JP2014215079A - 幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】効率良く、正確に幾何偏差を同定することができる幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置を提供する。
【解決手段】複数の直進軸X,Y,Zと、回転軸A,Cとを有する工作機械100の幾何偏差測定方法において、主軸2又はテーブル3のいずれか一方に設けたプローブ10を、主軸2又はテーブル3のいずれか他方に設けたターゲット球15に対向させ、回転軸A,Cを回転し、複数の直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の位置を連続的に計測し、ターゲット球15の位置に関する情報に基づいて、直進軸X,Y,Z、回転軸A,Cに関連する幾何偏差を同定する。
【選択図】図3
【解決手段】複数の直進軸X,Y,Zと、回転軸A,Cとを有する工作機械100の幾何偏差測定方法において、主軸2又はテーブル3のいずれか一方に設けたプローブ10を、主軸2又はテーブル3のいずれか他方に設けたターゲット球15に対向させ、回転軸A,Cを回転し、複数の直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の位置を連続的に計測し、ターゲット球15の位置に関する情報に基づいて、直進軸X,Y,Z、回転軸A,Cに関連する幾何偏差を同定する。
【選択図】図3
Description
本発明は、複数の直進軸、回転軸を有する工作機械の幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置に関する。
従来、部品形状の複雑化や生産効率向上の要求に答えるために、複数の直進軸、回転軸を有する5軸マシニングセンタ等の工作機械を部品の加工に用いている。直進3軸、回転2軸を有する5軸マシニングセンタでは、1度の段取りで、取り付け面以外の加工が可能なため、段取り工数の削減やリードタイムの短縮を図ることができる。一方で、軸数が増加することにより、軸間の幾何偏差が増加し、加工精度の悪化が懸念されていた。そのため、この種の工作機械では、工作機械の製造工程において、機械毎に幾何偏差を測定し評価を行うことで、軸間の幾何偏差による加工精度の悪化を抑えている。中でも、ボールバーを用いて同時3軸制御運動を行い、得られた軌跡の偏心量から幾何偏差を評価する方法は広く普及している(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、ボールバーを用いた評価方法では、幾何偏差を同定するために複数回の測定が必要であった。また、異なる方向の変位を測定する度にセッティングを変更する必要もあり、手間と時間がかかり、効率的ではなかった。また、回転軸に関する8個の幾何偏差しか評価できず、直進軸間の直角度に関する幾何偏差は無いものと仮定して幾何偏差を同定しているため、幾何偏差を正確に同定することができなかった。
本発明は、上述した従来の技術が有する課題を解消し、効率良く、正確に幾何偏差を同定することができる幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置を提供することを目的とする。
本発明は、上述した従来の技術が有する課題を解消し、効率良く、正確に幾何偏差を同定することができる幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置を提供することを目的とする。
本発明は、複数の直進軸と、回転軸とを有する工作機械の幾何偏差測定方法において、主軸又はテーブルのいずれか一方に設けたプローブを、主軸又はテーブルのいずれか他方に設けたターゲットに対向させ、前記回転軸を回転し、前記複数の直進軸を追従させながら、前記ターゲットの位置を連続的に計測し、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定することを特徴とする。
また本発明は、上記幾何偏差測定方法において、連続的に計測した前記ターゲットの位置に関する情報の多次の多項式近似により、前記工作機械の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡を求め、この工作機械の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡から最小二乗法により幾何偏差を同定することを特徴とする。
また本発明は、上記幾何偏差測定方法において、前記ターゲットは球であり、前記球の中心位置に関する情報に基づいて前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定することを特徴とする。
また本発明は、上記幾何偏差測定方法において、前記プローブを前記主軸に設け、前記ターゲットを前記テーブルに設置し、前記主軸に関連する2つの直進軸X,Zと、前記テーブルに関連する1つの直進軸Yとを、前記テーブルに関連する、前記直進軸Zに平行な回転軸Cと、前記直進軸X、或いは、前記直進軸Yに平行な回転軸Aとの回転に、追従させることを特徴とする。
また本発明は、上記幾何偏差測定方法において、前記ターゲットの初期位置での幾何偏差による位置誤差を前記幾何偏差の同定に用いることを特徴とする。
また、上記目的を達成するために、本発明は、複数の直進軸と、回転軸とを有する工作機械の幾何偏差計測装置において、主軸又はテーブルのいずれか一方に設けられると共に、複数の直進軸に関連する複数の変位計を有するプローブと、前記プローブに対向すると共に、主軸又はテーブルのいずれか他方に設置されたターゲットと、前記回転軸を回転し、前記複数の直進軸を追従させながら、前記ターゲットの位置を前記複数の変位計により連続的に計測する計測部と、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を算出する算出部と、を備えたことを特徴とする。
また本発明は、上記幾何偏差計測装置において、前記算出部が最小二乗法により幾何偏差を算出することを特徴とする。
本発明によれば、プローブを、ターゲットに対向させ、回転軸を回転し、複数の直進軸を追従させながら、ターゲットの位置を連続的に計測し、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定するため、一度のセッティングで効率良く、直進軸、及び、回転軸に関連する幾何偏差を正確に同定することができる。
以下、本発明に係る幾何偏差の計測方法の一実施形態について、図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、複数の直進軸、回転軸を有する工作機械100の一例を示したものである。本実施形態に示す工作機械100は、複数の直進軸X,Y,Z(以下、X軸、Y軸、Z軸という)と、複数の回転軸C,A(以下、C軸、A軸という)とを有する5軸制御マシニングセンタである。なお、本実施形態では、工作機械100は、テーブル旋回型の5軸制御マシニングセンタを示しているが、工具が装着される主軸2側に回転軸を有する構成であっても良い。
図1は、複数の直進軸、回転軸を有する工作機械100の一例を示したものである。本実施形態に示す工作機械100は、複数の直進軸X,Y,Z(以下、X軸、Y軸、Z軸という)と、複数の回転軸C,A(以下、C軸、A軸という)とを有する5軸制御マシニングセンタである。なお、本実施形態では、工作機械100は、テーブル旋回型の5軸制御マシニングセンタを示しているが、工具が装着される主軸2側に回転軸を有する構成であっても良い。
工作機械100のコラム1にはベッド120が固着され、このベッド120には一対のレール121,122が取り付けられて、このレール121,122に案内されて、クレードル5がY軸に沿ってスライド可能に設けられている。クレードル5は断面が、コの字形に形成され、一対の側部5Aと、底部5Bとを一体に有し、この底部5Bが台座5Cを介して、Y軸方向に移動自在に、レール121,122に支持されている。
このクレードル5には、一対の軸123を介して、トラニオン4が支持されている。このトラニオン4は、一対の側部5Aの間に嵌る一対の側部4A(片側の側部4Aは図示を省略する。)と、底部4Bとを一体に有し、一対の側部4Aが、一対の軸123を介して、クレードル5の側部5Aに支持され、この軸123(回転軸A)を中心として、回転可能に設けられている。トラニオン4の底部4Bの上面には、円盤状のテーブル3が、軸(不図示)を介して支持され、円盤状のテーブル3は、A軸と直交する軸(回転軸C)を中心として、回転可能に設けられている。
このクレードル5には、一対の軸123を介して、トラニオン4が支持されている。このトラニオン4は、一対の側部5Aの間に嵌る一対の側部4A(片側の側部4Aは図示を省略する。)と、底部4Bとを一体に有し、一対の側部4Aが、一対の軸123を介して、クレードル5の側部5Aに支持され、この軸123(回転軸A)を中心として、回転可能に設けられている。トラニオン4の底部4Bの上面には、円盤状のテーブル3が、軸(不図示)を介して支持され、円盤状のテーブル3は、A軸と直交する軸(回転軸C)を中心として、回転可能に設けられている。
コラム1の上部には、ベッド120側に張り出して、一対のレール125,126が取り付けられ、一対のレール125,126には、Y軸と直交するX軸方向に移動自在に、サドル127が支持されている。このサドル127には、一対のレール125,126と直交させて、一対のレール128,129が取り付けられ、一対のレール128,129には、X軸と直交するZ軸方向に移動自在に、主軸頭130が支持されている。この主軸頭130には、いわゆる回転工具を装着可能な主軸2が取り付けられ、主軸2は、Y軸と直交するX軸、および、それらのX,Y軸と直交するZ軸に沿ってスライド可能に形成されている。
工作機械100は、主軸2に装着された工具をZ軸を中心として回転させることができる。また、工作機械100は、テーブル3に固定された不図示の被加工物(工作物)と、主軸2に装着された工具との相対位置および相対姿勢を制御することができる。そして、工作機械100は、テーブル3に固定された被加工物に対して、主軸2を相対的にアプローチさせることによって、回転する工具により被加工物に対して種々の加工を施すことができるようになっている。
工作機械100は、図2に示すように、主軸頭130、及び、クレードル5を並進させるための各サーボモータ22,24,23,と、テーブル3、及び、トラニオン4を回転させるための各サーボモータ25,26と、を備えている。各サーボモータ22〜26は、制御装置20によって駆動制御される。制御装置20は、図示しないCPU、不揮発性メモリー、RAM等により構成され、制御装置20に接続された記憶部21に記憶された制御プログラムを読み出して実行して、工作機械100の各部を制御する。記憶部21にはまた、工作機械100の軸間の同定された幾何偏差や、幾何偏差の補正に用いる補正パラメータを算出するための算出プログラム等が記憶されている。なお、記憶部21は、制御装置20に内蔵されている構造であっても良い。
次に、工作機械100の幾何偏差について説明する。
ここでは、幾何偏差は、各軸間の相対並進誤差3方向(δx:X方向オフセット,δy:Y方向オフセット,δz:Z方向オフセット)および相対回転誤差3方向(α:X軸回り,β:Y軸回り,γ:Z軸回り)について、6個の誤差パラメータが定義される。また、各幾何偏差は、挟まれた2つの軸名称を添えて示すものとする。たとえば、C軸とA軸との間のY方向の並進誤差は、δyCA,Y軸とX軸との間のZ軸周りの回転誤差は、γYXと表記する。また、工具を示す記号はTとする。
ここでは、幾何偏差は、各軸間の相対並進誤差3方向(δx:X方向オフセット,δy:Y方向オフセット,δz:Z方向オフセット)および相対回転誤差3方向(α:X軸回り,β:Y軸回り,γ:Z軸回り)について、6個の誤差パラメータが定義される。また、各幾何偏差は、挟まれた2つの軸名称を添えて示すものとする。たとえば、C軸とA軸との間のY方向の並進誤差は、δyCA,Y軸とX軸との間のZ軸周りの回転誤差は、γYXと表記する。また、工具を示す記号はTとする。
工作機械100には、合計60個の幾何偏差が存在する。そのうち、算出すべき幾何偏差は、形状創成理論に基づくと13個となる。本実施形態では、これらの13個の幾何偏差のうち、ワークの加工に影響する、旋回テーブル、つまりテーブル3、及び、トラニオン4に関連した8個の幾何偏差(δyCA,βCA,δxAY,δyAY,δzAY,αAY,βAY,γAY)と、直進軸X,Y,Z間の直角度3個の幾何偏差(αXZ,βXZ,γYX)の合計11個の幾何偏差を評価する方法について検討する。
次に、幾何偏差の測定方法について、以下に説明する。
工作機械100の幾何偏差を測定する際は、図3に示すように、プローブ(計測部)10とターゲットであるターゲット球15とから構成される幾何偏差計測装置8を用いて測定する。本実施形態の幾何偏差計測装置8では、プローブ10が主軸2に工具の代わりに装着される。また、テーブル3には、ターゲット球15が固定される。ターゲット球15は、図示は省略するが、土台に組み付けられた磁石等によってテーブル3に固定される構成であっても良い。なお、この幾何偏差計測装置8では、工作機械100の構成に応じて、適宜に、プローブ10をテーブル3に固定し、主軸2にターゲット球15を装着させて幾何偏差の計測を行う構成であっても良い。
工作機械100の幾何偏差を測定する際は、図3に示すように、プローブ(計測部)10とターゲットであるターゲット球15とから構成される幾何偏差計測装置8を用いて測定する。本実施形態の幾何偏差計測装置8では、プローブ10が主軸2に工具の代わりに装着される。また、テーブル3には、ターゲット球15が固定される。ターゲット球15は、図示は省略するが、土台に組み付けられた磁石等によってテーブル3に固定される構成であっても良い。なお、この幾何偏差計測装置8では、工作機械100の構成に応じて、適宜に、プローブ10をテーブル3に固定し、主軸2にターゲット球15を装着させて幾何偏差の計測を行う構成であっても良い。
プローブ10は、主軸2に取付けられる基部10Aを有し、この基部10Aには、図4に示すように、上述したX軸、Y軸、Z軸方向の3方向とそれぞれ一致する方向に沿って延びる、3つのブロック10B〜10Dが取り付けられている。これらブロック10B〜10Dには、X軸、Y軸、Z軸方向の3方向とそれぞれ一致するように配置された変位センサ11,12,13を備えている。
プローブ10は、各変位センサ11,12,13を、ターゲット球15にX軸、Y軸、Z軸方向の3方向から接触させて、ターゲット球15を変位センサ11,12,13により保持する。なお、変位センサ11,12,13には、ターゲット球15に接触する先端に接触式測定子をもつ検出器を有する電子マイクロメーターを好適に用いることができる。また、変位センサ11,12,13は、非接触変位センサを用いて、各変位センサ11,12,13を、ターゲット球15にX軸、Y軸、Z軸方向の3方向から対向させる構成としても良い。工作機械100に幾何偏差計測装置8を取り付けた際には、工作機械100の制御装置20は、幾何偏差計測装置8の算出部として機能する。
プローブ10は、各変位センサ11,12,13を、ターゲット球15にX軸、Y軸、Z軸方向の3方向から接触させて、ターゲット球15を変位センサ11,12,13により保持する。なお、変位センサ11,12,13には、ターゲット球15に接触する先端に接触式測定子をもつ検出器を有する電子マイクロメーターを好適に用いることができる。また、変位センサ11,12,13は、非接触変位センサを用いて、各変位センサ11,12,13を、ターゲット球15にX軸、Y軸、Z軸方向の3方向から対向させる構成としても良い。工作機械100に幾何偏差計測装置8を取り付けた際には、工作機械100の制御装置20は、幾何偏差計測装置8の算出部として機能する。
幾何偏差計測装置8は、各変位センサ11,12,13の出力信号を算出部としての制御装置20に出力する。制御装置20は、各変位センサ11,12,13の出力信号に基づいて、ターゲット球15の中心位置を算出し、算出したターゲット球15の中心位置に関する情報を記憶部21に記憶する。
なお、幾何偏差計測装置8は、工作機械100とは独立した計測器として用いることができ、算出部としての演算装置、及び、記憶部を幾何偏差計測装置8の内部(例えば、プローブ10内)に有し、各変位センサ11,12,13の出力信号に基づいて、ターゲット球15の中心位置を算出し記憶する構成であっても良い。
なお、幾何偏差計測装置8は、工作機械100とは独立した計測器として用いることができ、算出部としての演算装置、及び、記憶部を幾何偏差計測装置8の内部(例えば、プローブ10内)に有し、各変位センサ11,12,13の出力信号に基づいて、ターゲット球15の中心位置を算出し記憶する構成であっても良い。
幾何偏差計測装置8は、A軸、及び、C軸回りにトラニオン4、及び、テーブル3を回転させると、図5に示すように、主軸2に装着したプローブ10が、ターゲット球15を追従するように構成されている。図5(A)は、A軸及びC軸を0度回転させた状態を示す図、図5(B)は、A軸を20度、C軸を80度、其々反時計回りに回転させた状態を示す図、図5(C)は、A軸を反時計回りに80度、C軸を時計回りに320度回転させた状態を示す図である。幾何偏差計測装置8は、このように、回転軸A,Cを回転し、直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の中心位置を連続的に計測することができるように構成されている。
A軸、C軸の所定の状態におけるターゲット球15の中心位置は、複数の測定点について測定される。幾何偏差計測装置8は、全ての測定点で得られたターゲット球15の中心位置に関する情報に基づいて工作機械100の工具と工作物間の相対位置誤差である残差を測定し、当該残差から最小二乗法を用いて11個の幾何偏差を同定する。工作機械100の工具と工作物間の相対位置誤差である残差は、プローブ10により計測された幾何偏差計測装置8が示すターゲット球15の中心位置と、工作機械100が指令したターゲット球15の中心位置とに基づいて測定される。ここで、工作機械100が指令したターゲット球15の中心位置とは、工作機械100に幾何偏差が無い場合のターゲット球15の中心位置である。
11個の幾何偏差を同定するために、測定対象となる工作機械100は、その構造形態に合わせて数学モデル化され、工具と工作物間の相対位置関係が定式化される。なお工作機械100の運動は、同時座標変換行列を用いて、表現することができる。
本実施形態では、直進軸X,Y,Zが機械座標系原点からそれぞれx,y,z移動した場合の同時座標変換行列を、TX,TY,TZと表す。また、A軸,C軸が旋回した場合の同時座標変換行列をTA,TCと表す。また、i軸、k軸間に生じる幾何偏差εikも同様に同時座標変換行列を用いて表現することができる。
工作機械100の運動の座標変換行列は、次に示す[数1]で表すことができる。
本実施形態では、直進軸X,Y,Zが機械座標系原点からそれぞれx,y,z移動した場合の同時座標変換行列を、TX,TY,TZと表す。また、A軸,C軸が旋回した場合の同時座標変換行列をTA,TCと表す。また、i軸、k軸間に生じる幾何偏差εikも同様に同時座標変換行列を用いて表現することができる。
工作機械100の運動の座標変換行列は、次に示す[数1]で表すことができる。
また、幾何偏差の座標変換行列は、次に示す[数2]で表すことができる。
ターゲット球15は、テーブル3上の任意値の位置に配置される。工作機械100の機械座標系原点の位置ベクトルをe、機械座標系原点から見たターゲット球15の中心までの初期座標の位置ベクトルをS0とする。機械座標系原点の位置ベクトルe、及び、機械座標系原点から見たターゲット球15の中心までの初期座標の位置ベクトルS0は、次に示す[数3]で表すことができる。
ところで、ターゲット球15の初期座標は、工作機械100の幾何偏差の影響を受ける。そのため、ターゲット球15の初期座標の位置ベクトルS0と、初期位置でのターゲット球15の実際の機械座標系原点から見た位置ベクトルSCとの間にずれが生じる。このずれを考慮するために、工作機械100の幾何偏差の影響を考慮したターゲット球15の実際の初期座標の位置ベクトルSCは、次に示す[数4]で表すことができる。
以上より、工作機械100の機械座標系原点からのプローブ10の座標Rtool
は、幾何偏差を考慮して、次に[数5]として示した数学モデルで表される。
は、幾何偏差を考慮して、次に[数5]として示した数学モデルで表される。
同様に、工作機械100の機械座標系原点からのターゲット球15の座標Rworkは、幾何偏差を考慮して、次に[数6]として示した数学モデルで表される。
従って、プローブ10とターゲット球15との間の相対位置誤差である残差Rは、Rtoolと、Rworkとの差であり、次に示す[数7]で表すことができる。
図6は、回転軸A,Cを回転し、直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の中心位置を連続的に計測して測定された工作機械100の工具と工作物間の相対位置誤差である残差の一例を示すグラフである。
残差を測定する際には、例えば、回転軸Aを2度から80度まで2度ずつ回転させると共に、回転軸C軸を8度から320度まで8度ずつ回転させて、直進軸X,Y,Zを追従させ、計40点の測定点における、直進軸X,Y,Zの位置を連続的に計測する。図6のグラフでは、横軸にC軸旋回角度を示している。A軸旋回角度は、所定のC軸旋回角度に対応する所定の角度であり、ここでは図示を省略する。
残差を測定する際には、例えば、回転軸Aを2度から80度まで2度ずつ回転させると共に、回転軸C軸を8度から320度まで8度ずつ回転させて、直進軸X,Y,Zを追従させ、計40点の測定点における、直進軸X,Y,Zの位置を連続的に計測する。図6のグラフでは、横軸にC軸旋回角度を示している。A軸旋回角度は、所定のC軸旋回角度に対応する所定の角度であり、ここでは図示を省略する。
図6に示すように、残差の測定値は、工作機械100の回転軸A,Cのピッチ誤差や、直進軸X,Y,Zのバックラッシュの影響が生じるため、細かい波状に振れる場合がある。本実施形態では、回転軸A,Cを回転し、直進軸X,Y,Zを追従させながら、残差を機械座標系のX,Y,Z方向に一致させた変位センサ11,12,13で連続的に測定することができる。このため、測定値が振動しても、多次の多項式により近似をして、その中心の軌跡を求めることができる。こうして多次の多項式近似により中心の軌跡を求めて得られる各点での残差を用いて、最小二乗法により上述した11個の幾何偏差を同定することで、正確に幾何偏差が同定できる。
最小二乗法により11個の幾何偏差を同定するためには、まず、同定対象となる偏差行列xを次に示す[数8]と定義する。
幾何偏差計測装置8により測定された工作機械100の工具と工作物間の相対位置誤差である残差ベクトルをyとすると、偏差ベクトルxは、線形近似が成り立つので、ヤコビアンAによって、次に示す[数9]で表すことができる。
なお、k番目の指令位置に対する機械座標系上でのターゲット球15の変位ベクトルを、次に示す[数10]としたとき、ヤコビアンAは[数11]である。
そして、偏差ベクトルxは、残差ベクトルyと、ヤコビアンAの擬似逆行列を用いて、次に示す[数12]と表すことができる。
工作機械100の幾何偏差は、残差ベクトルyと、ヤコビアンAの擬似逆行列とを用いて定義された偏差ベクトルxを最小二乗法を用いて数値解析することにより求めることができる。
以上説明したように、本発明を適用した実施形態によれば、複数の直進軸X,Y,Zと、回転軸A,Cとを有する工作機械100の幾何偏差測定方法において、主軸2又はテーブル3のいずれか一方に設けたプローブ10で、主軸2又はテーブル3のいずれか他方に設けたターゲット球15を保持し、回転軸A,Cを回転し、複数の直進軸X,Y,Zを追従させながら、ターゲット球15の位置を連続的に計測し、ターゲット球15の位置に関する情報に基づいて、直進軸X,Y,Z、回転軸A,Cに関連する幾何偏差を同定する。この構成によれば、一度のセッティングで効率良く、直進軸X,Y,Z、及び、回転軸A,Cに関連する11個の幾何偏差を正確に同定することができる。
また、本発明を適用した実施形態によれば、連続的に計測したターゲット球15の位置に関する情報の多次の多項式近似により、工作機械100の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡を求め、この工作機械100の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡から最小二乗法により幾何偏差を同定する。この構成によれば、回転軸A,Cのピッチ誤差が生じていても、残差の測定値を多項式近似することで、幾何偏差を正確に同定することができる。
また、本発明を適用した実施形態によれば、ターゲットは球であり、ターゲット球15の中心位置に関する情報に基づいて直進軸X,Y,Z、回転軸A,Cに関連する幾何偏差を同定する。この構成によれば、球は、正確に作ることができるため、ターゲットを球とすることで、ターゲットを所望の形状に正確に成形することができる。よって、ターゲット球15の位置に関する情報に基づいて、幾何偏差を正確に同定することができる。
また、本発明を適用した実施形態によれば、プローブ10を主軸2に設け、ターゲット球15をテーブル3に設置し、主軸2に関連する2つの直進軸X,Zと、テーブル3に関連する1つの直進軸Yとを、テーブル3に関連する、直進軸Zに平行な回転軸Cと、直進軸X、或いは、直進軸Yに平行な回転軸Aとを回転し、追従させる。この構成によれば、プローブ10の各変位センサ11,12,13の方向を、テーブル3が回転した場合でも、機械座標系のX,Y,Z方向に一致させておくことができる。よって、座標変換等を行うことなく、ターゲット球15の回転軸A,Cの回転にともなうX,Y,Zの変位量を高速に、且つ正確に測定することができる。
また、本発明を適用した実施形態によれば、ターゲット球15の初期位置での幾何偏差による位置誤差を幾何偏差の同定に用いる。この構成によれば、ターゲット球15の初期位置での幾何偏差による位置誤差の影響も考慮して幾何偏差を同定するため、幾何偏差を正確に同定することができる。
なお、上記実施形態は本発明を適用した具体的態様の例に過ぎず、本発明を限定するものではなく、上記実施形態とは異なる態様として本発明を適用することも可能である。
例えば、上記実施形態では、テーブル3側に回転軸A,Cがあり、主軸2に装着したプローブ10でテーブル3に固定したターゲット球15を保持し、回転軸A,Cを回転し、直進軸X,Y,Zを追従させる構成であった。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、テーブル側、及び/或いは、主軸頭側に回転軸がある構成であっても良い。
例えば、上記実施形態では、テーブル3側に回転軸A,Cがあり、主軸2に装着したプローブ10でテーブル3に固定したターゲット球15を保持し、回転軸A,Cを回転し、直進軸X,Y,Zを追従させる構成であった。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、テーブル側、及び/或いは、主軸頭側に回転軸がある構成であっても良い。
また、上記実施形態では、ターゲット球15をテーブル3に固定し、プローブ10を主軸2に装着する構成とした。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、ターゲット球を主軸頭に装着し、プローブをテーブルに固定する構成であっても良い。ただし、テーブル旋回型の多軸制御マシンニングセンタにおいては、テーブル3に固定したプローブが、テーブルの旋回に伴い旋回してしまうため、テーブルの旋回角度に伴い,座標変換などをすることで,機械座標系とプローブの各X,Y,Z変位計の向きとを一致させる必要がある。
2 主軸
3 テーブル
8 幾何偏差計測装置
10 プローブ(計測部)
11、12、13 変位センサ
15 ターゲット球(ターゲット)
20 制御装置(算出部)
100 工作機械
A、C 回転軸
X、Y、Z 直進軸
3 テーブル
8 幾何偏差計測装置
10 プローブ(計測部)
11、12、13 変位センサ
15 ターゲット球(ターゲット)
20 制御装置(算出部)
100 工作機械
A、C 回転軸
X、Y、Z 直進軸
Claims (7)
- 複数の直進軸と、回転軸とを有する工作機械の幾何偏差測定方法において、
主軸又はテーブルのいずれか一方に設けたプローブを、主軸又はテーブルのいずれか他方に設けたターゲットに対向させ、前記回転軸を回転し、前記複数の直進軸を追従させながら、前記ターゲットの位置を連続的に計測し、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定することを特徴とする幾何偏差測定方法。 - 連続的に計測した前記ターゲットの位置に関する情報の多次の多項式近似により、前記工作機械の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡を求め、この工作機械の工具と工作物との間の相対位置誤差の中心の軌跡から最小二乗法により幾何偏差を同定することを特徴とする請求項1に記載の幾何偏差測定方法。
- 前記ターゲットは球であり、前記球の中心位置に関する情報に基づいて前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を同定することを特徴とする請求項1または2に記載の幾何偏差測定方法。
- 前記プローブを前記主軸に設け、前記ターゲットを前記テーブルに設置し、前記主軸に関連する2つの直進軸X,Zと、前記テーブルに関連する1つの直進軸Yとを、前記テーブルに関連する、前記直進軸Zに平行な回転軸Cと、前記直進軸X、或いは、前記直進軸Yに平行な回転軸Aとの回転に、追従させることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の幾何偏差測定方法。
- 前記ターゲットの初期位置での幾何偏差による位置誤差を前記幾何偏差の同定に用いることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の幾何偏差測定方法。
- 複数の直進軸と、回転軸とを有する工作機械の幾何偏差計測装置において、
主軸又はテーブルのいずれか一方に設けられると共に、複数の直進軸に関連する複数の変位計を有するプローブと、前記プローブに対向すると共に、主軸又はテーブルのいずれか他方に設置されたターゲットと、前記回転軸を回転し、前記複数の直進軸を追従させながら、前記ターゲットの位置を前記複数の変位計により連続的に計測する計測部と、前記位置に関する情報に基づいて、前記直進軸、前記回転軸に関連する幾何偏差を算出する算出部とを備えたことを特徴とする幾何偏差計測装置。 - 前記算出部が最小二乗法により幾何偏差を算出することを特徴とする請求項6に記載の幾何偏差計測装置。
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JP2013090318A JP2014215079A (ja) | 2013-04-23 | 2013-04-23 | 幾何偏差測定方法、及び、幾何偏差計測装置 |
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