TW200805360A - Information recording medium and method for fabricating the same - Google Patents

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TW200805360A
TW200805360A TW95149378A TW95149378A TW200805360A TW 200805360 A TW200805360 A TW 200805360A TW 95149378 A TW95149378 A TW 95149378A TW 95149378 A TW95149378 A TW 95149378A TW 200805360 A TW200805360 A TW 200805360A
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film
recording
recording medium
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oxide
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TW95149378A
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English (en)
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Yuichi Sabi
Etsuro Ikeda
Original Assignee
Sony Corp
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Description

200805360 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種資訊記錄媒體及其製造方法。詳細而 言’其係關於一種可藉由照射光而記錄資訊信號之資訊記 錄媒體。 【先前技術】 一次燒錄型光記錄媒體,不要求反覆記錄特性,相反地 其要求所謂不可消去(不可竄改)、且耐久性高、價格便宜 之特性。一般而言,在一次燒錄型光記錄媒體之記錄膜 中’使用藉由熱而其折射率及吸收係數中之至少一者會產 生變化之材料。而且,亦有在記錄後記錄膜產生體積膨 脹、或基板變形,藉此膜厚產生實質性地改變,而有益於 再生信號之情形。已知如此之體積變化或基板變形,在將 有機色素作為記錄材料時表現得特別顯著,但即使係無機 材料,亦存在如此之體積變大或變小之變化。 此外,從記錄膜耐久性之觀點考量,可在其兩側或單侧 I面上。又置孟屬膜或介電體膜。例如,作為相變化材料 之保護膜而被廣泛採用之ZnS_Sm電體膜,不僅作為 保護膜,亦係實現良好的記錄特性之理想材料。該材料之 熱料率低,亦可使記錄感度高感度化。而且,其與記錄 膜之么合性亦好,且在相變化材料之情形時,重寫特性良 好此外,由於其折射率高,故易於使光學特性最適化, 且可將反射率及調變度調整至合適值。 而且’ Z‘Si〇2由於其内部應力小,故亦具有不易產生 115798.doc 200805360 龜裂、裂紋之特徵。如上所述,在一次燒錄型光記錄媒體 之情形’在記錄前後多有膜厚產生較大變化之情況,若於 各己錄後在保護膜上出現龜裂而產生間隙,則由此間隙進入 水分等,會對耐久性產生嚴重的問題。而ZnS_Si〇2係不易 引起此種問題之材料。 如此’ ZnS-Si〇2在一次燒錄型光記錄媒體中亦係非常良 好的介電體膜。但,其有S(硫磺)成分游離,並向鄰接之 層擴散、反應而易於引起劣化之缺點。特別在如BD-R(Blu-ray Disc_Recordable(註冊商標))之記錄膜上具有透 光層’並在該透光層上使用感壓性黏著劑(pSA : pressure Sensitive Adhesive)時,若 ZnS_Si0#PSA鄰接,則 psA會 劣化。具體而έ,由於PSA在大範圍變質,會在光點上產 生大的像差,引起再生信號劣化。 因此,提議有在ZnS-Si〇2與PSA之間進一步設置介電體 膜。作為該介電體膜,若採用作為保護膜所廣泛使用之 SisN4 ’則S與PSA不反應,可解決上述之像差問題(例如參 照曰本特開2003-59106號公報)。 但若如上述進一步設置介電體膜,則從耐久性之觀點考 里會產生其他之問題。即,在資訊信號記錄後記錄膜會膨 脹,並在Si^4膜上出現龜裂,進一步在鄰接於卟队膜之 ZnS-SiO2膜上亦會產生龜裂。而且,藉由該龜裂,水分會 浸入記錄膜而招致在耐久性上之嚴重問題。 【發明内容】 因此,本發明之目的在於提供一種使用產生較大體積膨 115798.doc 200805360 脹之材料作為記錄膜時,亦可得到高财久性之資訊記錄媒 體及其製造方法。 為解決上述問題,第1發明係—種資訊記錄媒體,其特 徵在於: ~ 該資訊記錄媒體係在基板上設置有記錄膜及介電體膜 者; 記錄膜包含藉由光能之照射會產生體積膨服之記錄材 料; 介電體膜包含Zr〇2及Cr203。 第2發明係一種資訊記錄媒體之製造方法,其特徵在 於:該製造方法係製造在基板上設置有記錄膜及介電體膜 之資訊記錄媒體者,具有: 由藉由光月b之照射會產生體積膨脹之記錄材料形成記錄 膜之步驟;及 形成包含Zr〇2及Cr*2〇3之介電體膜之步驟。 、 在第1及第2發明申,介電體膜之ChO3之含量在4〇原子〇/〇 以上、90原子%以下為佳。介電體膜最好進一步含有 Si〇2。介電體膜之膜厚在2 nm以上、20 nm以下為佳。在 記錄膜與包含Si〇2之介電體膜之間,最好進一步設置包含 ZnS-Si02之介電體膜。 在弟1及弟2發明中己錄膜最好具有包含Gg之氧化物之 氧化物膜。此時,記錄膜最好進一步具有鄰接於氧化物膜 之鄰接膜,該鄰接膜以包含Ti或TiSi為佳。 在第1及第2發明中,因為介電體膜包含有Zr〇2及 115798.doc 200805360
Cr2〇3 ’故在藉由光能之照射而記錄膜產生體積膨脹時, 亦可抑制在介電體膜上出現龜裂。因&,可抑制水分浸入 記錄膜。 如以上之說明’根據本發明’在使用會產生較大體積膨 脹之材料作為記錄膜時,亦可得到高耐久性。 〆 【實施方式】 以下’面參知圖式說明本發明之實施形態。此外,在 以下實施形態之全部圖式中,對同一或對應之部分賦予同 一符號。 (1)第1實施形態 (1 -1) 一次燒錄型光記錄媒體之構成 圖1係顯示本發明第1實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。該一次燒錄型光記錄媒體1〇具 有在基板1上依次層積無機記錄膜6、介電體膜4、及透光 層5之構成。此處,作為藉由雷射光之照射而產生體積膨 服之記錄膜’係以使用具有包含鍺(Ge)氧化物之氧化物膜 之無機記錄膜6為例進行說明。 在此第1實施形態之一次燒錄型光記錄媒體10上,係藉 由從透光層5侧向無機記錄膜6照射雷射光,以進行資訊信 號之記錄或再生。例如,使具有4〇〇 nm以上、41〇 nm以下 範圍波長之雷射光,藉由具有〇·84以上、〇·86以下範圍之 數值孔徑之物鏡集光,並從透光層5侧向無機記錄膜6照 射,藉此進行資訊信號之記錄或再生。作為此種一次燒錄 型光§己錄媒體,例如,可舉BD-R(Blu-ray Disc- 115798.doc 200805360
Recordable) ° 以下依次就構成一次燒錄型光記錄媒體i 〇之基板1、無 機記錄膜6、介電體膜4、及透光層5進行說明。 (基板) 基板1具有在中央處形成有開口(以下稱為中心孔)之圓 環形狀。該基板1之一主面為凹凸面丨丨,在該凹凸面丨丨上 成膜有無機兄錄膜6。以下,稱凹凸面11之凹部為陰槽 11G’稱凹凸面11之凸部為陽槽11L。 作為該陰槽11G及陽槽11L之形狀,例如,可舉出有螺線 狀、同心圓狀等各種形狀。而且,為附加位址資訊,陰槽 11G及/或陽槽UL被微擺(蛇行)。該微擺之振幅在9 以 上、13 nm以下之範圍内為佳。執距在〇 29 μηι以上、 μΠ1以下之範圍内為佳,且槽深在18 nm以上、21.5 nm以下 之範圍内為佳。 此外在&槽11L上進行追縱時之藍光評價裝置等之 返光量為R0N、設在陰槽11G上進行追蹤時之藍光評價裝置 等之返光量為RIN時’以滿足_0.01<2(r〇n_Rin)/(r〇n+Rin) 之關係為佳。 基板1之直徑例如選擇為120 mme基板i之厚度需考慮 其剛性來進行選擇,從0.3 mm以上、13麵以下中選擇: 佳,從0.6 mm以上、丨.3 mm以下中選擇更佳,例如選擇為 1.1 mm。此外,中心孔之徑(直徑)例如選擇為15瓜瓜。 作為基板1之材料,可使用例如聚碳酸酯系樹脂、聚烯 烴系樹脂、或㈣酸系樹脂等塑膠材料,或玻璃等。另外 115798.doc 200805360 考量到成本時,作為基板丨之材料以使用塑膠材料為佳。 (無機記錄膜) 無機記錄膜6包含在基板1之凹凸面丨丨上依次層積之金屬 膜2及氧化物膜3。金屬膜2係鄰接於氧化物膜3而設置之鄰 接膜實貝上其係由欽(Ti)所構成者。若以Ti作為主要之 材料’則可得到基本良好之記錄特性。 又,以提高光學特性、耐久性、及記錄感度等為目的, 亦可於金屬膜2中添加添加物。作為此種添加物,例如, 可使用選自由鋁(A1)、銀(Ag)、銅(Cu)、鈀(Pd)、鍺(Ge)、 矽(Si)、錫(Sn)、鎳(Ni)、鐵(Fe)、鎂(Mg)、鈒(v)、碳 (C)、鈣(Ca)、棚(B)、鉻(Cr)、鈮(Nb)、錯(Zr)、硫(S)、石西 (Se)、錳(Μη)、鎵(Ga)、鉬(Mo)、鎢(W)、铽(Tb)、鏑 (Dy)、釓(Gd)、鈥(Nd)、鋅(Zn)、鈕(Ta)、及锶(Sr)所組成 之群中之一種以上。 例如,在金屬膜2中添加Si時,Si之組成比在8原子%以 上、32原子以下之範圍内為佳。此係因為若&組成比不足 8原子%,則不能得到良好的抖動(jitter)值,若以組成比超 過32原子%,則不能得到良好的記錄感度。 此外,亦可使構成金屬膜2之材料氧化,作為此種氧化 物例如可舉出有TiSiO。藉由此種氧化可改善抖動值。 此外,亦可使構成金屬膜2之材料氮化,作為此種氮化 物例如可舉出TiSi-N。藉由此種氮化可擴大功率容限。 金屬膜2之氮組成在1原子%以上、2〇原子%以下之範圍 内為佳。此係因為若氮組成不足丨原子%,則提高功率容 115798.doc -11 - 200805360 限之效果微弱,若氮組成超過2〇原子%,則抖動值惡化。 氧化物膜3實質上係由鍺(Ge)之氧化物Ge〇所構成。氧化 物膜3之吸收係數]^在〇 15以上、〇 9〇以下為佳,在〇 2〇以 上、〇·70以下更佳,在0.25以上、0·60以下之範圍内最 佳。此外,氧化物膜3之膜厚在1〇 nm以上、35 nm以下之 範圍内為佳。藉由滿足〇15以上、〇·9〇以下之範圍,例如 可知到良好的調變度及載波雜訊比(以下稱為C/N比)。藉 由滿足0·20以上、0·70以下之範圍,例如可得到更良好的 凋、I:度及C/N比。藉由滿足〇·25以上、〇·6〇以下之範圍,例 如可得到進一步更良好的調變度及C/N比。 另外,本說明書中之吸收係數係指在波長為410 nm之情 形下者。且其測量值係藉由偏振光橢圓計(Rud〇lph公司 製’商品名·· AutoEL_462P17)所測定。 此外,亦可於氧化物膜3中添加添加物,作為該添加 物,例如可使用從由碲(Te)、鉻(Cr)、鈀(pd)、鉑(pt)、銅 (Cu)、辞(Zn)、金(Au)、銀(Ag)、矽(Si)、鈦(Ti)、鐵 (Fe)、鎳(Νι)、錫(Sn)及銻(Sb)所組成之群中所選擇之一種 以上者。藉由添加此種添加物,可提高其耐久性及/或反 應性(記錄感度)。此外,為提高其耐久性,尤其以鈀 (Pd)、鉑(pt)、矽(si)、銻(Sb)、及鉻(cr)為佳。 例如,在於氧化物膜3中添加銻(Sb)時,氧化物膜3中之 Sb組成以在1原子%以上、6原子%以下之範圍内為佳。其 係因為错由使其在此範圍内可改善功率容限。 (介電體膜) 115798.doc -12- 200805360 *介電體膜4包含在無機記錄膜6上依次層積之第丨介電體 膜4a及第2介電體膜4b。第…電體膜乜及第2介電體膜朴 =於對無機記_6進行光學性及機械性保護,即用於 提回其耐久性者’及抑制記錄時之無機記錄膜6之變形, 即用於抑制其膨脹等者。 第’I電體膜4a例如係由ZnS_si〇2所構成。該第丨介電 _之厚度在10 nm以上、58 以下之範圍内為佳,在 23 nm以上、53 nm以下之範圍内更佳。藉由使膜厚在10 以上,可得到良好的抖動值,藉由使膜厚在58 rnn以 下:可侍到良好的反射率。例如在一次燒錄型光記錄媒體 10係BD-R時’藉由使膜厚在1〇㈣以上,可滿足規格 之抖動值在6.5%以下,藉由使膜厚在58⑽以下,可滿足 BD-R規格所要求之反射率在12%以下。而且,藉由使膜厚 在23 nm以上,可得到更良好的抖動值,藉由使膜厚在53 nm以下,可得到更良好的反射率。 第2介電體膜4b例如包含心匕及以…3。ο";之含量在 :原子%以上、90原子%以下之範圍内為佳。其係因為若 含量不足40原子%則耐久性降低,若超過9〇原子%則在耐 久性降低之同時,初期之記錄特性亦會降低。第2介電體 膜4b最好進一步含有以仏。藉由使其含有si〇2,可調整稱 為記錄感度、功率容限及光策略之記錄特性。第2介電體 膜4b之膜厚在2 nm以上、2〇 nm以下之範圍内為佳。其係 因為若膜厚不足2 nm,則第2介電體膜4b之均勻性降低, 若超過20 nm,則由於成膜時間變長而生產性降低。 H5798.doc -13- 200805360 (透光層) 透光層5例如係由具有圓環形狀之透光性膜片(薄膜)、 與用於將上述透光性膜片貼合於基板1上之黏著層所構 成。黏著層例如包含紫外線硬化樹脂或感壓性黏著劑 ()透光層5之厚度最好在1〇 以上、i77 μηι以下之 I巳圍内選擇’例如選擇為1〇〇叫。藉由將如此薄的透光層 514例如〇·85左右之高NA(numerical 加叫化之物鏡相組 合,可實現高密度之記錄。 透光性膜片最好包含對用於記錄及/或再生之雷射光吸 收肊低的材料。具體而言,以包含透光率9〇%以上之材料 為佳。作為透光性膜片之材料,例如可舉出有聚碳酸酯樹 脂材料、聚烯煙系樹脂(例如則職(註冊商標))。 此外透光性膜片之厚度以選擇為〇·3匪以下為佳,從 3 ’以上、177 _以下之範圍内選擇更佳。此外,透光層 5之内徑(直徑)例如選擇為22.7 mm。 (1-2) —次燒錄型光記錄媒體之製造方法 繼之’就本發明黛1音 弟1實%形悲之一次燒錄型光記錄媒體 之製造方法進行說明。 (基板成形步驟) 首先’成形在一主面卜游*、士 、 向上形成有凹凸面11之基板1。作為 基板1之成形方法’例如可採用射出成形(注射)法,光聚合 物法(2P 法:Ph〇to Polymerization)等。 (金屬膜之成膜步驟) 之 繼之’將基板1搬送到例如具有包含Ti氮化物之乾材 115798.doc 200805360 為特定之壓 ~面濺鍍靶 真空腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成 力。然後,一面向真空腔室内導入製程氣體, 材’而在基板1上成膜金屬膜2。 以下係顯示該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5.0χ1〇·5 ρα 環境:0.1〜0.6 Pa 投入電力:1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流量:10〜40 sccm (氧化物膜之成膜步驟) 繼之,將基板1搬送到例如具有包含&氧化物之靶材之 真空腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓 力。然後,一面向真空腔室内導入製程氣體,一面濺鍍靶 材’而在基板1上成膜氧化物膜3。 以下係顯示該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5·0χ1(Γ5 pa 環境:0.1〜0.6 Pa 投入電力:1〜3 kW(RF) 氣體種類:Ar氣體 Ar氣體流量:10〜80 seem (第1介電體膜之成膜步驟) 繼之,將基板1搬送到例如具有包含ZnS_Si〇2之靶材之 真空腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓 力。然後,一面向真空腔室内導入製程氣體,一面濺鍍靶 115798.doc -15- 200805360 材,而在基板1上成膜第1介電體膜4a。 以下係顯示該成膜步驟中之成膜條件之一例。 真空度:5·0χ1(Γ5 Pa 環境·· 0.1 〜0.6 Pa 投入電力·· 1〜5 kW(RF) 氣體種類:Ar氣體 Ar氣體流量:6 seem (第2介電體膜之成膜步驟) 繼之,將基板1搬送到例如具有包含Si〇2_Cr2〇3_Zr〇2之 ㈣之真空腔室内’並將真空腔室内抽取真空至成為特定 之壓力然:後,®向真空腔室内導入製程氣體,一面減 鍍靶材,而在基板1上成膜第2介電體膜4b。 以下係顯示在該成膜步財成錢件之一例。 真空度·· 5.〇><1〇-5 ρα 環境:0.1〜0.6 pa 才又入電力· 1〜3 kW(RF) 氣體種類:Ar氣體 心氣體流量·· 15 scem (透光層之形成步驟) 繼之,將圓環形妝夕、泰上 狀之透先性膜片,例如用預先均勻塗佈 在該膜片之一主面卜夕# 上之感壓性黏著劑(PSA)貼合於基板1上 之凹凸面11側。Μ品 ”面 精此’以覆蓋在基板i上所層積的膜之方 式,形成透光層5。 精由以上步驟可得 到圖1所示 之一次燒錄型光記錄媒體 115798.doc -16 - 200805360 10 〇 〇_3)靶材之構成 以下就本發明第丨實施形態之靶材構成進行説明。首 先,就用於成膜氧化物膜3之靶材構成進行説明。用於成 =氧化物膜3之靶材,係藉由將半導體粉末之&粉末與半 導體氧化物粉末之(^氧化物粉末之混合物加壓焙燒而成。 該靶材例如具有圓盤形狀,其直徑例如選擇為200 mm,其 厚度例如選擇為6 mm。 力[虼燒後之氧含量在45原子%以上、6〇原子%以下之 範圍内為么。若氧含量不足45原子%,則由於吸收係數k 超過〇·9,記錄特性等會降低。此外,若氧含量超過⑽原 子%,則由於吸收係數k不足〇·15,記錄特性等會降低。 薩之就用於成膜金屬膜2之靶材構成進行説明。用於 成膜金屬膜2之靶材,係藉由將遷移金屬粉末之丁丨粉末與 遷移至屬氮化物粉末之Ti氮化物粉末之混合物加壓培燒而 成。該靶材例如具有圓盤形狀,其直徑例如選擇為200 mm,其厚度例如選擇為ό mm。 加壓培燒後之氮含量在巧子%以上、2〇原子%以下之範 圍内為:,氮含量在1原子%以上、1〇原子%以下之範圍内 更佳。藉由使氮含量在1原子%以上、20原子%以下之範圍 内,可增大功率容, 且可抑制抖動值之上升。藉由使氮 含量在5原子%以上、 原子Λ以下之範圍内,可進一步增 大功率容限,且可谁一丰山 J進一步抑制抖動值之上升。 (1_4)輕材之製造方法 115798.doc 200805360 以下’就本發明第i實施形態之乾材之製造方法進行說 明。f先,就用於成膜氧化物膜3之乾材之製造方法進行 說明。 (稱量·混合) 在分別稱量特定量之半導體粉末之Ge粉末與半導體氧化 物粉末之Ge氧化物粉末後’例如進行乾式混合。此處,
Ge粉末與Ge氧化物粉末之混合比,調整為在加壓培燒後 其氧含量在45原子%以上、6〇原子%以下為佳。 (加壓焙燒) 繼之,將如上述進行稱量.混合而所得到之混合粉末投 入碳製之模具中,藉由例如熱壓裝置進行加壓培燒,得到 培燒體。此處’熱壓裝置為一般所使用者即可,利用該裝 置以特定之壓力及特定之培燒溫度,在非氧環境中進行特 定時間之焙燒。 (精加工步驟) 對進行如上述之加㈣燒而㈣之培燒體,施予機械加 工以便使其成為特定尺寸之圓盤形狀。藉由上述加工可得 到目標之乾材。 繼之’就用於成膜金屬膜2之靶材之製造方法進行說 明。 (稱量·混合) 在分別稱量特定量之遷移金屬粉末之乃粉末與遷移金屬 氮化物粉末之Ti氮化物粉末後’例如進行乾式混合。此 處’ Ti粉末與Ti氮化物粉末之混合比,調整為在加屋焙燒 115798.doc -18- 200805360 後’其氮含量在1原子。/以卜、9λ Τ卞/0以上、20原子%以下之範圍為佳, 調整為氮含量在5原子 小丁 /〇 W上、15原子%以下之範圍更佳 (加壓焙燒) 繼之,將如上述所得到《混合粉末投入碳製之模具中, 糟由例如熱壓裝置進行加壓培燒。此處,熱壓裝置為一般 所使用者即可,利用該裝置以特定之壓力〗特定之培燒溫 度,在非氧環境中進行特定時間之焙燒。 (精加工步驟) 對進行如上述之加壓焙燒而得到之焙燒體,施予機械加 工以便使其成為特定尺寸之圓盤形狀。藉由上述加工可得 到目標之靶材。 如上所述’在第1實施形態中,只要藉由在基板1上依次 層積金屬膜2、氧化物膜3、介電體膜4、及透光層5即可製 造一次燒錄型光記錄媒體10,因此,可提供具有單純膜結 構之高記錄密度之一次燒錄型光記錄媒體1〇。亦即可提供 膜之總數少、價格低之一次燒錄型光記錄媒體。 此外,由於無機記錄膜6包含包含有Ge氧化物之氧化物 膜3、與鄰接於該氧化物膜3之金屬膜2,因此若向無機記 錄膜6照射雷射光,則藉由金屬膜2之光觸媒效應,氧化物 膜3中之氧會分離成為在金屬膜2側增多之狀態。藉此,氧 化物膜3分離成氧濃度高的層與氧濃度低的層,且氧化物 膜3之光學常數產生大的改變。因此,可得到調變度大的 再生信號,故可實現良好的記錄特性。 此外,藉由將包含Si02-Ci:2〇3-Zr〇2之第2介電體膜4b設 115798.doc •19- 200805360 置在包含PSA之透光層5與包含ZnS-Si〇2之第1介電體膜乜 之間,以防止ZnS-Si〇2與PSA之鄰接,可抑制PSA之劣 化。因此,可抑制在光點上產生大的像差,並可抑制再生 信號劣化。 此外,作為第2介電體膜4b之材料因為係使用Si〇2_
Cr2〇3_Zr〇2,所以在藉由雷射光之照射而使無機記錄膜6產 生體積膨脹時,亦可抑制第2介電體膜4b上出現龜裂,進 而可抑制鄰接之第1介電體膜乜上出現龜裂。因此,可抑 制水刀π入無機記錄膜6,提高一次燒錄型光記錄媒體⑺ 之耐久性。 此外,由於係由包含Si〇2_Cr2〇3_Zr〇2之第2介電體膜 仆、與濺鍍速度較Si〇2_Cr2〇3_Zr〇2快的ZnS_si〇2之2層構 成介電體膜4,故與僅以Si〇2_Cr2〇3_Zr〇2構成介電體膜4之 情形比較,可減少生產間隔時間,即,可提高生產性。 此外,由於係以濺鍍包含Ge氧化物之靶材而成膜氧化物 膜3’故在量產時,可成膜具有特定氧濃度、即具有特定 吸收係數之氧化物膜3。 此外,由於係以濺鍍包含Ti氮化物之靶材而成膜金屬膜 2,故不必進行將小流量之氮氣控制為一定之困難作業。 因此,在量產時可穩定地成膜金屬膜2。 (2)第2實施形態 圖2係顯示本發明第2實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。該一次燒錄型光記錄媒體丨❹具 有在基板1上依次層積無機記錄膜6、介電體膜4、及透光 115798.doc -20- 200805360 層5之構成。無機記錄膜6具有在基板1上依次層積金屬膜2 及氧化物膜3之構成。由於除氧化物膜3以外其他部分均與 上述第1實施形態相同,故省略氧化物膜3以外部分之說 明。 氧化物膜3包含第1氧化物膜3a及第2氧化物膜%,且第1 氧化物膜3a設置在與金屬膜2鄰接之侧、第2氧化物膜3b設 置在與介電體膜4鄰接之侧。第i氧化物膜3a及第2氧化物 膜3b包含Ge之氧化物,且第i氧化物膜“及第2氧化物膜儿 之氧組成互不相同。亦即,第i氧化物膜3&及第2氧化物膜 3b之吸收係數互不相同。藉由如此地構成氧化物膜3,可 擴大功率容限,提供記錄特性優越之一次燒錄型光記錄媒 體10。 此處,若設第1氧化物膜3&、第2氧化物膜扑之吸收係數 分別為hh,則該等吸收係數匕、匕以分別滿足〇15^ k!、k2S 0.90之關係為佳,滿足〇·2〇^、、kg 〇·7〇之關係 為更佳,滿足0.25$1^、]^0.60之關係為最佳。藉由滿 足0.15^1^、k2^〇.9〇之關係,例如可得到良好的調變度 及C/N比。藉由滿足0.20^、k2^〇7〇之關係,例如可得 到更良好的調變度及C/N比。藉由滿足〇.25^ki、匕以·6〇 之關係’例如可得到更進—步良好的調變度及c/n比。 此外’吸收係數kl、k2以滿足kl>k2之關係為佳。藉由滿 足該關係,可擴大功率容限,實現記錄特性優越之一次燒 錄型光記錄媒體1 〇。 以下’係顯示P氧化物膜33及第2氧化物膜35之成膜步 115798.doc -21 · 200805360 驟之一例。 (第1氧化物膜之成膜步驟) 將設有金屬膜2之基板1搬送到例如具有包含以氧化物之 乾材之真空腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定 之壓力。然後,一面向真空腔室内導入例如Ar氣體,一面 濺鍍靶材,而在金屬膜2上成膜例如包含Ge氧化物之第1氧 - 化物膜3 a。 以下係顯示該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5·0χ1(Τ5 Pa 環境:0· 1〜0.6 Pa 投入電力:1〜3 kW(RF) 氣體種類:Ar氣體 Ar氣體流量:1〇〜8〇 (第2氧化物膜之成膜步驟) 繼之,將基板1搬送到例如具有包含以氧化物之靶材之 真空腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓 力。然後,-面向真空腔室内導人例如Ar氣體,—面賤鍛 靶材而在第1氧化物膜3 a上成膜例如包含以氧化物之第2 • 氧化物膜3b。 • 以下係顯示在該成膜步驟中«條件之-例。 真空度:5.0χ1(Γ5 pa 玉衣境· 0.1〜0.6Pa 投入電力:1〜3 kW(Rp) 氣體種類:Ar氣體 115798.doc ' 22 - 200805360
Ar氣體 >瓜里· 1〇〜8〇 seem 如上所述,在該第2實施形態中,由於係由包含以氧化 物之第1氧化物膜3a、與氧之組成比與上述第}氧化物膜3曰 不同之包含Ge氧化物之第2氧化物膜儿構成氧化物膜3,故 可使第1氧化物膜3a與第2氧化物膜3b之吸收係數不同。藉 此,可擴大功率容限。 (3)第3實施形態 圖3係顯示本發明第3實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。該一次燒錄型光記錄媒體丨〇在 基板1上具有依次層積無機記錄膜6、介電體膜4、及透光 層5之構成。無機§己錄膜6在基板1上具有依次層積之金屬 膜2、氧化物膜3之構成。由於除金屬膜2以外,其他部分 均與上述之第1實施形態相同,故省略金屬膜2以外部分之 說明。 金屬膜2包含第1金屬膜2a及第2金屬膜2b,且第1金屬膜 2a設置在基板1側,第2金屬膜沘設置在氧化物膜3侧。 第1金屬膜2a包含例如Ti及Si。第2金屬膜2b例如包含 Τι。而且,以提高光學特性、耐久性及記錄感度等為目 的,亦可進一步於第1金屬膜仏及/或第2金屬膜2b中添加 添加物。作為此種添加物可使用例如與上述第丨實施形態 相同之添加物。此外,亦可將構成第1金屬膜2&及/或第2 金屬膜2b之材料加以氧化。藉由進行如此之氧化,可改善 抖動值。此外,亦可將構成第1金屬膜2&及/或第2金屬膜 2b之材料加以氮化。藉由進行如此之氮化,可擴大功率容 115798.doc •23- 200805360 限 …屬膜2&之膜厚在2 nm以上、10 nm以下之範圍内為 八係口為右膜厚不足2㈣’則藉由設置第1金屬膜 所產生之效果微弱,其功率容限與只用單層之第2金屬膜 2b構成金屬膜2之情形大致相同。 此外,第i金屬膜2a之Si組成,以在8原子%以上、似 子%以下之範圍内為佳。其係因為若不足8原子%,則不能 得到良好的抖動值’若超過32原子%,則不能得到良好的 記錄感度。 以下’係顯示第i金屬膜2a及第2金屬膜2b之成膜步驟之 一例0 (第1金屬膜之成膜步驟) 將基板1搬送到例如具有包含TiSi之靶材之真空腔室 内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力。然後, 一面向真空腔室内導入例如Ar氣體,一面濺鍍靶材:而在 基板1上成膜例如包含TiSi之第1金屬膜2a。 以下係顯示該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5.0xl〇-5 Pa 壞境· 0.1〜0.6 Pa 投入電力·· 1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流量·· 1 0〜40 seem (第2金屬膜之成膜步驟) 將基板1搬送到例如具有包含Ti之靶材之真空腔室内, 115798.doc -24- 200805360 並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力。然後,一面 向真空腔室内導入例如Ar氣體,一面濺鍍靶材,而在基板 1上成膜例如包含Ti之第2金屬膜2b。 以下係顯示在該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5.0xl(T5 Pa 環境:0.1〜0.6 Pa 投入電力:1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流量:10〜40 seem 如上所述,在該第3實施形態中,由包含^以之第丨金屬 膜2a與包含Ti之第2金屬膜2b構成金屬膜2,且將第2金屬 膜2b設置在氧化物膜3側,故可擴大功率容限。 (4)第4實施形態 本第4實施形態之一次燒錄型光記錄媒體1〇,除第丨金屬 膜2a及第2金屬膜2b以外,均與上述之第3實施形態相同, 故省略第1金屬膜2a及第2金屬膜2b以外部分之說明。 金屬膜2由包含A1之第1金屬膜2a與包含TiSi之第2金屬膜 2b構成,且第2金屬膜2b設置為鄰接氧化物膜。第工金屬膜 2a之膜厚设定為7 nm以下為佳。此外,亦可使第J金屬膜 2a及/或第2金屬膜2b進一步含有添加物。作為該添加物可 使用例如與上述第1實施形態相同之添加物。此外,亦可 氮化及/或氧化第1金屬膜仏及/或第2金屬膜2b。 以下,顯示第1金屬膜2a及第2金屬膜2b之成膜步驟之一 例0 115798.doc -25- 200805360 (第1金屬膜之成膜步驟) 將基板1搬送到例如具有包含八丨之靶材之真空腔室内, 並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力。然後,一面 向真空腔室内導入製程氣體,一面濺鍍靶材,而在基板J 上成膜第1金屬膜2a。 以下係顯不在該成膜步驟中之成膜條件之一例。 真空度:5.0X10-5 Pa 玉衣境· 〇·1〜(K6Pa 投入電力·· 1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流量:10〜40 seem (第2金屬膜之成膜步驟) 將基板1搬送到例如具有包含TiSi之靶材之真空腔室 内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力。然後, 一面向真空腔室内導入製程氣體,一面濺鍍靶材,而在基 板1上成膜第2金屬膜2b。 以下係顯示在該成膜步驟中之成膜條件之一例。 真空度:5·0χ1(Τ5 Pa 環境·· 0.1 〜0.6 Pa 投入電力·· 1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流量:10〜40 seem 如上所述,在該第4實施形態中,由包含A1之第1金屬膜 2a與包含TiSi之第2金屬膜2b構成金屬膜2,且將第2金屬膜 115798.doc -26 - 200805360 2b設置在氧化物膜3侧,故可提高記錄感度。 (5)第5實施形態 本第5實施形態之一次燒錄型光記錄媒體1〇,除第1金屬 膜2a及第2金屬膜2b以外,均與上述之第3實施形態相同, 故省略第1金屬膜2a及第2金屬膜2b以外部分之說明。 第1金屬膜2a及第2金屬膜2b包含TiSi。在將第!金屬膜 2a、弟2金屬膜2b之組成分別表示為TiSix、TiSiy時,以 TiSix、TiSiy滿足x<y之關係為佳。 此外,亦可使第1金屬膜2a及/或第2金屬膜2b進一步含 有添加物。作為此添加物,例如可使用與上述第丨實施形 態相同之添加物。此外,亦可氮化及/或氧化p金屬膜2a 及/或第2金屬膜2b。 以下,顯示第丨金屬膜2a及第2金屬臈几之成膜步驟之一 例0 (第1金屬膜之成膜步驟) 將基板1搬送到例如具有包含TiSi之靶材之直空腔室 内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力' 然後, 一面向真空腔室内導入製程翁鲈, 守表往札體,一面濺鍍靶材,而在基 板1上成膜第1金屬膜2a。 以下係顯示在該成膜步驟中成臈條件之一例。 真空度:5.0xl〇-5 Pa 環境:0.1〜0.6 Pa 投入電力:1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 115798.doc -27- 200805360 氣體流量·· 10〜40 sccm (第2金屬膜之成膜步驟) 、,釐之,將基板1搬送到例如具有包含了⑻之把材之真空 腔室内,並將真空腔室内抽取真空至成為特定之壓力。然 後,一面向真空腔室内導入製程氣體,一面祕乾材,而 在基板1上成膜第2金屬膜2b。而且,在該第2金屬膜几之 成膜步驟中,所使用之靶材之組成與在第丨金屬膜h之成 膜步驟所使用之乾材不同。此外,在第2金屬膜2b之成膜 步驟所使用之乾材,具有比在第1金屬膜2a之成膜步驟所 使用之靶材鬲的Si含有率。例如,將用於成膜第丨金屬膜 2a、第2金屬膜2b之靶材之組成分別表示為Tisix、 時,TiSix、TiSiy滿足x<y之關係。 以下係顯示在該成膜步驟中成膜條件之一例。 真空度:5.〇xl〇-5 pa 玉衣境.0.1〜0.6?狂 投入電力:1〜3 kW(DC) 氣體種類:Ar氣體 氣體流置· 10〜40 seem 如上所述,在該第5實施形態中,由包含TiSi之第1金屬 膜2a、與包含組成與上述第1金屬膜2a不同之Tisi之第2金 屬膜2b構成金屬膜2,並使第1金屬膜2a之Si含量比第2金 屬膜之Si含量少,故可提高記錄感度。藉此,可確保高功 率側之容限,〇PC(〇ptimum Power Control,藉由驅動之記 錄範圍最適化)範圍擴寬。而且,易於因應高線速記錄及2 115798.doc -28 - 200805360 層以上之高容量多層媒體。 [實施例j 以下,藉由實施例具體說明本發明,但本發明並非僅限 於此專實施例者。 比較例1 作為比較例1,就將在耐久性上有問題之SiN作為第2介 電體膜(保護膜)使用之情形進行說明。 首先,藉由射出成形法成形在一主面上設置有陰槽及陽 槽之基板。此外,該基板係厚度為1;l mm、執距0.32 卩瓜、槽深20 nm之BD用基板。 繼之,藉由濺鍍法依次在基板上成膜金屬膜、氧化物 膜、第1介電體膜、及第2介電體膜。且成膜時係使用 Unaxis公司製Sprinter(註冊商標)。 以下顯示各膜之材料及膜厚。 金屬膜 材料:Ti75Si25,膜厚:22 nm 氧化物膜 材料:Ge5G05(),膜厚:25 第1介電體膜 材料:ZnS-Si02,膜厚:55 nm 第2介電體膜 材料:Si3N4,膜厚·· 4 nm 以下顯示各膜之成膜條件。 金屬膜 115798.doc -29- 200805360 氣體種類:Ar、N,氣體流量:30 sccm(Ar)、5 sccm(N),投入電力:3 kW(DC) 氧化物膜 氣體種類:Ar,氣體流量:30 seem,投入電力:2 kW(RF) 第1介電體膜 氣體種類:Ar,氣體流量:6 seem,投入電力:4.5 kW(RF) 第2介電體膜 氣體種類:Ar、N,氣體流量:50 seem、37 seem,投 入電力:4 kW(DC) 繼之,將圓環形狀之聚碳酸酯膜片,藉由預先塗佈在該 膜片之一主面上之感壓性黏著材(PSA)貼合於基板1上,而 形成厚度為〇· 1 mm之透光層。該透光層為依據BD規格 者,且該透光層側成為記錄再生光之入射面。藉由以上可 得到目標之一次燒錄型光記錄媒體。 繼之,對如上述所得到之一次燒錄型光記錄媒體,對其 (a)剛記錄後之SER(Symbol Error Rate),(b)在藉由恒溫槽 之加速試驗後之SER,(c)耐久性之判定,(d)底部抖動值, 及(e)功率容限進行評價。
(a)剛記錄後之SER 使用BD用光碟測試儀(PULSTEC工業公司製、0DU-1000),以BD之25GB密度、2x記錄向一次燒錄型光記錄媒 體記錄、再生資訊信號,並測定SER。其結果,剛記錄後 115798.doc -30- 200805360 之SER為2xl0_5左右、非常良好。
(b) 在藉由恒溫槽之加速試驗後之SER 在恒溫槽内,將一次燒錄型光記錄媒體在溫度80°C、濕 度85%之環境下,保持200h後進行加速試驗後,返回室 温,再生與測定(a)剛記錄後之SER時之相同區域,並測定 SER。其結果如圖4所示,出現錯誤惡化之區域。 (c) 财久性之判定 以 SEM(Scanning Electron Microscope)等解析上述錯誤 高的區域後,判明存在有部分的Ge凝集之處,其即係產生 錯誤惡化之區域之原因。判明此係水分進入包含GeO之氧 化物膜時所引起之現象,其原因係在記錄後、第2介電體 膜未能充分發揮作為保護膜之功能。 (d) 底部抖動值 通過 Limit Equalizer(Pulstec 公司製),用 Time Interval Analyzer(橫河電機製、TA720)測定抖動值,並將抖動值成 為最小的值作為底部抖動值。 (e) 功率容限 通過 Limit Equalizer(Pulstec 公司製),用 Time Interval Analyzer(橫河電機製、TA720)測定抖動值,將上述測定之 抖動值成為8.5%以下之功率之幅度除以抖動值成為最小之 功率,所得到的值作為功率容限。 實施例1 繼之,除作為第2介電體膜係使用(SiO2)15(Cr2O3)70 (Zr02)15以外,全部與比較例1同樣地進行而得到一次燒錄 115798.doc -31 - 200805360 型光記錄媒體。然後,與比較例1同樣,對該一力 夂廣*錄型 光記錄媒體進行(a)〜(e)之評價。 其初期之記錄特性與比較例1大致同等或更好。亦艮 反射率、記錄感度、及底部抖動值與比較例i幾乎相^, 在記錄功率容限上實施例丨比比較例丨稍寬,在記錄特性方 面亦呈現出少許改善。此外,從加速試驗之結果來看,如 圖5所示,SER之惡化幾乎完全得到改善。 如此,作為第2介電體膜之材料,在初期記錄特性之點 上,Sl3N4及(81〇2)15(〇2〇3)70(心〇2)15均為良好,而在耐久 性之點上,(SiOJWCi^OOWZrO2)"較良好。其理由可認 為係與第2介電體膜之内部應力有關。亦即,可認為膜 係内部應力大並容易出現龜裂之材料,而且,其與Zns_
si〇2膜之密合性好,故即使其僅有4 nm之厚度,當在siN 膜上出現龜裂時,直至ZnS_Si〇2膜亦會同時出現龜裂,使 其耐久性惡化。 實施例2〜8 如表1所示,除作為第2介電體膜係使用si〇2_cr2〇3-Zr〇2、並將Cr2〇3之組成調整為4〇原子%以上、9〇原子%以 下之範圍内外,其餘均與比較例丨同樣地進行,得到一次 燒錄型光記錄媒體。然後,與比較例1同樣地進行〜⑷ 之評價。 比較例2〜5 如表1所示’除作為第2介電體膜係使用Si〇2-Cr203-Zr〇2、並將Cr2〇3之組成調整為4〇原子%以上、9〇原子。/〇以 115798.doc -32· 200805360 下之範圍内外,其餘均與比較例1同樣地進行,得到_ A 燒錄型光記錄媒體。然後,與比較例1同樣地進行(a)〜(e) 之評價。 比較例6〜9 除作為第2介電體膜之材料係使用表1所示之材料外,均 與比較例1同樣地進行,得到一次燒錄型光記錄媒體。而 且,與比較例1同樣地進行(a)〜(e)之評價。 比較例10 如表1所示,除省略了第2介電體膜之形成外,均與比較 例1同樣地進行,得到一次燒錄型光記錄媒體。然後,與 比較例1同樣地進行(a)〜(e)之評價。 表1顯示對實施例1〜8及比較例丨〜⑺進行(a)剛記錄後之 SER,(b)在藉由恒溫槽之加速試驗後之犯尺,(c)耐久性之 判定,(d)底部抖動值,及(e)功率容限評價之結果。此 處,所謂SER,係測定從内周至外周之訊符錯誤率時之全 部資料的平均值。 综合判定採用2個等第;〇··良好,χ:不實用。 以下表示其判定基準。 〇:沒有SER之上升及以之凝集,且抖動值及功率容限 均良好 X ·出現SER之上升' Ge之凝集,及抖動值、功率容限 惡化中之任一者時 (表1) H5798.doc -33· 200805360 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 X X X X X X X X X X 銳 fhV^ 容 〇 VO m ν〇 m 00 cn On σΊ Os (N (N cn <Ν m οο m νο m (N 〇\ (Ν U^i m 〇\ <Ν ^T) <N o m 容 寸· 卜 ν〇 cn 寸· 〇 oo OS ιη ν〇 t> (N cn as l> uS uS tn vd ιη tn iri ν〇 in to 00 4ί 碟 碟 碟 碟 碟 碟 罐 杯 你 杷 杷 杯 杯 0) 〇 Ρύ W (Λ 麵 «ο ^n tn up *r> «η »η U^ up *η Μ % s X "^x "χ τ-Η ι—Η ^Χ ι—Η cn r-H σ^ s r-H ^X i—H r-H 与 w 00 ^n tn up in V νρ WO up V V »n tr> ^χ S "x X S s X X X 实 g I S 〇 S u-ϊ g I m r< 〇 〇 s S cn cs ο s Ο S g < s gs o o g g g g o a 〇 fi s § rsJ Ο S ο 3i3N4 a ΰ a Cr203 Ta2〇5 Si〇2 CA 碟 辆5 <- CN υ CO 〇 *〇 <N ci rsj (Νΐ ο Ο o £r U 〇 ί4 Ο <Ν (Ν N 浓 o •9 o 〇 • ι·Η o Ns^ ^0/ Ο 邑 Ο •o •色 色 •色 r-H CN cn 寸 in VsO 卜 οο τ-Η CN CO 寸 ^η v〇 卜 oo Os o 零 军 ¥ % 填 餘 馨 餘 馨 馨 馨 馨 馨 餘 ^κ ^K 如κ ♦ζ ♦κ .〇 -Ο -Ο ^3 jj -Ο jJ -jj ^»**Γ Jj 115798.doc -34- 200805360 從表1可知: 雖然第2介電體膜之膜厚僅有4 nm,而且,儘管其不直 接接觸金屬膜、氧化物膜,但其對記錄特性(抖動值、功 率容限)具有影響’且與耐久性有較大相關。此可認為第2 μ電體膜之硬度4機械特性有相關。由於記錄膜之膜厚在 記錄後會產生大的變化,故尤其係在高功率侧之記錄特性 會受到影響。 此外,包含〇2〇3及Zr〇2之第2介電體膜顯示出良好的特 性’特別係在〇2〇3組成為4〇原子%以上、9〇原子%以下 時,耐久性之改善效果顯著。此係在使用如此之體積膨脹 大的記錄膜時固有之特徵,係提供作為保護膜可得到良好 特性之範圍者。 以上,就本發明之實施形態及實施例進行了具體的說 月但本發明並非為上述之實施形態及實施例所限定者, 基於本發明之技術思想之各種變形係可能的。 例如,在上述之實施形態及實施例中所舉出之數值,畢 竟僅為一例而已,按照需要亦可使用與此不同的數值。 此外,上述實施形態及實施例之各構成,只要不脫離本 發明之主旨可相互組合。 此外,在上述實施形態及實施例中,就將本發明適用於 具有包含無機材料之無機記錄膜6之一次燒錄型光記錄媒 體10進行了說明,但其亦可適用於具有包含有機色素之記 錄膜之一次燒錄型光記錄媒體。 此外,在上述實施形態及實施例中,就由1層或2層氧化 115798.doc -35- 200805360 物膜構成氧化物膜3之情形 複數層構成氧化物膜3。 進行了說明,但亦可由3以上之 此卜在上述只施形態及實施例中,就由!層或2層金屬 膜構成金屬膜2之愔形 ^ $進仃了說明,但亦可由3以上之複數 層構成金屬膜2。 此外/’在上述實施形態及實施例中,就由Ti構成金屬膜 2之情形進彳τ 了說明’但可以認為即使由Ή以外之顯現有 光觸媒效應之金屬材料等構成金屬膜2,亦可得到可與上 述實施形態及實施例同樣地記錄資訊信號之-次燒錄型光 記錄媒體。 【圖式簡單說明】 圖1係顯示本發明第i實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。 圖2係顯示本發明第2實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。 圖3係顯示本發明第3實施形態之一次燒錄型光記錄媒體 之一構成例之概略剖面圖。 圖4係顯示比較例1之一次燒錄型光記錄媒體在加速試驗 前後之誤差率曲線圖。 圖5係顯示實施例1之一次燒錄型光記錄媒體在加速試驗 前後之誤差率曲線圖。 【主要元件符號說明】 1 基板 2 金屬膜 115798.doc -36- 200805360 2a 第1金屬膜 2b 第2金屬膜 3 氧化物膜 3a 第1氧化物膜 3b 第2氧化物膜 4 介電體膜 4a 第1介電體膜 4b 第2介電體膜 5 透光層 6 無機記錄膜 10 一次燒錄型光記錄媒體 115798.doc -37-

Claims (1)

  1. 200805360 十、申請專利範圍: 1· 一種資訊記錄媒體,其特徵在於··其在基板上設置有記 錄膜及介電體膜; 上述記錄膜包含藉由光能之照射會產生體積膨脹之記 錄材料; 上述介電體膜包含Zr02&Cr203。 2·如明求項1之資訊記錄媒體,其中上述介電體膜之Cr203 之含里為40原子%以上、90原子%以下。 3.如請求項丨之資訊記錄媒體,其中上述介電體膜尚含有 Si02 〇 4·如請求項1之資訊記錄媒體,其中上述記錄膜具有包含 鍺(Ge)氧化物之氧化物膜。 5. 如請求項4之資訊記錄媒體,其中上述記錄膜尚具有鄰 接於上述氧化物膜之鄰接膜,上述鄰接膜包含鈦(丁丨)。 6. 如請求項4之資訊記錄媒體,其中上述記錄膜尚具有鄰 接於上述氧化物膜之鄰接膜,上述鄰接膜包含Tisi。 7. 如請求項丨之資訊記錄媒體,其甲上述介電體膜之膜厚 為2 nm以上、20 nm以下。 8. 如請求項1之資訊記錄媒體,其中在上述記錄膜與包含 △〇2及(>2〇3之上述介電體膜之間,進一步設置有包含 ZnS-Si〇2之介電體膜。 9· 一種貧訊記錄媒體之製造方法,其特徵在於:其係製造 在基板上设置有圮錄膜及介電體膜之資訊記錄媒體,σ 具有: 115798.doc 200805360 由藉由光能之照射會產生體積膨脹之記錄材料形成上 述記錄膜之步驟;及 形成包含Zr02及Cr203之上述介電體膜之步驟。 115798.doc
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