TW200821722A - Display device and method of manufacturing the same - Google Patents
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Description
200821722 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關於顯示裝置及其製造方法。 【先前技術】
Ik著近年之局度情報化社會之充分發展或多媒體系統 (miiltimedia System )之急速普及,液晶顯示裝置 (LCD:Liquid Crystal Display)或有機 EL· 顯示裝置 (EL:Electro Luminescence)等之重要性逐漸增大。以上述 顯示裝置之晝素的驅動方式而言,係廣泛採用使用配列成 陣列(array)狀之薄膜(TFT:Thin FUm Transist〇r)電晶體 的主動矩陣(active matrix)方式。 尤其疋,液晶顯示裝置係薄型面板(pane 1)之其中一個 代表,其耗費之電力低且易於小型輕量化。因此,廣泛應 用於個人電腦(Personal compu1:er)之監視器(m〇nit〇r)或 行動資訊終端機之監視器。另外,近年來,液晶顯示裝置 係漸漸取代習知之陰極射線管(cath〇de-ray tube)式顯示 裝置而作為TV用途。 一般而言,TFT係藉由在玻璃(§1“3)等之絕緣基板上 形成島狀之矽膜並在島狀之矽膜形成閑極絕緣膜及閘極電 極而製造。而且,在TFT之電路形成同時也形成電容電極“ 在特許文獻1中,揭露一種夾著絕緣膜並藉由下部夕 口丨 < 确助 容量層與上部之金屬電極而形成電容。 以TFT而言,大多採用使用半導體膜之M〇s構造。、 2185-9119-PF 5 200821722 冓&而0例如有逆層疊型(inversely staggered)或 頂4閘極(top~gate)型等種類。以半導體膜而言,有非晶 貝石夕薄膜或多結晶⑦薄膜。上述材料係可根據液晶顯示裝 置之用途或性能而適當地選擇。以小型面板之tft而言, 使用多結晶矽薄膜者多矣。使用多結晶矽薄膜之τ{?τ具有 咼度之移動度。因此,在TFT使用晝素開關(Switching) 元件之情況下,可以促進TFT之小型化及面板之高精細 化另外’對用於驅動晝素開關元件之周邊電路部而言, 亦可適用使用多結晶石夕薄膜之。 另一方面’為了削減TFT陣列基板之製造成本 (cost) ’因此檢討光罩(mask)工數之削減。故,為了使半 導體薄膜、閘極電極、或信號線、與上層之畫素電極電性 連接’因此採用了以1回之步驟而在形成於其間之絕緣膜 中形成接觸洞的製造方法。藉此,最上層之晝素電極藉由 接觸洞而與半導體薄膜或各導電膜連接。 如此一來’半導體薄膜係與由I το等透明導電膜所構 成之晝素電極形成電性連接。但是,一旦直接使半導體薄 膜與ΙΤ0接觸的話’則會導致非歐姆(〇hniic)性接觸及高電 阻接觸(contact)。因此,遂檢討在半導體薄膜上設置M〇、 Cr、W、Ti等接觸金屬膜之構造。在此構造中,由ΙΤ0供 給之電位一旦施加於接觸金屬膜的話,則由此接觸金屬膜 供給至半導體薄膜。 參照圖6及圖7,說明習知之顯示裝置。圖6係繪示 習知之顯示裝置之一部份之電容的平面圖。圖7係繪示習 2185-9119-PF 6 200821722 知之顯示裝晉夕 _ „ COW R 電容㈣面圖,亦為沿著圖6之 的心圖。如圖6及圖7所示 之 首先,在絕緣美祐笙1 J 乞頌不衣置中, 3以作為 =、4 1上形成錢切2切氧化膜 薄膜14。而且,在半導::…之預疋位置形成半導體 , 在+ ¥體薄膜14上形成接觸金屬膜5。在 接觸金相5/半導體薄臈14之上以覆蓋上述層之方式: 形成閘極絕緣膜6。而0 , 屑膜5 # ^、 ’在㈣絕緣膜6上之與接觸金 屬膜對向的位置形㈣極金屬電極7。藉 …《成於半導體_ 14上之接觸金屬膜5而形= 方之電合電極。閘極金屬„ 7係與位於其下部之電容電 極對向配置。而且,在開極金屬電極7與下部之電容電極 之間配置閘極絕緣膜6。 在此種情況下,閘極金屬電極7係以完全覆蓋接觸金 屬膜5/半導體薄膜14之電容電極的方式而形成。也就是 說’在習知之顯示裝置中’一方之電容電極之接觸金屬膜 5/半導體薄膜14係較他方之電容電極之閘極金屬電極7配 置於内側而被覆蓋(以上視圖視之)。因此,在接觸金屬 膜5/半導體薄膜14端部之閘極絕緣膜6之階梯覆蓋率 (Step Coverage)惡化,也造成閘極絕緣耐壓之低下。因 此,習知之顯示裝置有信賴性及產率低劣之缺點。 [特許文獻1] 特開2002-31 1453號公報 【發明内容】 如此一來,在習知之顯示裝置中,有所謂在閘極絕緣 2185-9119-PF 7 200821722 膜之接觸金屬膜/半導體薄膜端部之階梯覆蓋率差、閘極絕 緣耐性低的問題。 ^本I明為了解決上述問題點,因此以提供高產率且高 信賴性之顯示裝置的製造方法為目的。 [課題解決之手段] ,本發明之顯示裝置包括:基板、電容(Capacit〇r)下部 電極、閘極(gate)絕緣膜、以及閘極金屬電極(抑以 f metal)。其中,電容(capacit〇r)下部電極具有形成於前記 基板上之多結晶矽(sUic〇n)膜與設於前記多結晶矽膜上 ,觸金屬(contact metal )膜;閘極(gate)絕緣膜形成於 ,'谷下邛電極上,閘極金屬電極(gate metal)係在與 f記閘極絕緣膜上之電容下部電極對向的位置上以配置於 月)忑電令下σ卩電極之内側的方式而形成,其中前記配置關 係係以俯視圖視之。 / [發明效果] 本卷月係提供一種咼產率且高信賴性之顯示裝置及其 製造方法。 【實施方式】 、以下,說明本發明可能適用之實施形態。以下之說明 僅為部分實施形態,並非用以限定本發明。 圖 1係、纟會不本發明之會絲游能
月 < 貫知形態之顯示裝置所用之TFT 陣列基板之構成的平面圖。首奂,* ^ ^ 1 W 口 百无,參照圖1說明以下之實 施形態。以具有此TFT陣列芙勑少批 #成 丨干幻&板之顯示裝置而言,例如有
2185-9119-PF 8 200821722 液晶顯示裝置或有機EL顯示裝置等平面型顯示裝置 (flat-Panel display)。在此,說明顯示裝置之—例的液 晶顯示裝置。
本發明之實施形態顯示裝置係具有基板110。基板11〇 例如是TFT120配列成陣列狀之TFT陣列基板。於基板n〇 設置顯示區域111、與包圍顯示區域1U而設之額緣區域 112。在此顧示區域ill形成複數之閘極配線(掃瞄信號 線)113與複數之信號線(顯示信號線)114。複數之閘極配線 113係平行設置。同樣地,複數之信號線114係平行設置\ 閘極配線113、與信號線114係以相互交又的方式而形成。 閘極配線113係與信號線114直交。而且,由鄰接之閘極 配線113與信號線上14所包圍之區域成為晝素117。因此, 在基板110中,晝素117係配列成矩陣(ma1;rix)狀。 而且,在基板11G之額緣區4 112設置掃晦信號驅動 電路部115與顯不信號驅動電路部丨丨6。閘極配線113係 自顯示區域ill延伸至額緣區域112而設置。@且,閑極 配線113係在基板11()之端部與㈣信號驅動電路部 連接。信號線114也同樣自顯示區域111延伸至額緣區域 112而設置。而且,信號線114係在基板nG之端部與顯 示信號驅動電路部116連接。外部配線ιΐ8連接在掃晦信 號驅動電路部115之附近。另外,外部配線119連接在顯 示信號驅動電路部116之附近。外部配線ιΐ8、ιΐ9例 FPC (Flexible Printed㈤山)等配線基板。 來自外邛之各種信號係藉由外部配線】】8、1工9而供給
2185-9119-PF 9 200821722 至掃虎驅動電路部115、及顯示信號驅動 ==號_路部115係根據來自外部之控制信號 線)113 :號(知目田仏唬)供給至閘極配線(掃瞄信號 =動:由此間極信號而依序選擇間極配線ιΐ3。顯示 :=電路部116係根據來自外部之控制信號、或顯示 數據(data)而將顯示信號供給至信號、線m。藉此,可以 將因應顯示數據之顯示„供給至各晝素117。 曰在晝素117内至少形成^TFT12〇、電容13〇、及液 素140電谷130係具有電容上部電極與電容下部電 極。而且’電容上部電極與電容下部電極係夾著絕緣膜而 對向配置。另外,液晶畫素140係具有與晝素電極141與 對向電極。而且’畫素電極141舆對向電極係夹著液晶而 對向配置。而且,對向電極係形成於後述之對向基板上且 與液晶料通連接。TFT12G係配置於信號線ιΐ4與間極配 線Π3之交又點附近。例如,此TFn2〇係將顯示電壓供給 至晝素電極。也就是說,藉由來自閑極配線113之間極信 號,則作為開關元件之TFT12〇開啟(〇n)。藉此,顯示電壓 自信號線114施加於與TFT之信號線連接的晝素電極。而 且,在畫素電極與對向電極之間產生因應顯示電壓之電 場。另外,即使在顯示電壓未施加於畫素電極141之情況 下,藉由電容130也可以蓄積晝素電極141之電荷。而且, 在基板110之表面形成配向膜(圖未顯示 而且,對向基板與TFT陣列基板對向配置。對向基板 例如是彩色濾光片(c〇l〇r filter)基板,且配置於視認
2185-9119-PF 10 200821722 側。於對向基板形成黑色矩陣(black ma1:rix ; bm)、彩色 濾、光片及配向膜等。而且,於基板丨丨〇與對向基板之間夹 置液晶層。也就是說,在基板丨丨〇與對向基板之間注入液 晶。而且’在基板Π 〇與對向基板之外側面設置偏光板、 及位相差板等。另外,在液晶顯示面板之反視認側配設背 光單元(backlight unit)等。 藉由畫素電極141與對向電極之間的電場而驅動液 晶’使得基板間液晶之配向方向產生變化。藉此,通過液 晶層之光的偏光狀態產生變化。也就是說,通過偏光板而 成為直線偏光的光係藉由位相差板、及液晶層而使偏光狀 態變化。具體而言,在透過區域中,藉由設於TFT陣列基 板之側偏光板而使來自背光單元之光成為直線偏光。接 著’此直線偏光藉由通過TFT陣列基板側之位相差板、液 晶層、及對向基板側之位相差板而使偏光狀態產生變化。 另一方面,在反射區域中,從液晶顯示面板之視認側入射 的外光係藉由對向基板側之偏光板而成為直線偏光。接 著,此光係藉由在對向基板側之位相差板、及液晶層往復 而使偏光狀態變化。 而且,通過對向基板側之偏光板的光量係因應偏光狀 態而變化。也就是說,在自背光單元透過液晶顯示面板之 透過光、及於液晶顯示面板反射之反射光中,通過視認側 之偏光板之光的光量產生變化。液晶之配向方向係藉由所 施加之顯示電壓而變化。因此,藉由控制顯示電壓可以使 通過視認側之偏光板的光量產生變化。也就是說,藉由在 2185-9119-PF 11 200821722 每一個晝素内改變顯示電壓,可以顯示所欲之影像。 具體而言,在顯示黑之情況下,藉由位相差板與液晶 層’使光成為具有與視認側之偏光板之吸收軸約略相同振 動方向(偏光面)的直線偏光。藉此,大部分的光被視認側 之偏光板所遮住,而可以進行黑顯示。另一方面,在顯示 匱况下’藉由位相差板與液晶層,而作成與視認側之 偏光板之吸收軸約略直交之方向的直線偏光、或圓偏光 广藉此由於光通過視認側之偏光板之故,可以進行白 、、貝示士此一來,藉由閘極信號、及源極(source)信號而 控制施加於每一個晝素之顯示電壓。藉此,液晶層之配向 產生欠化,而偏光狀態係因應顯示電壓。因此,可以顯示 所欲之影像。 發明之實施之形態1.
以下,關於實施形態丨之顯示裝置,係使用圖2及圖 立而次明。圖2係繪示發明之實施形態、i之顯示裝置之一 :之電奋13〇的平面圖。圖3係繪示發明之實施形態1 ,波置之部份之電容1 30的剖面圖,且為沿著圖2 線的4面圖。首先’說明實施形態1之顯示裝置的 成在破璃基板或石英基板等具有透過性之絕緣性基板 :、土板1上形切氮化膜2切氧化膜3以作為下層膜。 M於ΤΠ之構成’由於和較習知廣泛使用之頂部閘 極型之多結晶矽TFT相同的缝士今 J的緣故,因此省略說明。
在夕乳化膜3上之預定位置形成多結晶㊉膜4。而且, 夕、、”曰矽膜4上形成接觸金屬膜5。接觸金屬膜5係以 2185-9119-PF 12 200821722 車乂夕、。曰曰矽膜4小之面積並自多結晶矽膜4突出的方式而 配置—在此,多結晶矽膜4與接觸金屬膜5之積層構造成 為電”下邛電極2〇。在接觸金屬冑5之上以覆蓋電容下部 電極20之方式而形成閘極絕緣膜6。 而且,在閘極絕緣膜6上與電容下部電極2()對向之位 置形成閘極金屬電極7。此閘極金屬電極7係成為電容上 邛電極。此時’閘極金屬電極7係較電容下部電極20形成 於内側;較佳者,較接觸金屬膜5形成於内側。也就是說, 作為一方之電容電極的電容下部電極20係以較作為他方 之電容電極的閘極金屬電極7突出至外側的方式而配置 (以上視圖視之)。而且,在電容下部電極20之全周,電 容下部電極20之緣部上並未配置閘極金屬電極7。藉由上 迷構造’位於閘極絕緣膜6之電容下部電極2 〇之端部的階 梯覆盍率良好。但是,僅圖案化(patterning)閘極金屬電 極7之引出配線21以攀越電容下部電極2 0之緣部。引出 配線21與閘極金屬電極7係位於同一層(layer)且一體化 地形成。因此,在電容下部電極20之全周,與引出配線 21以外之閘極金屬電極7同一層之導電層係未配置於電容 下部電極20之緣部上。另外,閘極金屬電極7之引出配線 21之寬度係在1 5 // m以下。藉此,引出配線21係可以使 攀越電容下部電極20之緣部的地方變小。因此,可以防止 位於引出配線21與電容下部電極2 0間之絕緣破壞。藉此, 可以得到高產率且高信賴性之顯示裝置。 而且,在閘極金屬電極7上以覆蓋閘極金屬電極7之 2185-9119-PF 13 200821722 方式而形成層間絕緣膜8。在層間絕緣膜8上形成保護膜 ίο。在此,自閘極金屬電極7引出2條引出配線2卜2條 引出配線21係從間極金屬電極7之對向的端部引出。引出 配線21例如舆相鄰畫素之M極金屬電極7彼此連接。共通 電壓藉由此引出配線21而供給至閘極金屬電極7。另一方 面’電容下部電極20例如與TFm〇之汲極(drain)連接並 所構成之 接受顯示電壓供給。而且,藉由閘極金屬電極 電容130而得以保持電位。 接著,說明實施形態〗之顯示裝置的製造方法。首先, 在玻璃基板或石英基板等具有透過性之絕緣性基板ι上形 成下層膜。以下層膜而言’可以使用石夕氮化膜2、石夕氧化 膜3、或其積層膜。接著,藉由電漿(山繼),法而形成 厚50〜70nm之非晶矽(am〇rph〇us siUc〇n)膜。之後,藉 由准刀子田射退火(excimer laser anneal)或yag雷射退 火(laser anneal)等而將非晶矽膜溶融並冷卻固化而得到 多結晶矽膜。而且,在此多結晶矽膜上以微影製程而形成 光阻圖案(resist pattern)。藉由使用此光阻圖案之乾钱 刻製程(dry etching)而圖案化多結晶矽膜,以將多結晶矽 膜“口工島狀。之後,除去光阻圖案。藉此,彡結晶矽膜 4係形成於成為TFT12〇之位置及成為電容13〇之位置。 在將多結晶石夕膜4作成島狀之後,於其上形成M〇、Cr、 W、Τι等接觸金屬膜5。之後,以在成為之s/])區 域(源極/汲極區域)之位置及成為電容130之位置殘留接 觸金屬膜5的方式進行圖案化製程。藉此,形成電容下部
2185-9119-PF 14 200821722 電極2 0。 多結晶石夕膜4及接觸金屬膜5形成之後,以覆蓋上述 、弋藉由電漿CVD法以在基板1全面形成閘極絕緣 膜6。藉此,閘極絕緣膜β係覆蓋成為TFT120之位置的多 結晶矽膜4/接觸金屬膜5、及成為電| 130之位置的電容 下邛電極20。以閘極絕緣膜6而言,可以使用矽氮化膜 (SlN}〇、石夕氧化膜(Si〇x)、石夕氧化氮化膜(SiOxNy)或其 積層膜°間極絕緣m 6形成之後’可以藉由使用dc電磁 (jnagnetron)之濺錢(sputteHng)法而形成作為閘極金屬 電極7之導電膜。導電膜係Mq、Cr、w、A1、以、或以上 述元素為主成分之合金膜。 $成作為閘極金屬電極7之導電膜之後,進行圖案 化。猎此:成為TFT120之位置的閘極電極、及成為電容 13〇之電谷上部電極之位置的閘極金屬電極7係同時形 成。此恰,電容上部電極係較電容下部電極20形成於内 侧’尤其是較接觸金屬膜5形成於内側。也就是說,相較 於作為他方之電容電極的閘極金屬電極7而言,將作為一 方之電容電極的電容下部電極2〇形成在更外側(以上視圖 不之)。但是,閘極金屬電極7之引出配線21係以攀 容下部電極20之緣部的方式進行圖案化製程。此 配線21之寬度係作成丨5 # m以下。 在此,引出配線21係攀越電容下部電極2〇之緣部。 因此’在電容下部電極2〇上之閘極絕緣膜6之階梯覆蓋率 (coverage)差的情況τ,恐有在引出配線Μ與電容下部電
2185-9119-PF 15 200821722 極2 0之間發生絕緣破壞之虞。在本實施形態中,由於將引 出配線21之寬度作成1 5 // m以下之故,因此可以縮小攀越 閘極絕緣膜6上之電容下部電極2〇之緣部的部分。藉此, 在引出配線21與電容下部電極2〇之間,可以防止絕緣破 壞發生。因此,可以得到高產率且高信賴性之顯示裝置。
在閘極金屬電極7之圖案化後,為了形成TFn2〇之 S/D區域,因此進行不純物之導入。不純物之導入可以藉 由離子(ion)庄入法或離子佈植(丨⑽加口丨叫)法而進行。在 此,可以使用P或B作為導入之不純物元素。若導入p的 話,則可以形成η型之TFT。另外,若導入B的話,則可 以形成p型之TFT。另夕卜,也可以藉由2個步驟而形成與 閘極金屬電極7同-層之閘極電極,以作為n $ m用閑 極電極、p型TFT用閘極電極。藉此,可以在同一基板上 分別作出η型與p型之TFT。而且,為了提升m之信賴 性,也有作成LDD(Lightly Doped Drain)構造之情況。藉 此,TFT形成於S/D區域。 TFT之S/D區域形成之後,藉由電《CVD法而形成由 石夕氧化膜或石夕氮化膜等所構成之層間絕緣m 8。層間絕緣 膜8係在電容13G中以覆蓋閘極金屬電極7之方式而形 成。另外,在TFT120則以覆蓋問極電極之方式而形成。‘ 後,為了使在前述步驟中所導入之不純物活性化,則施以 4 0 0 °C以上之熱處理。 龟磁之賤錢法而於層間 源極/汲極金屬(source 施以熱處理之後,藉由使用DC 絕緣膜8上形成作為信號線丨丨4之
2185-9119-PF 16 200821722 drainmetal)。以信號線il4而言,例如可以使用心、叶、 W、A卜Ta、或以上述元素為主成分之合金膜。另外,源極 /沒極金屬、與由上層之ίτ〇所構成之等畫素電極⑷必須 形成電性連接。因此,源極/汲極金屬乃作成μ。、卜卜
Ta、或以上述元素為主成分之合金膜的單層、或作成在最 上層配設“…+:^或以上述元素為主成分之合金 膜的積層構造。藉由使用上述材料,彳以降低與上層ιτ〇 之接觸電阻。源極/汲極金屬成膜之後,藉由濕蝕亥:⑽ etching)、或乾蝕刻而圖案化以形成信號線ιΐ4。 形成信號線114之後,在層間絕緣膜8上藉由電漿cvd 法而形成保護膜10 ,以覆蓋信號線114。保護膜lQ係可以 採用使si與nh3反應之氮化石夕膜。在保護膜1〇形成之 後,藉由乾蝕刻而形成用於和電容下部電極2〇、閘極金屬 電極7、或信號線114、與上層之晝素電極141連接之接觸 洞。 藉由蝕刻(etching)保護膜1〇,可以形成到達信號線 114之接觸洞。另外,藉由蝕刻保護膜丨〇及層間絕緣膜8, 可以形成到達閘極電極(閘極金屬電極7)之接觸洞。另外, 藉由蝕刻保護膜10、層間絕緣膜8、及閘極絕緣膜6,可 以形成到達接觸金屬m 5之接觸洞。藉由U i次之蝕刻步 驟而形成到達信號線i丨4之接觸洞、到達閘極電極(閘極 金屬電極7)之接觸洞、到達接觸金屬膜5之接觸洞,可以 簡化製造步驟。因此,可以提升生產性。 接觸洞形成之後,藉由使用DC電磁之濺鍍法而在保護
2185-9119-PF 17 200821722 膜ι〇上形成晝素電極141。而且,以畫素電極141而言, 例如可以使用以氧化銦(indium)作為主成分之ιτο或 ΙΖ0。另外,畫素電極141係以覆蓋接觸洞的方式而圖案 化。藉此,例如,TFT120之汲極與畫素電極141連接。另 外,#號線119係藉由與晝素電極141同層之導電圖案而 和TFT120之源極連接。因此,藉由TFn2〇可以將來自信 號線114之顯示電壓供給至畫素電極141。另外,閘極金 屬電極7與晝素電# 141形成電性連接。因此,可以對閘 極金屬電極7供給顯示電壓。如此一來,即完成TFT陣列 基板。接著,將此TFT陣列基板用於液晶顯示裝置等裝置。 如以上所述,閘極金屬電極7係形成於電容電極2〇之 内側(以上視圖視之)。藉此,在閘極絕緣膜6之電容下 部電極20端部之階梯覆蓋率變成良好,且閘極絕緣耐壓提 升。因此’可以得到高產率且高信賴性之顯示裝置。 發明之實施之形態2. 以下,使用圖4及圖5說明實施形態2之顯示裝置。 圖4係繪示發明之實施形態2之顯示裝置之一部份之電容 130的平面圖。圖5係繪示發明之實施形態2之顯示裝置 之一部份之電容130的剖面圖,且乃沿著圖4之Β — β,線的 剖面圖。 首先,說明實施形態2之顯示裝置的構成。在實施形 態2之顯示裝置中,與實施形態丨相異之處在於:於閘極 金屬電極7未形成引出配線21。也就是說,在電容13〇中, 相較於電容下部電極20而言,與閘極金屬電極7同層之金 2185-9119-PF 18 200821722 屬係完全形成於内側。而且,在電容下部電極2〇之全周, 於電容下部電極2。之緣部上係未配置閘極金屬電極?:而 且,除了實施形態1之構成,更於保護膜1〇上形成連接圖 案12。連接圖案12係藉由與晝素電極141同一層而形成。 形成從連接圖案12至到達閘極金屬電極7的接觸洞u。 藉此’連接圖案12與閘極金屬電極7係藉由接觸洞u而 連接。可以使用實施形態2所示之連接圖案12而取代在實 施形態1所示之閘極金屬電極7之引出配線2卜而且,藉 由連接圖案12,鄰接畫素之閘極金屬電極7彼此連接。 在此,連接圖案12係藉由與畫素電極141同層之導電 層而形成。因此,在連接圖案12與電容下部電極2〇之間 配置閘極絕緣膜6、層間絕緣膜8、保護膜1〇之3層絕緣 膜。而且’在保護膜10之上配置連接圖案12。也就是說, 在電容下部電極20之緣部上由下而上依序配置開極絕緣 膜6、層間絕緣臈8、保護膜1〇。而且,在保護膜之上 配置連接㈣12。藉由上述構成,可以增加連接圖案12 與電容下部電極20間之絕緣膜的膜厚。因此,可以確實防 ^發^於電容下部電極2G之緣部的絕緣破壞。藉此,可以 得到南產率且高信賴性之顯示裝置。 〃接著,說明實施形態2之顯示裝置的製造方法。由於 從在基板1上形成矽氮化膜2至形成作為閘極金屬電極7 之導電膜的部分與實施形態"目同之故,因此省略說明。 ^成作為閘極金屬電極7之導電膜之後,進行閘極金屬 極7之圖案化。異於實施形態j之情況的是··在閘極金
2185-9119-PF 19 200821722 屬電極7之圖案未形成引出配線21。因此,相較於電容下 部電極20而言,與閘極金屬電極7同層之金屬(metal)係 以完全配置於内側之方式進行圖案化。 形成閘極金屬電極7之後,與實施形態1同樣地為了 形成TFTT20之S/D區域而導入不純物。由於從之S/D 區域之形成至保護膜10之成膜部分與實施形態1相同之 故,因此省略說明。保護膜10形成之後,與實施形態1同 樣地形成用於使電容下部電極20、閘極金屬電極γ、或信 號線114、與上層之晝素電極141連接的接觸洞。同時, 在保護膜1 0及層間絕緣膜8形成接觸洞11。如此一來, 接觸洞11係以藉由保護膜i 〇及層間絕緣膜8而到達閘極 金屬電極7之方式形成。 接觸洞11形成之後,在保護膜10上形成晝素電極141 及連接圖帛12。藉此,上層之連接圖案12與閘極金屬電 極7連接。因此,可以藉由連接圖案12而供給共通電位。 藉由以上之步驟而完成TFT陣列基板。
顯不裝置。 由以上之内容可知,位於閘極絕緣膜6之電容下部電 而閘極絕緣耐壓增 ‘種接觸洞。而且, 141及連接圖案12。 ’可以提升生產性。 4賴性、高產率之
2185-9119-PF 20 200821722 【圖式簡单說明】 [圖1 ] 係繪示本發明之實施形態之顯示裝置所用之 T F T陣列基板之構成的平面圖。 [圖2 ] 係繪示本發明之實施形態1之顯示裝置之一 部份之電容的平面圖。 [圖3 ] 係繪示本發明之實施形態1之顯示裝置之一 部份之電容的剖面圖。 [圖4 ] 係繪示本發明之實施形態2之顯示裝置之一 部份之電容的平面圖。 [圖5 ] 係繪示本發明之實施形態2之顯示裝置之一 部份之電容的剖面圖。 [圖6 ] 係繪示習知之顯示裝置之一部份之電容的平 面圖。 [圖7 ] 係繪示習知之顯示裝置之一部份之電容的剖 面圖。 '【主要元件符號說明】 1 基板、 2 矽氮化膜(下層膜)、 3 矽氧化膜(下層膜)、 4 多結晶石夕膜、 5 接觸金屬膜、 6 閘極絕緣膜、 7 閘極金屬電極、 2185-9119-PF 21 200821722 8 層間絕緣膜、 9 信號線、 10 保護膜、 11 接觸洞、 12 連接圖案、 14 半導體薄膜、 20 電容下部電極、 21 引出配線、 110 基板、 111 顯示區域、 112 額緣區域、 113 閘極配線、 114 信號線、 115 掃瞄信號驅動電路部、 116 顯示信號驅動電路部、 117 晝素、 118 外部配線、 119 外部配線、 120 TFT、 130 電容、 140 液晶畫素、 141 晝素電極。 22
2185-9119-PF
Claims (1)
- 200821722 ^ 十、申請專利範圍·· 1 · 一種顯示裝置,包括: 基板; 電容(capacitor)下部電極,具有形成於前記基板上之 多結晶矽(sil1C〇r〇膜與設於前記多結晶矽膜上之接觸金 屬(contact metal)膜; 間極(gate)絕緣膜,形成於前記電容下部電極上;以 係在與前記間極絕緣膜 上以配置於前記電容下 前記配置關係係以俯視 閘極金屬(gate metal)電極, 上之前記電容下部電極對向的位置 部電極之内側的方式而形成,其中 圖視之。 ;2.如申請專利範圍f 1項所述之顯示裝置,其中自前 圮閘極金屬電極引出且寬度1 、, 見度1 b # m以下之引出配線係攀 剷ό己電谷下部電極之緣部。 3.如申請專利範圍帛1項所述之顯示裝置,其 閘極金屬電極係藉由接觸洞(⑽tact h0!e)而與上層之遠 接圖案(pattern)連接; 前記上層之連接圖案係攀越前記電容下部電 部。 、巧^ 4. 一種顯示裴置之製造方法 包括: 電容下部電極形成步 石夕膜與配置於前記多結晶 電極; 驟,以在基板上形成具有多結晶 矽膜上之接觸金屬膜的電容下部 2185-9119-PF 23 200821722 閘極絕緣膜形成步驟,以在前記電容下部電極上形成 閘極絕緣膜;以及 閘極金屬電極形成步驟,以在前記閘極絕緣膜上形成 配置於前記電容下部電極之内側的閘極金屬電極,其中前 記配置關係係以俯視圖視之。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之顯示裝置之繁造方 法’在前記閘極金屬電極形成步驟中,係以攀越前記電容 下部電極之緣部的方式而形成從前記閘極金屬電極引出且 寬度1 5 // m以下之引出配線。 6 ·如申請專利範圍第4項所述之顯示裝置之製造方 法,更包括: < 記電容下部電極之 層形成前記連接圖 與岫記閘極金屬電 連接圖案形成步驟,其係以攀越前 緣部的方式而在前記閘極金屬電極上 案’其中前記連接圖案係藉由接觸洞而 極連接。 2185-9119-PF 24
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