SE530055C2 - Förfarande och anordning för styrning av valsgap vid valsning av ett band - Google Patents

Description

25 30 35 530 055 2 mäts tjockleken vid en punkt på mitten av bandet. Denna mät- ning används som indata till tjockleksstyrningen, tillsamm- ans med ett önskat värde på bandets tjocklek. Således syftar tjockleksstyrningen enligt teknikens ståndpunkt till en kon- stant minskning av bandet tvärs bandets bredd.

Det händer ibland att ett bandmaterial, före valsningen, har en asymmetrisk tjockleksprofil. Varmvalsade band har t ex ofta en tjockleksprofil som är tjockast på mitten av bandet och minskar mot bandets sidor. I en del fall smalnar tjock- leksprofilen hos bandmaterialet av mot en av dess ändar, vilket betyder att bandmaterialet är tjockare i dess ena ände än i dess andra ände, även betecknat kilformat band.

Bandmaterial med avsmalnande tjockleksprofiler är exempelvis vanliga i kallvalsverk för smala band där ett brett varmval- sat band, med en tjockleksprofil som är tjockast i mitten av bandet, uppdelas i tvâ smalare band före kallvalsningen.

Så länge som tjockleken hos bandet före valsningen är' väsentligen konstant över bandets bredd arbetar tjockleks- styrsystemet bra. Om emellertid bandet före valsning har en asymmetrisk tjockleksprofil kommer tjockleksstyrsystemet att skapa ett asymmetriskt planhetsfel i bandet. Detta planhets- fel beror på att tjockleksreduktionen hos bandet orsakar en relativ töjning av bandet med samma belopp som den relativa tjockleksreduktionen. Om exempelvis ena sidan av bandet före ' valsning är tjockare än andra sidan blir den relativa töj- ningen av bandet efter valsningen mindre på denna sida än pà den andra sidan, vilket leder till planhetsproblem. Efter någon tid kan detta planhetsfel detekteras och korrigeras av planhetsstyrsystemet. Under denna tid kommer emellertid inte planheten hos bandet att vara optimal. Detta planhetsfel skapas även om valsgapet är perfekt justerat till den inkom- mande tjockleksprofilen hos bandet.

Olika former av beredningsmodeller användes i dag för att få valsgapet att överensstämma med tjockleksprofilen hos ban- det. Så snart som en tjocklekskorrigering är gjord, huvud- 10 15 20 25 30 35 530 055 3 sakligen i början och slutet av bandet, kommer emellertid denna tjocklekskorrigering att skapa ett asymmetrisk plan- hetsfel vid valsning av ett kilformat band. Detta beror på att, enligt teknikens ståndpunkt, tjocklekskorrigeringar alltid görs med samma belopp på både operatörs- och driv- sidan av valsverket. Planhetsfel kan leda till att en del eller delar av bandet måste skrotas. Planhetsproblem är så- ledes kostsamma för bandtillverkaren. A ocH REDoGöRELsE FÖR UPPFINNINGEN Ändamålet med föreliggande uppfinning är att tillhandahålla en attraktiv lösning på ovanstående problem.

Enligt en aspekt av uppfinningen uppnås detta ändamål med ett förfarande såsom angivits i patentkrav 1. Ett sådant förfarande innefattar att motta information om graden av kilform hos bandtjockleksprofilen tvärs bandbredden och att baserat därpå styra ställdonen så att den relativa reduk- tionen av bandet på båda sidorna av valsverket blir väsent- ligen densamma.

Tjockleksstyrningen enligt uppfinningen utförs med hänsyn till det faktum att arbetsstycket före valsning kan ha olika tjockleksprofiler över sin bredd. Enligt uppfinningen görs tjockleksstyrningen med avseende på den relativa reduktionen av bandet i stället för med avseende på den absoluta reduk- tionen av bandet såsom enligt teknikens ståndpunkt. En kon- stant relativ reduktion över bandets bredd kommer att orsaka en konstant relativ töjning över bandets bredd och således. ett plant band. Således år det vid valsning av kilformade band, dvs band som är tjockare på ena sidan jämfört med dess andra sida, viktigt att båda sidorna har samma relativa tjockleksreduktion under valsning.

För att kunna styra ställdonen så att den relativa reduktio- nen på båda sidor om valsverket blir väsentligen densamma är det nödvändigt att få information om graden av kilform hos 10 15 20 25 30 35 530 055 4 bandtjockleksprofilen tvärsöver bandbredden. Denna informa- tion kan erhållas på olika sätt. Informationen skulle kunna ges direkt från mätningen av bandtjockleken vid åtminstone två punkter tvärs bandbredden, eller indirekt genom att erhålla lägena hos valsgapställdonen på operatör- och driv- sidan. Denna information erhålls t ex från en föregående varmvalsningsprocess, eller uppmäts t ex med hjälp av skan- ning. Under valsningen är det normalt att positionera vals- gapställdonen så att de minimerar planhetsfelet för att på så sätt förmå arbetsvalsarna att följa bandets tjocklekspro- filkil. Ställdonens lägen återspeglar därför ganska väl bandets kilform. Det är också möjligt att uppskatta kilfor- men hos bandtjockleksprofilen. Alternativt bestäms informa- tion om tjockleksprofilen baserat på ett uppmätt planhetsfel tillsammans med information om lägena för valsgapets ställ- don.

Enligt en utföringsform av uppfinningen innefattar valsver- ket vidare ett tjockleksstyrsystem som beräknar en tjock-- lekskorrigering för valsgapet baserat på en önskad band- tjocklek, och förfarandet innefattar vidare att motta infor- mation om den tjocklekskorrigering som skall utföras, och att styra ställdonen baserat på tjocklekskorrigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken, så att den relativa tjocklekskorrigeringen på båda sidor om valsverket blir ' väsentligen densamma. Enligt denna utföringsform uppnås styrningen av ställdonen, så att den relativa reduktionen av bandet på båda sidor om valsverket blir väsentligen den- samma, genom att styra ställdonen så att den relativa tjock- lekskorrigeringen på båda sidor om valsverket blir väsent- ligen densamma.

Den önskade bandtjockleken och därmed den önskade tjockleks- reduktionen hos valsgapet styrs gemensamt med ett automa- tiskt tjockleksstyrsystem (AGC). Detta system beräknar kon- tinuerligt tjocklekskorrigeringar, vilka matas till ett styrsystem för valsgapställdon. Tjockleksstyrsystemet inne- fattar en tjocklekskorrigeringsslinga som upprepade gånger 10 15 20 25 30 35 530 055 i 5 beräknar den önskade tjocklekskorrigeringen för valsgapet baserat på en önskad bandtjocklek och mätningar av den verk-_ liga bandtjockleken efter valsningen.- Förfarandet innefattar vidare att motta information från tjockleksstyrsystemet om graden av tjocklekskorrigering som- måste utföras. För att uppnå samma relativa reduktion på båda sidor om valsverket måste varje korrigeringsutdata också ge samma relativa tjocklekskorrigering på båda sidor om valsverket. Att tillämpa tjocklekskorrigering symmetriskt på båda sidor om valsverket, såsom enligt teknikens stånd- punkt, innebär att skapa ett planhetsfel vid valsning av ett kilformat band. Den relativa reduktionen av bandet är lika. med summan av alla relativa tjocklekskorrigeringar som gjorts från början av valsningen av bandet. Om valsgapet styrs så att den relativa tjocklekskorrigeringen på båda sidor av valsverket blir väsentligen densamma i varje steg hos tjocklekskorrigeringsslingan kommer en konstant relativ reduktion tvärsöver bandet att uppnås. Enligt denna utför- ingsform av uppfinningen fördelas tjocklekskorrigeringen till ställdonen på båda sidor om valsverket så att de rela- tiva tjocklekskorrigeringarna på båda sidor om valsverket blir väsentligen desamma, vilket resulterar i att planhets- felet minimeras. En fördel med denna utföringsform är att den använder information om tjocklekskorrigeringen, vilken redan finns tillgänglig från tjockleksstyrsystemet, för att uppnå samma totala relativa reduktion på båda sidor om vals- verket.

Den relativa tjockleken definieras vanligen som kvoten av tjocklekskorrigeringen från.tjockleksstyrsystemet och den verkliga tjockleken hos bandet, antingen före eller efterv valsning.

Enligt en annan utföringsform av uppfinningen innefattar förfarandet att motta information om tjockleken hos bandet innan bandet valsas vid åtminstone två punkter tvärs bandets bredd, att motta information om tjockleken hos bandet efter 10 15 20 25 30 35 530 055 6 valsningen av bandet vid åtminstone en punkt tvärs bandets bredd, att beräkna en relativ reduktion av bandet baserat på tjockleken hos bandet före och efter valsningen, samt att styra ställdonen baserat på den beräknade relativa reduktio- nen av bandet och informationen om tjockleken hos bandet före valsningen av bandet vid åtminstone två punkter.

Den relativa reduktionen, även betecknad den relativa re- duktionen, av bandet definieras vanligen som skillnaden mellan den inkommande tjockleken hos bandet, dvs tjockleken hos bandet före valsning, och den utgående tjockleken hos bandet, dvs tjockleken hos bandet efter valsning, delat med den inkommande tjockleken hos bandet: (H-h/H), där H är in- kømmande tjockleken och h utgående tjocklek.

Den relativa reduktionen bestäms vid en punkt tvärs bandets bredd, t ex på mitten av bandet eller vid en av dess ändar, och sedan styrs storleken hos valsgapet, dvs avståndet mellan valsarna, på så sätt att samma relativa reduktion uppnås åtminstone vid en annan punkt tvärs bandets bredd, och företrädesvis tvärs bandets hela bredd. Det maximala antalet kontrollpunkter tvärs valsarnas bredd beror på an- talet ställdon som styr valsgapet. Om exempelvis valsverket har två ställdon som styr valsgapet är det möjligt att styra storleken hos valsgapet vid två punkter tvärs valsarnas bredd. “ Enligt en annan utföringsform av uppfinningen styr valsgap- ställdonen oberoende storleken hos valsgapet på en operatör- sida av verket och på en drivsida av verket och förfarandet_ innefattar att beräkna ett önskat valsgap på operatörsidanp av verket baserat på den beräknade relativa reduktionen av bandet och tjockleken hos bandet på operatörsidan före vals- ning och att baserat därpå styra valsgapställdonet på opera- törsidan, samt att beräkna ett önskat valsgap på drivsidan av verket baserat pá den beräknade relativa reduktionen av bandet och tjockleken hos bandet på drivsidan före valsning och att baserat därpå styra valsgapställdonet på drivsidan. 10 15 20 25 30 35 530 055 7 _ Det är lätt att inse att förfarandet enligt uppfinningen, såsom den definieras i vidhängande uppsättning förfarande- krav, är lämpligt att utföras av ett datorprogram med in- struktioner motsvarande stegen i det uppfinningsenliga för- farandet när det körs på en processorenhet¿ Enligt en vidare aspekt av uppfinningen uppnås ändamålet genom ett datorprogram som är direkt nedladdningsbart i internminnet hos en dator eller en processor, innefattande .mjukvarukoddelar för att utföra stegen i förfarandet enligt den vidhängande uppsättningen förfarandekrav, när programmet körs pá en dator. Datorprogrammet tillhandahålls antingen på ett datorläsbart medium eller via ett nåt.

Enligt en annan aspekt av uppfinningen uppnås ändamålet genom ett datorläsbart medium med ett därpå inspelat pro- gram, när programmet skall förmå en dator att utföra stegen i förfarandet enligt den vidhängande uppsättningen förfaran- dekrav och programmet körs på datorn. A Enligt en annan aspekt av uppfinningen uppnås detta ändamål genom en anordning såsom definieras i patentkrav 10. En sådan anordning är anordnad att motta information om graden av kilform i bandtjockleksprofilen tvärs bandbredden, och anordningen är anordnad att styra ställdonen, baserat på in- formationen om graden av kilform i bandtjockleksprofilen, så att den relativa reduktionen av bandet på båda sidor om valsverket blir väsentligen densamma.

Uppfinningen är särskilt användbar för styrning av band- tjocklek vid ett kallvalsverk. Detta beror på den vanliga användningen av ett delat band vid kallvalsverk. Vid varm- valsning är det normalt att styra bandtjockleksprofilen till' symmetrisk form.

Uppfinningen är särskilt användbar för styrning av ett vals- gap vid valsning av ett kilformat band vid ett valsverk. 10 15 20 25 .3O 35 530 055 FIGURBESKRIVNING Uppfinningen skall nu förklaras närmare genom beskrivning av olika utföringsformer av uppfinningen och med hänvisning 'till bifogade figurer.

Figur 1 visar schematiskt en sidovy av ett valsverk inne- fattande en anordning för styrning av tjockleken hos bandet enligt en första utföringsform av uppfinning- en, Figur 2 visar en vy framifrån av det i figur 1 visade vals- verket, Figur 3 visar en vy ovanifrån av det i figur 1 visade vals- verket, Figur 4 visar ett blockschema över ett förfarande för styr- ning av tjockleken hos ett band vid ett valsverk en- ligt en första utföringsform av uppfinningen, VFigur 5 visar schematiskt en sidovy av ett valsverk inne- fattande en anordning för styrning av tjockleken hos ett band enligt en andra utföringsform av uppfin- ningen, Figur 6 visar ett blockschema över ett förfarande för styr- ning av tjockleken hos ett band vid ett valsverk enligt en andra utföringsform av uppfinningen.

DETALJERAD BESKRIVNING AV FÖREDRAGNA UTFÖRINGSFORMER Figur 1-3 visar ett valsverk, innefattande en anordning 14 för styrning av valsgapet hos valsverket enligt en första utföringsform av uppfinningen, från olika vyer. Figurerna visar ett metallband 1 som passerar genom ett valsverk 2 i en riktning som visas av en pil. Valsverket innefattar två huvudvalsar 3a-b och två stödvalsar 4a-b. Två ställdon 6, 7, 10 15 20 25 30 35 530 055 9 i detta fall hydrauliska ställdon, bestämmer avståndet mellan huvudvalsarna 3a-b, även kallat valsgapet. Ställdonet . 6 bestämmer avståndet mellan valsarna på en operatorsida 10 av valsverket och ställdonet 7 bestämmer avståndet mellan valsarna på en drivsida ll av valsverket. Ställdonen 6, 7 styr oberoende storleken hos gapet mellan valsarna på var-_ dera sidan av valsverket. Valsverket innefattar vidare en sensor 12 för att mäta tjockleken hos bandet efter vals- ningen. Sensorn 12 är placerad väsentligen på mitten av bandet tvärs bandets bredd, dvs på väsentligen lika avstånd från båda ändarna av bandet. Sensorn 12 mäter tjockleken vid en punkt 13 tvärs bandets bredd. Figur 2 visar storleken dc hos valsgapet på mitten av verket, storleken dæ hos vals-, gapet på operatörsidan, samt storleken Qß hos valsgapet på drivsidan.

Anordningen 14 är anordnad att styra ställdonens 6, 7 lägen.

Anordningen 14 erhåller information om tjockleken h hos ban- det före valsningen. I denna utföringsform erhålls tjock- leksinformationen från en föregående varmvalsningsprocess.

Alternativt kan informationen erhållas från en skanner som skannar bandet innan det kommer in i valsverket. I denna utföringsform behövs information om tjockleken hos bandet före valsning vid tre punkter l5a-c tvärs bandets bredd, såsom visas i figur 3. Punkterna bör väljas på ett avstånd- fràn varandra i en riktning vinkelrätt mot bandets rörelse- riktning. I denna utföringsform är den första punkten l5a placerad på operatörsidan 10 av valsverket, den andra punk- ten 15b är placerat på mitten av bandets bredd, dvs på mot- svarande plats som sensorn 12, och den andra punkten l5c är placerad på drivsidan ll av valsverket.

Anordningen 14 är anordnad att beräkna en relativ reduktion Ah _ ïš- av bandet baserat på tjockleken hos bandet före och efter valsning av bandet, dvs före och efter reduktionen av bandets storlek. I denna utföringsform beräknas den relativa 10 15 20 25 30 35 530 055 10 reduktionen ägg hos bandets centrum baserat på bandtjock- C leken före reduktionen HC, uppmätt vid punkten 15b, och bandtjockleken efter reduktionen hc, uppmätt vid punkten 13 enligt följande: Ahc = Hc - hc I (1) Anordningen 14 är också anordnad att beräkna ett önskat valsgap dß på operatörsidan av verket baserat på den be- A c räknade relativa reduktionen av bandets centrum, If , och c tjockleken Eæ hos bandet på operatörsidan före valsning, dvs tjockleken uppmätt vid punkt l5a. Beräkningsenheten är också anordnad att beräkna ett önskat valsgap dm;På driv- sidan av verket baserat på den beräknade reduktionen ägg a c _ centrum av bandet, och tjockleken HM;hos bandet på driv- sidan före valsning, dvs uppmätt tjocklek vid punkt 15c.

Alternativt är det också möjligt att beräkna den relativa reduktionen delat med bandtjockleken före valsning êší; c detta ger ungefär samma resultat som att dela med band- tjockleken efter valsning.

Beräkningen kräver användning av någon aritmetisk logikenhet~ (Arithmetic Logic Unit, ALU), men den kan implementeras i antingen de digitala kretsarna hos en FPGA, en ASIC eller en enkel mikroprocessor. Anordningen innefattar vidare lämp- rliga inom tekniken kända databehandlingsmedel såsom in- och utenheter och minnesenheter.

Anordningen 14 är anordnad att styra ställdonen 6, 7 baserat på de beräknade valsgapen dæ och Qæ. Ställdonen justerar avståndet mellan valsarna till de önskade valsgapen på operatör- och drivsidan. Därmed blir den relativa reduktio- nen tvärs bandbredden väsentligen konstant. 10 15 20 25 30 530 055 ll Figur 4 är ett flödesdiagram som illustrerar förfarandet och datorprogramprodukten enligt en första utföringsform av föreliggande uppfinning. Det skall förstås att varje block i flödesdiagrammet kan implementeras genom datorprogramin~ struktioner.

Information om bandtjockleken HC, Hm” Ißs före valsning av bandet mottas, block 20. Information om bandtjockleken hc efter valsning av bandet mottas, block 22. Den relativa re- duktionen av bandets centrum beräknas, block 24, baserat på bandets tjocklek före och efter valsning: “ ___' = (Hc _ hc)/ Hc I ' (2) För att åstadkomma en konstant relativ reduktion av bandet tvärs bandbredden skall följande samband gälla: åhí_êhfl_fl>i (3) Ek _ får ._ [Én Sålunda skall den relativa reduktionen på operatörsidan w hm lin och drivsidan vara densamma som den relativa DS Ahc reduktionen 3:- i centrum av bandet. c Den önskade storleken dw hos valsgapet pá operatörsidan be- räknas baserat pá följande ekvation, block 26: Ahc Ek dos = * Hos I (4) Den önskade reduktionen dm;hos valsgapet på drivsidan be- räknas baserat på följande ekvation, block 28: Åhc , _ * nns (S) C , ' dos = 10 15 20 25 30 3 s 530 055 12 Därefter justeras ställdonet 7 på operatörsidan tills vals- gapet på operatörsidan är lika med den beräknade storleken dß, block 30, och ställdonet 6 på drivsidan justeras tills valsgapet på drivsidan är lika med den beräknade storleken dns, block so. “ Figur 5 visar schematiskt en sidovy av ett valsverk inne- fattande en anordning 40 för att styra tjockleken hos ett band enligt en andra utföringsform av uppfinningen. Kompo- nenter som motsvarar figur 1 har getts samma referensnummer och kommer inte att beskrivas närmare här. Som synes i rit- ningen innefattar valsverket vidare ett tjockleksstyrsystem 42, vilket beräknar en tjocklekskorrigering POSmm för vals- gapet baserat på en önskad bandtjocklek hfifi och en mätning av bandtjockleken hc efter valsning. Tjocklekskorrigeringen _beräknas som skillnaden mellan den verkliga tjockleken hos bandet efter valsning och den önskade bandtjockleken. Tjock- lekskorrigeringen är'i storleksordningen um. Anordningen 42 är anordnad att motta tjocklekskorrigeringen PÖSmw_från tjockleksstyrsystemet 42 och att generera styrsignaler till ställdonen 6, 7 baserat på tjocklekskorrigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken, så att de relativa tjockleks- korrigeringarna på båda sidor om valsverket blir väsentligen desamma. ' Tjockleksstyrsystemet 42 beräknar kontinuerligt tjockleks- korrigeringarna Pøsæm, som matas till anordningen 40. För att uppnå samma totala relativa reduktion på båda sidor om verket måste också varje korrigeringsutsignal ge samma rela- tiva korrigering på båda sidor om verket. Vid valsning av kilformade band, dvs band som är tjockare på ena sidan jäm- fört med andra sidan, är det viktigt att båda sidorna har samma relativa tjockleksreduktion vid valsning.

Följande ekvationer tillämpas för att garantera samma rela- tiva tjockleksreduktion tvärs bandet: P0Sam1= (P0Samms + P0Samms ) / 2 (5) 10' 15 20 25 30 35 530 055 13 Där POS-aa = tjocklekskorrigering beräknad från tjockleksstyr- systemet POSaddOS = tjocklekskorrigering att tillämpas på valsgap- ställdonet på valsverkets operatörsida I POSammS= tjocklekskorrigering att tillämpas på valsgap- ställdonet pá valsverkets drivsida W relativ bandkilprofil definieras av: W (Hus _ Hos)/Høs eller (vid användning av ett automatiskt planhetsstyr- system) : w = (Pøsactns - Pøsacwn/Posacws <7) där fßs = inkommande bandtjocklek på operatörsidan. bßs = inkommande bandtjocklek på drivsidan Pøsamms = verkligt läge hos valsgapställdonet(-donen) på drivsidan POSacws = verkligt läge hos valsgapställdonefl-donen) på. operatörsidan. I ' För att fà samma relativa tjocklekskorrigering på både operatör- och drivsidan måste följande gälla: PÖSaddns = POSaddOs (1+W) - (8) Lösning av dessa ekvationer ger: Posams =- Posaddos (1+w) = (zaosadd - POSaddDS )* (1+W) Posaddns = (zposadd * (1+W))/ (2+w) (9) Pøsaddos = 2P05ada ' PÖSaddDs (10) 10 15 20 25 _30 530 055 14 Figur 6 är ett flödesdiagram som illustrerar förfarandet och datorprogramprodukten enligt en andra utföringsform av före- liggande uppfinning. Det är underförstått att varje block i flödesdiagrammet kan implementeras genom datorprogramin- struktioner.

Information om graden av kilform i bandtjockleksprofilen tvärs bandet mottas, block 52. Denna information är exem- pelvis de verkliga lägena POSadmS, POSammS hos valsgapställ- don pá drivsidan och operatörsidan. Den relativa bandkil- profilen W beräknas enligt ekvation 7, block 54. Tjockleks- korrigeringen POSmm mottas från tjockleksstyrsystemet, block 56. Därefter beräknas den tjocklekskorrigering POSæmm;som skall påföras valsgapställdonet på operatörsidan av vals- verket enligt ekvation 10, block 58, och den tjocklekskorri- gering Pøsaàms som skall pâföras valsgapställdonet på driv- sidan av valsverket beräknas enligt ekvation 9, block 60.

Sedan justeras ställdonen på operatör- och drivsidan i en- lighet med den beräknade tjocklekskorrigeringen. ' Termen innefattar/innefattande såsom den används i denna beskrivning skall tolkas som att specificera närvaron av angivna särdrag, heltal, steg eller komponenter. Termen utesluter emellertid inte att det finns eller kan läggas till ett eller flera ytterligare särdrag, heltal, steg eller komponenter eller grupper av sådana. ' Föreliggande uppfinning är inte begränsad till de beskrivna utföringsformerna utan kan varieras och modifieras inom ramen för följande patentkrav. Exempelvis kan den relativa bandkilprofilen W beräknas som W = (PÛSam-.Ds ' PÛSaccoQ/Pøsaccn-

Claims (18)

10 15 20 25 30 35 530 055 15 PATENTKRAV

1. Förfarande för styrning av ett valsgap vid valsning av ett band (1) vid ett valsverk innefattande åtminstone två valsar (3a-b,4a-b), och åtminstone två valsgapställdon (6,7) som oberoende styr storleken hos valsgapet, varvid förfaran- det innefattar: I - att motta information om graden av kilform A (H,POSact0S,POSactDS) hos bandtjockleksprofilen tvärsöver bandets bredd, och att baserat därpå - styra nämnda ställdon så att den relativa reduktionen av bandet på båda sidor om valsverket blir väsentligen den- samma.

2. Förfarande enligt patentkrav l, varvid nämnda information om graden av kilform innefattar information om tjocklekspro- filen (H) tvärsöver bredden hos det band skall mätas.

3. Förfarande enligt patentkrav 1, varvid nämnda information om graden av kilform hos bandtjockleksprofilen innefattar verkliga lägen (POSact0S,POSactDS) hos nämnda valsgapställ- don.

4. Förfarande enligt något av föregående patentkrav, varvid nämnda valsverk vidare innefattar ett tjockleksstyrsystem (42) som beräknar en tjocklekskorrigering (POSadd) för vals- gapet baserat på en önskad bandtjocklek (hæf), och varvid förfarandet innefattar: - att motta information om den tjocklekskorrigering (POSadd) som skall utföras, och _ . - att styra nämnda ställdon (6,7), baserat på tjocklekskor- rigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken (POSact0s,POSactDs) så att-de relativa tjocklekskorrigering- arna på båda sidor om valsverket blir väsentligen desamma.

5. Förfarande enligt patentkrav 4, varvid nämnda valsgap- ställdon (6, 7) oberoende styr storleken hos valsgapet på en operatörsida av verket och på en drivsida av verket, och 10 15 '20 25 30 35 530 055 16 varvid förfarandet innefattar att beräkna en tjocklekskorri- gering (Pósaddmfi som skall pàföras valsgapställdonet på ope- ratörsidan och en tjocklekskorrigering (Posaddmfl som skall påföras valsgapställdonet på operatörsidan baserat på tjock- lekskorrigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken.

6. Förfarande enligt något av patentkrav 1-3, varvid för- farandet innefattar: ä , - att motta information om tjockleken hos bandet före vals- ningen av bandet vid åtminstone två punkter (l5a-C) tvärs- över bandets bredd, ' _ - att motta information om tjockleken hos bandet efter vals- ningen av bandet vid åtminstone en punkt (13) tvärsöver ban- dets bredd, - att beräkna en relativ reduktion av bandet baserat på tjockleken hos bandet före och efter valsningen, och - att styra nämnda stâlldon (6, 7) baserat på den beräknade relativa reduktionen av bandet och nämnda information om tjockleken hos bandet före valsningen av bandet vid åtmin- stone två punkter.

7. Förfarande enligt patentkrav 6, varvid nämnda valsgap- ställdon oberoende styr storleken hos valsgapet på en ope- ratörsida av verket och på en drivsida av verket och för- I farandet innefattar att uppskatta ett önskat valsgap pà operatörsidan av verket baserat på den beräknade relativa reduktionen av bandet och tjockleken hos bandet på operatör- sidan före valsning och att baserat därpå styra valsgap- ställdonet pá operatörsidan, och att uppskatta ett önskat valsgap på drivsidan av verket baserat på den beräknade re- lativa reduktionen av bandet och tjockleken hos bandet pá drivsidan före valsning och att baserat därpå styra valsgap- ställdonet pá drivsidan.

8. Datorprogramprodukt som är direkt nedladdningsbart i in- ternmínnet hos en dator, innefattande programvara för att utföra stegen enligt något av patentkrav 1-7. 10 15 20 25 30 35 530 055 17

9. Datorläsbart medium med ett därpå inspelat program, där programmet skall förmå en dator att utföra stegen enligt -något av patentkrav 1-7, när nämnda program körs på datorn;

10. Anordning för att styra ett valsgap vid valsning av ett band (1) vid ett valsverk innefattande åtminstone två valsar (3a-b,4a-b), och åtminstone två valsgapställdon (6,7) som oberoende styr storleken hos valsgapet, kännetecknad av att anordningen är anpassad att motta information om graden av kilform (H, POSact0S,POSactps) hos bandtjockleksprofilen tvärsöver bandbredden, och anordingen är anpassad att styra nämnda ställdon baserat på nämnda information om graden av 'kilform hos bandtjockleksprofilen, så att den relativa re- duktionen av bandet på båda sidor om valsverket blir väsent- ligen densamma.

11. Anordning enligt patentkrav 10, varvid nämnda informa- tion om graden av kilform innefattar information om tjock- leksprofilen (H) tvärsöver bredden på det band som skall valsas.

12. Anordning enligt patentkrav 10, varvid nämnda informa- tion om graden av kilform innefattar verkliga lägen (POSact0S,P0Sact@S) hos nämnda valsgapställdon.

13. Anordning enligt något av patentkrav 10-12, varvid nämnda valsverk vidare innefattar ett tjockleksstyrsystem som beräknar en tjocklekskorrigering för valsgapet baserat -på en önskad bandtjocklek, och anordningen är anpassad att motta information om den tjocklekskorrigering som skall göras, och att styra nämnda ställdon baserat på tjockleks- korrigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken, så att de relativa tjocklekskorrigeringarna på båda sidor om valsverket blir väsentligen desamma.

14. Anordning enligt patentkrav 13, varvid nämnda valsgap- ställdon oberoende styr storleken hos valsgapet på en ope- ratörsida av verket och på en drivsida av verket, och anord- 10 15 20 25 30 35 530 055 ningen är anpassad att beräknâšen tjocklekskorrigering som skall päföras valsgapställdonet på operatörsidan och en tjocklekskorrigering som skall pàföras valsgapställdonet på operatörsidan baserat på tjocklekskorrigeringen och graden av kilform hos bandtjockleken.

15. Anordning enligt något av patentkrav 10-12, varvid an- ordningen är anpassad att motta information om tjockleken hos bandet före valsningen av bandet vid åtminstone två punkter tvärsöver bandets bredd, och att motta information om tjockleken hos bandet efter valsning av bandet vid åtmin- stone en punkt tvärsöver bandets bredd, och anordningen är anpassad att beräkna en relativ reduktion av bandet baserat på tjockleken hos bandet före och efter valsning, och att- styra nämnda ställdon baserat på den beräknade relativa re- duktionen av bandet och nämnda information om tjockleken hos Vbandet för valsningen av bandet vid åtminstone två punkter.

16. Anordning enligt patentkrav 15, varvid nämnda valsgap- ställdon oberoende styr storleken hos valsgapet på en opera- törsidan av verket och på en drivsida av verket, och anord- ningen är anpassad att uppskatta ett önskat valsgap pá ope- ratörsidan av verket baserat på den beräknade relativa re- duktionen av bandet och tjockleken hos bandet på operatör- sidan före valsning och att baserat därpå styra valsgap- ställdonet på operatörsidan, samt att uppskatta ett önskat valsgap pá drivsidan av verket baserat på den beräknade re- lativa reduktionen av bandet och tjockleken hos bandet pà drivsidan före valsningen och att baserat därpå styra ställ-_ donet på drivsidan.

17. Användning av anordningen enligt något av patentkrav 10- 16, för att styra bandtjocklek vid ett kallvalsverk.

18. Användning av anordningen enligt något av patentkrav 10- 16, för att styra ett valsgap vid valsning av ett kilformat band vid ett valsverk.