RU2013122847A - Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений - Google Patents

Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений Download PDF

Info

Publication number
RU2013122847A
RU2013122847A RU2013122847/28A RU2013122847A RU2013122847A RU 2013122847 A RU2013122847 A RU 2013122847A RU 2013122847/28 A RU2013122847/28 A RU 2013122847/28A RU 2013122847 A RU2013122847 A RU 2013122847A RU 2013122847 A RU2013122847 A RU 2013122847A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
grating
phase
lattice
analyzer
ray
Prior art date
Application number
RU2013122847/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2572644C2 (ru
Inventor
Эвальд РЕССЛ
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Publication of RU2013122847A publication Critical patent/RU2013122847A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2572644C2 publication Critical patent/RU2572644C2/ru

Links

Classifications

    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48—Diagnostic techniques
    • A61B6/484—Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
    • A61B6/03—Computed tomography [CT]
    • A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4035—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis the source being combined with a filter or grating
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/067—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using surface reflection, e.g. grazing incidence mirrors, gratings
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/06—Diaphragms

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

1. Дифракционная решетка (14, 15) для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащая первую подобласть (23) с- по меньшей мере, одним участком (24) первой решеточной структуры (26); и- по меньшей мере, одним участком (28) второй решеточной структуры (30);при этом первая решеточная структура содержит множество полос (34) и промежутков (36) с первой решеточной ориентацией G(37), которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей;при этом вторая решеточная структура содержит множество полос (40) и промежутков (42) со второй решеточной ориентацией G(44), которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей; ипри этом первая решеточная ориентация Gотличается от второй решеточной ориентации G.2. Дифракционная решетка по п.1, в которой первая решеточная ориентация Gрасположена поперечно ко второй решеточной ориентации G.3. Дифракционная решетка по п.1 или 2, в которой участки первой и второй решеточных структур расположены по области дифракционной решетки в шахматном порядке (56).4. Дифракционная решетка по п.1 или 2, в которой обеспечен, по меньшей мере, один участок (202) второй подобласти (204); при этом вторая подобласть является прозрачной для рентгеновских лучей, и при этом упомянутый, по меньшей мере, один участок второй подобласти обеспечивает прозрачную для рентгеновских лучей апертуру (206) в решетке; ипри этом учас�

Claims (13)

1. Дифракционная решетка (14, 15) для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащая первую подобласть (23) с
- по меньшей мере, одним участком (24) первой решеточной структуры (26); и
- по меньшей мере, одним участком (28) второй решеточной структуры (30);
при этом первая решеточная структура содержит множество полос (34) и промежутков (36) с первой решеточной ориентацией G01 (37), которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей;
при этом вторая решеточная структура содержит множество полос (40) и промежутков (42) со второй решеточной ориентацией G02 (44), которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей; и
при этом первая решеточная ориентация G01 отличается от второй решеточной ориентации G02.
2. Дифракционная решетка по п.1, в которой первая решеточная ориентация G01 расположена поперечно ко второй решеточной ориентации G02.
3. Дифракционная решетка по п.1 или 2, в которой участки первой и второй решеточных структур расположены по области дифракционной решетки в шахматном порядке (56).
4. Дифракционная решетка по п.1 или 2, в которой обеспечен, по меньшей мере, один участок (202) второй подобласти (204); при этом вторая подобласть является прозрачной для рентгеновских лучей, и при этом упомянутый, по меньшей мере, один участок второй подобласти обеспечивает прозрачную для рентгеновских лучей апертуру (206) в решетке; и
при этом участки первой и второй подобластей расположены чередующимся образом в, по меньшей мере, одном направлении.
5. Дифракционная решетка по п.4, в которой участки первой и второй подобластей расположены по области дифракционной решетки в шахматной конфигурации (207).
6. Детекторная компоновка (10) рентгенографической системы для генерирования фазово-контрастных изображений объекта, содержащая:
- первую дифракционную решетку (15);
- вторую дифракционную решетку (14); и
- детектор (12) с датчиком;
при этом датчик содержит, по меньшей мере, один пиксель (16) датчика первой подгруппы (18) пикселей и, по меньшей мере, один пиксель (20) датчика второй подгруппы пикселей (22);
при этом первая дифракционная решетка является фазовой решеткой (15);
при этом вторая дифракционная решетка является решеткой (14) анализатора;
при этом фазовая решетка и решетка анализатора обеспечены как дифракционная решетка для формирования рентгеновских дифференциальных фазово-контрастных изображений согласно одному из предшествующих пунктов;
при этом решетка анализатора или фазовая решетка выполнена с возможностью пошагового размещения в предварительно определенном отношении к решетке анализатора;
при этом первая и вторая дифракционные решетки, каждая, выполнены с возможностью переноса по отношению к датчику из первого положения (Р1) в, по меньшей мере, второе положение (Р2) с первым шагом PT1 переноса;
при этом шаг PT1 переноса адаптирован для участков первой и/или второй решеточных структур дифракционных решеток; и
при этом в первом и втором положении, разные части датчика расположены за участками первой и второй решеточных структур.
7. Детекторная компоновка по п.6, в которой вторая дифракционная решетка выполнена с возможностью фазового пошагового размещения под острым углом (92) к первой или второй решеточной структуре.
8. Устройство (510) получения рентгеновских изображений для генерирования фазово-контрастных изображений объекта, с
- источником (512) рентгеновских лучей;
- решеткой (518) источника;
- фазовой решеткой (520);
- решеткой (522) анализатора; и
- детектором (514);
при этом источник рентгеновских лучей генерирует пучок рентгеновских лучей (536) полихроматического спектра рентгеновских лучей;
при этом решетка источника выполнена с возможностью расщепления пучка рентгеновских лучей полихроматического спектра рентгеновских лучей на расщепленный пучок (538);
при этом фазовая решетка выполнена с возможностью рекомбинирования расщепленного пучка в плоскости анализатора; и
при этом фазовая решетка, решетка анализатора и детектор обеспечены как детекторная компоновка согласно одному из п.п.6 или 7.
9. Медицинская система (500) формирования рентгеновских изображений для формирования дифференциальных фазово-контрастных изображений, с:
- устройством (510) получения рентгеновских изображений для генерирования фазово-контрастных изображений объекта по п.8;
- блоком (526) обработки;
- блоком (528) интерфейса; и
- устройством (524) приема объекта;
при этом блок обработки выполнен с возможностью управления источником рентгеновских лучей, а также фазовым пошаговым размещением решетки анализатора и переносом фазовой решетки и решетки анализатора;
при этом блок интерфейса выполнен с возможностью обеспечивать записанные первые и вторые исходные данные изображения в блок обработки; и
при этом устройство приема объекта выполнено с возможностью принимать объект интереса для получения фазово-контрастного изображения.
10. Способ (400) для формирования дифференциальных фазово-контрастных изображений, содержащий этапы:
- аа1) применения (410) когерентного рентгеновского излучения к интерферометру с двумя дифракционными решетками в первом положении (Р1); причем упомянутые дифракционные решетки, каждая, содержат, по меньшей мере, две части с разными решеточными ориентациями; при этом первая дифракционная решетка является фазовой решеткой и вторая дифракционная решетка является решеткой анализатора;
аа2) фазового пошагового размещения (412) решетки анализатора; и
аа3) записи (414) первых исходных данных (416) изображения с помощью датчика с, по меньшей мере, двумя частями; при этом первая и вторая часть записывают информацию фазово-контрастного изображения, относящуюся к первой и второй решеточным ориентациям;
- b) переноса (420) решетки анализатора и фазовой решетки во второе положение (Р2); и
сс1) применения (422) когерентного рентгеновского излучения к интерферометру во втором положении;
сс2) фазового пошагового размещения (424) решетки анализатора; и
cc3) записи (426) вторых исходных данных (428) изображения с помощью датчика; при этом первая и вторая часть записывают информацию фазово-контрастного изображения, относящуюся ко второй и первой решеточным ориентациям; и
- d) обеспечения (432) записанных первых и вторых исходных данных изображения в качестве исходных данных (434) изображения.
11. Способ по п.10, в котором дифракционные решетки, каждая, содержат, по меньшей мере, один участок первой решеточной структуры и, по меньшей мере, один участок второй решеточной структуры; при этом первая решеточная структура содержит множество полос и промежутков с первой решеточной ориентацией G01, которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей; при этом вторая решеточная структура содержит множество полос и промежутков со второй решеточной ориентацией G02, которые расположены периодически; при этом полосы расположены так, что они изменяют фазу и/или амплитуду рентгеновского излучения, и при этом промежутки являются прозрачными для рентгеновских лучей; и при этом первая решеточная ориентация G01 отличается от второй решеточной ориентации G02.
12. Способ по п.10 или 11, в котором решетку анализатора фазово пошагово размещают под острым углом (92) к первой или второй решеточной структуре.
13. Машиночитаемый носитель, имеющий сохраненный компьютерный программный элемент для управления устройством по одному из пп.1-9, который, когда исполняется блоком обработки, выполнен с возможностью выполнять этапы способа одного из пп.10-12.
RU2013122847/28A 2010-10-19 2011-10-17 Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений RU2572644C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10187975.7 2010-10-19
EP10187975 2010-10-19
PCT/IB2011/054580 WO2012052900A1 (en) 2010-10-19 2011-10-17 Differential phase-contrast imaging

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2013122847A true RU2013122847A (ru) 2014-11-27
RU2572644C2 RU2572644C2 (ru) 2016-01-20

Family

ID=44898112

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013122847/28A RU2572644C2 (ru) 2010-10-19 2011-10-17 Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9861330B2 (ru)
EP (1) EP2630476B1 (ru)
JP (1) JP6060082B2 (ru)
CN (1) CN103168228B (ru)
BR (1) BR112013009253A2 (ru)
RU (1) RU2572644C2 (ru)
WO (1) WO2012052900A1 (ru)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2573114C2 (ru) * 2010-10-19 2016-01-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Формирование изображений методом дифференциального фазового контраста
US20120307970A1 (en) * 2011-05-31 2012-12-06 General Electric Company Multispot x-ray phase-contrast imaging system
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP6265914B2 (ja) * 2012-01-24 2018-01-24 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． 多方向位相コントラストｘ線撮像
EP2827339A1 (en) * 2013-07-16 2015-01-21 Canon Kabushiki Kaisha Source grating, interferometer, and object information acquisition system
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
RU2663176C2 (ru) * 2013-09-30 2018-08-01 Конинклейке Филипс Н.В. Устройство получения дифференциального фазоконтрастного изображения с подвижной решеткой(ами)
DE102013221818A1 (de) * 2013-10-28 2015-04-30 Siemens Aktiengesellschaft Bildgebendes System und Verfahren zur Bildgebung
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
JP6495943B2 (ja) * 2014-05-09 2019-04-03 ザ・ジョンズ・ホプキンス・ユニバーシティー 位相コントラストｘ線イメージングのためのシステム及び方法
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
US10368815B2 (en) * 2014-07-17 2019-08-06 Koninklijke Philips N.V. X-ray imaging device
JP6451400B2 (ja) * 2015-02-26 2019-01-16 コニカミノルタ株式会社 画像処理システム及び画像処理装置
CN106033133B (zh) * 2015-03-11 2019-09-17 同方威视技术股份有限公司 一种光栅、制造方法和辐射成像装置
US10404908B2 (en) 2015-07-13 2019-09-03 Rambus Inc. Optical systems and methods supporting diverse optical and computational functions
JP6602630B2 (ja) * 2015-10-05 2019-11-06 株式会社日立ハイテクサイエンス Ｘ線検査装置及びｘ線検査方法
US11035989B2 (en) * 2015-11-30 2021-06-15 Rambus Inc. Systems and methods for improving resolution in lensless imaging
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
CN108174059B (zh) * 2016-12-08 2021-04-13 松下知识产权经营株式会社 摄像装置
JP6753342B2 (ja) * 2017-03-15 2020-09-09 株式会社島津製作所 放射線格子検出器およびｘ線検査装置
WO2018175570A1 (en) 2017-03-22 2018-09-27 Sigray, Inc. Method of performing x-ray spectroscopy and x-ray absorption spectrometer system
EP3498171A1 (en) * 2017-12-15 2019-06-19 Koninklijke Philips N.V. Single shot x-ray phase-contrast and dark field imaging
NL2020619B1 (en) * 2018-01-16 2019-07-25 Illumina Inc Dual optical grating slide structured illumination imaging
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
US10845491B2 (en) 2018-06-04 2020-11-24 Sigray, Inc. Energy-resolving x-ray detection system
GB2591630B (en) 2018-07-26 2023-05-24 Sigray Inc High brightness x-ray reflection source
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
CN112638261A (zh) 2018-09-04 2021-04-09 斯格瑞公司 利用滤波的x射线荧光的系统和方法
US11056308B2 (en) 2018-09-07 2021-07-06 Sigray, Inc. System and method for depth-selectable x-ray analysis
JP6969691B2 (ja) * 2018-11-06 2021-11-24 株式会社島津製作所 Ｘ線位相撮像システム
CN114729907B (zh) 2019-09-03 2023-05-23 斯格瑞公司 用于计算机层析x射线荧光成像的系统和方法
US11175243B1 (en) 2020-02-06 2021-11-16 Sigray, Inc. X-ray dark-field in-line inspection for semiconductor samples
CN115667896B (zh) 2020-05-18 2024-06-21 斯格瑞公司 使用晶体分析器和多个检测元件的x射线吸收光谱的系统和方法
JP2023542674A (ja) 2020-09-17 2023-10-11 シグレイ、インコーポレイテッド Ｘ線を用いた深さ分解計測および分析のためのシステムおよび方法
US11686692B2 (en) 2020-12-07 2023-06-27 Sigray, Inc. High throughput 3D x-ray imaging system using a transmission x-ray source
US11992350B2 (en) 2022-03-15 2024-05-28 Sigray, Inc. System and method for compact laminography utilizing microfocus transmission x-ray source and variable magnification x-ray detector
US11885755B2 (en) 2022-05-02 2024-01-30 Sigray, Inc. X-ray sequential array wavelength dispersive spectrometer
US12055737B2 (en) * 2022-05-18 2024-08-06 GE Precision Healthcare LLC Aligned and stacked high-aspect ratio metallized structures

Family Cites Families (78)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69622406D1 (de) * 1995-04-28 2002-08-22 Forskningsct Riso Roskilde Phasenkontrastbilderzeugung
JPH09187455A (ja) * 1996-01-10 1997-07-22 Hitachi Ltd 位相型ｘ線ｃｔ装置
RU2115943C1 (ru) * 1997-01-16 1998-07-20 Виктор Натанович Ингал Способ фазовой рентгенографии объектов и устройство для его осуществления (варианты)
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
US6366643B1 (en) * 1998-10-29 2002-04-02 Direct Radiography Corp. Anti scatter radiation grid for a detector having discreet sensing elements
US7515264B2 (en) 1999-06-15 2009-04-07 Tokyo Electron Limited Particle-measuring system and particle-measuring method
JP4549583B2 (ja) * 2000-07-07 2010-09-22 パナソニック株式会社 光ピックアップ、光ディスク装置、及び情報処理装置
JP4445397B2 (ja) * 2002-12-26 2010-04-07 敦 百生 Ｘ線撮像装置および撮像方法
DE10305106B4 (de) * 2003-02-07 2006-04-13 Siemens Ag Streustrahlenraster oder Kollimator sowie Anordnung mit Strahlungsdetektor und Streustrahlenraster oder Kollimator
JP4676244B2 (ja) * 2005-05-13 2011-04-27 株式会社日立製作所 Ｘ線撮像装置
EP1731099A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-13 Paul Scherrer Institut Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source
ATE473685T1 (de) * 2005-12-27 2010-07-15 Siemens Ag Fokus-detektor-anordnung zur erzeugung von phasenkontrast-röntgenaufnahmen und verfahren hierzu
DE102006037255A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-02 Siemens Ag Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006017291B4 (de) * 2006-02-01 2017-05-24 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, Röntgensystem mit einem solchen Fokus/Detektor-System sowie zugehöriges Speichermedium und Verfahren
DE102006037281A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-09 Siemens Ag Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
DE102006035677A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-16 Siemens Ag Verfahren und CT-System zur Erkennung und Differenzierung von Plaque in Gefäßstrukturen eines Patienten
DE102006015358B4 (de) * 2006-02-01 2019-08-22 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen
DE102006037254B4 (de) * 2006-02-01 2017-08-03 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
DE102006017290B4 (de) * 2006-02-01 2017-06-22 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
DE102006015356B4 (de) * 2006-02-01 2016-09-22 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit einem Röntgen-System
DE102006063048B3 (de) * 2006-02-01 2018-03-29 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
EP1879020A1 (en) * 2006-07-12 2008-01-16 Paul Scherrer Institut X-ray interferometer for phase contrast imaging
WO2008102685A1 (ja) * 2007-02-21 2008-08-28 Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム
US7920673B2 (en) * 2007-10-30 2011-04-05 Massachusetts Institute Of Technology Phase-contrast x-ray imaging
EP2073040A2 (en) * 2007-10-31 2009-06-24 FUJIFILM Corporation Radiation image detector and phase contrast radiation imaging apparatus
ATE524056T1 (de) * 2007-11-15 2011-09-15 Suisse Electronique Microtech Interferometervorrichtung und verfahren
CN101576515B (zh) * 2007-11-23 2012-07-04 同方威视技术股份有限公司 X射线光栅相衬成像系统及方法
US8576983B2 (en) * 2008-02-14 2013-11-05 Koninklijke Philips N.V. X-ray detector for phase contrast imaging
JP5339975B2 (ja) * 2008-03-13 2013-11-13 キヤノン株式会社 Ｘ線位相イメージングに用いられる位相格子、該位相格子を用いたｘ線位相コントラスト像の撮像装置、ｘ線コンピューター断層撮影システム
US8565371B2 (en) * 2008-03-19 2013-10-22 Koninklijke Philips N.V. Rotational X ray device for phase contrast imaging
JP5451150B2 (ja) * 2008-04-15 2014-03-26 キヤノン株式会社 Ｘ線用線源格子、ｘ線位相コントラスト像の撮像装置
JP4864052B2 (ja) * 2008-07-31 2012-01-25 アース製薬株式会社 温水洗浄便座の洗浄ノズル洗浄用泡吐出式ポンプ製品
JP2010063646A (ja) * 2008-09-11 2010-03-25 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影装置
DE102008048683A1 (de) * 2008-09-24 2010-04-08 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Bestimmung von Phase und/oder Amplitude zwischen interferierenden benachbarten Röntgenstrahlen in einem Detektorpixel bei einem Talbot-Interferometer
DE102008048688B4 (de) * 2008-09-24 2011-08-25 Paul Scherrer Institut Röntgen-CT-System zur Erzeugung tomographischer Phasenkontrast- oder Dunkelfeldaufnahmen
DE102008049200B4 (de) * 2008-09-26 2010-11-11 Paul Scherrer Institut Verfahren zur Herstellung von röntgenoptischen Gittern, röntgenoptisches Gitter und Röntgen-System
EP2168488B1 (de) * 2008-09-30 2013-02-13 Siemens Aktiengesellschaft Röntgen-CT-System zur Röntgen-Phasenkontrast-und/oder Röntgen-Dunkelfeld-Bildgebung
CN101413905B (zh) * 2008-10-10 2011-03-16 深圳大学 X射线微分干涉相衬成像系统
US8559594B2 (en) * 2008-10-29 2013-10-15 Canon Kabushiki Kaisha Imaging apparatus and imaging method
CN103876761B (zh) * 2008-10-29 2016-04-27 佳能株式会社 X射线成像装置和x射线成像方法
DE102009004702B4 (de) * 2009-01-15 2019-01-31 Paul Scherer Institut Anordnung und Verfahren zur projektiven und/oder tomographischen Phasenkontrastbildgebung mit Röntgenstrahlung
US7949095B2 (en) * 2009-03-02 2011-05-24 University Of Rochester Methods and apparatus for differential phase-contrast fan beam CT, cone-beam CT and hybrid cone-beam CT
JP2010236986A (ja) * 2009-03-31 2010-10-21 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影装置
JP2010253194A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Fujifilm Corp 放射線位相画像撮影装置
DE102009019595B4 (de) * 2009-04-30 2013-02-28 Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh Gitter mit großem Aspektverhältnis, insbesondere zur Verwendung als röntgenoptisches Gitter in einem CT-System, hergestellt durch ein Lithographieverfahren
US8855265B2 (en) * 2009-06-16 2014-10-07 Koninklijke Philips N.V. Correction method for differential phase contrast imaging
JP5459659B2 (ja) * 2009-10-09 2014-04-02 キヤノン株式会社 Ｘ線位相コントラスト像の撮像に用いられる位相格子、該位相格子を用いた撮像装置、ｘ線コンピューター断層撮影システム
CN102781327B (zh) * 2009-12-10 2015-06-17 皇家飞利浦电子股份有限公司 相衬成像
WO2011070493A1 (en) * 2009-12-10 2011-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Apparatus for phase-contrast imaging comprising a displaceable x-ray detector element and method
US8848863B2 (en) * 2009-12-10 2014-09-30 Koninklijke Philips N.V. Non-parallel grating arrangement with on-the-fly phase stepping, X-ray system
US8532252B2 (en) * 2010-01-27 2013-09-10 Canon Kabushiki Kaisha X-ray shield grating, manufacturing method therefor, and X-ray imaging apparatus
JP5631013B2 (ja) * 2010-01-28 2014-11-26 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置
JP5702586B2 (ja) * 2010-02-04 2015-04-15 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム
JP5627247B2 (ja) * 2010-02-10 2014-11-19 キヤノン株式会社 マイクロ構造体の製造方法および放射線吸収格子
JP5725870B2 (ja) * 2010-02-22 2015-05-27 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
JP5586986B2 (ja) * 2010-02-23 2014-09-10 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置
WO2011114845A1 (ja) * 2010-03-18 2011-09-22 コニカミノルタエムジー株式会社 Ｘ線撮影システム
JP5438649B2 (ja) * 2010-03-26 2014-03-12 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム及び位置ずれ判定方法
JP5378335B2 (ja) * 2010-03-26 2013-12-25 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム
JP5660910B2 (ja) * 2010-03-30 2015-01-28 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影用グリッドの製造方法
JP2012090944A (ja) * 2010-03-30 2012-05-17 Fujifilm Corp 放射線撮影システム及び放射線撮影方法
JP5548085B2 (ja) * 2010-03-30 2014-07-16 富士フイルム株式会社 回折格子の調整方法
JP5796976B2 (ja) * 2010-05-27 2015-10-21 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置
JP5896999B2 (ja) * 2010-06-28 2016-03-30 パウル・シェラー・インスティトゥート Ｘ線装置
JP5731214B2 (ja) * 2010-08-19 2015-06-10 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム及びその画像処理方法
US9105369B2 (en) * 2010-09-03 2015-08-11 Koninklijke Philips N.V. Differential phase-contrast imaging with improved sampling
RU2573114C2 (ru) * 2010-10-19 2016-01-20 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. Формирование изображений методом дифференциального фазового контраста
JP5875280B2 (ja) * 2010-10-20 2016-03-02 キヤノン株式会社 トールボット干渉を用いた撮像装置および撮像装置の調整方法
JP5331940B2 (ja) * 2010-10-27 2013-10-30 富士フイルム株式会社 放射線撮影システム及び放射線画像生成方法
JP5796908B2 (ja) * 2010-10-29 2015-10-21 富士フイルム株式会社 放射線位相画像撮影装置
US9287017B2 (en) * 2011-02-07 2016-03-15 Koninklijke Philips N.V. Differential phase-contrast imaging with increased dynamic range
US9066704B2 (en) * 2011-03-14 2015-06-30 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
CN104039227B (zh) * 2012-01-12 2018-02-02 皇家飞利浦有限公司 在x射线系统中生成衰减图像数据和相位图像数据
JP6265914B2 (ja) * 2012-01-24 2018-01-24 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． 多方向位相コントラストｘ線撮像
BR112015003425A2 (pt) 2012-08-20 2017-07-04 Koninklijke Philips Nv sistema de formação de imagens de raio x para formação de imagens de contraste de fases diferencial, método de manuseio de desalinhamento em um sistema de formação de imagens de raio x para formação de imagens de contraste de fases diferencial, elemento de programa de computador para controlar um aparelho, e meio legível por computador
US10096098B2 (en) 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9364191B2 (en) * 2013-02-11 2016-06-14 University Of Rochester Method and apparatus of spectral differential phase-contrast cone-beam CT and hybrid cone-beam CT

Also Published As

Publication number Publication date
CN103168228A (zh) 2013-06-19
US9861330B2 (en) 2018-01-09
WO2012052900A1 (en) 2012-04-26
EP2630476B1 (en) 2017-12-13
EP2630476A1 (en) 2013-08-28
CN103168228B (zh) 2015-11-25
BR112013009253A2 (pt) 2019-09-24
JP6060082B2 (ja) 2017-01-11
JP2013540031A (ja) 2013-10-31
RU2572644C2 (ru) 2016-01-20
US20130202081A1 (en) 2013-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2013122847A (ru) Формирование дифференциальных фазово-контрастных изображений
RU2013122887A (ru) Формирование изображений методом дифференциального фазового контраста
Blake et al. The 2-degree Field Lensing Survey: design and clustering measurements
Sabbi et al. Hubble Tarantula Treasury Project. III. Photometric catalog and resulting constraints on the progression of star formation in the 30 Doradus region
RU2014134452A (ru) Мультинаправленная фазоконтрастная рентгеновская визуализация
EP2633813A4 (en) PHASE CONTRAST RADIATION IMAGE DEVICE
CN107850680B (zh) 用于相位对比和/或暗场成像的x射线探测器
Lites et al. The SP_PREP data preparation package for the Hinode spectro-polarimeter
Plewa et al. Pinpointing the near-infrared location of Sgr A* by correcting optical distortion in the NACO imager
JP2014121607A5 (ru)
US10729397B2 (en) X-ray phase contrast and dark-field information extraction with electric fringe scanning and/or active pixel processing
RU2014103625A (ru) Устройство формирования изображений методом фазового контраста
He et al. Mapping two-dimensional deformation field time-series of large slope by coupling DInSAR-SBAS with MAI-SBAS
RU2013141214A (ru) Формирование дифференциальных фазо-контрастных изображений с увеличенным динамическим диапазоном
RU2011151625A (ru) Дифракционная решетка для получения изображений методом фазового контраста
WO2016074864A1 (en) System for obtaining quantitative x-ray images using hilbert transform on imaged fringes
Neelmeijer et al. Estimating spatial and temporal variability in surface kinematics of the inylchek glacier, central Asia, using TerraSAR–X data
Shkvarko et al. Dynamic experiment design regularization approach to adaptive imaging with array radar/SAR sensor systems
Pesta et al. Radiometric non-uniformity characterization and correction of landsat 8 oli using earth imagery-based techniques
Vollrath et al. Decomposing DInSAR time-series into 3-D in combination with GPS in the case of low strain rates: An application to the Hyblean Plateau, Sicily, Italy
Elfadaly et al. Discovering potential settlement areas around archaeological tells using the integration between historic topographic maps, optical, and radar data in the northern Nile Delta, Egypt
Lazecký et al. Displacements monitoring over Czechia by IT4S1 System for Automatised Interferometric measurements using sentinel-1 data
Denker et al. Image quality in high-resolution and high-cadence solar imaging
Wang et al. Retrieving three-dimensional co-seismic deformation of the 2017 Mw7. 3 Iraq earthquake by multi-sensor SAR images
Kim et al. A high full well capacity CMOS image sensor for space applications

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20161018