TW200535870A - Coaxil cable, double twisted cable, coaxil cable unit, test device and cpu system - Google Patents

Coaxil cable, double twisted cable, coaxil cable unit, test device and cpu system Download PDF

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TW200535870A TW093139323A TW93139323A TW200535870A TW 200535870 A TW200535870 A TW 200535870A TW 093139323 A TW093139323 A TW 093139323A TW 93139323 A TW93139323 A TW 93139323A TW 200535870 A TW200535870 A TW 200535870A
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Satoshi Kodera
Hiroki Ando
Yasuhiro Urabe
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Description

200535870 15734pif.doc 九、發明說明： 【發明所屬之技術劈域】 本啦明是關於同輪電纔、雙絞線電纔、同軸電纜單元、 測試裝置以及CPIT $ / 見早凡、 系統。特別地，本發明是關於向元件接 Γ電源產生電流之同轴電纜、雙絞線電纜、同軸電纜單 广、具備該同軸電缓單元之賴装置，及具備該同軸電 違雙纹線電纜、或錢同㈣鮮元之CPU系統。 β本申請案主張於2003年12月17號向美國專利商標局 提出申請之美國專利申請案第贈38,617號的優先權，該 專利申請案所揭露之内容係完整結合於本說明書中。 【先前技術】 圖1表示為本發明關聯技術的測試裝置100構成之方 塊圖。測試裝置1〇〇向DUT (Device under Test :被測元 件）110提供預定的電流，並進行對施加在DUT110上的 電壓實施測定的電流施加電壓測試。測試裝置1〇〇具備電 源120 ’同軸電纜單元130，檢測部160，以及判定部170。 電源120產生電流並送入同軸電纜單元13〇。同軸電 纜單元130擁有第一同軸電纟覽丨4〇及第二同軸電纜15〇， 將電源120產生的電流向DUT110提供。第〆同軸電纜140 包含第一内部導體142,及間隔著絕緣體設置在第一内部 導體142周圍的第一外部導體144。第一内部導體及 第一外部導體144使電流從電源12〇向DUT1i〇方向流 動。第二同軸電纜150包含第二内部導體m2，及間隔著 絕緣體設置在第二内部導體152周圍的第二外部導體 200535870 15734pif.doc 154。第二内部導體152及第二外部導體154使電流從 DUT110向電源12〇方向流動。 當電源120產生的電流提供給DUT110時，檢測部16〇 檢測施加在DUT110上的電壓，並將檢測的電壓送給判定 部170。判定部17〇基於檢測部16〇所檢測的電壓判斷 DUT110是否良好。 根據為本發明關聯技術而設置的測試裝置1〇〇,由於 採用同軸電纜單元130，故能向DUT110提供大電流，並 能進行電流施加電壓測試。 由於現在尚未見到先前技術文獻的存在，所以省略關 於先前技術文獻的記敘。 圖2表示為本發明關聯技術的同軸電緵單元13〇之等 效電路。第一同軸電纜140使電流從S1向S2方向流動。 第一内部導體142的等效電路包含分別具有自感係數且串 聯的多個線圈146。第一外部導體144的等效電路包含分 別具有自感係數L2且串聯的多個線圈148。第二同軸電繞 150使電流從G2流向G1。第二内部導體152的等效電路 包含分別具有自感係數L1且串聯的多個綫圈156。第二外 部導體154的等效電路包含分別具有自感係數L2且串聯 的多個線圈158。 由電源120產生的電流發生變化時，則流過第一内部 導體142的電流變化，從而導致由線圈146所產生的磁通 量變化。由此，在第一内部導體142中產生自感電動勢。 這個自感電動勢具有阻礙在第一内部導體142中電流流動 200535870 15734pif.doc ί 1二外由電:、12 0產生的電流變化時，則流過第-外部導體144的電流變〖’從而導致由線圈148所產生的 :1變：。由Γ與線圈146交叉的磁通量變化，在第 :且礙在第一内部導請中,流流動之作用 個別的第一外部導體144、第二内部導體 部導體154中，所產生的自残雷 =弟一外 阻礙仙應導财電流流動具有 雷動ΐ由i本發明關聯技術的測試裝i刚中作用的感應 欠單元13G中輸人電流的變化，輸出 ^的響應性降低。具體地說，由於感應電動勢的產生， 來説，從由電源120產生的電流變化開始 11 _〇的電流變化為止，需要較長的時間。因 ^在所需電流急劇變㈣情況下，高精度賴遇到了困 【發明内容】 雷名臨作的目的’就是提供能解決上述課題的同軸 二、:乂、、、電_、同軸電纜單元、職裝置以及CPU系 特徵通專利申請範圍内的獨立項中記載的 體的例i。 卜’附屬項狀本發明更爲有利的具 株夕i么明的第—型態’將電源產生的電流提供給元 =2 ㈣㈣導體、及_著絕雜設置在内 °豆周圍的外部導體’内部導體及外部導體其中之-使 200535870 15734pif.doc 電流從電源向元件方向流動’其中另一個則使電流從元件 向電源方向流動。内部導體和外部導體可屏蔽在一起。 按照本發明的第二型態，將電源產生的電流提供給元 件的雙絞線電纜，具備使電流從電源向元件方向流動的導 體A、及與導體A絞合並使電流從元件向電源方向流動的 導體B。 而按照本發明的第三型態，將電源產生的電流提供給 元件的同轴電纜單元，具備擁有第一内部導體、及間隔著 絕緣體設置在第一内部導體周圍的第一外部導體之第一同 軸電纜，和擁有第二内部導體、及間隔著絕緣體設置在第 二内部導體周圍的第二外部導體之第二同軸電纜。第一内 部導體及第二外部導體使電流從電源向元件方向流動，弟 一外部導體及第二内部導體使電流從元件向電源方向流 動。 也可將第一内部導體及第二外部導體相互並聯，使電 流從電源向元件方向流動；將第一外部導體及第二内部導 體相互並聯，使電流從元件向電源方向流動。可將第一同 軸電纜與第二同軸電纜各自分別屏蔽，也可將二者屏蔽在 一起。 按照本發明的第四型態，對被測元件實施測試之測試 裝置，具備有產生電流的電源、向被測元件提供由電源產 生的電流的同軸電纜單元、電流提供到被測元件時檢測在 被測元件上的施加電壓之檢測部、和基於由檢測部測出的 電壓來判斷被測元件是否良好之判定部。同軸電纜單元擁 200535870 15734pif.doc 有包含第一内部導體、及間隔著絕緣體設置在第一内部導 體周圍的第一外部導體之第一同軸電纟覽，和包含第二内部 導體、及間隔著絕緣體設置在第二内部導體周圍的第二外 部導體之第二同軸電纜。第一内部導體及第二外部導體使 電流從電源向被測元件方向流動，第一外部導體及第二内 部導體使電流從被測元件向電源方向流動。 按照本發明的第五型態，對被測元件實施測試之測試 裝置，具備有產生電流的電源、向被測元件提供由電源產 生的電流之同軸電緵單元、電壓施加在被測元件上時檢測 供給元件的電流之檢測部，和基於檢測部檢測出的電流判 斷被測元件是否良好之判定部。同軸電纜單元擁有包含第 一内部導體、及間隔著絕緣體設置在第一内部導體周圍的 第一外部導體之第一同軸電纜，和包含第二内部導體、及 間隔著絕緣體設置在第二内部導體周圍的第二外部導體之 第二同軸電纜。第一内部導體和第二外部導體使電流從電 源向被測元件方向流動，第一外部導體和第二内部導體使 電流從被測元件向電源方向流動。 壯按妝本發明的第六型態，對被測元件實施測試之測試 之#、/、備有產生向被測元件提供測試信號模式(pattern) 式，生部、產生向被測元件提供測試信號的時序之時 :生邛基於模式發生部產生的模式及時序發生部產生 形形成測試信號波形之波形成形部、提供由波形成 波形的測試信號至被測元件之驅動器、對應於提 /、、測试信號將被測元件的輸出信號與基準電壓進行比較 200535870 15734pif.doc 之比較器、根據比較器的輸出結果與期待值的比較來判斷 被測元件是否良好之邏輯比較部、向被測元件提供電流之 電源、向被測元件提供由電源產生的電流之同軸電纜單 元。同軸電纜單元擁有第一内部導體、及間隔著絕緣體設 置在第一内部導體周圍的第一外部導體之第一同軸電纜、 第二内部導體、及間隔著絕緣體設置在第二内部導體周圍 的第二外部導體之第二同軸電纜。第一内部導體和第二外 部導體使電流從電源向被測元件方向流動，第一外部導體 和第二内部導體使電流從被測元件向電源方向流動。 按照本發明的第七型態，由電源產生的電流驅動之 CPU系統，具備有基於程式進行運算處理的CPU、和向 CPU提供電源產生的電流之同轴電纜。同軸電纜擁有内部 導體、及間隔著絕緣體設置在内部導體周圍的外部導體。 内部導體及外部導體的其中之一使電流從電源向CPU方 向流動，另一個則使電流從CPU向電源方向流動。内部導 體和外部導體屏蔽在一起。 按照本發明的第八型態，由電源產生的電流驅動之 CPU系統，具備有基於程式進行運算處理的CPU、和向 CPU提供電源產生的電流之雙絞線電纜。雙絞線電纜擁有 使電流從電源向CPU方向流動之導體A、和與導體A絞合 在一起使電流從電源向CPU方向流動之導體B。 按照本發明的第九型態’由電源產生的電流驅動之 CPU系統，具備有基於程式進行運算處理的CPU、和向 CPU提供電源產生的電流之同轴電纜單元。同軸電纜單元 200535870 15734pif.doc 擁有包含第一内部導體、及間隔著絕緣體設 — 導體周圍的第一外部導體之第一同軸電^叹和，第一内部 體、及間隔著絕緣體設置在第二内部導^周^弟亡内部導 導體之第二同軸電纟覽。第一内部導體和第二^ ^弟外邛 流從電源向CPU方向流動，第一外部導體^ °卩^r體使電 使電流從CPU向電源方向流動。 — —内4 ‘體 亦可將第一内部導體和第二外部導體相 流從電源向元件方向流動，第一外部導體和W二聯，使電 相互並聯，使電流從元件向電源方向流動。^〜内部導體 及第二同軸電纜可以分別進行屏蔽 ^一同軸電規 一起。 將二者屏蔽在 另外，上述的發明概要並未列舉出本 的全部，這些特徵群的次組合也能成爲發明。、必要特徵 按,、?、本發明，能提高對應於同軸電纜、雔 同軸電境單元對輸入電流變化之輸出電流塑=線電纜及 為讓本發明之上述和其他目的曰二。 明如下。 α式，作砰細說 【實施方式】 以下實施方式並不限定有關發明之申請 =:決方法，也並非局限於在實施方式中説明之4 =3表不本發明第一實施方式之測試裝置测的 歹’塊圖。測試裝置200向DUT210提供預定的電流， 200535870 15734pif.doc 並進行測定在DUT2U)上施加的電壓的電流施加 試，和對DUT210加以預定的電壓，並測定向枣挪 供的電流的電壓施加電流測試。以下僅以電流施加♦Μ _ 試為例説明測試裝置200。測試裝置2〇〇具備有電源% 同轴電纜單元230、檢測部26〇及判定部27〇。 20、 本發明的第-實施方式之測試裝置2〇〇，以同幸由^臨 單元230為電流傳送路徑向DUT2丨〇提供測試必需的== 流。這裡，測試裝置200藉由在同轴電纜單元23〇所包含 的同轴電緵中，使内部導體和外部導體同時流過相反方向 的電流’使電流發生變化時的自感電動勢與互感電動勢相 互抵消。依此改善同軸電纜單元23〇的對於輸入電流變化 的輸出電流響應性，即使是必須處在電流急劇變化的條件 下，也能以良好的精度進行測試。 電源220產生電流並送入同軸電纜單元23〇。同軸電 纜單兀230擁有第一同軸電纜24〇以及第二同軸電纜 2^0 ’亚向DUT210提供由電源22〇產生的電流。在此， 第-同軸電=240及第二同軸電纜25〇如不需要束缚在一 起那樣相互靠近，分離配置也可。第一同軸電纜240包含 第-内部‘體242 ’及間隔著絕緣體設置在第一内部導體 242周曾圍的第—外部導體244。第二同軸電矣覽250包含第二 内部導體252，及間隔著絕緣體設置在第二内部導體252 周圍的第二外部導體254。第-内部導體242和第二外部 導體254相互並聯，使電流從電源220向DUT210方向流 動。第一外部導體244和第二内部導體252相互並聯，使 200535870 15734pif.doc 電流從DUT210向電源22〇方向流動。 電源220產生的電流提供給DUT210時，檢測部26〇 對在DUT210上施加的電壓進行檢測，並將檢測出的電壓 达給判定部270。判定部27〇根據檢測部26〇檢測的電壓 判斷DUT210是否良好。例如，判定部27〇將由檢測部測 出的電壓通過類比數位轉換器變化成數位資料，由該數位 資料與預定的期望值比較來判斷DUT210是否良好。 在本例中，檢測部260測出了由電源220產生的電流 向DUT210提供時施加在DUT210上的電壓。亦可在電壓 鲁 細> 加電流測試中，檢測由電源產生的電麼施加在DUT210 上時檢測向DUT提供的電流。這時，判定部270基於檢 測部260測出的電流來判斷DUT210是否良好。 按照本發明的第一實施方式之測試裝置200,藉由第 —内部導體242和第二外部導體254相互並聯，且第一外 部導體244和第二内部導體252相互並聯，能夠將電源220 產生的大電流向DUT210提供，進行電流施加電壓測試及 電壓施加電流測試。 鲁 也可以對同轴電、纜單元230所擁有的第一同軸電繞 240及第二同軸電纜250實行屏蔽。這時，可將第一同軸 電纜240和第二同軸電纜250分別屏蔽，也可將二者屏蔽 在一起。藉由對同軸電纜單元230所擁有的同軸電纜實行 屏蔽，將來自外部的雜訊對同軸電纜單元230所產生的影 響降低，故能使同轴電纜*單元所提供電流的品質得以 提高。 13 200535870 15734pif.doc 圖4表示本發明第—實施方式的同軸電纜單元23〇的 等效電路之一例。第一内部導體242的等效電路包含分別 具有自感係數L1且串聯的多個線圈246。第一外部導體 244的等t電路包含分別具有自感係數u且串聯的多個線 圈248。第二内部導體2幻的等效電路包含分別具有自感 ϊ i in串聯的多個線圈256。第二外部導體254的等效 :内二感:數L2且串聯的多個線圈258。第 。Μ—Μ 外部導體254使電流從^向幻方 g/向G1方向流ζ導體244及第二内部導體252使電流從 電源22〇產斗+ 中的電流變化=流變化時’藉由第-内部導體242 内部導體242中^線圈246產生的磁通變化，依此第一 電流從S2向Slt生自感電動勢。該自感電動勢的作用使 向相反的方向济向、，即與第—内部導體242中的電流方 藉由第-外部^髀;Z ’電源220產生的電流變化時， 的磁通變化，依此盥的電流變化，導致線圈248產生 部導體242中產圈246交叉的磁通變化並使第一内 流從S1向S2方^ $電動勢。该互感電動勢的作用使電 相同的方向流動。。，即與第—内部導體242中的電流方向 口此 在弟一内部導f# 立止 消其產生的自€電動^ 生的互感電動勢產生抵 242中的自感係數在實w上也就是說第—内部導體 242的對於輪入電、』破減小。依此，第-内部導體 仙·、又匕之輪出電流的響應性提高。 14 200535870 15734pif.doc 另一方面，電源220產生的電流變化時，藉由第一外 部導體244中的電流變化導致線圈248產生的磁通變化。 依此第一外部導體244中產生自感電動勢。該自感電動勢 的作用使電流從G1向G2方向，即與第一外部導體中的電 流方向相反的方向流動。並見電源220產生的電流變化 時，藉由第一内部導體242中的電流變化，導致線圈246 產生的磁通變化，依此，與線圈248交叉的磁通變化而在 第一外部導體244中產生互感電動勢。該互感電動勢的作 用使電流從G2向G1方向，即與第一外部導體244中的電 流方向相同的方向流動。 所以在第一外部導體244產生的互感電動勢產生抵消 其產生的自感電動勢的作用。也就是說，第一外部導體244 的自感係數實質上被減小。依此，第一外部導體244的對 輸入電流的變化之輸出電流的響應性提高。同樣原理，第 二内部導體252及第二外部導體254個別的對電流的變化 之相應的輸出電流響應性提鬲。綜上所述，同軸電纟覽單元 230的對輸入電流的變化之輸出電流的響應性提高。 這裡對於第-内部導體242中電流:憂：時的第一外部 導體244的互感係數M12,不同於對於第-外部導體244 中電流變化時的第-内部導體242的互感係數M21。並且 第二同軸魏250的互感係數也是同理。因此，從S1向 S2方向流動的電流在第-内部導體242中由互感M21獲 得增益，而在第二外部導體254中則由互感M12獲得增 ϋ。並且從G2向G1方向流動的電流在第〆外部導體Μ* 200535870 15734pif.doc 中由互感M12獲得增益’而在第二内部導體252中則由互 感M21獲得增益。也就是說，由於從si向％方向流動的 電，與從^向G1方向流動的電流由相互感應得到的增益 相等，於疋電流能以良好的效率在電路中流動。 而且本圖所示的構成僅為一例，對本圖的構成亦可加 以夕種^:更。例如’將第一内部導體242與第二内部導體 252相互並聯，使電流從電源22〇向DUT21〇方向流動， 且將第外邓導體244與第二外部導體254相互並聯，使 電流從DLTT210向電源220方向流動亦可。再例如，將第 一外部導體244與第二外部導體254相互並聯，使電流從 電源220向DUT210方向流動，且將第一内部導體與 第二内部導體252相互並聯，使電流從DUT21〇向電源22〇 方向流動亦可。 按照本發明第一實施方式之測試裝置200,由於同軸 電纜*單元230對輸入電流的變化之輸出電流的響應性提 高，例如即使需要在2微秒的上升時間内產生ι〇〇Α電流 這種急劇電流變化的情況下，亦能進行精度良好的測試。 就圖3及圖4而言，電源220產生的電流由擁有二條 同軸電纜的同軸電緵單元230向DUT210提供。然而電源 220產生的電流亦可以至少以一條同軸電纟覽向DUT210提 供。在此，擁有内部導體及間隔著絕緣體設置在内部導體 周圍的外部導體的同軸電纜中，選擇内部導體和外部導體 的其中之一使電流從電源220向DUT210方向流動的同 時，其中另一個則使電流從DUT210向電源220方向流動 16 200535870 I5734pif.doc 互感電動勢分體和外部導體中的自感電動勢與 數分別在實; 變化時之心電鱗使各㈣體躲輸入電流 提高同軸電③部雜訊對同轴電_影響’ B即ΐ。由ί亚^DUT210向電源方向流動的導體 編勢相互抵消，各導體中自感係數』ΐ;:= :高能使各個導體對於輸入電流變化時的輪二;= p J 此使外部雜訊對雙絞線電纜的#塑、士把 雙絞線電纜提供電流的品質提高。 心a減低， 圖5表示本發明的第二實施方式之測試裝置 成例之方塊圖。測試裝置300對DUT310提供測味冓 並且根據與該測試信號對應的D υ τ 3 i Q輸出的^ : ^ ’ 期待值相比較，來判斷DUT是否良好 & δ號和 試。測試裝置则具備模式發生部32〇、時序^生謂：則 波形成形部330、驅動器335、比較器34〇、邏輯比較部 17 200535870 15734pif.doc 電源350以及同軸電纜單元355。 本發明的第二實施方式之測試裝置300，藉由採用同
軸電纜單70 355作爲傳輸線路，來達到驅動電流安定地 供給DUT310的目的。 W 模式發生部320為DUT310產生測試信號的模式。模 式發生部320將產生的測試信號模式輸出到波 、 模式發生部進一步產生對應於生成二 试佗號模式的輸出信號期望值。然後模式發生部將產 生的期望值輸出到邏輯比較部345。時序發生部產生 為DUT31G提供信號的時序控制’且時序發生部奶將時 序控制信號輸出到波形成形部3 3 〇及邏輯比較部3 45。 “波形成形冑330 |於模式發生部32〇產生的測試信號 的模^ *時序發生部切產生的向DUT310提供測試信 號的N·序彳< 而形成測试信號的波形。然後波形成形部別 將測試信號輸出到驅動器335，而驅動器335將波形成形 部330形成波形的測試信號向DUT31〇提供。 比較為340將驅動器335提供的測試信號相對應的 DOT310輸出的輸出信號與基準電壓相互比較，然後比較 為:M0將比，結果的邏輯值向邏輯比較部345輸出。邏輯 幸乂 J 345藉由將作為邏輯值的從比較器接受的輸出 L號與基準電壓的比較結果，和從模式發生部32Q接受的 期望值基於時序發生部325所接受的時序進行比較，由此 判斷DUT31G是否良好。具體地，作為邏輯值的比較結果 舁期主值致蚪，邏輯比較部則判定為合格。 200535870 15734pif.doc 〆方面，電源350產生向DUT310提供的電流，且 將電流运入同軸電纜單元355。同軸電纜單元355擁有第 一同：：纜360和第二同轴電纜370，並將電源350所產 電流向DUT310提供。第一同軸電纜36〇包含第一内 部導，362、及間隔著絕緣體設置在第一内部導體362周 第—外部導體364，而第二同軸電纜370包含第二内 部372、及間隔著絕緣體設置在第二内部導體372周 圍的第一外部導體374。第一内部導體362及第二外部導 體374使電流從電源350向DUT310方向流動，而第一外 部導體364及第二内部導體372使電流從DUT310向電源 3 5 0方向流動。 與®I 3及圖4説明過的本發明第一實施方式同軸電纜 單兀230同理，這裡對同軸電纜單元355而言，在第一内 部導體362、第一外部導體364、第二内部導體372以及第 二外部導體374中也藉由自感電動勢和互感電動勢分別相 互抵消’各導體中的自感係數在實質上分別減小。因此， 對各導體而言’對於輸入電流的變化，輸出電流的響應性 提高。仍與圖3及圖4説明過的同軸電纜單元230同理， 對於同軸電纜單元355而言，也有從電源350向DUT310 方向流動的電流和從DUT310向電源350方向流動的電流 由於其互感增益相等，所以在電源350和DUT310之間能 順暢流動。 由上所述，本發明的第二實施方式之測試裝置300能 安定地向DUT310提供由電源350產生的驅動電流。由 19 200535870 15734pif.doc 此，伴隨測試信號的變化等，即使DUT3l〇内的電路動作 變化時也能使DUT310動作安定，因此能高精度地測試 DUT310。 另外，在本圖中，由擁有兩條同軸電纜的同軸電纜單 元355向DUT31〇提供電源350產生的電流。然而亦可以 至少由一 ir、同軸黾鏡向DUT31 〇提供該電流。例如，電源 350產生的電流可由本圖所示的第一同軸電纜36〇向 DUT310提供，也可以由同軸電緵37〇向DUT31〇提供。 即使在這種場合，相應同軸電纜的内部導體及外部導體中 的自感電動勢和互感電動勢亦相互抵消，能使各導體中的 自感係數在實質上減小。 而且，電源350產生的電流亦可以至少由一條雙絞線 電缓向DUT310提供。這裡相應的雙絞線電繞擁有使電流 從電源350向_10方向流動的導體A，及與導體a絞
合在一起使電流從DUT310向電源35()方向流動的導體B 即可4此’導體A及導體B中的自感電動勢與互感電動 勢相互抵消’從而能使各相應導體中的自感係數在實質i # 減小。因此，各導體對於輸入電流的變化，輸出電流的響 應性得以提高。 圖6表示本發明第三實施方式電腦系統彻的構成例 之方塊圖。電腦系、统400具備CUP單元410、硬碟43〇、
電源440以及同轴電鮮元450。電腦系，統400以0ADG 規格為基準的個人電腦為例。 CPU單元410擁有CPU412、主控制器414、RAM416、 20 200535870 15734pif.doc 輸入輸出控制器418及ROM420。CPU單元410可以是個 人電％中的主機板。主控制器414連接CPU412與 RAM416。輸入輸出控制器418連接主控制器414、r〇M42〇 及硬碟430。CPU412基於儲存在RAM416及r〇M42〇中 的私式進行運异處理。硬碟430儲存電腦系統使用的程式 及資料。 一。電源440產生電流並送入同軸電纜單元45〇。同軸電 觀單元450擁有第-同軸電纜偏及第 ， 通過與⑽單元的配線將電源44〇產生\見電流向· CPU4i2提供。CPU412及同軸電緵單元45(M堇為本發明中 CPU系統的-例。第i轴電纜46Q包含第—内部導體 462’及間著絕緣體設置在第—内部導體周圍的第一 外部導體464。第二同軸電纜47〇包含第二内部導體472， 及間隔著絕緣體設置在第二内部導體472周圍的第二外部 導體474。第—内部導體462與第二外部導體们4相互並 聯’使電流從電源440肖CPU412方向流動。第一外部導 體464與第二内部導體472相互並聯，使電流從cpwu φ 向電源440方向流動。 由此可知’與圖4所示本發明的第一實施方式之同軸 電缓單元230㈤樣，第一内部導體462、第-外部導體464、 第二内部導體472及第二外部導體綱，均能提高對於輸 入電流變化時的輸出電流響應性。 按照本發明的第三實施方式之電腦系統4〇〇，由於同 軸電、、見單it 45G對於輸入電流變化的輸出電流響應性提 21 200535870 15734pif.doc 咼，即使在向CPU412提供的電流變化大的情況下，匕 正確提供CPU412所需電流。 彳 ’也能 〃而對同軸電鏡單元450所擁有的第—同轴電境 第=同軸㈣470亦可實施屏蔽。此時，第—同軸電 及第二同軸電瘦47G可分別屏蔽，也可將二 起。由於同軸電緵單元450所擁有的同 二在- 來自外部：雜訊對同軸電纜單元45〇的影響減⑯开二： 同軸電纜單元450所提供的電流的品質提高。_ 此 在圖6中，是由擁有二條同軸電纜 向CPU單元· __產生幅 少由-條同轴電_ CPU單元物提供該電流 擁有内部導體和間隔著敎置在内部 圍=
導體的該同軸㈣中’内部導體及外部導體其^卜^ 流從電源440向CPU單元仙方向流動，同時 則使電流從CPU單元410向電源440方向产翻 此，使内部導體及外部導體中自感係數減小1二可J 各導體對於輸人電流的變化時的輸出電流響應性能提=。 而在這種情況下，相應同轴電纔中的;;;二 一起。由此，使來自外部的=: 電，，見的衫響減低，進而能提高同軸電纜提供 並且’電源440產生的電流亦可以机的二負。 電纜向CI>U單元410提供。這裡，相二:條又：線 電流從電源物向CPU單元4i 〇方向;^^覽擁有使
該導體A絞合在一起使電流從cpu ' V u 向電源440 22 200535870 15734pif.doc 方向流動的導體B即可。由此走 、 感電動勢與互感電動勢相互㈣ '及導體8中自 …讲 抵桷，相應導體的自威俏盤大 貫貝上減小。因此’能使各導體對 變化= 輸出電流響應性得以提高。 兒級的又化日可的 而這時，對於該雙絞線電缓，將導體α和導體β 為好。由此能使來自外部_訊對雙絞線電纔的影 #減低，使雙紋線電纜提供電流的品質提高。 ^
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，铁豆並非 限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精 和範圍内’當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之 範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。 【圖式簡單說明】 圖1係繪示本發明相關技術之測試裝 方塊圖。 〕構成之 圖2係繪示本發明相關技術之同軸電纜單元13() 效電路圖。
圖3係繪不本發明的第一實施方式之測試裝置2 構成例之方塊圖。 的 圖4係繪示本發明的第一實施方式之同軸電纜如一 230的等效電路之示意圖。 早元 圖5係繪示本發明的第二實施方式之測試裝置3 構成例之方塊圖。 的 圖6係繪示本發明的第三實施方式之電腦系統 構成例之方塊圖。 的 23 200535870 15734pif.doc 【主要元件符號說明】 100、200、300 ··測試裝置
110、210、310 : DUT 120、220、350、440 :電源 130、230、355、450 :同軸電纜單元 140、240、360、460 :第一同軸電纜 142、242、362、462 :第一内部導體 144、244、364、464 :第一外部導體 146、148、156、158、246、248、256、258 :線圈 150、250、370、470 :第二同軸電纜 152、252、372、472 :第二内部導體 154、254、374、474 :第二外部導體 160、260 :檢測部 170、270 :判定部 320 :模式發生部 325 :時序發生部 330 :波形成形部 335 :驅動器 340 :比較器 345 :邏輯比較部 400 : CPU 系統 410 : CPU 單元
412 ： CPU 414 :主控制器 24 200535870 15734pif.doc
416 ： RAM 418 :輸入輸出控制器
420 ： ROM 430 :硬碟 CL :電容
LI、L2 :自感係數 M12、M21 ··互感係數 RL :電阻
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Claims (1)

  1. 200535870 I5734pif.doc 十、申凊專利範圍·· 電源產生的電流，包 1·一種同軸電纜，向設備提供由 括： 内部導體；以及 f隔者絕緣體設置在前述内部導體周圍的外部導體； 諸及外部導體的其巾之—使電流從前述電 源向刚述没備方向流動；以及
    f述内部導體及外部導體的其中另—個使電流從前述 故備向前述電源方向流動。 、2.如申凊專利範圍第i項所述之同軸電纔，其中内部 導體及外部導體屏蔽在一起。 3· —種雙絞線電纜，向元件提供由電源產生的電流， 包括： 使電流從前述電源向前述元件方向流動的導體A;以 及
    與前述導體A絞合在一起使電流從前述元件向前述電 源方向流動的導體B。 4·一種同軸電纜單元，向元件提供由電源產生 流，包括·· 擁有第一内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第一 内部導體周圍的第一外部導體之第一同軸電纜； 擁有第二内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第二 内部導體周圍的第二外部導體之第二同轴電纜； 前述第一内部導體及前述第二外部導體使電流從前述 26 200535870 15734pif.doc 電源向前述元件方向流動；以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體使電流從前述 元件向前述電源方向流動。 5. 如申請專利範圍第4項所述之同軸電纜單元，其中： 前述第一内部導體及前述第二外部導體相互並聯，使 電流從前述電源向前述元件方向流動；以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體相互並聯，使 電流從前述元件向前述電源方向流動。 6. 如申請專利範圍第4項所述之同軸電纜單元，其中 前述第一同軸電纜及前述第二同轴電纜分別屏蔽。 7. 如申請專利範圍第4項所述之同軸電纜單元，其中 前述第一同轴電纟覽及前述第二同轴電纔屏蔽在一起。 8. —種測試裝置，對被測元件進行測試，包括： 產生電流的電源； 將前述電源產生的電流向前述被測元件提供之同轴電 纜單元； 當電流提供到前述被測元件時，檢測在被測元件上的 施加電壓之檢測部；以及 基於由前述檢測部檢測出的電壓，判斷前述被測元件 是否良好之判定部； 前述同軸電纜單元擁有： 包含第一内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第一 内部導體周圍的第一外部導體之第一同軸電纜； 包含第二内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第二 27 200535870 15734pif.doc 内部導體周圍的第二外部導體之第二同軸電纜； 前述第一内部導體及前述第二外部導體使電流從前述 電源向前述被測元件方向流動；以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體使電流從前述 被測元件向前述電源方向流動。 9. 一種測試裝置，對被測元件進行測試，包括： 產生電流的電源， 將前述電源產生的電流向前述被測元件提供之同轴電 纜單元； 當電壓提供到前述被測元件時，檢測在被測元件上的 施加電流之檢測部；以及 基於由前述檢測部檢測出的電流，判斷前述被測元件 是否良好之判定部； 前述同軸電纜單元擁有： 包含第一内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第一 内部導體周圍的第一外部導體之第一同軸電纜； 包含第二内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第二 内部導體周圍的第二外部導體之第二同轴電纜； 前述第一内部導體及前述第二外部導體使電流從前述 電源向前述被測元件方向流動；以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體使電流從前述 被測元件向前述電源方向流動。 10. —種測試裝置，對被測元件進行測試，包括： 產生向前述被測元件提供測試信號模式之模式發生 28 200535870 15734pif.doc 部 產生向 述被測元件提供測試信號的時序之時序發生 成的ίίΪΓ式發生部生成的模式及前述時序發生部生 $序，形成前述測試信號波形之波形成 述測試提供由前述波形成形部形成波形的前 出信===::使前述被測元件的輸 =㈣述比㈣的比較結果細望 _迷破測元件是否良好之邏輯比較部；了匕較判 產生向前述被測元件提供的電流之 瘦單^前述電源產生的電流向前述_元倾供之同轴電 前述同軸電緵單元擁有·· 包含第二内部導體，及間隔著 内部導體周_第二外部導體之第切5又置在刚迷弟二 前述第-内部導體及前述第 電源向前述被測元件方向㈣=部導體使電流從前述 前述第一外部導體及前述第-ώ * 被測元件向前述電源方向流動内部導體使電流從前述 部
    U·—種CPU系統，由電源產生 的電流驅動，包括： 29 200535870 15734pif.doc 基於程式進行運算處理之CPU ; 將前述電源產生的電流向前述CPU提供之同軸電纜； 前述同軸電纜擁有： 内部導體； 間隔著絕緣體設置在前述内部^"體周圍的外部導體； 前述内部導體及前述外部導體的其中之一使電流從前 述電源向前述CPU方向流動；以及 前述内部導體及前述外部導體的其中另一個使電流從 前述CPU向前述電源方向流動。 12·如申請專利範圍第η項所述之cpu系統，其中前 述内部導體及前述外部導體屏蔽在一起。 13·—種CPU系統，由電源產生的電流驅動，包括： 基於程式進行運算處理之CPU ; 將前述電源產生的電流向前述CPU提供之雙絞線電 纜； 前述雙絞線電纜擁有： 使電流從前述電源向前述CPU方向流動之導體A;以 及 與前述導體A絞合在一起，使電流從前述CPU向前 述電源方向流動的導體B。 14· 一種CPU系統，由電源產生的電流驅動，包括： 基於紅式進行運算處理之CPU ; 將刖述電源產生的電流向前述CPU提供之同軸電纜 單元； 30 200535870 15734pif.doc 前述同軸電纜單元擁有： 包含第一内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第一 内部導體周圍的第一外部導體之第一同軸電纜； 包含第二内部導體，及間隔著絕緣體設置在前述第二 内部導體周圍的第二外部導體之第二同軸電纜； 前述第一内部導體及前述第二外部導體使電流從前述 電源向前述CPU方向流動；以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體使電流從前述 CPU向前述電源方向流動。 15. 如申請專利範圍第14項所述之CPU系統，其中： 前述第一内部導體及前述第二外部導體相互並聯，使 電流從前述電源向前述元件方向流動，以及 前述第一外部導體及前述第二内部導體相互並聯，使 電流從前述元件向前述電源方向流動。 16. 如申請專利範圍第14項所述之CPU系統，其中前 述第一同軸電纜及前述第二同軸電纜各自分別屏蔽。 17. 如申請專利範圍第14項所述之CPU系統，其中前 述第一同軸電纜及前述第二同軸電纜屏蔽在一起。 31
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