TW201326848A - 輔助測試裝置 - Google Patents

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Abstract

一種輔助測試裝置，適於一待測物。輔助測試裝置包括電源單元、儲存單元與控制單元。電源單元用以提供多個電壓，其中這些電壓互不相同。儲存單元用以儲存對應待測物的電源時序表與模擬訊號產生表。控制單元耦接儲存單元與電源單元，用以依據電源時序表，提供多個電源時序控制訊號，使電源單元依據這些電源時序控制訊號，依序提供前述電壓給待測物，並依據模擬訊號產生表，提供對應待測物的模擬訊號給待測物，且控制單元接收待測物回應於前述電壓與模擬訊號所產生的多個狀態訊號。

Description

輔助測試裝置
一種測試裝置，特別有關於一種輔助測試裝置。
一般來說，市面上的電腦系統在出貨前，通常都要對其各項性能指標進行測試。在某些機種設計為多模組(例如記憶體模組與中央處理器模組)且多層的架構下，需要整機組合後方可進行測試功能。
由於整機組合後的體積較大且受測試設備的限制，使得在進行電路內測試(In-Circuit Testing,ICT)測試時，而無法做到整機測試。因此，測試設備僅能支持單片單板做上電測試，亦即將電源供應器直接連接至單一模組，通過電源供應器來改變或調整供應至單一模組的電源，這樣的做法無法有效讓前述各個模組可正常進行上電測試。
然而，利用前述單片單板的測試方法，並不能控制應有電源的啟動時序以及單一模組所需的操作訊號。並且，在沒有考量待測物(例如主板)是否已允許上電啟動以及沒有對錯誤電源時序(incorrect power sequence)的保護下，由於實際中存在供電不穩定的情況，電源供應器並不能有效控制輸出至待測物的電源。如此一來，不僅造成待測物的元件損壞之潛在的機率增加，並且也額外提高生產之成本。
鑒於以上的問題，本揭露在於提供一種輔助測試裝置，藉以使待測物可依據正確的電源時序進行上電並給予待測物對應的模擬訊號，以進行單一模組測試而無須將整機整合後測試，進而減少待測物之電路元件的損壞機率，並增加測試的便利性。
本揭露之一種輔助測試裝置，適於待測物。此輔助測試裝置包括電源單元、儲存單元與控制單元。電源單元用以提供多個電壓，其中前述電壓互不相同。儲存單元用以儲存對應待測物的電源時序表與模擬訊號產生表。控制單元耦接儲存單元與電源單元，用以依據電源時序表，提供多個電源時序控制訊號，使電源單元依據前述電源時序控制訊號，依序提供前述電壓給待測物，並依據模擬訊號產生表，提供對應待測物的模擬訊號給待測物，且控制單元接收待測物回應於前述電壓與模擬訊號所產生的多個狀態訊號。
在一實施例中，前述輔助測試裝置更包括更新單元。此更新單元耦接儲存單元，用以接收並依據更新訊號，以更新電源時序表與模擬訊號產生表。
在一實施例中，前述輔助測試裝置更包括顯示單元。顯示單元耦接控制單元，用以透過控制單元接收前述狀態訊號，以顯示前述狀態訊號。
在一實施例中，前述儲存單元更用儲存對應待測物的另一電源時序表與另一模擬訊號產生表，而輔助測試裝置更包括偵測單元。此偵測單元耦接控制單元，用以偵測待測物的類型，以產生偵測信號。其中，控制單元用以接收並依據偵測信號，而選用並依據電源時序表與模擬訊號產生表或另一電源時序表與另一模擬訊號產生表，提供前述電源時序訊號以及模擬訊號。
在一實施例中，前述控制單元與儲存單元配置於複雜可程式邏輯裝置(Complex Programming Logic Device,CPLD)中。
本揭露之輔助測試裝置，藉由在輔助測試裝置與待測物連接後，依據待測物所對應的電源時序，依序提供對應電源時序的工作電壓，使得待測物可依據其正確的電源時序進行上電，並提供待測物對應的模擬訊號。如此一來，可進行單一模組測試而無須將整機組合後測試，以減少待測物之電路元件的損壞機率，並增加測試的便利性。
有關本揭露的特徵與實作，茲配合圖式作最佳實施例詳細說明如下。
請參考「第1圖」所示，其係為本揭露之輔助測試裝置的方塊圖。本實施例之輔助測試裝置100適於一待測物(unit under test,UUT)180，其中此待測物180例如為記憶體模組(DIMM module)、中央處理器模組(CPU module)、主要輸入輸出板(Main I/O board)等的個體單板，但本揭露不以此為限。
輔助測試裝置100包括電源單元110、儲存單元120與控制單元130。電源單元110用以提供多個電壓，其中這些電壓互不相同。其中，前述電壓例如為3.3V、5V、12V等，但本揭露不以此為限。儲存單元120用以儲存對應待測物180的電源時序表與模擬訊號產生表。其中，電源時序表例如記錄有待測物180由開機至正常運作的上電順序，模擬訊號產生表例如記錄有待測物180初始程序前的電源良好(Power Good)訊號或是前置元件的訊號。
控制單元130耦接儲存單元120與電源單元110，用以依據電源時序表，提供多個電源時序控制訊號，並將電源時序控制訊號提供給電源單元110。假設，電源時序表記錄的電壓輸出的順序，例如12V、5V、3.3V，則控制單元130據此提供依序提供12V、5V、3.3V所對應的電源時序控制訊號。
接著，電源單元110會依據電源時序控制訊號，依序提供待測物180所需的工作電壓給待測物180，以使待測物180可由開機階段運行至正常運作階段。也就是說，電源單元110會依據前述的電源時序控制訊號，而依序提供前述12V、5V、3.3V的電壓給待測物180，以確保待測物180可以正確的電源時序進行運作。
另外，控制單元130還會依據模擬訊號產生表，提供模擬訊號給待測物180。其中，模擬訊號可以是前一階段的電源良好(Power Good)訊號或是前置元件的訊號，亦即與待測物180相關之其他模組所提供的訊號。舉例來說，記憶體模組的初始則需要有中央處理器存在的確認訊號。也就是說，假設待測物180為記憶體模組時，則控制單元130會提供中央處理器存在的確認訊號，則待測物180才會進行初始程序。
控制單元130除了提供電源時序控制訊號與模擬訊號之外，還可接收待測物180回應於電壓單元110提供的電壓以及模擬訊號而產生的多個狀態訊號。其中，前述狀態訊號例如為電源正確或錯誤狀態訊號以及初始程序正確或錯誤狀態訊號等。也就是說，當待測物180內的電路元件接收到12V的電壓並進行運作後，會回傳對應12V之電壓的正確或錯誤狀態訊號給控制單元130；當待測物180內的電路元件接收到5V的電壓並進行後，會回傳對應此5V的正確或錯誤狀態訊號給控制單元130；其餘則類推。亦即，本實施例可透過控制單元130監控待測物180的上電時序與初始程序過程以及待測物180內之元件對應前述電壓與模擬訊號的運作狀況。
另外，控制單元130例如可將前述狀態訊號儲存至儲存單元120。如此一來，使用者可藉由讀取儲存單元120儲存的資訊，以得知待測物180是否已執行到正常運作狀態，而據以使用主要測試裝置對待測物180進行後續的量測。
在本實施例中，儲存單元120與控制單元130可以一複雜可程式邏輯裝置(Complex Programming Logic Device,CPLD)來實現。
本實施例之輔助測試裝置100可提供對應待測物180應有之上電時序的電壓以及模擬訊號給待測物180，則待測物180無需組合其他模組的情況下，仍可具有所有模組組裝後的上電程序與初使程序而進行操作，使得待測物180可以單一模組(記憶體模組或中央處理器模組)單獨進行測試。如此一來，可減少待測物之電路元件的損壞機率，並增加測試的便利性。
請參考「第2圖」所示，其係為本揭露之另一輔助測試裝置的方塊圖。本實施例之輔助測試裝置200適於一待測物(unit under test,UUT)280。輔助測試裝置200包括電源單元210、儲存單元220、控制單元230、顯示單元240、偵測單元250與更新單元260。
電源單元210用以提供多個電壓，其中這些電壓互不相同。其中，前述電壓例如為3.3V、5V、12V等。儲存單元220用以儲存對應待測物280的電源時序表與另一電源時序表以及模擬訊號產生表與另一模擬訊號產生表。也就是說，儲存單元220可儲存2種不同類型之待測物280所需的電源時序表與模擬訊號產生表。前述的電源時序表與模擬訊號產生表僅以2個為例，但本揭露不以此為限，使用者可視待測物280的類型，而調整儲存單元220中之電源時序表與模擬訊號產生表的數量。
控制單元230耦接儲存單元220與電源單元210，用以依據電源時序表與模擬訊號產生表或另一電源時序表與另一模擬訊號產生表，提供多個電源時序控制訊號與模擬訊號。接著，電源單元210會依據前述的電源時序控制訊號，依序提供電壓給待測物280。並且，控制單元230還可依據模擬訊號產生表，提供對應待測物280所需的模擬訊號。控制單元230會接收待測物280回應於前述電壓與模擬訊號所產生的多個狀態訊號。
顯示單元240耦接控制單元230，用以透過控制單元230接收待測物280所回傳的狀態訊號，以顯示狀態訊號。如此一來，使用者便可透過顯示單元240所顯示的狀態而得知待測物280是否產生錯誤，進而對待測物280進行相應的處理。
偵測單元250耦接控制單元230，用以偵測待測物280的類型，以產生偵測信號。舉例來說，偵測單元250可配置有多接腳的連接埠，以便於偵測單元250透過連接埠與待測物280連接時，偵測單元250可透過連接埠連接的針腳數量與位置，偵測出待測物280的類型，例如記憶體模組或中央處理器模組。之後，偵測單元250據此產生對應的偵測訊號，並傳送給控制單元230。
接著，控制單元230可依據偵測信號，於儲存單元220中選用對應此偵測訊號的電源時序表與模擬訊號產生表或另一電源時序表與另一模擬訊號產生表，而據以提供相關的電源時序訊號以及模擬訊號。例如，記憶體模組對應電源時序表與模擬訊號產生表，而中央處理器模組對應另一電源時序表與另一模擬訊號產生表。
另外，更新單元260耦接儲存單元220，用以接收並依據更新訊號，以更新儲存單元220中所儲存的電源時序表與模擬訊號產生表。也就是說，使用者可透過更新單元260更新儲存單元220中所儲存之電源時序表與模擬訊號產生表的版本與數量。如此一來，可增加使用的便利性。在本實施例中，控制單元230與儲存單元220可以複雜可程式邏輯裝置來實現。
本揭露之實施例的輔助測試裝置，其藉由在輔助測試裝置與待測物連接後，依據待測物所對應的電源時序，產生對應的電源時序控制訊號，以依序提供電壓給待測物，使得待測物可依據其正確的電源時序進行上電，並提供待測物對應的模擬訊號。藉此，可進行單一模組測試而無須整機組合後測試，以可減少待測物之電路元件的損壞機率。另外，輔助測試裝置還可顯示上電時序過程的狀態，且依據待測物的類型提供對應待測物所需之電源時序的電壓以及模擬訊號，並可更新電源時序表的版本與數量，進而可增加測試的便利性。
雖然本揭露以前述之較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本揭露，任何熟習相像技藝者，在不脫離本揭露之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本揭露之專利保護範圍須視本說明書所附之申請專利範圍所界定者為準。
100、200．．．輔助測試裝置
110、210．．．電源單元
120、220．．．儲存單元
130、230．．．控制單元
180、280．．．待測物
240．．．顯示單元
250．．．偵測單元
260．．．更新單元
第1圖係為本揭露之輔助測試裝置的方塊圖。
第2圖係為本揭露之另一輔助測試裝置的方塊圖。
100．．．輔助測試裝置
110．．．電源單元
120．．．儲存單元
130．．．控制單元
180．．．待測物

Claims (5)

  1. 一種輔助測試裝置，適於一待測物，該輔助測試裝置包括：一電源單元，用以提供多個電壓，其中該些電壓互不相同；一儲存單元，用以儲存對應該待測物的一電源時序表與一模擬訊號產生表；以及一控制單元，耦接該儲存單元與該電源單元，用以依據該電源時序表，提供多個電源時序控制訊號，使該電源單元依據該些電源時序控制訊號，依序提供該些電壓給該待測物，並依據該模擬訊號產生表，提供對應該待測物的一模擬訊號給該待測物，且該控制單元接收該待測物回應於該些電壓與該模擬訊號所產生的多個狀態訊號。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之輔助測試裝置，更包括：一更新單元，耦接該儲存單元，用以接收並依據一更新訊號，以更新該電源時序表與該模擬訊號產生表。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之輔助測試裝置，更包括：一顯示單元，耦接該控制單元，用以透過該控制單元接收該些狀態訊號，以顯示該些狀態訊號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之輔助測試裝置，其中該儲存單元更用儲存對應該待測物的一另一電源時序表與一另一模擬訊號產生表，而該輔助測試裝置更包括：一偵測單元，用以偵測該待測物的類型，以產生一偵測信號；其中，該控制單元用以接收並依據該偵測信號，而選用並依據該電源時序表與該模擬訊號產生表或該另一電源時序表與該另一模擬訊號產生表，提供該些電源時序訊號以及該模擬訊號。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之輔助測試裝置，其中該控制單元與該儲存單元配置於一複雜可程式邏輯裝置中。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI575371B (zh) * 2015-12-10 2017-03-21 英業達股份有限公司 訊號檢測裝置及方法
US10942213B2 (en) 2018-06-26 2021-03-09 Dfi Inc. Device and method for testing motherboard
TWI812481B (zh) * 2022-09-23 2023-08-11 英業達股份有限公司 依序供電給電路板與測試裝置以測試電路板之系統及方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10598722B1 (en) * 2016-12-23 2020-03-24 Advanced Testing Technologies, Inc. Automated waveform analysis methods using a parallel automated development system
US9739827B1 (en) * 2016-12-23 2017-08-22 Advanced Testing Technologies, Inc. Automated waveform analysis using a parallel automated development system
US10690863B1 (en) * 2017-12-13 2020-06-23 Amazon Technologies, Inc. Communication cable identification
CN114489003A (zh) * 2021-12-31 2022-05-13 上海科梁信息科技股份有限公司 电机控制器测试装置及测试方法、计算机可读存储介质

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7098647B2 (en) * 2003-12-17 2006-08-29 Advantest Corporation Coaxial cable unit, test apparatus, and CPU system
DE102004027854B4 (de) * 2004-06-08 2008-05-15 Qimonda Ag Testvorrichtung und Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten
JP4891898B2 (ja) * 2005-03-22 2012-03-07 パナソニック株式会社 ストリームデータ記録装置、ストリームデータ記録再生装置、ストリームデータ再生装置、ストリームデータ編集装置、ストリーム記録方法、及びストリーム再生方法
JP4862730B2 (ja) * 2007-04-05 2012-01-25 コニカミノルタセンシング株式会社 脈波データ解析方法、システム、プログラム
JP2009260464A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Nec Corp プログラマブルデバイス、電子機器およびプログラマブルデバイス制御方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI575371B (zh) * 2015-12-10 2017-03-21 英業達股份有限公司 訊號檢測裝置及方法
US10942213B2 (en) 2018-06-26 2021-03-09 Dfi Inc. Device and method for testing motherboard
TWI812481B (zh) * 2022-09-23 2023-08-11 英業達股份有限公司 依序供電給電路板與測試裝置以測試電路板之系統及方法

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