TW200537144A - Silicon optical device - Google Patents
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Description
200537144 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於光學裝置,如光波導。 【先前技術】 光學裝置’如光學波導’可以在絕緣層上覆邦〇1)的薄 膜,以㈣體電路結構相容的組態製造。一種在其他地方 已被描述之可行的實施方式’涉及使用單晶則薄膜,以及 φ 在該s〇1薄膜上,沈積薄的多晶矽上層。在此一實作中,圖 案化該薄的多晶矽上層,以形成光波導元件,或者是以_ 薄膜來圖案化,以形成S0I/多種合成的光波導特徵。多晶 石夕也可單獨導引光線。可是,需要額外的結晶石夕以最小化 光學損失。 不幸地,現代的矽蝕刻系統與製程係最佳化來製備盘遮 ^薄膜尺寸緊密匹配的垂直特徵。對於製造先進微電= 多晶石夕閘極’此等垂直特徵是有效率與必要的,可是垂直 特徵的尖銳邊緣會使光學裝置結構(如,光波導)的^退 ^特別是應用於多晶♦薄膜時,使用這些㈣刻系統與 製程的圖案化,也會導致不規則的邊緣。 /、 根據本發明之一具體實施例之光學裝置,其具有 角的上層石夕或多晶石夕特徵。使上層碎多晶⑪特徵的邊 滑,改善了光學裝置(如光波導)的性能。 【發明内容】 根據本發明之一態樣,一種製造一光學裝置之方法,勹 括:形成光學裝置之矽島’使矽島具有側壁;…包 98929.doc 200537144 側壁形成矽分隔件,使矽島的邊角圓滑。 根據本發明之另一態樣,一種製造一光學裝置之方法, 包括:形成光學裝置之矽島,其中該矽島包括垂直的側壁; 及,沿著該矽島的垂直側壁,形成非晶系分隔件,以使矽 島的邊角圓滑。 、根據本發明之另一態樣,一種製造一光電積體電路之方 法,包括:在一S0I基板上形成一矽肋件,使一部分§⑺基 _ 板暴露出來,並使矽肋件具有側壁;在該SOI基板中植入一 井;在該矽肋件、該暴露之S0I基板,及該植入之井上面形 成一氧化物層;在該氧化物層上形成一矽層,·及,非均向 也钱刻。亥石夕層,以於該井上留下一閘極,與沿著該石夕肋件 的側壁留下矽分隔件,使矽肋件的邊角圓滑。 根據本毛a月之另一態樣,一種光學裝置包括一 SOI結構, AS0I結構上之—多晶碎特徵,及—%分隔件。該多晶石夕特 徵具有一上表面,垂直側壁,及接合該上表面與該等垂直 • 側土之邊角。沿著該垂直側壁,提供該矽分隔件,以使該 多晶矽特徵之邊角圓滑。 根據本發明之進—步態樣,-種光電裝置包括-SOI結 構Y 一形成於該S0I結構上之光學裝置,一電子裝置,與石夕 刀^件j光學裝置包括一表面與垂直側壁,以及接合該 表面…亥等側壁之邊角。該電子裝置係形成於該則結構 上。4石夕分隔件係沿著該等垂直側壁,以使該光學裝置之 邊角圓滑。 【實施方式】 98929.doc 200537144 如圖i所示,一種合成的光學裝置1〇首先係藉由在一s〇i 結構14上沈積一多晶矽層12來製造。在多晶矽層12與§〇工 結構14之間,可以視需要提供一薄的介電質,以協助限定 摻雜物,及促進多重圖案化。此一介電質可以是閘極氧化 物,並具有30_1〇〇埃的厚度。雖然不是必要的,但多晶矽 層12最好儘可能是結晶系的,以最小化損失,並且與s〇i 結構14的折射率相匹配,以允許光束從s〇I結構14進入多晶 矽層12之均勻的擴展。 該SOI結構14通常包含一矽操作晶圓(silic〇n handle wafer)16, 一形成於該矽操作晶圓上之嵌埋氧化物層18,與 一形成於該嵌埋氧化物層1 8上之矽層20。舉例來說,可以 用單晶矽形成該矽層20。舉例來說,該多晶矽層丨2的厚度 可以是1200-1600埃的數量級。同樣地,舉例來說,該s〇I 結構14的厚度可以是1200-1600埃的數量級。 如圖2所示’圖案化該多晶石夕層12以形成所需光學裝置之 適當特徵,如多晶矽肋件(poly-silicon ril3)22。就光波導而 言,圖案化該多晶矽層12以形成或促進光波導之光波導隔 層的形成。舉例來說,可以藉由在多晶矽層12上放置適當 的遮罩,並藉由施加一蝕刻劑,以移除多餘的多晶石夕,來 形成该多晶砍肋件22。可以相對於下面的(氧化的)soi結構 14,選擇性地蝕刻該多晶矽層12。為此,可以使用乾式钱 刻,如電漿,以最大化控制。 如圖3所示,氧化物層24係形成於該暴露之石夕層2〇與該多 晶石夕肋件22上面。舉例來說,該氧化物層24可以具有大約 98929.doc 200537144 30至100埃的厚度。在下述之後續蝕刻期間,該氧化物層% 係作為颠刻終止層。該氧化物層24也可以提供閘極氧化物 a $成於5亥SOI結構14上的其他裝置。可是,也可視需要省 略该氧化物層24。在氧化物層24中,可以使用其他介電材 料(如氮化矽)來取代該氧化物。 如圖4所示,在該氧化物層24上,沈積一保角(conformal) 非晶系或多晶矽層。舉例來說,該保角非晶系或多晶矽層 φ 26的厚度,可以是2000至3000埃的數量級。如圖5所示,非 均向地蝕刻該保角非晶系或多晶矽層26,直到從所有水平 表面上移除該材料,並沿著原來多晶矽肋件22的側壁,遺 留下非晶系或多晶矽分隔件28與3〇。這些非晶系或多晶矽 分隔件28與30使多晶矽肋件22的邊角圓滑,因而降低光學 損失’並改善光學裝置1〇的性能。 上述的過程並不依賴一般製造設備中複雜的均向/非均 向蝕刻、氧化作用、可能造成損害的化學機械研磨(CMP), • #物理賤鑛過程。上述的過程使用簡單的多晶或非晶系石夕 沈積法與非均向蝕刻過程,以產生具有所需之圓滑邊角的 合成碎結構。 用現代的製造工具,以和裝置相容的處理流程來製造具 有::的邊角,及可接受之控制與重複性的光波導與其他 光子邊置,並不容易達成。矽蝕刻劑經設計與經調控以蝕 刻垂直的側壁特徵。舊的触刻腐餘技術利用包含與多晶石夕 不相谷之化學的氧化物,以氧化選擇性的要求。濕式钱刻 過程需要特殊的遮罩控制與石夕化物區域的保護,以及免於 98929.doc 200537144 不良控制與邊緣不均勻的緩衝區。氧化製程不會產生理邦、 的圓形。對圖案密度變化,需施用CMP技術。 可是,本文中所敘述之該等分隔件與形成該等分隔件的 過程,可以產生所需之圓滑的邊角,以及/或減少或消除本 文中所敘述之其他製程的問題。 分隔件可以沿著SOI或SOI/多晶矽波導的部分來施作,以 減少邊緣不均勻,並使邊角圓滑以最小化損失。分隔件對 鲁促進光線從SOI波導透射到合成的SOI/多晶矽波導,也是有 用的。 以上已經敘述本發明之某些修改。熟諳本發明技術之士 可能會有其他修改。舉例來說,本文中所敘述之製程,非 常相容於積體光電裝置的形成。視需要可以沈積與圖案化 該多晶矽層12,以形成該多晶矽肋件22,而其亦可於適當 的井區域上沈積與圖案化。該或該等井區域可以適當地植 入’並且可以成長適當的氧化物層(如氧化物層24),以亦形 • 成一閘極氧化物。可以沈積、遮罩,或蝕刻該保角非晶系 或多晶矽層26,以不只形成該非晶系或多晶矽分隔件以與 30’而是形成一或更多電子裝置之閘極。 此外’因為本文所揭示之製程可以使用平面隔離,如幾 渠溝隔離技術,該非晶系或多晶矽分隔件28與30可以留在 多晶矽肋件22的周圍,而不妨礙該閘極圖案的精確性。接 著’該製程次序可以繼續遵循傳統的流程。 圖5顯不使用淺渠溝隔離技術,且於適當邊緣具有多晶矽 分隔件的光電裝置5〇。該光電裝置50係首先於一 s〇I結構54 98929.doc 200537144 上沈積一多晶矽層52來製造。在該多晶矽層52與§〇1結構之 間,可以視需要提供-薄的介電質,以協助限定播雜物, 並促進夕重圖案化。該SOI結構54包含一矽操作晶圓56,一 形成於该矽操作晶圓56上面之嵌埋氧化物層58,及一形成 於該嵌埋氧化物層58上面之矽層60。舉例來說,可以用單 晶矽來形成該矽層60。在矽層20中形成淺渠溝62與64,而 產生矽島66、68,與70。圖案化多晶矽層52,以形成光學 φ 裝置74之多晶矽肋件72與電子裝置78之多晶矽閘極76。: 此,在該矽島68上形成該多晶矽肋件72,並且在該矽島7〇 上形成該多晶矽閘極76。此外,該多晶矽肋件72與該多晶 石夕閘極76本身可以作為矽島,甚至多晶矽島。電子裝置78 也可以包含石夕化物區域80、82,與84,及氧化物分隔件86 與88。最後,該光學裝置74包含上述之多晶矽分隔件9〇與 92。此外,因為該光學裝置74與該電子裝置78的需求可能 不同,很難以相同的多晶矽層產生該等光學裝置與電子裝 • 置之閘極。如果是這樣的話,可以使用第二層多晶矽(分隔 件)來建構該等閘極。 如圖7所示,該光學裝置74之該矽島68的垂直邊緣,也可 具有多晶矽分隔件94與96。舉例來說,可以使用該矽島68 以亦導引光線。 除了光波導以外’本發明可以和其他光學裝置一起使 用。舉例來說,本發明也可以和光學模組、光學開關等, 一起使用。 因此,本發明之敘述應理解為說明,其目的在教導熟諳 98929.doc >10- 200537144 *之士以最佳模式實現本發明。其細節可實質上變更而 不脫離本u之精神,因此保留所有延伸中請專利範圍内 之修改的專用權利。 【圖式簡單說明】 當連同圖式,詳細思考本發明時,本發明之上述與其他 特徵及優點,將變得更顯而易見,其中: 圖κ兒明一 soi結構,其具有一形成於其上之多晶石夕層; 圖2說明圖案化之後,圖1之該多晶矽層; 圖3說明形成於圖2之暴露的矽層與圖案化的多晶矽層上 的氧化物層; 圖4說明沈積於圖3之氧化物層上面的第二保角 (conformal)非晶系或多晶矽層; 圖5說明蝕刻之後,遺留下來的多晶矽分隔件; 圖6說明具有分隔件之光電裝置的第一具體實施例,其係 根據本發明;及 圖7說明具有分隔件之光電裝置的第二具體實施例,其係 根據本發明。 【主要元件符號說明】 10, 74 光學裝置 12, 26, 52 多晶碎層 14, 54 SOI結構 16, 56 石夕操作晶圓(Silicon handle wafer) 20, 60 石夕層 18, 24, 58 氧化物層 98929.doc 200537144 22, 72 多晶石夕肋件(poly-silicon rib) 28, 30, 90, 92, 94, 96 多晶石夕分隔件(poly-silicon spacer) 50 光電裝置 66, 68, 70 矽島 76 多晶石夕閘極 62, 64 淺渠溝 78 電子裝置 80, 82, 84 矽化物區域 86, 88 氧化物分隔件 98929.doc -12-
Claims (1)
- 200537144 十、申請專利範圍: κ 一種製造一光學裝置之方法,包括: 形成該光學裝置之矽島,使該矽島具有側壁;及 著。亥4側壁形成石夕分隔件,以使該石夕島之邊角圓滑。 2·如凊求項1之方法,其中該矽島包括一多晶矽島。 士叫求項2之方法,其中該多晶矽島係形成於一 s〇I結構 上。 4.如叫求項1之方法,其中該矽島包括一形成於一 SOI結構 之矽層上的矽島。 5· 士口月求項1之方法’其中該光學裝置包括一光波導,且其 中該矽島導引光線。 6. 如請求们之方法,其中該形成一石夕島包括在—_結構 上形成一矽肋件,使該801結構之一部分暴露出來,並使 該石夕肋件具有側壁,且其中該形成梦分隔件包括: 在該矽肋件與該暴露之s〇I基板上,形成一矽層·及 ;移除該矽層,以沿著該等側壁,提供矽分隔件,以使 6亥石夕肋件之邊角圓滑。 7. 二=項6之方法’其中該移除㈣層包括非均向地鞋刻 ::二:側壁留T該等”隔件™ 8·如請求項7之方法,其中在一 包括: S01基板上’形成-石夕肋件 在該SOI基板上,形成一多晶矽層; 遮罩該多晶石夕層;及 98929.doc 200537144 餘刻該多晶矽層,以形成一多晶矽肋件。 9·如请求項7之方法,其中在該矽肋件與該暴露之s〇i基板 上形成一石夕層包括: 在該肋件與該暴露之SOI基板上,形成一保角氧化物 層;及 在該氧化物層上,形成一保角多晶矽層。 1〇·如請求項9之方法,其中在一S0I基板上形成一矽肋件包 括: 在該SOI基板上形成一多晶矽層; 遮罩該多晶矽層;及 餘刻該多晶矽層,以形成一多晶矽肋件。 11·如請求項6之方法,其中在一S0I基板上形成一矽肋件包 括在一S01基板上形成一多晶矽肋件,使該S0I基板之 一部分暴露出來,並使該多晶矽肋件具有側壁。 12·如睛求項11之方法,其中該移除該碎層包括,非均向地钱刻特層,以沿著該等侧壁,留下該等石夕分隔件,而 使该多晶矽肋件之邊角圓滑。 13.如印求項6之方法,其中該光學裝置包括一光波導。 14·如請求項6之方法,其中該則基板包括一石夕操作晶圓, 在該石夕操作晶81上之嵌埋氧化物層,與在絲埋氧化物 層上面之單晶矽層。 15. 矽肋件包 晶發之一 如μ求項14之方法,其中在__基板上形成一 括在该單晶矽上形成一多晶矽肋件,使該單 ^ j、路出來,並使多晶梦肋件具有側壁。 98929.doc 200537144 16·如請求項15之方法,其中 蝕刻該矽居,VL ^包括,非均向 ”日矽θ /D者㈣側壁留下該等矽分隔件, 该夕日日矽肋件之邊角圓滑。 17. -種製造—光學裝置之方法,包括: 形成該光學裝置之矽島, • ’旬具中違矽島包括垂直 地 而使 壁;及 的側 矽分隔件 18.如請求項17之方法, 1Q , ^ , ε *中口亥石夕島包括—多晶石夕島。 .上…18之方法,其中該多晶矽島係形成於— S〇I結構 20. 之方法,其中該石夕島包括-形成於-S〇1、结構 之矽層中的矽島。 冉 21·Γ=項17之方法’其中該光學裝置包括-光波導,且 其中该矽島導引光線。 22·:請求項17之方法,其中該形成該石夕島包括在—⑽基板 开二成石夕肋件,其中該石夕肋件包括垂直側壁,且其 X形成非日日㈣分隔件包括沿著該石夕肋件之該等垂直 形成非晶系矽分隔件,以使該矽肋件之該等邊角 圓滑。 23=請求項22之方法,其中在—咖基板上形成-㈣件包 括· 在該s〇I基板上,形成一多晶石夕層; 遮罩該多晶硬層;及 98929.doc 200537144 蝕刻該多晶矽層,以形成一多晶矽肋件。 24·如請求項22之方法,1中带, 二 八T形成4非晶系矽分隔件包括·· 在該石夕肋件,該矽肋件之兮笙 料之㈣垂直側壁,與該暴露之 〇1基板上,形成一保角非晶矽層,·及 非均向地姓刻該非晶矽層, 曰/價 从/口者该矽肋件之該等侧 壁,留下該等非晶系矽分隔件,盆 刀㈨1干具使该矽肋件之該等邊 角圓滑。 25.該石夕肋件之該等 角非晶碎層包括: ,及該暴露之SOI 如請求項24之方法,其中在該矽肋件, 側壁,及該暴露之SOI基板上,形成一保 在6亥矽肋件,該矽肋件之該等側壁 基板上,形成一保角氧化物層;及 在该氣化物層 艰成一保角非晶矽層 •,_ f ^ / r cici /百 w 26.如請求項22之方法,盆中扃一ςητ苴化l / L 八甲在SOI基板上形成一石夕肋件包 括在该SOI基板上形成一多晶矽肋件。月東員26之方法,其中形成該非晶系石夕分隔件包括·· 在該石夕肋件,該石夕肋件之該等垂直侧壁,及該暴露之 SOI基板上,形成一保角非晶石夕層;及 ★非均向地㈣該非晶㈣,以沿著該多晶㈣件之該 等側壁’留下該非晶系碎分隔件,其使該多晶石夕肋件之 該等邊角圓滑。 28·如請求項22之方法,其中該s〇I基板包括一石夕操作晶圓, 該矽操作晶圓上面之嵌埋氧化物層,及該嵌埋氧化物層 上面之單晶;5夕層。 29·如請求項28之方法,其中在一s〇I基板上形成一矽肋件, 98929.doc 200537144 包括在該單晶矽層上形成一多晶矽肋件。 30·如請求項29之方法,其中形成該非晶系矽分隔件包括: 在該多晶石夕肋件,言亥多晶石夕肋件之該等垂直側壁,及 該暴露之單晶石夕層上面,形成一保角非晶系石夕層,·及 非均向地姓刻該非晶系石夕㉟,以沿著該多晶石夕肋件之 孩等側壁’留下该等非晶系矽分隔件,而使該多晶矽肋 件之該等邊角圓滑。 鲁31.如睛求項22之方法,其中該光學裝置包括一光波導。 32· —種製造一光電積體電路之方法,包括: 在s〇i基板上,形成一矽肋件,使該s〇I基板之一部 分暴露出來,並使該矽肋件具有側壁; 在該SOI基板中,植入一井; 在該石夕肋件,該暴露之則基板,及該植人之井上,形 成一氧化物層; 在該氧化物層上,形成一矽層 非=向地蚀刻該石夕層,以於該井上面留下一閑極,以 2者切肋件之該等側壁,留下石夕分隔件,而使該石夕 肋件之邊角圓滑。 二:求項32之方法,其中該石夕肋件包括-多晶石夕肋件。 35如^項32之方法,其中财分隔件包括多晶料隔件。 .隔;;求項32之方法’其中該^分隔件包括非晶系石夕分 36· 一種光學裝置,包括·· — SOI結構; 98929.doc 200537144 該SOI結構上之多 上表面,垂直側壁 邊角;及 3夕特後’丨中該多晶矽特徵具有, 與接合該上表面與該等垂直側壁之 分隔件,其使該多晶矽特徵之 其中該等矽分隔件包括多晶矽 沿著該等垂直側壁之石夕 該等邊角圓滑。 37. 如晴求項3 6之光學裝置, 分隔件。3 8 ·如請求項3 6之光學裝置 矽分隔件。 其中該等矽分隔件包括非晶系 39. —種光電裝置包括: 一 SOI結構; 形成於該s〇I結構上之光學 角 表面,垂直側壁,盈接人…:亥先學裝置包括 • /、接a该表面與該等垂直側壁之邊 形成於该SOI結構上之電子裝置·及 等:=:"側壁之”隔件’其使該光學裝置之該 40.=求項39之光學裝置,其中該梦分隔件包括多晶妙分 矽 41.:::項39之光學裝置’其中該㈣隔件包括非晶系 43·如請求項39之光學裝 之碎層中的石夕島。…先于破置包括獅I結構 形成於 ▲ Θ长項39之光學裝置,其中該光學裝置包括一 该SOI結構上之矽肋件。 98929.doc
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/755,212 US7672558B2 (en) | 2004-01-12 | 2004-01-12 | Silicon optical device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW200537144A true TW200537144A (en) | 2005-11-16 |
Family
ID=34739536
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW094100890A TW200537144A (en) | 2004-01-12 | 2005-01-12 | Silicon optical device |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7672558B2 (zh) |
EP (1) | EP1704433B1 (zh) |
JP (1) | JP2007519041A (zh) |
DE (1) | DE602005013349D1 (zh) |
TW (1) | TW200537144A (zh) |
WO (1) | WO2005071455A2 (zh) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7118682B2 (en) * | 2003-03-28 | 2006-10-10 | Sioptical, Inc. | Low loss SOI/CMOS compatible silicon waveguide and method of making the same |
US7672558B2 (en) | 2004-01-12 | 2010-03-02 | Honeywell International, Inc. | Silicon optical device |
US7016587B2 (en) * | 2004-01-20 | 2006-03-21 | Xerox Corporation | Low loss silicon waveguide and method of fabrication thereof |
US7217584B2 (en) * | 2004-03-18 | 2007-05-15 | Honeywell International Inc. | Bonded thin-film structures for optical modulators and methods of manufacture |
US7177489B2 (en) * | 2004-03-18 | 2007-02-13 | Honeywell International, Inc. | Silicon-insulator-silicon thin-film structures for optical modulators and methods of manufacture |
US20050214989A1 (en) * | 2004-03-29 | 2005-09-29 | Honeywell International Inc. | Silicon optoelectronic device |
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-
2005
- 2005-01-11 JP JP2006549600A patent/JP2007519041A/ja not_active Withdrawn
- 2005-01-11 WO PCT/US2005/001117 patent/WO2005071455A2/en active Application Filing
- 2005-01-11 DE DE602005013349T patent/DE602005013349D1/de not_active Expired - Fee Related
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- 2005-01-12 TW TW094100890A patent/TW200537144A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1704433A2 (en) | 2006-09-27 |
JP2007519041A (ja) | 2007-07-12 |
EP1704433B1 (en) | 2009-03-18 |
WO2005071455A2 (en) | 2005-08-04 |
WO2005071455A3 (en) | 2005-10-06 |
DE602005013349D1 (de) | 2009-04-30 |
US20050152658A1 (en) | 2005-07-14 |
US7672558B2 (en) | 2010-03-02 |
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