TW201141655A - Method of calibrating gear measuring device - Google Patents

Description

201141655 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於齒輪測定裝置之校正方法，其設計為無需 使用基準塊專之機械基準構件即可校正測頭之位置者。 【先前技術】 - 齒輪加工機器係加工被加工齒輪之機器，具體而言，具 有藉由切削加工而製作齒輪之齒輪刨製機或滾齒機，研削 淬火後之齒輪之齒輪磨床等。 在藉由如此之齒輪加工機器大量生產並加工小型被加工 齒輪之情形中，對經加工之初成品之被加工齒輪進行齒形 測定或齒厚測定後，確認其精度，在精度良好之情形下加 工其餘之未加工批次，而在精度不良之情形下修正加工精 度後，加工其餘之未加工批次。在不具有齒輪測定功能之 齒輪加工機械中，由於僅能破認跨齒厚、跨銷徑，故有初 成品精度不良之情形。 又，在加工之被加工齒輪為大型之情形由於不能出現 不良品，故在保留切削裕度下，重複數次加工與測定，在 確認最終之加工精度後進行精加工。由於必須在齒輪加工 制與齒輪測定機之間進行大型齒輪之更換作業以重複加 工與測定，故需要較長之作業時間。 對被加工齒輪之齒形敎或*厚敎係藉由具有具備測 頭（探針）之測定器之齒輪測定裝置進行。 齒輪測疋裝置在先前一般構成為不同於齒輪加工 機器之單體。齒輪測定裝置與齒輪加工機器為單體之情形 154870.doc 201141655 中’必須進行將被加工齒輪由齒輪加工機器更換 定裝置之作業。 齒輪硎 j方面’近年來以省略上述之更換作業謀求作業性之 提高為目的，提案有各種一體化具備齒輪測定裝置^ 加工機器，以便可以在機上對加工後之被加工齒輪進两 形測定或齒厚測定（例如，參照專利文獻】）。 無論是與齒輪加工機器為一體還是單體，在齒輪測定裝 置中’當使測定器之測頭（探針）接觸於被加工齒輪時，便 ^由測定器輸出顯示測頭接觸至被加工齒輪之位置之位置 L號。藉由使測頭接觸於被加工齒輪之位置逐漸改變，並 將在各位置之位置信號進行運算處理’藉此可測定齒形或 齒厚。 該情形’若在測頭位於基準位置時，輸出正確顯示該基 準位置之位置信號，則在測定其他位置之情形時亦可進行 正確之位置測定。 但右因周圍之溫度或加工被加工齒輪時產生之熱等，導 致於含有測定器之齒輪測定裝置產生熱變形，則即使測頭 相對於測定器位於基準位置，仍會相對於被加工齒輪之位 置產生誤差’導致測定時之測定位置偏移。 右產生如此之測頭之位置誤差，則會導致進行齒形測定 或齒厚測定時測定精度降低。尤其是在測定齒厚之情形會 使測定誤差增大。 因此，在測定時，進行測頭之位置之校正（calibrati〇n)。 此處’參照圖8說明先前之校正方法。 154870.doc 201141655 圖8係測定小型或中型齒輪之齒輪測定裝置1。如圖8所 示’於該齒輪測定裝置1之基台2上，配置有沿著X軸向延 伸之導轨3、旋轉台4、及支撑立柱5。 移動體6可沿著導轨3沿著X軸向移動。於移動體6上配置 有於Υ轴向（圖8中垂直於紙面之方向）延伸之導軌7，使移 動體8可沿著γ軸向移動。於移動體8上配置有沿著z軸向 延伸之導轨9 ’使移動體1〇可沿著z軸向移動。 具備測頭31之測定器30安裝於移動體1〇上。 先前’為進行校正’於預先決定之基準位置設置有機械 基準構件，即基準塊21、測試桿22、主工件23中任一者。 基準塊21設置於支樓立柱5之支樓臂部，該情形中，將 設置有基準塊21之位置設為基準位置。 測試桿22同軸設置於旋轉台4之上面，該情形中，將設 置有測試桿22之位置設為基準位置。 主工件23同軸設置於旋轉台4之上面，該情形，將設置 有主工件23之位置設為基準位置。 在校正測頭3 1之位置之情形時’使測頭3丨接觸至設置於 基準位置之機械基準構件（基準塊21、測試桿22、主工件 23中任一者）’檢查此時由測定器3 〇輸出之位置信號。而 在該位置信號未顯示基準位置之情形，校正為使此時所輸 出之位置信號顯示基準信號。 [先前技術文獻] [專利文獻] [專利文獻1]曰本特開平5-111851號 154870.doc 201141655 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 如圖8所示，在使用機械基準構件進行校正之情形，存 f以下問題，即必需要有機械基準構件（基準塊21、測試 才于22、主工件23) ’且需要安裝或拆卸基準構件之作業 間。 ’、. 又，在測定大型齒輪之齒輪測定裝置中，不僅有上述之 問題’亦有如下所述之進一步之問題。 圖9係娜定大型齒輪之齒輪測定裝置u。在圖9中，Η為 13 17、19分別為沿著x軸向、Y軸向、z軸向延伸 :導軌’ 14為旋轉台’ 16、18、2〇分別爲可沿著X轴向、 :軸向、Z轴向移動之移動體，3〇為安裝於移動體2〇之測 疋器，3 1為測頭。 者為削減设置空間，在該齒輪測定裝置丨丨中未具備 支撑立柱。 在圖9所7^之齒輪測定裝置11中，由於沒有支撐立柱， 故難以設董其淮„ 土鬼。又，即使為有支撐立柱之情形，由於 齒輪為大型，姑+ a i , 在使齒輪測定裝置11移動以使測頭3 1接觸 至f準塊之情形中’會有齒輪測定裝置11碰撞到大型齒輪 之虞。 , ;…、法使測頭3 1行程至旋轉台14之中心，故作為 測試桿22a必需為較大者。 又’作為主工件23&必須為較大者。 述由於作為測試桿22a或主工件23a必須準備較大 154870.doc

-6 · 201141655 者，故有其製作費用或保管費用增加等之問題，及每次實 施校正都需要安裝或拆卸測試桿22&或主工件23&等之作業 時間之問題。 本發明鑑於上述先前技術，其目的在於提供一種即使沒 有機械基準構件亦可校正測頭之位置之齒輪測定裝置之校 正方法。 [解決問題之技術手段] 解決上述問題之本發明之齒輪測定裝置，其包含：使測 頭接觸於被測定齒輪之齒面時，輸出顯示上述測頭接觸至 上述被測定齒輪之位置之位置信號，且沿著三維方向之各 方向被驅動之測定器，與 藉由運算處理上述位置信號’測定上述被測定齒輪之運 算機構；且，其特徵為具備以下步驟： 與使上述測頭於基圓之切線方向移動同步地使上述被測 定齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，藉此運算處理上述測頭接觸至 上述被測定齒輪之齒面時所輸出之位置信號，求得上述被 測定齒輪之齒形，並根據該齒形求得上述被測定齒輪之齒 形梯度誤差（αΐ); 與使上述測頭向基圓之切線方向以外之方向移動同步地 使上述被測定齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，藉此運算處理上述 測頭接觸至上述被測定齒輪之齒面時所輸出之位置信號， 求得上述被測定齒輪之齒形，並根據該齒形求得上述被測 定齒輪之齒形梯度誤差（α2); 算出上述齒形梯度誤差（α1)與上述齒形梯度誤差（α2)之 154870.doc 201141655 差即齒形梯度誤差之差（△"; 使用上述齒形梯度誤差之差（^)與上述被測定齒輪之齒 輪規格，求得上述測頭之位置誤差（Δχ);及 基於上述位置誤差（如），校正上述測頭之位置。 又，本發明之錄敎裝置讀正m特徵為在使 用上述齒形梯度誤差之差（Δα)與上㈣測定齒輪之齒輪規 格而求得上述測頭之位置誤差（如）之步驟中係使用下述 鼻式求得位置誤差（Ax):

Ax=Aa/{tan(a21+aA)-tan(a22-aB)} 其中ocA為齒尖測量偏移角度，aB為齒根測量偏移角 度，且 將被測定齒輪之基圓直徑設為％、外徑設為d〇、齒底 直徑設為Dr、測頭之球面徑設為d時， a21=tan',[(Do2-Dg2)05+d]/Dg] 〇122=^11-|[(〇1"2-〇层2)0 5+d]/Dg]。 再者，齒尖測量偏移角度αΑ、齒根測量偏移角度⑽為 圖7所示之角度。 又，作為使測頭於基圓之切線方向以外之方向移動之方 向’設為半財向之情料’ aA=G，αΒ=()(參照圖6)。 [發明之效果] 根據本發明’由於可根據在2個步驟中所獲得之齒形測 定之齒形梯度誤ϋ之差：藉由運算處理而校正測頭之位 置’且在2個步驟中若測量相同之齒，可消除齒形梯度誤 差之因子，故亦可使用被加工齒輪進行校正 154870.doc ^9 201141655 可無需使用機械基準構件（基準 又，可消除用於安裝、拆卸機械 加工齒輪進行校正，則 塊、測試桿、主工件）， 基準構件之時間。 【實施方式】 以下，基於實施例詳細地說明本發明之實施形態。 [實施例] ~ 圖1係顯示應用本發明方法之齒輪測定裝置1〇1。如圖^ 所示，於該齒輪測定裝置101之基台102上，配置有沿著X 軸向延伸之導軌1〇3、與旋轉台1〇4。 旋轉台104可圍繞旋轉軸c旋轉。 移動體106可沿著導軌103而沿著又軸向移動。於移動體 106上配置有於γ軸向（圖！中為垂直於紙面之方向）延伸之 導軌107，使移動體ι〇8可沿著γ軸向移動。於移動體1〇8配 置有沿著Z軸向（垂直方向）延伸之導轨1〇9，使移動體11〇 可沿著Z轴向移動。 具備測頭131之測定器130係安裝於移動體11〇。於旋轉 台104之上面同軸載置有研削後之大型工件（被測定齒輪、 被加工齒輪）W(參照圖2)。 測定器130(測頭131)係藉由移動體1〇6、1〇8、110分別沿 著X軸向、Y軸向、Z軸向予以驅動，而沿著三維之各方向 驅動（移動）。當測頭131接觸至工件W時，由測定器130輸 出顯示所接觸之位置之位置信號。 控制運算裝置140係統籌控制齒輪測定裝置1 〇 1，且運算 處理位置信號之裝置。 154870.doc 201141655 即，控制運算裝晋14n在甘 置140係基於預先設定、記憶之工件w 之齒輪規格、或測頭13 1 > # φ ^ u 位置（座‘）、齒形測定位置及齒 厚測定位置’控制移動體1〇6、⑽、11〇υ、γ、ζ軸向 之移動’從而控制測定器m(測頭131)之χ、γ、Ζ抽向之 移動’且控制圍繞激署古τ 戰置有工件|之旋轉台1〇4之旋 旋轉。 再者，控制運算裝置14〇係基於由測定器13〇輸出之位置 信號，測；t齒形或齒厚，且校正測頭131之位置。 其次’使用該齒輪敎裝置⑻，依序說明進行工件w 之齒形測定之2個方法、進行工件w之齒厚測定之方法， 及校正測頭13 1之位置之方法。 首先，先參照圖3說明進行工件w之齒形測定《第】方法 (基圓之切線方向掃描方法）。再者，在圖3 +，[表示對基 圓之切線。作為掃描方向之基圓之切線方向，通常之齒輪 測定機係採用水平方向，但亦可採用傾斜方向，本圖係以 傾斜方向製圖。 如圖3所示，藉由第丨方法（基圓之切線方向掃描方法）進 行工件W之齒輪測定之情形中，首先，使工件…圍繞旋轉 軸c略微旋轉，令工件w之齒槽對向於測定器13〇後，使測 定器130於X軸向、γ轴向、z轴向驅動，使其測頭！ 3丨接觸 至工件W之齒面上與齒根圓之交點。即，以該交點為齒面 之測定開始位置#1。 其次’從使測頭13 1接觸至測定開始位置#丨之狀態起， 以使測頭13 1沿著基圓之切線L移動的方式，與於X軸向、 154870.doc •10- 201141655 γ軸向驅動測定器丨30同步地驅動旋轉台〗〇4，使工件w圍 繞旋轉轴c旋轉。 測頭131為類比式探針之情形時，一面使測頭131連續接 觸於工件w之齒面，一面使測頭13丨沿著基圓之切線L移 動，或測頭131為數位式（離合式）之情形時，一面使測頭 131間歇性接觸於工件w之齒面，一面使測頭^丨沿著基圓 之切線L移動，而由測定器130輸出顯示工件W之齒面與基 圓之切線L交又之各位置的位置信號。 而測頭131 —旦到達工件w之齒面上與齒尖圓之交點， 則齒形測定完成。即，該交點為齒面之測定完成位置#2。 控制運算裝置14〇在測頭131從測定開始位置#1移動至測 定完成位置#2時，運算處理由測定器13〇輸出之位置信 號，藉此可求得工件W之齒形。且可基於運算求得之齒 形’求得工件W之齒形梯度誤。 再者，將測定開始位置#1之接觸角設為al2，將測定完 成位置#2之接觸角設為all，且若測頭131有位置誤差而將 其位置誤差（X軸向之位置偏移）設為M之情形時，齒形梯 度誤差al之測量誤差ei由下述算式表示。 el=Ax(tanall-tanal2) ...(1) 在利用第1方法（基圓之切線方向掃描方法）之工件w之齒 形測定中，由於工件W之齒面與測頭13 1之接觸角幾乎不 會變化，即由於all與al2幾乎相等，故具有即使有位置誤 差（X軸向之位置偏移）Δχ，亦幾乎不會產生齒形梯度誤差 al之測量誤差ei之特性。 154870.doc 201141655 其次，參照圆4 ’說明進行工件w之齒形測定之第2方法 (基圓之切線方向以外之方向之掃描方法）。此處，係針對 將半徑方向作為基圓之切線方向以外之方向進行說明。 如圖4所示’在藉由第2方法（半徑方向掃描方法）進行工 件W之齒形測定之情形中，首先，使工件w僅圍繞旋轉軸 C略微旋轉，令工件W之齒槽對向於測定器i 3 〇後，使測定 器130於X軸向、Y軸向、z軸向驅動，令其測頭13丨接觸至 工件W之齒面上之與齒根圓之交點。即，該交點為齒面上 之測定開始位置#3。 其次，從使測頭131接觸至測定開始位置#3之狀態起， 以使測頭13 1於半徑方向（X軸向）移動的方式，與於X轴向 驅動測疋器13 0同步地驅動旋轉台1 〇 4，使工件w圍繞旋轉 軸C旋轉。 測頭131為類比式探針之情形時，一面使測頭131連續接 觸於工件W之齒面，一面使測頭} 3丨於半徑方向（χ軸向）移 動；或測頭131為數位式（離合式）之情形時，一面使測頭 131間歇性接觸於工件w之齒面，一面使測頭131於半徑方 向（X軸向）移動，而由測定器130輸出顯示工件貨之齒面與 X軸（測頭131之移動軌跡）交又之各位置的位置信號。 而測頭131 —旦到達工件w之齒面上之與齒尖圓之交 點，則齒形測定完成。即，該交點為齒面之測定完成位置 #4。 控制運算裝置140在測頭131從測定開始位置#3移動至測 疋元成位置#4時，運异處理由測定器13〇輸出之位置信 154870.doc 12 201141655 號’藉此可求得工件w之齒形。且可基於運算求得之齒 形，求得工件w之齒形梯度誤差α2。 再者，將測定開始位置#3之接觸角設為α22，將測定完 成位置#4之接觸角設為α21，且若測頭131有位置誤差而將 其位置誤差（X轴向之位置偏移）設為Δχ之情形時，齒形梯 度誤差α2之測量誤差e2由下述算式表示。 e2=Ax(tana21-tana22) “.(2) 在利用第2方法（半徑方向掃描方法）之工件w之齒形測定 中，由於工件W之齒面與測頭131之接觸角會產生變化， 即由於a21與a22不同，故具有在有位置誤差（χ軸向之位 置偏移）Δχ之情形時，齒形梯度誤差…之測量誤差心大於 第1方法（基圓之切線方向掃描方法）之測量誤差el的特性。 其次’參照圖2說明工件w之齒厚測定之方法。 進行齒厚測定中，係使測定器13〇於χ軸向、γ軸向、Z 軸向驅動，令測頭131在工件w之右齒面冒尺上接觸至與節 圓父又之交點。此時，控制運算裝置14〇運算處理由測定 器130輸出之位置信號，而檢測此時之位置。 其次，使測定器130於X軸向、γ軸向、2軸向驅動，令 測頭31在工件W之左齒面WL上接觸至與節圓交又之交 點。此時，控制運算裝置14〇運算處理由測定器13〇輸出之 位置彳§ 5虎’而檢測此時之位置。 然後便可基於右齒面WL上之焦點位置、與左齒面琛尺上 之交點位置’測量工件W之齒厚。 該情形下，在測頭131之位置出現位置誤差（χ軸向之位 154E70.doc •13- 201141655 置偏移）Δχ之情形中 性0 ，具有導致齒厚之測量誤 差增大之特

丹二X -面參照圖5所示之流程，說明藉由本 之齒厚測定裝置之校正方法，校正測頭ΐ3ι之位置 法。 万 控制運算裝置Μ0使用上述之工件…之齒形測定之第！方 法（基圓之切線方向掃描方法）求得工㈣之齒形根據運 异求得之工件W之齒形，求得工件…之齒形梯度誤差 驟S1)。 、少 再者’㈣頭之位置有位置^(χ軸向之位置偏移） △X之情形時，所求得之齒形梯度誤差αΐ，含有測量誤差 el。此處，設al=awl+el(awl為齒形梯度誤差之真值卜 控制運算裝置140使用上述之工件W之齒形測定之第2方 法（半徑方向掃描方法）求得工件w之齒形，根據運算求得 之工件W之齒形，求得工件w之齒形梯度誤差a2(步驟 S2) 〇 再者，若測頭13 1之位置有位置誤差（χ軸向之位置偏 移）Δχ之情形時，所求得之齒形梯度誤差α2含有測量誤差 e2。此處，設a2 = aw2+e2(aw2為齒形梯度誤差之真值）。 再者’步驟S1與步驟S2之順序亦可相反。 其次，控制運算裝置140算出由步驟51求得之齒形梯度 誤差al ’與由步驟32求得之齒形梯度誤差a2之差，即齒 形梯度誤差之差Δα(步驟S3)。 該齒形梯度誤差之差Δα係由下述算式（3)表示。 154870.doc 14 201141655

Aa=a2-al=(awl+el)-(aw2+e2) ...(3) 即’齒形梯度誤差之差Δα為表示「齒形梯度誤差 與「齒形梯度誤差al」之差者。 此處，若考慮在步驟1與步驟2中測量相同之齒面，則 awl=aw2，且幾乎不會產生ei(el_0),可設： Δα= e2=Ax(tana21-tana22) ...(4) 其次，控制運算裝置14〇使用將算式（4)進行變形之下述 算式（5)，運算測頭131之位置誤差（χ軸向之位置偏 移）Δχ(步驟S4)。

Ax=Aa/(tana21-tana22) ...(5) 此處’若將工件W之基圓直徑設為％，將外直徑設為 D。，將齒底直徑設為Dr、將測頭之球面徑設為#參照圖 6)，則算式（4)之a2 i與a22為由下述算式（6)、⑺給予之值 (即，由齒輪規格給予之值）。 o^letan^Dc^-Dg2)0 5+d]/Dg]…⑹ aZlstar^IXDrlDgy.s+dl/Dg]…⑺ 控制裝置⑽若藉由上述（5)算式而於測頭ΐ3ι之位置算 出位置誤差(X轴向之位置偏移）如，則判定力由檢測器13〇 輸出之位置信號中含有對應於位置誤差Δχ之值。 • 然後控制裝置140根據位置誤差Δχ之值，對所記憶之測 頭131之位置（座標）進行校正（步驟S5)。藉此可校正測頭 131之位置。 在進行如此之校正後進行敎之情形時，由於由檢測器 130輸出之位置#號係顯示不含位置誤差之正確之位置 154870.doc 201141655 者，故只要在該校正後進行齒 厚測定（步驟S6” 便』進仃正確之齒 如此，由於藉由第2方法 法（丰徑方向掃描方法）求得之齒 形梯度误差α2中含有之測| ^ to ^ Λ is 4, ”差62大，藉由第1方法（基圓 ^刀線方向掃描方法）求得之齒形梯度誤差d中含有之測 量誤差el幾乎不存在， 、 ，、要以2個方法測量相同之齒 去P可消除齒輪自身之齒形梯度誤差之影響故本發明 :齒:：定裝置之校正方法利用該特性，在有齒形梯度誤 差I2與齒形梯度誤^^即齒形梯度誤差之差^之情 形時，判定測頭131之位置有位置誤差Δχ。 如此’在判定有位置誤差之情形時，基於齒形梯度誤差 之差Μ ’運算測頭131之位置誤差如，並進行校正以消除 運算之位置誤差。 在齒形梯度誤差α1、α2之運算令，對於受到齒形形狀之 影響，只要將以2個方法進行測定之齒面設為相同之齒 面， 消除 度者 則所受影響相同，故該影響亦可在算式（3)之運算中被 。因此，校正所需之齒輪無需如主標準齒輪般之高精 ’亦可使用加工中之齒輪。 如此，由於可僅藉由運算處理而校正測頭131之位置， 故無需使用機械基準構件，且可消除用於安裝、拆卸機械 基準構件之時間。 第2方法（基圓之切線方向以外之方向之掃描方法）之掃 描方法亦可為半徑以外’根據以下所示之方法可進一步 提南校正之精度。 154870.doc -16 - 201141655 剛碩Ι3ι 根據算式（5)，齒形梯度誤差之差相對於 置誤差 Δχ之感度為△aMx=(tana21 -tancx22) 〇 而 cx21與α22係由算式（6)、（7)以齒輪規捻、1 (tantx21-tana22)係指測頭131與工件W之接觸角 高感度，只要增大測頭131之工件W之接觸角之在。要提 因此，如圖7所示，若偏移齒尖測定位置 P可。 & I根 '、目，丨a 置，則可增大測頭13 1與工件W之接觸角之 ’弋位 義。印，

作為齒尖測量偏移角度，將αΒ作為齒根漁j | ’將(XA 遭偏移角择 n〇t22、 tana21 增加至（tana21+cxA)，將 tana22縮減 $ 尺， < 至（ta 而將感度增加至{tan(a21+aA)-tan(a22-〇tB^。 挪碩I3i 於半徑方向掃描之情形更加提高感度，& 81 6所示 度。 铰正精 藉此，感度（Δα/Δχ)成為如下述算式（8)所$ 位置誤差Δχ成為如下述算式（9)所示，從而可# 之 (△a/Ax)={tan(a2l+aA)-tan(a22-aB)} ...(8) Ax=Aa/{tan(a2l+aA)-tan(a22-aB)} -..(9^ 此外，作為使測頭13 1於基圓之切線方$ 以外 描移動之方向，採用半徑方向之情形中 * <方 aA=0、 該情形下，位置誤差Δχ為上述之算式（s)所— 妨=^〇 向婦 示 即，算式（9)係顯示位置誤差Δχ之 般式， 算 示將測頭13 1之移動方向特定為半徑方向 之特定式。 【圖式簡單說明】 式(”係顧 置謨差Λχ 圖 1係顯示適用本發明方法之齒輪測定# 置之構成圖。 154870.doc 17 201141655 圖2係顯示 立體圖。 工件（被測定齒輪 、被加工齒輪）之一部分之 圖3係顯示進行齒輪測定 描方式）之圖。 之第1方法（基圓之切線方向掃 圖4係顯示 之圖。 進行齒輪测定之第2方法（半徑 方向掃描方式） 圖5係顯示本發明方法之動作之流程圖。 圖6係顯示工件之齒輪規格之特性圖。 圖7係顯示工件之齒輪規格、齒尖測量 測量偏移角度之特性圖。 角度、齒根 圖8係顯示先前技術之齒輪測定裝置之構成 圖9係顯示先前技術之齒輪測定褒置之構成 【主要元件符號說明】 圖 1 ' 11 ' 101 齒輪測定裝置 2、 12、 102 基台 3 ' 7 ' 9 、13、 17、 導軌 19 、103 、107 、109 4、 14、 104 旋轉台 5 支標立柱 6、 8 、 19 、 16 ' 18 ' 移動體 20 ' 106 、108 、110 21 基準塊 22 測試桿 23 主工件 154870.doc •18- 201141655 30 、 130 31 ' 131

140 W 測定器 測頭 控制運算裝置 工件 154870.doc -19-

Claims (1)

1. 201141655 七、申請專利範圍： L 一種齒輪敎裝置之校正方法，㈣㈣定裝置包含： 使測頭接觸於被測定齒輪之齒面時，輸出顯示上述測 頭接觸至上述被測定齒輪之仇置之位置信號，且沿著三 維方向之各方向被驅動之測定器，與 藉由運算處理上述位置信號，測定上述被測定齒輪之 運算機構；且，該方法之特徵為包含以下步驟： 與使上述測頭於基圓之切線方向移動同步地使上述被 測定齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，藉此運算處理上述測頭接 觸至上述被測定齒輪之齒面時所輸出之位置信號，求得 上述被測定齒輪之齒形’並根據該齒形求得上述被測定 齒輪之齒形梯度誤差（αΐ); 與使上述測頭於基圓之切線方向以外之方向移動同步 地使上述被測定齒輪圍繞其旋轉軸旋轉，藉此運算處理 上述測頭接觸至上述被測定齒輪之齒面時所輸出之位置 L號，求彳于上述被測定齒輪之齒形，並根據該齒形求得 上述被測定齒輪之齒形梯度誤差（α2); 算出上述齒形梯度誤差（α1)與上述齒形梯度誤差（α2) 之差即齒形梯度誤差之差（△〇〇 ; 使用上述齒形梯度誤差之差（△〇0與上述被測定齒輪之 齒輪規格’求得上述測頭之位置誤差（Δχ);及 基於上述位置誤差（△?〇，校正上述測頭之位置。 2.如請求項丨之齒輪測定裝置之校正方法，其中在使用上 述齒形梯度誤差之差（△〇0與上述被測定齒輪之齒輪規格 154870.doc 201141655 而求得上述測頭之位置誤差（Δχ)之步驟中，係使用f述 算式求得位置誤差（Δχ): Ax=Aa/{an(a21+aA)-tan(a22-aB)} 其中aA為齒尖測量偏移角度，aB為齒根測量偏移角 度，且 將被測定齒輪之基圓直徑設為Dg、外徑設為Do、齒底 直徑設為Dr、測頭之球面徑設為d時， a21=tan-1[(Do2-Dg2)〇.5 + dj/Dgj cc22=tarfWDrlDg^w + dJ/Dg]。 154870.doc 2 S