JP2003260874A - 光記録媒体 - Google Patents
光記録媒体Info
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- JP2003260874A JP2003260874A JP2002063526A JP2002063526A JP2003260874A JP 2003260874 A JP2003260874 A JP 2003260874A JP 2002063526 A JP2002063526 A JP 2002063526A JP 2002063526 A JP2002063526 A JP 2002063526A JP 2003260874 A JP2003260874 A JP 2003260874A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高密度対応の追記型光記録媒体において、記
録感度、記録前後のコントラスト、再生信号(C/N
比)、及び耐環境特性の全てに優れた光記録媒体を提供
する。 【解決手段】 記録層として第一記録層(2)と第二記
録層(3)との二層を設ける。第一記録層(2)は、I
n又はSbと、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれる
一つの元素と、から成る合金層であり、第二記録層は、
Si又はGeから成る層である。
録感度、記録前後のコントラスト、再生信号(C/N
比)、及び耐環境特性の全てに優れた光記録媒体を提供
する。 【解決手段】 記録層として第一記録層(2)と第二記
録層(3)との二層を設ける。第一記録層(2)は、I
n又はSbと、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれる
一つの元素と、から成る合金層であり、第二記録層は、
Si又はGeから成る層である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、追記型の光記録媒
体に関する。
体に関する。
【0002】
【従来の技術】電磁波、特にレーザ照射によりデータの
記録又は再生を行う追記型の光記録媒体としては、レー
ザ照射により媒体にピット(孔)をあけるピット方式
や、相変化又は合金化等による構造変化を生じさせて反
射率を変化させて情報を記録する相変化方式又は合金化
方式が提案されている。例えばピット方式の場合、情報
を記録する記録層としてTe膜を用いる研究が進み、そ
の中で耐環境特性を改善するため、特開昭58−189
850号公報ではTe膜表面に酸化膜を形成する技術が
開示されている。同じく、耐環境特性の改善のため、記
録層としてTeにSeやCを添加した提案やCS2−T
e膜の検討も進められた。また、Te膜の記録感度の向
上のために、特開昭58−9234号公報ではBi、Z
n、Cd、In、Sb、Snとの合金化により低融点化
を図る技術が開示されている。
記録又は再生を行う追記型の光記録媒体としては、レー
ザ照射により媒体にピット(孔)をあけるピット方式
や、相変化又は合金化等による構造変化を生じさせて反
射率を変化させて情報を記録する相変化方式又は合金化
方式が提案されている。例えばピット方式の場合、情報
を記録する記録層としてTe膜を用いる研究が進み、そ
の中で耐環境特性を改善するため、特開昭58−189
850号公報ではTe膜表面に酸化膜を形成する技術が
開示されている。同じく、耐環境特性の改善のため、記
録層としてTeにSeやCを添加した提案やCS2−T
e膜の検討も進められた。また、Te膜の記録感度の向
上のために、特開昭58−9234号公報ではBi、Z
n、Cd、In、Sb、Snとの合金化により低融点化
を図る技術が開示されている。
【0003】一方、相変化方式としては、代表的なもの
として、TeOx及びこれにGe、Sn、Pbを添加し
た案や、Bi2Te3を反射層、Sb2Se3を相変化
記録層とした二層タイプのものが提案されている。ま
た、合金化方式としては、Ge、Si、Snの元素の群
から選択された少なくとも一種の元素から成る層と、A
u、Ag、Al、Cuの元素群から選択された少なくと
も一種の元素から成る層に、レーザ光を照射して、この
二層を合金化させて記録する技術が特開平4−2267
84号公報に提案されている。
として、TeOx及びこれにGe、Sn、Pbを添加し
た案や、Bi2Te3を反射層、Sb2Se3を相変化
記録層とした二層タイプのものが提案されている。ま
た、合金化方式としては、Ge、Si、Snの元素の群
から選択された少なくとも一種の元素から成る層と、A
u、Ag、Al、Cuの元素群から選択された少なくと
も一種の元素から成る層に、レーザ光を照射して、この
二層を合金化させて記録する技術が特開平4−2267
84号公報に提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ピット
方式の場合、記録密度の向上に伴い、均一なピットを得
ることが困難となり、これにより耐環境特性と記録感度
が低下してしまう。また、相変化方式の場合、結晶と非
結晶の間の相転移を利用するもので、高温高湿条件下等
の保存環境により記録が消去されてしまう危険性があ
る。合金化方式の場合、レーザ照射による反射率の変動
即ち記録した再生信号のコントラストが小さく、再生時
に読み取りエラーが発生しやすいという問題を有する。
従って本発明の目的は、上記従来技術に鑑みてなされた
ものであり、高密度対応の追記型光記録媒体において、
再生信号のコントラストが良好で、記録感度が充分に高
く、かつ耐環境特性に優れた光記録媒体を提供すること
を目的とするものである。
方式の場合、記録密度の向上に伴い、均一なピットを得
ることが困難となり、これにより耐環境特性と記録感度
が低下してしまう。また、相変化方式の場合、結晶と非
結晶の間の相転移を利用するもので、高温高湿条件下等
の保存環境により記録が消去されてしまう危険性があ
る。合金化方式の場合、レーザ照射による反射率の変動
即ち記録した再生信号のコントラストが小さく、再生時
に読み取りエラーが発生しやすいという問題を有する。
従って本発明の目的は、上記従来技術に鑑みてなされた
ものであり、高密度対応の追記型光記録媒体において、
再生信号のコントラストが良好で、記録感度が充分に高
く、かつ耐環境特性に優れた光記録媒体を提供すること
を目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項1に記載の本発明は、少なくとも基板と記録
層とを備え、基板側から光を記録層に照射することによ
り情報を記録又は再生する追記型の光記録媒体におい
て、記録層は二層から成り、二層の記録層の内、基板側
に設けられる第一記録層が、In又はSbと、Ti、P
d、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素とから成る合
金層であり、第一記録層上に設けられる第二記録層が、
Si又はGeから成る層である事を特徴とする光記録媒
体とする。請求項2に記載の本発明は、前記光記録媒体
において、第一記録層を構成する合金層の組成式をA
100−xBxと表し、In又はSbをAとし、Ti、
Pd、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素をBとする
とき、BがTiの場合は、0<x≦10(但しxは原子
%) の範囲内である事を特徴とする、請求項1に記載
の光記録媒体とする。請求項3に記載の本発明は、前記
光記録媒体において、第一記録層を構成する合金層の組
成式をA100−xBxと表し、In又はSbをAと
し、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素
をBとするとき、BがPdの場合は、1≦x≦25(但
しxは原子%) の範囲内である事を特徴とする、請求
項1に記載の光記録媒体とする。請求項4に記載の本発
明は、前記光記録媒体において、第一記録層を構成する
合金層の組成式をA100−xBxと表し、In又はS
bをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれた一
つの元素をBとするとき、BがZrの場合は、0<x≦
5(但しxは原子%) の範囲内である事を特徴とす
る、請求項1に記載の光記録媒体とする。請求項5に記
載の本発明は、前記光記録媒体において、第一記録層を
構成する合金層の組成式をA100−xBxと表し、I
n又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選
ばれた一つの元素をBとするとき、BがVの場合は、0
<x≦2(但しxは原子%) の範囲内である事を特徴
とする、請求項1に記載の光記録媒体とする。
に、請求項1に記載の本発明は、少なくとも基板と記録
層とを備え、基板側から光を記録層に照射することによ
り情報を記録又は再生する追記型の光記録媒体におい
て、記録層は二層から成り、二層の記録層の内、基板側
に設けられる第一記録層が、In又はSbと、Ti、P
d、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素とから成る合
金層であり、第一記録層上に設けられる第二記録層が、
Si又はGeから成る層である事を特徴とする光記録媒
体とする。請求項2に記載の本発明は、前記光記録媒体
において、第一記録層を構成する合金層の組成式をA
100−xBxと表し、In又はSbをAとし、Ti、
Pd、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素をBとする
とき、BがTiの場合は、0<x≦10(但しxは原子
%) の範囲内である事を特徴とする、請求項1に記載
の光記録媒体とする。請求項3に記載の本発明は、前記
光記録媒体において、第一記録層を構成する合金層の組
成式をA100−xBxと表し、In又はSbをAと
し、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれた一つの元素
をBとするとき、BがPdの場合は、1≦x≦25(但
しxは原子%) の範囲内である事を特徴とする、請求
項1に記載の光記録媒体とする。請求項4に記載の本発
明は、前記光記録媒体において、第一記録層を構成する
合金層の組成式をA100−xBxと表し、In又はS
bをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれた一
つの元素をBとするとき、BがZrの場合は、0<x≦
5(但しxは原子%) の範囲内である事を特徴とす
る、請求項1に記載の光記録媒体とする。請求項5に記
載の本発明は、前記光記録媒体において、第一記録層を
構成する合金層の組成式をA100−xBxと表し、I
n又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選
ばれた一つの元素をBとするとき、BがVの場合は、0
<x≦2(但しxは原子%) の範囲内である事を特徴
とする、請求項1に記載の光記録媒体とする。
【0006】
【発明の実施の形態】以下より、本発明の実施の形態に
ついて図に基づき説明する。本発明の光記録媒体は、追
記型の光記録媒体であり、特に例えばDVD−R等のデ
ジタルビデオディスク、デジタルオーディオディスク、
コンピュータ用メモリディスク等に好適な高密度対応の
光記録媒体である。図1は本発明の光記録媒体の構成を
示したものである。本発明では、高密度対応の情報を記
録するための記録層は、第一記録層(2)と第二記録層
(3)との二層から成る。案内溝を有する基板(1)の
上に、二層の記録層である第一記録層(2)及び第二記
録層(3)、そしてその上に環境保護層(4)が順次設
けられている。情報を記録するための電磁波は基板
(1)側から照射され、二層の記録層の相互拡散による
光学的変化を利用して記録層の反射率を変化させ、情報
を記録する。
ついて図に基づき説明する。本発明の光記録媒体は、追
記型の光記録媒体であり、特に例えばDVD−R等のデ
ジタルビデオディスク、デジタルオーディオディスク、
コンピュータ用メモリディスク等に好適な高密度対応の
光記録媒体である。図1は本発明の光記録媒体の構成を
示したものである。本発明では、高密度対応の情報を記
録するための記録層は、第一記録層(2)と第二記録層
(3)との二層から成る。案内溝を有する基板(1)の
上に、二層の記録層である第一記録層(2)及び第二記
録層(3)、そしてその上に環境保護層(4)が順次設
けられている。情報を記録するための電磁波は基板
(1)側から照射され、二層の記録層の相互拡散による
光学的変化を利用して記録層の反射率を変化させ、情報
を記録する。
【0007】第一記録層(2)は、In又はSbと、T
i、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの元素とから
成る合金層であり、第二記録層(3)はSi又はGeか
ら成る層である。第一記録層(2)は、電磁波、例えば
レーザ光の入射側である基板(1)上に設けられ、第二
記録層(3)はその上に設けられる。このような構成に
より、記録層はレーザ光照射側の記録モードが高く、本
発明の光記録媒体は未記録時の反射率が45%以上の高
い反射率と、記録前後でのコントラストが0.6以上、
再生信号(C/N比)が60dB以上という良好な記録
特性を実現することができる。記録のために基板(1)
側からレーザ光、例えば波長650nmの半導体レーザ
が入射すると、第一記録層(2)と第二記録層(3)と
で入射した光を吸収、発熱し、この二つの記録層を構成
する各元素の相互拡散と記録層の変形により、記録前後
で大きなコントラストが得られる。
i、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの元素とから
成る合金層であり、第二記録層(3)はSi又はGeか
ら成る層である。第一記録層(2)は、電磁波、例えば
レーザ光の入射側である基板(1)上に設けられ、第二
記録層(3)はその上に設けられる。このような構成に
より、記録層はレーザ光照射側の記録モードが高く、本
発明の光記録媒体は未記録時の反射率が45%以上の高
い反射率と、記録前後でのコントラストが0.6以上、
再生信号(C/N比)が60dB以上という良好な記録
特性を実現することができる。記録のために基板(1)
側からレーザ光、例えば波長650nmの半導体レーザ
が入射すると、第一記録層(2)と第二記録層(3)と
で入射した光を吸収、発熱し、この二つの記録層を構成
する各元素の相互拡散と記録層の変形により、記録前後
で大きなコントラストが得られる。
【0008】第一記録層(2)に用いるIn及びSb
は、単体の場合は多結晶の為に粒界によるノイズが発生
するが、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの
元素との合金層とすることにより、層が緻密な構造とな
り、ノイズを低減し、C/N比を向上させる。これは、
Ti、Pd、Zr、Vの元素が、母材であるIn及びS
bの粒成長を抑止するものと思われる。また、これらの
元素はIn及びSbの酸化促進を防止する機能を有する
ため、耐環境特性を向上させる。第二記録層(3)に用
いるSi及びGeは、禁止帯の幅が小さく、第一記録層
(1)を透過した光を吸収することができ、光の吸収効
率を向上させて記録感度を上げる。
は、単体の場合は多結晶の為に粒界によるノイズが発生
するが、Ti、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの
元素との合金層とすることにより、層が緻密な構造とな
り、ノイズを低減し、C/N比を向上させる。これは、
Ti、Pd、Zr、Vの元素が、母材であるIn及びS
bの粒成長を抑止するものと思われる。また、これらの
元素はIn及びSbの酸化促進を防止する機能を有する
ため、耐環境特性を向上させる。第二記録層(3)に用
いるSi及びGeは、禁止帯の幅が小さく、第一記録層
(1)を透過した光を吸収することができ、光の吸収効
率を向上させて記録感度を上げる。
【0009】第一記録層(2)を構成する材料の内、I
n又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選
ばれた一つの元素をBとするし、合金層の組成式をA
100 −xBxと表すとき、(但しxは原子%)本発明
では、BがTiの場合は、0<x≦10の範囲内である
ことを特徴とする。xは例えば僅か0.1原子%であっ
ても耐環境特性を向上させることができる。再生信号
(C/N比)の向上のためにはxは2原子%以上が好ま
しく、10原子%を越えると記録感度が低下する。
n又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、Vの中から選
ばれた一つの元素をBとするし、合金層の組成式をA
100 −xBxと表すとき、(但しxは原子%)本発明
では、BがTiの場合は、0<x≦10の範囲内である
ことを特徴とする。xは例えば僅か0.1原子%であっ
ても耐環境特性を向上させることができる。再生信号
(C/N比)の向上のためにはxは2原子%以上が好ま
しく、10原子%を越えると記録感度が低下する。
【0010】また本発明では、BがPdの場合は、
1≦x≦25
の範囲内であることを特徴とする。この範囲内とするこ
とで耐環境特性及びC/N比が向上し、ノイズのない光
記録媒体を得ることができる。xが1原子%未満である
と耐環境特性が低下する。25原子%より大きいと反射
率が低下し、記録感度及びC/N比が低下する。
とで耐環境特性及びC/N比が向上し、ノイズのない光
記録媒体を得ることができる。xが1原子%未満である
と耐環境特性が低下する。25原子%より大きいと反射
率が低下し、記録感度及びC/N比が低下する。
【0011】また本発明では、BがZrの場合は、
0<x≦5
の範囲内であることを特徴とする。BがZrの場合は前
述のTiの場合と同様に、僅かな量、例えば0.1原子
%でも耐環境特性の向上に効果がある。5原子%より大
きくなると記録感度が低下する。
述のTiの場合と同様に、僅かな量、例えば0.1原子
%でも耐環境特性の向上に効果がある。5原子%より大
きくなると記録感度が低下する。
【0012】また本発明では、BがVの場合は、0<x
≦2の範囲であることを特徴とする。BがVの場合は前
述のTiやZrの場合と同様に、僅かな量、例えば0.
1原子%でも耐環境特性の向上に効果がある。2原子%
以上になると記録感度が低下する。
≦2の範囲であることを特徴とする。BがVの場合は前
述のTiやZrの場合と同様に、僅かな量、例えば0.
1原子%でも耐環境特性の向上に効果がある。2原子%
以上になると記録感度が低下する。
【0013】上述のように、本発明の光記録媒体の記録
原理は、第一記録層(2)と第二記録層(3)との間の
相互拡散による光学的変化を利用するものであるが、二
層の記録層の内、電磁波を照射される基板(1)側に記
録モードの高い第一記録層(2)を設けることで記録時
に溶融しやすく、第二記録層(3)を第一記録層(2)
上に設けることで高い保存特性を得ることができる。こ
の二層の記録層の構成を逆にすると、照射光が第二記録
層(3)で吸収されてしまい、反射率が悪くなる。ま
た、本発明の光記録媒体には、固体時の体積変化に伴う
基板(1)の変形等の効果が重合されており、高レベル
な再生信号を得ることができ、読み取りエラーのない、
極めて大きいコントラストを実現することができる。
原理は、第一記録層(2)と第二記録層(3)との間の
相互拡散による光学的変化を利用するものであるが、二
層の記録層の内、電磁波を照射される基板(1)側に記
録モードの高い第一記録層(2)を設けることで記録時
に溶融しやすく、第二記録層(3)を第一記録層(2)
上に設けることで高い保存特性を得ることができる。こ
の二層の記録層の構成を逆にすると、照射光が第二記録
層(3)で吸収されてしまい、反射率が悪くなる。ま
た、本発明の光記録媒体には、固体時の体積変化に伴う
基板(1)の変形等の効果が重合されており、高レベル
な再生信号を得ることができ、読み取りエラーのない、
極めて大きいコントラストを実現することができる。
【0014】各記録層の成膜法としては、各種気相成長
法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、電子ビーム
法等があるが、とくにスパッタリング法が好ましい。第
一記録層(2)の膜厚は5nmから30nm、好ましく
は10nmから20nmの範囲が良い。5nmより薄い
と反射率が45%以下に低下し、30nmより厚いと記
録感度が悪くなる。また、第二記録層(3)の膜厚は1
0nmから40nm、好ましくは20nmから30nm
の範囲が良い。10nmより薄いとコントラストが低下
し、40nmより厚いと記録感度が悪くなる。基板
(1)の材料は、通常、ガラス、セラミック、或いは樹
脂が用いられ、樹脂基板が成形性の点で好ましい。代表
例としては、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポ
リプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、A
BS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられるが、加工性、光
学特性等の点からポリカーボネート樹脂が好ましい。ま
た、基板(1)の形状は、ディスク状、カード状、ある
いはシート状であってもよい。環境保護層(4)の材料
は、紫外線硬化性の樹脂を用いることができる。化学的
安定性、機械的強度等を考慮するとエポキシ系樹脂が好
ましく、第二記録層(3)上にスピンコート法により設
けることが好ましい。
法、例えば真空蒸着法、スパッタリング法、電子ビーム
法等があるが、とくにスパッタリング法が好ましい。第
一記録層(2)の膜厚は5nmから30nm、好ましく
は10nmから20nmの範囲が良い。5nmより薄い
と反射率が45%以下に低下し、30nmより厚いと記
録感度が悪くなる。また、第二記録層(3)の膜厚は1
0nmから40nm、好ましくは20nmから30nm
の範囲が良い。10nmより薄いとコントラストが低下
し、40nmより厚いと記録感度が悪くなる。基板
(1)の材料は、通常、ガラス、セラミック、或いは樹
脂が用いられ、樹脂基板が成形性の点で好ましい。代表
例としては、ポリカーボネート樹脂、アクリル樹脂、エ
ポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリエチレン樹脂、ポ
リプロピレン樹脂、シリコーン樹脂、フッ素系樹脂、A
BS樹脂、ウレタン樹脂等が挙げられるが、加工性、光
学特性等の点からポリカーボネート樹脂が好ましい。ま
た、基板(1)の形状は、ディスク状、カード状、ある
いはシート状であってもよい。環境保護層(4)の材料
は、紫外線硬化性の樹脂を用いることができる。化学的
安定性、機械的強度等を考慮するとエポキシ系樹脂が好
ましく、第二記録層(3)上にスピンコート法により設
けることが好ましい。
【0015】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明す
る。図1の構成のディスク状光記録媒体を作製した。基
板(1)は、ピッチ0.74μm、案内溝深さ40μ
m、厚さ0.6mm、直径120mmのポリカーボネー
ト基板であり、基板(1)上に第一記録層(1)と第二
記録層(3)から成る記録層を順次スパッタ法により設
けた。表1に本実施例及び比較例における記録層の構成
を示す。表1に示すように、実施例1から12は本発明
による構成であり、比較例1から3は第一記録層をIn
又はSb単体で用いて合金化しなかったものである。
る。図1の構成のディスク状光記録媒体を作製した。基
板(1)は、ピッチ0.74μm、案内溝深さ40μ
m、厚さ0.6mm、直径120mmのポリカーボネー
ト基板であり、基板(1)上に第一記録層(1)と第二
記録層(3)から成る記録層を順次スパッタ法により設
けた。表1に本実施例及び比較例における記録層の構成
を示す。表1に示すように、実施例1から12は本発明
による構成であり、比較例1から3は第一記録層をIn
又はSb単体で用いて合金化しなかったものである。
【表1】
【0016】また、得られた光記録媒体の信号特性は、
再生信号(C/N比)と記録前の反射率、記録前後のコ
ントラストで評価した。記録信号はEFMランダムパタ
ーンを用い、記録パワーは8mW、10mW、12mW
とした。記録線速は6m/sで行い、C/N比は3T信
号で評価した。記録再生用光源の半導体レーザの波長は
650nmのものを用いた。また、耐環境特性は80
℃、85%温湿下で、200時間保存後の記録マーク
(10mW記録)のC/N比と反射率で評価した。以上
の結果を表2に示す。
再生信号(C/N比)と記録前の反射率、記録前後のコ
ントラストで評価した。記録信号はEFMランダムパタ
ーンを用い、記録パワーは8mW、10mW、12mW
とした。記録線速は6m/sで行い、C/N比は3T信
号で評価した。記録再生用光源の半導体レーザの波長は
650nmのものを用いた。また、耐環境特性は80
℃、85%温湿下で、200時間保存後の記録マーク
(10mW記録)のC/N比と反射率で評価した。以上
の結果を表2に示す。
【表2】
【0017】表1及び表2からわかる様に、実施例1か
ら12ではいずれの記録パワーにおいてもC/N比が5
9dB以上であり、いずれも比較例1から5より高い記
録感度を有すると同時にコントラストも0.6以上であ
った。また、未記録の反射率も全て45%以上あり、デ
ィスク状光記録媒体(DVD−R)の初期反射率の規格
値45%以上を満足した。また、本発明の光記録媒体は
特に耐環境特性において優れ、高温高湿条件で200時
間保存後も良好な特性を示した。一方、比較例1から5
では、C/N比、コントラスト、反射率、耐環境特性の
全ての値を満足するものは得られず、本発明より明らか
に特性が劣ることがわかった。
ら12ではいずれの記録パワーにおいてもC/N比が5
9dB以上であり、いずれも比較例1から5より高い記
録感度を有すると同時にコントラストも0.6以上であ
った。また、未記録の反射率も全て45%以上あり、デ
ィスク状光記録媒体(DVD−R)の初期反射率の規格
値45%以上を満足した。また、本発明の光記録媒体は
特に耐環境特性において優れ、高温高湿条件で200時
間保存後も良好な特性を示した。一方、比較例1から5
では、C/N比、コントラスト、反射率、耐環境特性の
全ての値を満足するものは得られず、本発明より明らか
に特性が劣ることがわかった。
【0018】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、記録時の記録感度が高く、低い記録パワーであ
っても対応でき、再生信号にノイズが発生せず、かつ耐
環境特性に優れ、記録した情報を確実に保存することが
可能な追記型の光記録媒体を提供することができる。
よれば、記録時の記録感度が高く、低い記録パワーであ
っても対応でき、再生信号にノイズが発生せず、かつ耐
環境特性に優れ、記録した情報を確実に保存することが
可能な追記型の光記録媒体を提供することができる。
【図1】本発明の光記録媒体の構成を示す概略図であ
る。
る。
1 基板
2 第一記録層
3 第二記録層
4 環境保護層
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成14年6月28日(2002.6.2
8)
8)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0004
【補正方法】変更
【補正内容】
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ピット
方式の場合、記録密度の向上に伴い、均一なピットを得
ることが困難となり、これにより再生信号特性と記録感
度が低下してしまう。また、相変化方式の場合、結晶と
非結晶の間の相転移を利用するもので、高温高湿条件下
等の保存環境により記録が消去されてしまう危険性があ
る。合金化方式の場合、レーザ照射による反射率の変動
即ち記録した再生信号のコントラストが小さく、再生時
に読み取りエラーが発生しやすいという問題を有する。
従って本発明の目的は、上記従来技術に鑑みてなされた
ものであり、高密度対応の追記型光記録媒体において、
再生信号のコントラストが良好で、記録感度が充分に高
く、かつ耐環境特性に優れた光記録媒体を提供すること
を目的とするものである。
方式の場合、記録密度の向上に伴い、均一なピットを得
ることが困難となり、これにより再生信号特性と記録感
度が低下してしまう。また、相変化方式の場合、結晶と
非結晶の間の相転移を利用するもので、高温高湿条件下
等の保存環境により記録が消去されてしまう危険性があ
る。合金化方式の場合、レーザ照射による反射率の変動
即ち記録した再生信号のコントラストが小さく、再生時
に読み取りエラーが発生しやすいという問題を有する。
従って本発明の目的は、上記従来技術に鑑みてなされた
ものであり、高密度対応の追記型光記録媒体において、
再生信号のコントラストが良好で、記録感度が充分に高
く、かつ耐環境特性に優れた光記録媒体を提供すること
を目的とするものである。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0007
【補正方法】変更
【補正内容】
【0007】第一記録層(2)は、In又はSbと、T
i、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの元素とから
成る合金層であり、第二記録層(3)はSi又はGeか
ら成る層である。第一記録層(2)は、電磁波、例えば
レーザ光の入射側である基板(1)上に設けられ、第二
記録層(3)はその上に設けられる。このような構成に
より、本発明の光記録媒体は未記録時の反射率が45%
以上の高い反射率と、記録前後でのコントラストが0.
6以上、再生信号(C/N比)が60dB以上という良
好な記録特性を実現することができる。記録のために基
板(1)側からレーザ光、例えば波長650nmの半導
体レーザが入射すると、第一記録層(2)と第二記録層
(3)とで入射した光を吸収、発熱し、この二つの記録
層を構成する各元素の相互拡散と記録層の変形により、
記録前後で大きなコントラストが得られる。
i、Pd、Zr、Vの中から選ばれる一つの元素とから
成る合金層であり、第二記録層(3)はSi又はGeか
ら成る層である。第一記録層(2)は、電磁波、例えば
レーザ光の入射側である基板(1)上に設けられ、第二
記録層(3)はその上に設けられる。このような構成に
より、本発明の光記録媒体は未記録時の反射率が45%
以上の高い反射率と、記録前後でのコントラストが0.
6以上、再生信号(C/N比)が60dB以上という良
好な記録特性を実現することができる。記録のために基
板(1)側からレーザ光、例えば波長650nmの半導
体レーザが入射すると、第一記録層(2)と第二記録層
(3)とで入射した光を吸収、発熱し、この二つの記録
層を構成する各元素の相互拡散と記録層の変形により、
記録前後で大きなコントラストが得られる。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0013
【補正方法】変更
【補正内容】
【0013】上述のように、本発明の光記録媒体の記録
原理は、第一記録層(2)と第二記録層(3)との間の
相互拡散による光学的変化を利用するものであるが、二
層の記録層の内、電磁波を照射される基板(1)側に融
点の低い第一記録層(2)を設けることで記録時に溶融
しやすく、第二記録層(3)を第一記録層(2)上に設
けることで高い記録感度を得ることができる。この二層
の記録層の構成を逆にすると、照射光が第二記録層
(3)で吸収されてしまい、反射率が悪くなる。また、
本発明の光記録媒体には、固体時の体積変化に伴う基板
(1)の変形等の効果が重合されており、高レベルな再
生信号を得ることができ、読み取りエラーのない、極め
て大きいコントラストを実現することができる。
原理は、第一記録層(2)と第二記録層(3)との間の
相互拡散による光学的変化を利用するものであるが、二
層の記録層の内、電磁波を照射される基板(1)側に融
点の低い第一記録層(2)を設けることで記録時に溶融
しやすく、第二記録層(3)を第一記録層(2)上に設
けることで高い記録感度を得ることができる。この二層
の記録層の構成を逆にすると、照射光が第二記録層
(3)で吸収されてしまい、反射率が悪くなる。また、
本発明の光記録媒体には、固体時の体積変化に伴う基板
(1)の変形等の効果が重合されており、高レベルな再
生信号を得ることができ、読み取りエラーのない、極め
て大きいコントラストを実現することができる。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0015
【補正方法】変更
【補正内容】
【0015】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明す
る。図1の構成のディスク状光記録媒体を作製した。基
板(1)は、ピッチ0.74μm、案内溝深さ0.04
μm、厚さ0.6mm、直径120mmのポリカーボネ
ート基板であり、基板(1)上に第一記録層(1)と第
二記録層(3)から成る記録層を順次スパッタ法により
設けた。表1に本実施例及び比較例における記録層の構
成を示す。表1に示すように、実施例1から12は本発
明による構成であり、比較例1から3は第一記録層をI
n又はSb単体で用いて合金化しなかったものである。
る。図1の構成のディスク状光記録媒体を作製した。基
板(1)は、ピッチ0.74μm、案内溝深さ0.04
μm、厚さ0.6mm、直径120mmのポリカーボネ
ート基板であり、基板(1)上に第一記録層(1)と第
二記録層(3)から成る記録層を順次スパッタ法により
設けた。表1に本実施例及び比較例における記録層の構
成を示す。表1に示すように、実施例1から12は本発
明による構成であり、比較例1から3は第一記録層をI
n又はSb単体で用いて合金化しなかったものである。
【表1】
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 影山 喜之
東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式
会社リコー内
(72)発明者 梅原 正彬
東京都大田区中馬込1丁目3番6号 株式
会社リコー内
Fターム(参考) 2H111 EA03 EA21 FA02 FB04 FB05
FB09 FB16 FB21 FB30
5D029 JA01 JB03 JB21
Claims (5)
- 【請求項1】 少なくとも基板と記録層とを備え、基板
側から光を記録層に照射することにより情報を記録又は
再生する追記型の光記録媒体において、 記録層は二層から成り、 二層の記録層の内、基板側に設けられる第一記録層が、
In又はSbと、 Ti、Pd、Zr、Vの中から選ば
れた一つの元素とから成る合金層であり、 第一記録層上に設けられる第二記録層が、Si又はGe
から成る層である事を特徴とする光記録媒体。 - 【請求項2】 前記光記録媒体において、 第一記録層を構成する合金層の組成式をA100−xB
xと表し、In又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、
Vの中から選ばれた一つの元素をBとするとき、 BがTiの場合は、 0<x≦10(但しxは原子%) の範囲内である事を
特徴とする請求項1に記載の光記録媒体。 - 【請求項3】 前記光記録媒体において、 第一記録層を構成する合金層の組成式をA100−xB
xと表し、In又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、
Vの中から選ばれた一つの元素をBとするとき、 BがPdの場合は、 1≦x≦25(但しxは原子%) の範囲内である事を
特徴とする請求項1に記載の光記録媒体。 - 【請求項4】 前記光記録媒体において、 第一記録層を構成する合金層の組成式をA100−xB
xと表し、In又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、
Vの中から選ばれた一つの元素をBとするとき、 BがZrの場合は、 0<x≦5(但しxは原子%) の範囲内である事を特
徴とする請求項1に記載の光記録媒体。 - 【請求項5】 前記光記録媒体において、 第一記録層を構成する合金層の組成式をA100−xB
xと表し、In又はSbをAとし、Ti、Pd、Zr、
Vの中から選ばれた一つの元素をBとするとき、 BがVの場合は、 0<x≦2(但しxは原子%) の範囲内である事を特
徴とする請求項1に記載の光記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002063526A JP2003260874A (ja) | 2002-03-08 | 2002-03-08 | 光記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002063526A JP2003260874A (ja) | 2002-03-08 | 2002-03-08 | 光記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003260874A true JP2003260874A (ja) | 2003-09-16 |
Family
ID=28670857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002063526A Pending JP2003260874A (ja) | 2002-03-08 | 2002-03-08 | 光記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003260874A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7018695B2 (en) * | 2003-03-28 | 2006-03-28 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7231649B2 (en) | 2002-05-31 | 2007-06-12 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for optically recording data in the same |
WO2007088946A1 (ja) * | 2006-02-03 | 2007-08-09 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | 光情報記録媒体用記録層および光情報記録媒体、並びにスパッタリング・ターゲット |
US7321481B2 (en) | 2002-07-04 | 2008-01-22 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7781146B2 (en) | 2002-11-22 | 2010-08-24 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7932015B2 (en) | 2003-01-08 | 2011-04-26 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
-
2002
- 2002-03-08 JP JP2002063526A patent/JP2003260874A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7231649B2 (en) | 2002-05-31 | 2007-06-12 | Tdk Corporation | Optical recording medium and method for optically recording data in the same |
US7321481B2 (en) | 2002-07-04 | 2008-01-22 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7781146B2 (en) | 2002-11-22 | 2010-08-24 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7932015B2 (en) | 2003-01-08 | 2011-04-26 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
US7018695B2 (en) * | 2003-03-28 | 2006-03-28 | Tdk Corporation | Optical recording medium |
WO2007088946A1 (ja) * | 2006-02-03 | 2007-08-09 | Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho | 光情報記録媒体用記録層および光情報記録媒体、並びにスパッタリング・ターゲット |
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