TW200809846A - Recording layer for optical information recording medium, optical information recording medium, and spattering target - Google Patents

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Tatewaki Ido
Hideo Fujii
Yuki Tauchi
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Kobe Steel Ltd
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Description

200809846 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於光資訊記錄媒體用記錄層(光記錄層) 及光資訊記錄媒體以及光記錄層形成用濺鍍靶材。本發明 之光資訊記錄媒體用記錄層係使用於既存之CD ( Compact Disc) 、DVD (Digital Versatile Disc)、以及次世代型 光資訊記錄媒體(HD-DVD及Blu -ray Disc),尤其是, 最適合於使用藍紫色之雷射之只寫一次型光資訊高密度記 錄媒體。 【先前技術】 光資訊記錄媒體(光碟)依據其記錄再生方式,可大 致分成唯讀型、可重寫型、以及只寫一次型之3種類。 其中,只寫一次型光碟時,主要係利用被雷射光照射 之記錄層材料之物性變化來記錄資料。只寫一次型光碟雖 然可進行資訊記錄卻無法進行刪除及重寫。利用如上所示 之特性,只寫一次型光碟被使用於不必進行資料之修正或 變更之文書檔案或影像檔案等之保存,例如,CD_R、 DVD-R、DVD + R等之市販品。 只寫一次型光碟所使用之記錄層材料,例如,花青系 色素、酞花青系色素、以及偶氮系色素等之有機色素材料 係大家所熟知。對該有機色素材料照射雷射光,利用色素 之熱吸收而使色素或基板產生分解、熔融、$胃胃等,@ 而形成sE錄標記。然而’使用有機色素材料日寺,必 <旨將色 -5- (2) (2)200809846 素溶解於有機溶媒再塗佈於基板上,故有生產性較差的問 題。此外,記錄信號之長期安定保存性等方面也有問題。 爲了改善上述有機色素材料之缺點,有人提出以下之 方法,亦即,光記錄層使用無機材料薄膜,對該薄膜照射 雷射光來局部地形成記錄標記(凹洞、溝等),藉以進行 記錄之方法(參照專利文獻1〜7等)。 專利文獻1及2係記載著積層著由含有A1之Cu基合 金所構成之反應層、及含有Si等之反應層之光記錄層。 該文獻所示之光記錄層時,利用照射雷射光,,可於基板 上,局部地形成混合存在著各反應層所含有之元素的區域 ,藉此,可使反射率產生較大之變化,即使藍色雷射等短 波長雷射也可進行高感度之記錄。 專利文獻3及4係關於用以防止記錄標記之C/N ( carrier-to-noise ratio:載體及雜訊之輸出電平的比)之降 低,且具備高C/N及反射率之光記錄媒體,明示光記錄層 係含有In之Cu基合金(專利文獻3 )、含有Bi等之Ag 基合金(專利文獻4 )。 專利文獻5及6係關於使用Sn基合金之光記錄層, 專利文獻5明示著,使合金層中含有2種以上之於熱處理 時至少部份凝聚所得之元素之光資訊記錄媒體。具體而言 ,係含有Bi或In之厚度爲1〜8nm程度之Sn-Cu基合金 層。專利文獻6所示係利用於由Bi、及In、Sn、Cd、Pb 、Z n等之低融點金屬所構成之合金添加著n、A r、S而形 成之合金,來得到未全無法刪除記錄標記之記錄層,而得 -6 - 200809846 (3) 到具有高記錄感度之光記錄層。 專利文獻7係關於記錄層由2相所構成之光學記錄媒 體’由含有氧之In合金的第1記錄層、及含有氧之Se及/ 或Te之合金的第2記錄層所構成,利用此種構造,可得 到具有高反射率及記錄感度之光記錄層。 [專利文獻1]日本特開2004-922號公報 [專利文獻2]日本特開2004-34717號公報 [專利文獻3]日本特開2002-172861號公報 [專利文獻4]日本特開2002-144730號公報 [專利文獻5 ]日本特開平2 - 1 1 7 8 8 7號公報 [專利文獻6]日本特開2002-347340號公報 [專利文獻7]日本特開2003-326848號公報 【發明內容】 近年來,爲了對應記錄資訊之高密度化,而針對利用 藍紫色雷射等之短波長雷射之光資訊之記錄及再生技術進 行開發,符合其要求之記錄層特性係(1 )高C/N (讀取 時之信號較強,背景之雜訊較小)、低顫動(再生信號之 時間軸上之擺動較少)等高品質之信號寫入·讀取特性、 及(2)高記錄感度(可以低功率之雷射光來寫入)等。 另一方面,金屬系之光記錄層具有素材安定性遠優於 有機系之光記錄層之優點,開發以金屬系之材料滿足上述 要求特性之實用光記錄層,在對使用者提供高信賴性之 BD-R及HD DVD-R上,係極爲重要的。 200809846 (4) 此外,光記錄層之成膜上,最好採用生產效率高之濺 鍍法,同時,最好能提供以形成高品質光記錄層爲目的之 濺鍍靶材、及具有該記錄層之光資訊記錄媒體。 有鑑於上述事實,本發明之目的係在提供可滿足上述 ' (1 ) 、 ( 2 )之要求特性,且具有高記錄感度信賴性之光 ' 資訊記錄媒體用記錄層、及具備該記錄層之光資訊記錄媒 體,此外,尙提供有利於形成該種光資訊記錄層之濺鍍靶 材。 爲了解決上述課題,本發明之光資訊記錄用記錄層, 係利用雷射光照射來形成記錄標記之記錄層,其特徵爲, 該記錄層係由含有0.1〜15原子%之1種以上之稀土類元 素、或含有6〜50原子%之Ni或含有0.1〜50原子%之從 Pd、Co、Pt、以及V所選出之1種元素或含有〇·1〜50原 子%之An (但,不含50原子% )的In合金所構成。 本發明之上述記錄層,尤其是對於波長爲350〜 7OOnm之範圍的雷射光特別具有高記錄感度,故可發揮優 良之光資訊的寫入精度及讀取精度。 此外,本發明之光資訊記錄媒體具有具備上述構成之 光記錄層之特徵,於前述記錄層之上部及/或下部配設光 學調整層及/或介電質層之構成係良好實施形態。該光資 訊記錄媒體之光記錄層之厚度,於光記錄層之上部及/或 下部配設著光學記錄層或介電質層時,應在於1〜5 0nm之 範圍,未配設光學記錄層及介電質層時,應在於8〜50nm 之範圍。 -8- 200809846 (5) 光記 * 0.1 成, Co、 而以 [η合 範圍 其他 記。 較粗 以上 Pt、 、或 該缺 可改 如下 此外,本發明之濺鍍靶材係利用濺鍍法形成上述 錄層時所使用之靶材,其特徵爲,第1靶材係由含有 〜1 5原子%之1種以上之稀土類元素的I η合金所構 其他靶材則係由含有〇. 1〜5 0原子%之範圍之從Pd、 Pt、以及V所選出之1種元素的In基合金所構成, 外之其他靶材係由含有6〜50原子%之範圍之Ni的 金、或含有〇·1〜50原子% (但,不含50原子% )之 之A u的I η合金所構成。 本發明之上述In合金時,基材之In係融點遠比 金屬爲低之1 5 6 · 6 °C,可以低雷射·功率形成記錄標 相反地,因爲In爲低融點,故C/N値較小,記錄層 且表面平滑性較差,使In含有0.1〜15原子%之1種 之稀土類元素、或含有0.1〜50原子%之從Pd、Co、 以及V所選出之1種元素、或含有6〜50原子%之Ni 含有0.1原子%以上、50原子%以下之Au,可以改善 點,而得到可使光記錄層達到實用水準之C/N値,且 善再生波形,而得到實用之低雷射·功率之光記錄層< 【實施方式】 首先,本發明之所以選擇In做爲基金屬之理由 所示。 從光記錄層之反射率之觀點而言,Al、Ag、Cu等稍 優於In,然而,利用雷射光照射之記錄標記之形成性則In 遠優於它們。因爲In之融點約爲156.6 °C,遠低於A1 (融 200809846 (6) 點約爲660°C ) 、Ag (融點約爲962t ) 、Cu (融點約爲 1 0 8 5 °C ),故In合金之薄膜即使在雷射光照射之低溫下 也容易熔融或變形,於低雷射·功率下也可發揮優良之記 錄特性。尤其是,本發明之目的之一,係應用於利用藍紫 色雷射之次世代型光碟,此時,因爲A1基合金等可能會 難以形成記錄標記,故採用In合金。 如上所述之本發明所使用之In合金,基本上係由ln 負責其主要特性,該In合金中,In之含有量應爲40原子 %以上,In含量爲50原子%以上更佳,最好爲60原子% 以上。 然而,In單獨時爲低融點,因此C/N値較小,此外, 記錄層較粗而表面平滑性較差,故實用性不良。因此,本 發明之第1之In合金時,除了 In以外,應含有0.1〜15 原子%之1種以上之稀土類元素(具體而言,如Y、La、 Nd、Gd或Yb等),最好含有8〜10原子%之範圍。此外 ,其他In合金時,應含有0.1〜50原子%之從Pd、Co、Pt 、以及V所選出之1種元素,最好含有10〜40原子%之 範圍。此外,其他In合金時,應含有6〜50原子%之Ni ,最好含有1〇〜40原子°/〇之範圍。或者,其他In合金時 ,應含有0.1原子%以上、50原子%以下之Au,最好含有 10〜40原子%之範圍。適量含有各合金元素,可以活用In 本來之特性,而改善其缺點之低C/N値及記錄層之表面平 滑性不足及粗糙度,而得到可實用之記錄感度及記錄精度 -10- 200809846 (7) 亦即,上述In合金時,稀土類元素之Pd、Co、Pt、 V、Ni、以及Αιι皆具有可改善光記錄層之表面粗糙度較 大、再生時之雜訊較高(亦即,C/N値較小)之純In層之 缺點之作用。上述作用在含有0 · 1原子。/〇以上之稀土類元 素時,可有效發揮,最好含有3原子%以上。另一方面, 稀土類元素之含有量爲1 5原子%以下時,已確認初期反射 率不會降低下,而信號讀取必要之未記錄部分具有良好之 反射率,因最大爲1 5原子%,以1 0原子%以下爲佳,最 好爲8原子%程度以下。此外,稀土類元素如Y、Nd、La 、Gd、以及Yb等,可以單獨使用,或者,也可以倂用2 種以上之任意組合。 此外,Pd、Co、Pt、以及V時,上述效果於分別含有 0.1原子%以上時可有效發揮,最好爲含有10原子%以上 。另一方面,Pd、Co、Pt、或V之含有量爲50原子%以 下時,可以使In量不會相對地過少,而可以發揮In本來 之特性,尤其是,可以活用低融點而形成良好之記錄標記 。Pd、Co、Pt、或V之含有量最好爲40原子%以下。 此外,Ni時,含有6原子%以上可有效地發揮添加效 果,最好爲含有10原子%以上。另一方面,Ni之含有量 爲50原子%以下,In量不會相對地過少,而可以發揮In 本來之特性,尤其是,可以活用低融點而形成良好之記錄 標記。Ni含量最好爲40原子%以下。 此外,Au時,含有〇 · 1原子%以上可有效地發揮添加 效果,最好爲含有10原子%以上。另一方面,Αιι之含有 -11 - 200809846 (8) 量爲5 〇原子%以下,ϊη量不會相對地過少,而可以發揮 In本來之特性,尤其是’可以活用低融點而形成良好之記 錄標記。A u之含有量最好爲4 0原子%以下。 利用上述In合金所形成之光記錄層’可以安定精度 ' 形成確實之記錄層,且依據光資訊記錄媒體之構造’其厚 度可介於1〜50nm之範圍。厚度爲1 nm以上’光記錄層 不會過薄,即使未於光記錄層之上部或下部配設光學調整 層或介電質層,於光記錄層之膜面不會產生孔隙等缺陷’ 而得到可滿足之記錄感度。另一方面,記錄層之厚度若爲 5 Oiim以下,記錄層不會過厚,可抑制雷射光照射所附與 之熱在記錄層內擴散,而形成良好之記錄標記。記錄層之 厚度,未配設介電質層或光學調整層時,應爲8 nm以上、 50nm以下,最好爲l〇nm以上、25nm以下,配設著介電 質層或光學調整層時,應爲3nm以上、30nm以下,最好 爲5nm以上、25nm以下。 以記錄爲目的而照射之雷射光之波長應在於3 5 0〜 700nm之範圍。雷射光之波長若爲350nm以上,被覆層( . 光透射層)等難以實現光吸收,對光記錄層可以有良好之 寫入·讀取。另一方面,雷射光之波長爲7 0 Onm以下,可 以充份得到雷射光之能量,可以對光記錄層形成良好之記 ^ °以此觀點而言,資訊記錄所使用之雷射光線之波 長應爲35〇nm以上、660nm以下,最好爲3 8 0nm以上、 6 5 0 n m以下〇 Μ形成本發明之上述光記錄層爲目的所使用之濺鍍靶 -12- 200809846 (9) 材之組成,基本上,與上述光記錄層之合金組成 用前面針對In合金所記載之合金組成調整,以 成之光記錄層也很容易就可實現相同之成分組成 以下,將本發明之優點與傳統技術(前述之 1〜7 )進行對比,同時進行說明。 • 以反射率之觀點而言,日本特開2004-5922 曰本特開2004-234717號公報、日本特開2002-公報、或日本特開2002-144730號公報所記載: 、Cu比本發明所使用之in稍優。然而,以利用 射之記錄標記形成性而言,則In佔有絕對的優 面所述,因爲In之融點爲156.6 °C,遠低於A1 < °C ) 、Ag (融點 962°C ) 、Cu (融點 1 085 °C ) 金之極薄膜即使在雷射光照射之低溫下也會熔融 於低雷射·功率下也可發揮優良之記錄特性。 尤其是,如本發明應用於利用藍紫色雷射之 光碟時,將A1薄膜等當做記錄層使用,有時可 低雷射·功率時形成記錄標記。 , 日本特開平2- 1 1 78 87號公報所示之40質 質量%111-5質量%(:11合金(膜厚爲2〜4nm)之光 換算成原子%爲37.7原子%Sn-53.5原子%Ιη-8·8 合金)無法得到實用的C/N値。此外,該特許所 層之厚度爲2〜4nm,以該合金組成而言,因爲 ,以實驗已確認無法得到實用的反射率。 此外,日本特開2002-347340號公報所示二 :相同,利 濺鍍所形 〇 專利文獻 號公報、 172861 號 匕 Al 、 Ag 雷射光照 勢。如前 :融點660 ,故In合 或變形, 次世代型 能無法以 量 % S η - 5 5 記錄層( 原子% C u 示之合金 膜厚太薄 1只由Bi -13- 200809846 (10) 及In、Sn、Cd、Pb、Zn等之低融點金屬所構成之光記錄 層時,記錄層之表面粗糙度會變大,媒體雜訊也會較大, 而無法得到實用水準之C/N値。 此外,日本特開2003 -326848號公報所示係具有In * 合金之第1層、及由Se及/或Te合金所構成之第2層之 - 光記錄層。該合金系時,因爲使用Se及Te等有害金屬, 故有安全性之問題。 由以上可知,本發明之光記錄層係比傳統技術更爲有 益之技術。 第1圖〜第4圖係本發明之光資訊記錄媒體(光碟) 之實施形態之剖面模式圖,係對記錄層照射波長約爲350 〜700nm之雷射光可執行資料之記錄及再生之只寫一次型 光碟。此外,從雷射光入射方向觀看時,各圖之(A )[及 (C )]係於記錄剖位形成凸部、(B )[及(D )]係記錄場 所形成凹部之例示。 第1圖之光碟10具備支持基板1、光學調整層2、介 電質層3、5、夾於該介電質層3、5之間之記錄層4、以 _ 及光透射層6。介電質層3、5係以保護記錄層4爲目的而 之配設者,藉此,可長時間保存記錄資訊。 第2圖之光碟10具備支持基板1、第0記錄層群(具 備光學調整層、介電質層、記錄層之一群之層)7A、中間 層8、第1記錄層群(具備光學調整層、介電質層、記錄 層之一群之層)7B、以及光透射層6。第3圖係1層 DVD-R、1層DVD + R、1層HD DVD-R型之光碟之例示’ -14- 200809846 (11) 第4圖係2層DVD-R、2層DVD + R、2層HD DVD-R型之 光碟之例示,符號8係中間層,符號9係黏著劑層。 上述第2圖及第4圖之用以構成第0及第1記錄層群 7A、7B之一群之層可以爲3層構造(從圖之上側開始, ^ 介電質層/記錄層/介電質層、介電質層/記錄層/光學調整 - 層、記錄層/介電質層/光學調整層等)或2層構造(從圖 之上側開始,記錄層/介電質層、介電質層/記錄層、記錄 層/光學調整層、光學調整層/記錄層等),也可以只由1 層記錄層所構成之物。 本發明之代表實施形態之光碟之特徵,如上述第1圖 〜第4圖所示,係使用滿足前述規定要件之In合金做爲 記錄層4之素材,記錄層4以外之支持基板1、光學調整 層2、介電質層3、5等之素材則無特別限制,只要從通常 使用之物進行適當選擇即可。 具體而言,支持基板之素材如聚碳酸酯樹脂、原冰烯 系樹脂’環嫌系共聚物’非晶質聚嫌等’光學調整層之素 材如Ag、Ail、Cu、Al、Ni、Cr、Ti等或其合金等,介電 質層之素材如ZnS-Si02、Si、A卜Ti、Ta、Zr、Cr等之氧 化物、Ge、Cr、Si、Al、Nb、Mo、Ti、Zn 等之氮化物、 Ge、Cr、Si、A1、Ti、Zr、Ta 等之碳化物、S i、A1、M g 、Ca、La等之氟化物、或其混合物等。 此外,如前面所述,因爲形成光學調整層或介電質層 可提高碟片之反射率,記錄層之膜厚應爲1〜50nm,3〜 30nm更佳,最好爲5〜20nm。 -15- 200809846 (12) 此外,採用本發明所規定之前述構成 以省略部份或全部光學調整層2及介電質 記錄層單時,膜厚應爲8〜50nm,最好爲 上述由In合金所構成之光記錄層, ^ 來形成。亦即,本發明所使用之In以外 - 土 類元素,Pd、Co、Pt、V、Ni、An)於 對In具有特定之固溶度極限,利用濺鍍 述合金元素可均一分散於In基質中,可 而容易得到安定之光學特性及耐環境性等 此外,實施濺鍍時,濺鍍靶材應使用 製作之In合金(以下,稱爲「溶製In基 溶製In基合金靶材之組織及成分十分均 安定,靶材之原子出射角度也十分均一, 組成均一之光記錄層,而可製成均質且高彳 此外,利用真空溶解法等製造靶材, 之氣體成分(氮、氧等)及溶解爐成分等 微量地混入靶材。然而,本發明之光記錄 _ 組成,對於該等無法避免之微量混入成分 不妨礙本發明之上述特性,容許該等無法 之混入。 [實施例] 以下,以實施例針對本發明進行更具 ,本發明並未受限於下述實施例,只要在 之光記錄層,可 層3、5。單層光 10 〜2 5 nm 〇 可以利用濺鍍法 之合金元素(稀 熱平衡狀態時, 法形成薄膜,上 使膜質均質化, 〇 以溶解·鑄造法 合金靶材」)。 一,不但濺鍍率 故容易得到成分 生能之光碟。 製造時,環境中 會以雜質之方式 層及靶材之成分 並無規疋’只要 避色之微量雜質 體之說明,然而 未背離前、後所 •16- (13) 200809846 述之要旨之範圍內,可以進行適度變更來實施,且其亦包 含於本發明之技術範圍內。 實施例1 ^ 1 )碟片之製作法 • 碟片基板採用2種類之聚碳酸酯基板(厚度:1.1mm 、軌距:0.32// m、溝寬:0.14 〜0.16// m、溝深:25nm 之BD基板、及厚度0.6mm之無溝基板),利用DC磁控 濺鍍法實施光記錄膜之成膜。爲了方便,濺鍍靶材使用於 直徑4英吋之In靶材上設置著添加元素之碎片(5mm四 方或10mm四方)之複合耙材。 以形成光記錄膜爲目的之濺鍍條件係極限真空: 5xl〇'6T〇rr ( lTorr = 133.3Pa)以下、Ar 氣壓:4mTorr、 DC濺鍍成膜功率:50W。此外,記錄膜之厚度以使濺鍍 時間在5〜30秒間變化來進行控制。利用ICP發光分光法 及ICP質量分析法來求取成膜之In合金層之組成。 . 2)光碟之評估法 初期反射率及表面粗糙度及記錄標記之形成性之評估 係利用形成於厚度〇.6mm之無溝基板上之薄膜試樣來實施 °對各光記錄層照射波長405 nm之雷射光,以分光光度計 (曰本分光社製之商品名稱「V-5 70」)檢測初期反射率 。光記錄層之表面粗糙度(Ra :單位nm )係利用原子力 顯微鏡(Seiko Instruments公司製之商品名稱「SP14000 -17- 200809846 (14) 」probe station 之 AFM;At〇mic Force Microscopy 型)來 進行檢測。檢測範圍爲2.5# mx2.5// m。 針對記錄標記之形成性,使用日立C Ο Μ P U T E R機器 製之商品名稱「POP120-8R」,以線速度5m/s評估於記錄 層形成良好記錄標記之雷射·功率。光源使用波長405 nm 之半導體雷射,雷射·點尺寸之直徑爲0.8//m,從記錄層 側照射雷射。以光學顯微鏡觀察記錄後之標記形狀,利用 影像處理解析計算出面積率來當做相對於雷射照射面積之 標記形成面積之比,面積率85%以上爲合格。 媒體雜訊係使用於1 · 1 mm厚度之有溝基板上形成記錄 膜後,塗佈〇. 1 nm厚度之被覆層並使其硬化之試樣,以線 速度:5.28m/s、頻率:16·5ΜΗζ,利用光碟評估裝置( PLUSTEC公司製之商品名稱「ODU- 1 000」、記錄雷射波 長:405nm、NA (數値孔徑):〇 · 8 5 )及頻譜分析儀( ADVANTEST公司製之商品名稱「R3131R」)進行檢測, 求取未記錄狀態之媒體雜訊値。 結果如表1所示。但,表中之日己號之思義如下所不。 (1 )初期反射率 A : 3 0 %以上、B : 2 5 °/〇以上、3 0 %以下、C : 2 0 %以上 、2 5 %以下、D : 2 0 %以下。 (2 )記錄標記之形成性 A: 15mW 以下、B:15mW 以上、25mW 以下、C: 2 5 m W以上。 (3 )表面粗糙度(Ra) -18- (15) 200809846 A: 2.0nm 以下、B: 2.0nm 以上、4.0nm 以下、C 4.0nm以上。 (4 )媒體雜訊 A : -7 5dB 以下、B:-75dB 以上、-65dB 以下、C ^ 65dB以上。 -19- 200809846 (16) [表1]
試料 No. 合金組成 (at%) 膜厚 (nm) 初期反射率 記錄標記之 形成性 表面粗糙度 _ 媒體雜訊 1 In 25.0 A A C C 2 In-0.05%Y 25.0 A A C C 3 Ιη-0.1%Υ 25.0 A A B B 4 Ιη-6%Υ 1.0 C A A A 5 Ιη-6%Υ 3.0 C A A A 6 Ιη-6%Υ 5.0 B A A A 7 Ιη-6%Υ 15.0 B A A A 8 Ιη-6%Υ 25.0 B A A A 9 Ιη-6%Υ 50.0 A B B B 10 Ιη-6%Υ 55.0 A C B B 11 Ιη-15%Υ 25.0 B B A A 12 Ιη-16°/〇Υ 25.0 D B A A 13 In-3%Nd 25.0 B A A A 14 In-9%Nd 25.0 B A A A 15 In-7%La 25.0 B A A A 16 In-10%La 25.0 B A A A 17 In-4%Yb 25.0 B A A A 18 In-8%Gd 25.0 B A A A 19 In-3%Y-3%Nd 25.0 B A A A 20 In-4%Ni 25.0 A A C C 21 In-6%Ni 25.0 A A B B 22 In-10%Ni 25.0 A A A A 23 In-20%Ni 1.0 C A A A 24 In-20%Ni 5.0 B A A A 25 In-20%Ni 10.0 A A A A 26 In-20%Ni 25.0 A A A A 27 In-20%Ni 50.0 A B A A 28 In-20%Ni 55.0 A C A A 29 In-40%Ni 25.0 A A A A 30 In-50%Ni 25.0 A B A A 31 In-55%Ni 25.0 A C A A -20- 200809846 (17) [表2]
試料 No. 合金組成 (at%) 膜厚 (nm) 初期反射率 記錄標記之 形成性 表面粗糙度 (Ra) 媒體雜訊 1 In 25.0 A A C C 32 In-0.05%Pd 25.0 A A C C 33 In-0.1%Pd 25.0 A A B B 34 In-20%Pd 25.0 A A A A 35 In-40%Pd 25.0 A A A A 36 In-50%Pd 25.0 A B A A 37 In-55%Pd 25.0 A C A A 38 In-10%Co 25.0 A A A A 39 In-20%C〇 25.0 A A A A 40 In-50%C〇 25.0 A B A A 41 In-55%Co 25.0 A C A A 42 In-30%Pt 25.0 A A A A 43 In-40%Pt 25.0 A A A A 44 In-50%Pt 25.0 A V A A 45 In-55%Pt 25.0 A C A A 46 In-0.05%Au 25.0 A A C C 47 In-20%Au 10.0 A A A A 48 In-20%Au 20.0 A A A A 49 In-20%Au 25.0 A A A A 50 In-30% Au 25.0 A A A A 51 In-40%Au 25.0 A B A A 52 In-48%Au 25.0 A B A A 53 In-50% Au 25.0 A C A A 54 In-10%V 15.0 A A A A 55 In-10%V 25.0 A A B B 56 In-20%V 25.0 A A B B 57 In-50%V 25.0 A B B B 58 In-55%V 25.0 A C B B -21 - 200809846 (18) 由表1、2可知,滿足本發明之規定要件之實施例( No.3、6 〜9、11、13 〜19、21、22、24 〜27、29、30、3 3 〜36、38〜40、42〜44、47〜52、54〜57)之初期反射率 皆良好,記錄標記之形成上,無需過度之雷射·功率,表 面粗糙度及媒體雜訊也良好。相對於此,純In ( No.l )時 • ,表面粗糙度及媒體雜訊較較差而不符合實用,此外,添 加於In之合金元素量不足之比較例(No.2、20、32、46 )時,同樣有表面粗糙度及媒體雜訊較差之情形。此外, 添加之合金元素量過多之比較例(N0.31、37、41、45、 5 3、5 8 )時,因爲1 η含量相對不足而出現記錄標記之形 成性劣化之情形。Ν ο · 1 2係稀土類元素之添加量過多之比 較例,初期反射率較差。 此外,Νο·10、28係In合金組成爲適當,但膜厚過厚 之參考例,相對於雷射·功率,因爲吸收量過大,對記錄 標記之形成性有不良之影響。相對於此,Ν 〇 · 4、5、2 3係 膜厚相對較薄之參考例,初期反射率稍爲不足。 以上,係參照特定形態,針對本發明進行詳細說明, 然而,只要未背離本發明之精神及範圍,可以進行各種變 更及修正,相關業者理當了解其道理。此外,本專利申請 係依據2006年2月3日提出申請之日本特許出願(日本 特願2006-027192)及2006年6月13日提出申請之日本 特許出願(日本特願2006- 1 63 846 )並引用其全體。 本發明之上述In合金時,基材之In係融點遠比其他 金屬爲低之1 5 6 · 6 °C,可以低雷射·功率形成記錄標記。 -22- 200809846 (19) 相反地,因爲In爲低融點,故C/n値較小,記錄層較粗 且表面平滑性較差,使In含有0.1〜15原子%之1種以上 之稀土類元素、或含有0.1〜50原子%之從Pd、Co、Pt、 以及V所選出之1種元素、或含有6〜50原子%之Ni、或 含有0.1原子%以上、5 0原子%以下之A u,可以改善該缺 點,而得到可使光記錄層達到實用水準之C/N値,且可改 善再生波形,而得到實用之低雷射·功率之光記錄層。 【圖式簡單說明】 第1圖係本發明之光資訊記錄媒體之一實施形態之剖 面模式圖。 第2圖係本發明之其他光資訊記錄媒體之剖面模式圖 〇 第3圖係本發明之其他光資訊記錄媒體之剖面模式圖 〇 第4圖係本發明之其他光資訊記錄媒體之剖面模式圖 【主要元件之符號說明】 1 :支持基板 2 :光學調整層 3、5 :介電質層 4 :記錄層 6 :光透射層 -23- 200809846 (20) 7A、7B :記錄層群 8 :中間層 9 :黏著劑層 10 :光碟 -24-

Claims (1)

  1. 200809846 (1) 十、申請專利範圍 1 · 一種光資訊記錄媒體用記錄層’係利用雷射光照 射來形成記錄標記之記錄層,其特徵爲: 該記錄層係由含有0.1〜15原子%之1種以上之稀土 類元素的In合金所構成。 2. —種光資訊記錄媒體用記錄層’係利用雷射光照 射來形成記錄標記之記錄層,其特徵爲: 該記錄層係由含有〇·1〜50原子。之從Pd、Co、Pt、 以及V所選出之1種元素的In合金所構成。 3 · —種光資訊記錄媒體用記錄層,係利用雷射光照 射來形成記錄標記之記錄層,其特徵爲: 該記錄層係由含有6〜50原子%之Ni的In合金所構 成。 4. 一種光資訊記錄媒體用記錄層’係利用雷射光照 射來形成記錄標記之記錄層’其特徵爲: 該記錄層係由含有0.1原子%以上、50原子%以下之 Au的In合金所構成。 5 ·如申請專利範圍第1〜4項之中任一項所記載之記 錄層,其中 利用照射波長爲3 5 0〜7 0 〇 n m之範圍的雷射光來形成 §己錄標記。 6.如申請專利範圍第1〜4項之中任一項所記載之記 錄層,其中 In合金中之In之含有量係4〇原子%以上。 -25- 200809846 (2) 7. 一種光資訊記錄媒體,其特徵爲具備: 如前述申請專利範圍第1〜4項之中任一項所記載之 記錄層。 8. 如申請專利範圍第7項所記載之光資訊記錄媒體 , ,其中 - 於前述記錄層之上部及/或下部,設置有光學調整層 及/或介電質層。 9. 如申請專利範圍第7項所記載之光資訊記錄媒體 ,其中 前述記錄層之厚度爲1〜50nm。 10. 如申請專利範圍第8項所記載之光資訊記錄媒體 ,其中 前述記錄層之厚度爲1〜5〇nm。 11. 一種光資訊記錄媒體之記錄層形成用濺鍍靶材, 其特徵爲: 由含有〇.1〜15原子%之1種以上之稀土類元素的In 合金所構成。 12. 一種光資訊記錄媒體之記錄層形成用濺鍍靶材’ 其特徵爲· 由含有0.1〜50原子%之從Pd、Co、Pt、以及V所選 出之1種元素的I η合金所構成。 13. 一種光資訊記錄媒體之記錄層形成用濺鍍靶材’ 其特徵爲: 由含有6〜50原子%之Ni的In合金所構成。 -26- 200809846 (3) 14. 一種光資訊記錄媒體之記錄層形成用濺鍍靶材, 其特徵爲= 由含有0.1原子%以上、50原子%以下之Α·α的In合 金所構成。 -27-
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