧烷化合物,並以該矽氧烷化合物作為黏結劑包含的抗反射塗敷組合物來形成該抗反射膜的塗敷層。
在顯示器暴露於各種照明及自然光等外光的情況下,隨著受反射光的影響,在顯示器內部形成的圖像無法清晰地被眼睛識別出,而使得對比度下降,進而導致很難看清楚畫面,引起眼睛疲勞及頭痛。基於這些理由對抗反射的要求也變得越高。
以形成有單層抗反射膜的基板而言,如果將基板的折射率定義為ns、將單層抗反射膜的折射率定義為n,則出現抗反射膜的反射率R的最小值為(ns-n2)2/(ns+n2)2。由於在n2=ns的情況下出現該反射率R的最小值,因此單層抗反射膜的折射率n越接近(ns)1/2,反射率越降低。在考慮到通常於透明導電性膜中用作基板的聚對苯二甲酸乙二醇酯的折射率ns約為1.54,為了降低抗反射膜的反射率R,抗反射膜的折射率n較佳盡可能接近約1.22~1.24的範圍。
習知的抗反射膜普遍是在透光性基材上設置抗反射層,例如,在日本公開專利第2002-200690號中公開一種從透光性基材的一側依次層壓硬塗層、厚度為1微米(μm)以下之高折射率層以及低折射率層的三
層結構之該抗反射層。
並且,為了簡化製備程序,在日本公開專利第2000-233467號中公開一種省略該抗反射層中的高折射率層,而層壓硬塗層與低折射率層的兩層結構之抗反射層。
另一方面,隨著作為低折射材料的中空形二氧化矽粒子的開發,對折射率非常低的低折射塗敷材料進行了研究。但是,像已有的利用丙烯酸樹脂開發的低折射塗敷材料,折射率未達到抗反射的上述理論上之最佳值的1.22~1.24。為了改善這些問題,試圖添加含氟的高分子物質來降低折射率,但是這導致產生塗敷面之表面能量升高的問題。並且,由於中空形二氧化矽粒子與丙烯酸樹脂之間的相容性並不好,因而為了改善中空形二氧化矽粒子與丙烯酸樹脂之間的相容性,則需要對二氧化矽粒子進行表面處理來使得其能夠與丙烯酸樹脂結合。
韓國公開專利第2004-0070225號中公開了一種包含對烷氧基矽烷進行水解及縮聚處理而得到的二氧化矽前體的塗敷組合物。但是,以縮合矽烷(silane)化合物來進行熱固化的方法而言,由於低溫及短時間的熱固化無法達到充分的固化,因而為了具有充分的固化密度,則需要高溫或需要進行長時間的固化,因此存在著使得製備費用增加、生產性降低的問題,並且還損傷塑膠膜基材或者硬質塗敷層,尤其會使得硬塗層因加熱產生裂縫的問題。
並且,雖然也考慮利用含氟的烷氧基矽烷來製備低折射率之塗敷層的技術,但是在這種情況下,存在著有可能發生相分離等的問題,因而在適用該技術的方面會具有限制。
因此,正在不斷的要求下而開發出具有低折射率的二氧化矽塗敷層無相分離地形成於基材的方法。
對此,本發明人為了開發出在基材上塗敷有低折射率之二氧化矽塗敷層的抗反射膜而研究、努力的結果,發現了在使用將具有氟烷基之有機矽烷與烷氧基矽烷進行反應所合成的矽氧烷化合物作為黏結劑而
包含的塗敷液的情況下,既不出現相分離,也包括低折射率的塗敷層,從而能夠製備出透射率在96%以上、光反射比(luminous reflectance)在1.0%以下的抗反射膜,由此完成了本發明。
因此,本發明的目的在於提供一種使得反射率最小化且提高光透射率的抗反射膜及該抗反射膜的製備方法,其是將特定矽氧烷化合物作為黏結劑而包含的塗敷液來形成該抗反射層。
為了達成上述目的,本發明提供一種抗反射塗敷組合物,包括:一黏結劑,由下述化學式1表示的矽烷化合物與下述化學式2表示的有機矽烷化合物藉由聚合反應而形成的;以及複數個中空二氧化矽粒子,R1 xSi(OR2)4-x…………………[化學式1],在化學式1中,R1是碳原子數為1~10的烷基、碳原子數為6~10的芳基或碳原子數為3~10的烯基,且R2是碳原子數為1~6的烷基,x是0x<4的整數;以及R3 ySi(OR4)4-y…………………[化學式2],在化學式2中,R3是碳原子數1~12的氟烷基,R4是碳原子數1~6的烷基,y是0x<4的整數。
並且,本發明提供一種抗反射膜,包括低折射率層,在基材表面塗敷該塗敷組合物而形成的。
並且,本發明提供一種抗反射膜的製備方法,包括以下步驟:由上述化學式1表示的矽烷化合物與由上述化學式2表示的有機矽烷化合物進行聚合以製備出黏結劑;製備包含於中空二氧化矽粒子添加該黏結劑及該酸催化劑來進行表面處理的中空二氧化矽粒子的塗敷組合物;在基材膜的至少一面塗敷該塗敷組合物;以及對已塗敷的該塗敷組合物進行熱處理。
如果使用本發明的抗反射塗敷組合物,則即能夠解決習知的相分離問題,也能夠形成具有低折射率的反射塗敷層。
利用這樣的反射塗敷組合物的抗反射膜具有優異的抗反射效果,並期待著能夠適用於觸控膜等多種顯示器設備。
以下參照附圖詳細說明的實施例將會使得本發明的優點和特徵以及實現這些優點和特徵的方法更加明確。但是,本發明不局限於以下所公開的實施例,本發明能夠以互不相同的各種方式實施,本實施例只用於使本發明的公開內容更加完整,有助於本發明所屬技術領域的普通技術人員能夠完整地理解本發明之範疇,本發明是根據申請專利範圍而定義。
以下,將對本發明實施例中的抗反射塗敷組合物、抗反射膜及該抗反射膜的製備方法進行詳細說明。
本發明的抗反射塗敷組合物,包括:一黏結劑,由下述化學式1表示的矽烷化合物與由下述化學式2表示的有機矽烷化合物進行聚合而形成的;以及複數個中空二氧化矽粒子,R1 xSi(OR2)4-x…………………[化學式1],在化學式1中,R1是碳原子數為1~10的烷基、碳原子數為6~10的芳基或碳原子數為3~10的烯基,且R2是碳原子數為1~6的烷基,x是0x<4的整數;以及R3 ySi(OR4)4-y…………………[化學式2],在化學式2中,R3是碳原子數為1~12的氟烷基,R4是碳原子數為1~6的烷基,y是0x<4的整數。
以上述化學式1表示的矽烷化合物而言,如果x為0時,表示為具有四個烷氧基的四官能烷氧基矽烷;如果x為1時,則表示為具有三個烷氧基的三官能烷氧基矽烷;以及如果x為2時,則表示為具有2個烷氧基的雙官能烷氧基矽烷。如果x為3時,則僅具有一個作為官能團的
烷氧基,因而與由上述化學式2表示的有機矽烷化合物發生縮合反應,故不是較佳的。
上述化學式1中,碳原子數為6~10的芳基是包括苯基或甲苯基等,碳原子數為3~10的烯基則有烯丙基、1-丙烯基、1-丁烯基、2-丁烯基或者3-丁烯基等。
該矽烷化合物可使用選自四甲氧基矽烷(Tetramethoxysilane)、四乙氧基矽烷(Tetraethoxysilane)、四丙氧基矽烷(Tetrapropoxysilane)、四異丙氧基矽烷(Tetraisopropoxysilane)、四正丁氧基矽烷(Tetra-n-butoxysilane)、四仲丁氧基矽烷(Tetra-sec-butoxysilane)、四叔丁氧基矽烷(Tetra-tert-butoxysilane)、三甲氧基矽烷(Trimethoxysilane)、三乙氧基矽烷(Triethoxysilane)、甲基三甲氧基矽烷(Methyl trimethoxysilane)、甲基三乙氧基矽烷(Methyl triethoxysilane)、乙基三甲氧基矽烷(Ethyl trimethoxysilane)、乙基三乙氧基矽烷(Ethyl triethoxysilane)、丙基三甲氧基矽烷(Propyl trimethoxysilane)、丙基三乙氧基矽烷(Propyl triethoxysilane)、異丁基三乙氧基矽烷(Isobutyl triethoxysilane)、環己基三甲氧基矽烷(Cyclohexyl trimethoxysilane)、苯基三甲氧基矽烷(Phenyl trimethoxysilane)、苯基三乙氧基矽烷(Phenyl triethoxysilane)、乙烯基三甲氧基矽烷(Vinyl trimethoxysilane)、乙烯基三乙氧基矽烷(Vinyl triethoxysilane)、烯丙基三甲氧基矽烷(Allyl trimethoxysilane)、烯丙基三乙氧基矽烷(Allyl triethoxysilane)、二甲基二甲氧基矽烷(Dimethyl dimethoxysilane)、二甲基二乙氧基矽烷(Dimethyl diethoxysilane)、二苯基二甲氧基矽烷(Diphenyl dimethoxysilane)及二苯基二乙氧基矽烷(Diphenyl diethoxysilane)中的一種或者二種以上的化合物,但本發明不局限於此。
並且,以上述化學式2表示的有機矽烷化合物可使用選自三氟甲基三甲氧基矽烷(Trifluoromethyl trimethoxysilane)、三氟甲基三乙氧基矽烷(Trifluoromethyl triethoxysilane)、三氟丙基三甲氧基矽烷(Trifluoropropyl trimethoxysilane)、三氟丙基三乙氧基矽烷(Trifluoropropyl triethoxysilane)、九氟丁基乙基三甲氧基矽烷
(Nonafluorobutylethyl trimethoxysilane)、九氟丁基乙基三乙氧基矽烷(Nonafluorobutylethyl triethoxysilane)、九氟己基三甲氧基矽烷(Nonafluorohexyl trimethoxysilane)、九氟己基三乙氧基矽烷(Nonafluorohexyl triethoxysilane)、十三氟辛基三甲氧基矽烷(Tridecafluorooctyl trimethoxysilane)、十三氟辛基三乙氧基矽烷(Tridecafluorooctyl triethoxysilane)、十七氟癸基三甲氧基矽烷(Heptadecafluorodecyl trimethoxysilane)及十七氟癸基三乙氧基矽烷(Heptadecafluorodecyl triethoxysilane)中的一種或者二種以上的化合物,但本發明不局限於此,更佳地,有利於防止發生相分離的層面上而使用的R3是碳原子數為3~5的氟烷基。
以由上述化學式1表示的矽烷化合物與由上述化學式2表示的有機矽烷化合物在進行水解之後進行脫水縮合聚合反應來形成矽氧烷化合物。另一方面,上述加水分解及脫水縮合反應可使用酸催化劑,更具體地,使用硝酸、鹽酸、硫磺酸或醋酸等。
一方面,相對於100重量份的由上述化學式1表示的矽烷化合物,較佳為使用0.1重量份~50重量份的由上述化學式2表示的有機矽烷化合物,更佳為使用1重量份~30重量份的由上述化學式2表示的有機矽烷化合物,最佳為使用5重量份~20重量份由上述化學式2表示的有機矽烷化合物。如果使用小於0.1重量份的該有機矽烷化合物時,將存在著抗折射率之效果甚微的問題;如果使用超過50重量份的該有機矽烷化合物時,則會存在著折射率增加的問題。
上述所形成的(漏)矽氧烷化合物是作為有機、無機混合黏結劑,並發揮對中空二氧化矽粒子進行表面處理的作用。
該矽氧烷化合物的重量平均分子量為1000~100000,較佳為2000~50000,更佳為5000~20000的範圍。如果該重量平均分子量小於1000時,則很難形成所要製備的具有低折射率的塗敷層;如果該重量平均分子量超過100000時,則存在著降低抗反射膜之光透射度的問題。
另一方面,所謂的中空二氧化矽粒子(hollow silica particles)是指從矽化合物或從有機矽化合物導出的二氧化矽粒子,意指在該二氧化
矽粒子之表面和/或內部存在空間形態的粒子。
該中空二氧化矽粒子為分散於分散酶(水或有機溶劑)的形態,可包含為固體量的含量為5重量%至40重量%的膠體狀。在此,能夠作為該分散酶使用的有機溶劑有甲醇(methanol)、異丙醇(isopropyl alcohol,IPA)、乙二醇(ethylene glycol)、丁醇(butanol)等的乙醇類;甲基乙基甲酮(methyl ethyl ketone)、甲基異丁基酮(methyl isobutyl ketone,MIBK)等的酮類;甲苯(toluene)、二甲苯(xylene)等的芳香族碳氫類;二甲基甲醯胺(dimethyl formamide)、二甲基乙醯胺(dimethyl acetamide)、甲基吡咯烷酮(methyl pyrrolidone)等的氨基化合物;乙酸乙酯、乙酸丁酯、γ-羥基丁酸內酯等的酯(ester)類,四氫呋喃(tetrahydrofuran)、1,4-二噁烷等的醚(ether)類,或者可使用它們的混合物。只是,如上所述,如果以分散於分散酶的膠體溶劑形態使用時,則需考慮到固體量的含量等,該中空二氧化矽粒子的含量較佳是調節成達到上述的範圍。
並且,該中空二氧化矽粒子的平均粒徑為1奈米(nm)~1000nm,較佳為5nm~500nm,更佳為10nm~100nm,這有利於在保持膜的透明性的同時,顯示出抗反射的效果。
相對於100重量份的該中空二氧化矽粒子,使用10重量份~120重量份的該矽氧烷化合物黏結劑,較佳為使用20重量份~100重量份的該矽氧烷化合物黏結劑,更佳為使用40重量份~80重量份的該矽氧烷化合物黏結劑。如果黏結劑小於10重量份時,將存在著在塗敷面發生白化現象的問題;如果黏結劑超過120重量份時,則存在著抗反射效果顯著降低的問題。
另一方面,為了促進基於黏結劑之中空二氧化矽粒子的表面處理,該抗反射塗敷組合物可包含酸催化劑,且以該酸催化劑而言,凡是在本領域中普遍使用的,則不受特別的限制,但是,在本發明中較佳為使用硝酸或鹽酸。相對於100重量份的該中空二氧化矽粒子,本發明較佳為使用0.1重量份~20重量份的該酸催化劑。使用該酸催化劑使得塗敷組合物的pH值,為調節至2~4範圍內是有利的。
本發明提供一種抗反射膜,包括在基材表面塗敷該抗反射塗敷組合物而形成的低折射率層。
該基材可使用透明高分子樹脂等在普遍的液晶顯示裝置等使用的多種基板,具體地,作為該基材使用聚對苯二甲酸乙二醇酯(polyethylene terephthalate,PET)、聚萘二甲酸乙二酯(polyethylenenaphthalate,PEN)、聚醚碸(polyethersulfone,PES)、聚碳酸酯(Poly carbonate,PC)、聚丙烯(poly propylene,PP)降冰片烯類樹脂等。
如果作為該基材的材料為使用聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET),聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)膜的厚度則約10μm至約200μm,更佳約20μm至約100μm以內。如果透明基材的厚度小於約10μm,在基材的機械性強度方面存在問題;如果厚度超過約200μm,則無法提高作為觸控面板具有的打點特性。
基於該抗反射塗敷組合物形成之低折射率層的折射率為介於1.20~1.25的範圍內。
並且,該低折射率層的厚度,較佳是以1nm~1000nm的厚度形成,更佳是以10nm~500nm的厚度形成。如果該低折射率層的厚度為1nm以下時,存在著抗反射效果甚微的問題;如果該低折射率層的厚度超過1000nm時,則將導致低折射率層之附著性低下的問題。
本發明的抗反射膜,由於透射率在96%以上,且光反射比為介於0.5%~1.0%範圍內,因而能夠表現出優異的抗反射效果。
本發明之抗反射膜的製備方法,包括如下步驟:由上述化學式1表示的矽烷化合物與由上述化學式2表示的有機矽烷化合物進行聚合以製備黏結劑;製備包含於中空二氧化矽粒子添加該黏結劑及該酸催化劑來進行表面處理的中空二氧化矽粒子的塗敷組合物;在基材膜的至少一面塗敷該塗敷組合物;以及對已塗敷的該塗敷組合物進行熱處理。
如果在酸催化劑的前提下,在溶劑內混合由化學式1表示的矽烷化合物與由上述化學式2表示的有機矽烷化合物,該黏結劑則藉由脫水及聚合反應,而能夠製備成矽氧烷化合物。
上述所製備之黏結劑在酸催化劑的前提下,在溶劑內與中空二氧化矽粒子混合,適用於對該中空二氧化矽粒子的表面處理。該黏結劑與該中空二氧化矽粒子較佳是在20℃~40℃下混合約5小時~50小時,更佳為混合10小時~40小時,最佳為攪拌20小時~30小時來進行混合。
另一方面,如上所述,該塗敷組合物,相對於100重量份的中空二氧化矽粒子,較佳包含10重量份~120重量份的黏結劑及0.1重量份~20重量份的酸催化劑。
將藉由上述混合得到的塗敷組合物塗敷於基材膜的至少一面,該塗敷可使用選自凹版(gravure)塗敷法、擠壓式(slot die)塗敷法、旋轉塗敷法、噴射式塗敷法、棒式塗敷法及沉積塗敷法中的一種方法,但本發明不局限於此。
該塗敷組合物以1nm~1000nm的厚度塗敷於基材膜的一面,且在塗敷有該塗敷液的狀態下藉由50℃~200℃的熱處理而可以形成抗反射層。更具體地,在100℃~200℃的高溫下進行約1分鐘~10分鐘的乾燥來除去溶劑後,接續在50℃~100℃下進行約10小時~100小時的熟化(aging)以形成抗反射層。
以下,透過本發明的較佳實施例及比較例來對本發明的抗反射膜進行詳細說明。
以下的實施例及比較例僅僅是例示本發明,本發明的範圍不限定於以下所記載的實施例。
將100重量份的水、433重量份的異丙醇以及36重量份的0.1M硝酸(HNO3)放到反應器中,進行了十分鐘的攪拌。接續,藉由漏斗慢慢投入30分鐘的372重量份的四乙氧基矽烷(正矽酸乙酯,TEOS)及29重量份的(3,3,3-三氟丙基)三乙氧基矽烷。接續,在50℃下進行兩個小時的攪拌,而後冷卻至常溫,再以200rpm的速度攪拌24小時以得到透明的黏結劑溶劑。該溶劑的固體量為13重量%,並且,其所測得的pH值為2.2。該透明的溶劑未經過其他精製過程就使用在下個步驟的塗敷組
合物之製備上。
將65重量份的已製備之該黏結劑溶劑、100重量份的異丙醇及65重量份的平均粒徑為60nm之中空二氧化矽粒子-異丙醇分散溶膠(20%w/w,JGC C&C公司,Thrylya 4110)置入反應器中,並在常溫下進行24小時的攪拌以製備出抗反射塗敷組合物。上述所製備的抗反射塗敷組合物的固體量為10重量%,且其所測得的pH值為2.5。
利用Mayer bar在20μm厚度的聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)膜上以100nm厚度塗敷上述所製備的抗反射塗敷組合物之後,在130℃下進行2分鐘的乾燥來形成反射塗敷層。接續,在60℃的烤箱中進行24小時的熟化以製備出最終的抗反射膜。
除了使用100重量份的水、700重量份的異丙醇、50重量份的0.1M硝酸(HNO3)、350重量份的四乙氧基矽烷(Tetraethoxysilane)(正矽酸乙酯,TEOS)及100重量份的(3,3,3-三氟丙基)三乙氧基矽烷以外,與上述實施例1相同地製備了抗反射塗敷組合物及抗反射膜。
除了使用100重量份的水、700重量份的異丙醇、50重量份的0.1M硝酸(HNO3)、350重量份的四乙氧基矽烷(Tetraethoxysilane)(正矽酸乙酯,TEOS)及100重量份的九氟己基三乙氧基矽烷以外,與上述實施例1相同地製備了抗反射塗敷組合物及抗反射膜。
除了不使用(3,3,3-三氟丙基)三乙氧基矽烷,而僅縮合、聚合四乙氧基矽烷來製備黏結劑以外,與上述實施例1相同地製備了抗反射塗敷組合物及抗反射膜。
使用Water公司的E2695 GPC儀器測定了上述實施例及比
較例中聚合之黏結劑的重量平均分子量,並將結果顯示於下述表1中。
使用稜鏡耦合器裝置在532nm、632.8nm、830nm的波長下測定了上述所製備的抗反射膜上之塗敷層的折射率,並且利用柯西(cauchy)分散公式計算出在550nm波長下的折射率,並將結果顯示在下述表2中。
如上表2所示,可以得知該等實施例的反射塗敷層在使用聚對苯二甲酸乙二醇酯(PET)基材的情況下,能夠體現出理論性折射率的最佳值為1.23。
利用柯尼卡美能達(Konica Minolta)公司的CM-5分光色差儀(Spectrophotometer)測定了上述製備的抗反射膜之透射率,並且,對抗反射膜的背面進行黑色處理後再測定其光反射比與最低反射率。並將上述測定結果顯示在下述的表3中。
如上表3所示,該等實施例之抗反射膜的透射率皆是在96%以上,且其光反射比為0.7%~0.8%,而其最低反射率為0.6%~0.7%,由此瞭解該等實施例之抗反射膜能夠表現出優異的抗反射特性。
雖然本發明已用較佳實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,本發明所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明之精神和範圍內,當可作各種之更動與潤飾,因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
Claims (16)
- 一種抗反射塗敷組合物,包含:一黏結劑,由下述化學式1表示的矽烷化合物與由下述化學式2表示的有機矽烷化合物進行聚合而形成的;以及複數個中空二氧化矽粒子,R1 xSi(OR2)4-x…………………[化學式1],其中:R1是碳原子數為1~10的烷基、碳原子數為6~10的芳基或者碳原子數為3~10的烯基,且R2是碳原子數為1~6的烷基,x為0x<4的整數;以及R3 ySi(OR4)4-y…………………[化學式2],其中:R3是碳原子數為1~12的氟烷基,R4是碳原子數為1~6的烷基,y為0x<4的整數。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中由該化學式1表示的矽烷化合物為四甲氧基矽烷、四乙氧基矽烷、四丙氧基矽烷、四異丙氧基矽烷、四正丁氧基矽烷、四仲丁氧基矽烷、四叔丁氧基矽烷、三甲氧基矽烷、三乙氧基矽烷、甲基三甲氧基矽烷、甲基三乙氧基矽烷、乙基三甲氧基矽烷、乙基三乙氧基矽烷、丙基三甲氧基矽烷、丙基三乙氧基矽烷、異丁基三乙氧基矽烷、環己基三甲氧基矽烷、苯基三甲氧基矽烷、苯基三乙氧基矽烷、乙烯基三甲氧基矽烷、乙烯基三乙氧基矽烷、烯丙基三甲氧基矽烷、烯丙基三乙氧基矽烷、二甲基二甲氧基矽烷、二甲基二乙氧基矽烷、二苯基二甲氧基矽烷及二苯基二乙氧基矽烷中的一種或二種以上的化合物。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中由該化學式2表示的有機矽烷化合物為三氟甲基三甲氧基矽烷、三氟甲基三乙氧基矽烷、三氟丙基三甲氧基矽烷、三氟丙基三乙氧基矽烷、九氟丁基乙基三甲氧基矽烷、九氟丁基乙基三乙氧基矽烷、九氟己基三甲氧基矽烷、九氟己基三乙氧基矽烷、十三氟辛基三甲氧基矽烷、十三氟辛基三乙氧基矽烷、十七氟癸基三甲氧基矽烷及十七氟癸基三乙氧基矽烷中一種或二種以上的化合物。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中該化學式1的x為0、1或2的整數。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中該化學式2的R3為碳原子數3~5的氟烷基。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中該中空二氧化矽粒子的平均粒徑是介於1奈米(nm)~1000nm之間。
- 如申請專利範圍第1項所述之抗反射塗敷組合物,其中相對於100重量份的該中空二氧化矽粒子,包含10重量份~120重量份的該黏結劑。
- 一種抗反射膜,包含:在基材表面塗敷選自如申請專利範圍第1至7項中之任一項的抗反射塗敷組合物而形成的低折射率層。
- 如申請專利範圍第8項所述之抗反射膜,其中該低折射率層的折射率是介於1.20~1.25之間。
- 如申請專利範圍第8項所述之抗反射膜,其中該低折射率層的厚度是介於1nm~1000nm之間。
- 如申請專利範圍第8項所述之抗反射膜,其中該抗反射膜的透射率為96%以上,且光反射比是介於0.5%~1.0%之間。
- 一種觸控面板,包含如申請專利範圍第8項所述之抗反射膜。
- 一種抗反射膜的製備方法,包括如下步驟:由下述化學式1表示的矽烷化合物與由下述化學式2表示的有機矽烷化合物進行聚合以製備黏結劑;製備包含於中空二氧化矽粒子添加該黏結劑及酸催化劑來進行表面處理的中空二氧化矽粒子的塗敷組合物;在基材膜的至少一面塗敷該塗敷組合物;以及對已塗敷的該塗敷組合物進行熱處理,R1 xSi(OR2)4-x…………………[化學式1],其中:R1是碳原子數為1~10的烷基、碳原子數為6~10的芳基或者碳原子數為3~10的烯基,且R2是碳原子數為1~6的烷基,x是0x<4的整數;以及R3 ySi(OR4)4-y…………………[化學式2],其中:R3是碳原子數為1~12的氟烷基,R4是碳原子數為1~6的烷基,y是0x<4的整數。
- 如申請專利範圍第13項所述之抗反射膜的製備方法,其中該塗敷組合物中,相對於100重量份的該中空二氧化矽 粒子,包含10重量份~120重量份的黏結劑以及0.1重量份~20重量份的酸催化劑。
- 如申請專利範圍第13項所述之抗反射膜的製備方法,其中藉由在中空二氧化矽粒子添加該黏結劑及該酸催化劑並且在20℃~40℃下攪拌5小時~50小時以製備出該塗敷組合物。
- 如申請專利範圍第13項所述之抗反射膜的製備方法,其中該熱處理是在50℃~200℃的溫度下執行。
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