RU2012101313A - Наклонные дифракционные решетки и способ изготовления наклонных дифракционных решеток - Google Patents

Наклонные дифракционные решетки и способ изготовления наклонных дифракционных решеток Download PDF

Info

Publication number
RU2012101313A
RU2012101313A RU2012101313/28A RU2012101313A RU2012101313A RU 2012101313 A RU2012101313 A RU 2012101313A RU 2012101313/28 A RU2012101313/28 A RU 2012101313/28A RU 2012101313 A RU2012101313 A RU 2012101313A RU 2012101313 A RU2012101313 A RU 2012101313A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diffraction grating
groove
geometric axis
phase
source
Prior art date
Application number
RU2012101313/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2544390C2 (ru
Inventor
Гереон ФОГТМАЙЕР
Клаус Й. ЭНГЕЛЬ
Томас КЕЛЕР
Эвальд РЕССЛЬ
Йенс-Петер ШЛОМКА
Original Assignee
Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Электроникс Н.В.
Publication of RU2012101313A publication Critical patent/RU2012101313A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2544390C2 publication Critical patent/RU2544390C2/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/18Diffraction gratings
    • G02B5/1847Manufacturing methods
    • G02B5/1857Manufacturing methods using exposure or etching means, e.g. holography, photolithography, exposure to electron or ion beams
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2201/00Arrangements for handling radiation or particles
    • G21K2201/06Arrangements for handling radiation or particles using diffractive, refractive or reflecting elements
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

1. Способ изготовления дифракционной решетки (100) для устройства формирования фазово-контрастного изображения, предназначенного для исследования представляющего интерес объекта, при этом дифракционная решетка (100) имеет геометрическую ось, которая расположена в направлении к источнику излучения, когда дифракционная решетка установлена в устройстве формирования изображения, при этом способ содержит этапы, на которых:пучком электромагнитного излучения формируют рисунок по меньшей мере первой канавки (101) в материале пластины;сглаживают поверхности сформированного рисунка первой канавки с помощью технологии травления;при этом первая канавка (101) имеет глубину в первом направлении;при этом первое направление отличается от геометрической оси, так что первая канавка (101) наклонена под первым углом относительно геометрической оси.2. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором:заполняют по меньшей мере первую канавку (101) поглощающим материалом.3. Дифракционная решетка для устройства формирования фазово-контрастного изображения, предназначенного для исследования представляющего интерес объекта, при этом дифракционная решетка (100) имеет геометрическую ось, которая расположена в направлении к источнику излучения, когда дифракционная решетка (100) установлена в устройстве формирования изображения, при этом дифракционная решетка (100) изготовлена способом по п.1 или 2 и содержит:материал (701) пластины;первую канавку (101) в материале (701) пластины и имеющую глубину в первом направлении, при этом первое направление отличается от геометрической оси, так что первая канавка (101) наклонена относительно геометричес�

Claims (13)

1. Способ изготовления дифракционной решетки (100) для устройства формирования фазово-контрастного изображения, предназначенного для исследования представляющего интерес объекта, при этом дифракционная решетка (100) имеет геометрическую ось, которая расположена в направлении к источнику излучения, когда дифракционная решетка установлена в устройстве формирования изображения, при этом способ содержит этапы, на которых:
пучком электромагнитного излучения формируют рисунок по меньшей мере первой канавки (101) в материале пластины;
сглаживают поверхности сформированного рисунка первой канавки с помощью технологии травления;
при этом первая канавка (101) имеет глубину в первом направлении;
при этом первое направление отличается от геометрической оси, так что первая канавка (101) наклонена под первым углом относительно геометрической оси.
2. Способ по п.1, дополнительно содержащий этап, на котором:
заполняют по меньшей мере первую канавку (101) поглощающим материалом.
3. Дифракционная решетка для устройства формирования фазово-контрастного изображения, предназначенного для исследования представляющего интерес объекта, при этом дифракционная решетка (100) имеет геометрическую ось, которая расположена в направлении к источнику излучения, когда дифракционная решетка (100) установлена в устройстве формирования изображения, при этом дифракционная решетка (100) изготовлена способом по п.1 или 2 и содержит:
материал (701) пластины;
первую канавку (101) в материале (701) пластины и имеющую глубину в первом направлении, при этом первое направление отличается от геометрической оси, так что первая канавка (101) наклонена относительно геометрической оси;
вторую канавку (102) в материале (701) пластины;
в которой первая канавка (101) наклонена под первым углом относительно геометрической оси;
в которой вторая канавка (102) наклонена под вторым углом относительно геометрической оси;
в которой первый угол меньше, чем второй угол.
4. Дифракционная решетка по п.3, дополнительно содержащая:
последовательность канавок (101-113),
в которой каждая канавка из последовательности канавок наклонена под соответствующим углом относительно геометрической оси, и
в которой соответствующий угол возрастает от канавки к канавке.
5. Дифракционная решетка по одному из пп.3 и 4, где дифракционная решетка (100) делает возможной работу устройства для формирования изображения с фокусированной геометрией.
6. Дифракционная решетка по одному из пп.3 и 4, в которой канавки представляют собой по меньшей мере канавки из числа линейных канавок, трапециевидных канавок и асимметричных канавок с фокусированной геометрией.
7. Дифракционная решетка по одному из пп.3 и 4, в которой геометрическая ось дифракционной решетки (100) перпендикулярна к поверхности дифракционной решетки (100).
8. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения, предназначенное для исследования представляющего интерес объекта, при этом устройство (400) содержит:
источник (401) для испускания пучка излучения;
детектор (402);
дифракционную решетку (100, 200), расположенную между источником (401) и детектором (402);
в котором детектор (402) выполнен с возможностью обнаружения излучения после того, как оно прошло через представляющий интерес объект (403) и дифракционную решетку (100, 200);
в котором дифракционная решетка (100, 200) имеет фокусированную геометрию;
в котором дифракционная решетка (100, 200) имеет геометрическую ось, которая расположена в направлении к источнику излучения, когда дифракционная решетка установлена в устройстве для формирования изображения, в котором дифракционная решетка изготовлена способом по п.1 или 2 и содержит:
материал (701) пластины;
первую канавку (101) в материале (701) пластины и имеющую глубину в первом направлении, при этом первое направление отличается от геометрической оси, так что первая канавка (101) наклонена относительно геометрической оси;
вторую канавку (102) в материале (701) пластины;
в котором первая канавка (101) наклонена под первым углом относительно геометрической оси;
в котором вторая канавка (102) наклонена под вторым углом относительно геометрической оси;
в котором первый угол меньше, чем второй угол.
9. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения по п.8, дополнительно содержащее:
последовательность канавок (101-113),
в котором каждая канавка из последовательности канавок наклонена под соответствующим углом относительно геометрической оси, и
в котором соответствующий угол возрастает от канавки к канавке.
10. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения по одному из пп.8 и 9, дополнительно содержащее:
вторую дифракционную решетку (200), которая представляет собой поглощающую дифракционную решетку (G2), расположенную перед детектором (402);
в котором вторая дифракционная решетка (200) также имеет фокусированную геометрию, адаптированную к положению дифракционной решетки.
11. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения по п.8 или 9, дополнительно содержащее:
третью дифракционную решетку (300), которая представляет собой поглощающую решетку (G0), имеющую трапециевидную геометрию и расположенную между источником (400) и фазовой дифракционной решеткой (100), и которая делает возможным, по меньшей мере, частично когерентное освещение фазовой дифракционной решетки (100).
12. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения по п.8 или 9, дополнительно содержащее:
по меньшей мере один привод или шаговый двигатель (408);
в котором пучок излучения, испускаемый источником, имеет оптическую ось (404);
в котором привод или шаговый двигатель выполнен с возможностью по меньшей мере одного из перемещения по меньшей мере одной из фазовой дифракционной решетки (100) и второй дифракционной решетки (200) перпендикулярно к оптической оси пучка излучения, испускаемого источником, и изменения эффективной глубины канавок для падающего пучка излучения путем наклонения дифракционной решетки на заданный угол.
13. Устройство для формирования фазово-контрастного изображения по п.8 или 9,
в котором источник (101) представляет собой источник рентгеновского излучения; и
где устройство выполнено с возможностью функционирования в качестве устройства формирования дифференциального фазово-контрастного изображения на основе рентгеновского излучения.
RU2012101313/28A 2009-06-16 2010-06-09 Наклонные дифракционные решетки и способ изготовления наклонных дифракционных решеток RU2544390C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP09162787 2009-06-16
EP09162787.7 2009-06-16
PCT/IB2010/052555 WO2010146498A1 (en) 2009-06-16 2010-06-09 Tilted gratings and method for production of tilted gratings

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2012101313A true RU2012101313A (ru) 2013-07-27
RU2544390C2 RU2544390C2 (ru) 2015-03-20

Family

ID=42697268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2012101313/28A RU2544390C2 (ru) 2009-06-16 2010-06-09 Наклонные дифракционные решетки и способ изготовления наклонных дифракционных решеток

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9348067B2 (ru)
EP (1) EP2443491B1 (ru)
JP (3) JP6281969B2 (ru)
CN (1) CN102460237B (ru)
RU (1) RU2544390C2 (ru)
WO (1) WO2010146498A1 (ru)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010017425A1 (de) * 2010-06-17 2011-12-22 Karlsruher Institut für Technologie Geneigte Phasengitterstrukturen
JP5697430B2 (ja) * 2010-12-17 2015-04-08 キヤノン株式会社 X線撮像装置
JP2013063099A (ja) * 2011-09-15 2013-04-11 Canon Inc X線撮像装置
US20130164457A1 (en) * 2011-12-27 2013-06-27 Rigaku Innovative Technologies, Inc. Method of manufacturing patterned x-ray optical elements
CN104540451B (zh) * 2012-03-05 2019-03-08 罗切斯特大学 用于微分相位衬度锥束ct和混合锥束ct的方法和装置
WO2014027289A1 (en) * 2012-08-17 2014-02-20 Koninklijke Philips N.V. Handling misalignment in differential phase contrast imaging
US8989347B2 (en) 2012-12-19 2015-03-24 General Electric Company Image reconstruction method for differential phase contrast X-ray imaging
US9907524B2 (en) 2012-12-21 2018-03-06 Carestream Health, Inc. Material decomposition technique using x-ray phase contrast imaging system
US9700267B2 (en) * 2012-12-21 2017-07-11 Carestream Health, Inc. Method and apparatus for fabrication and tuning of grating-based differential phase contrast imaging system
US9724063B2 (en) 2012-12-21 2017-08-08 Carestream Health, Inc. Surrogate phantom for differential phase contrast imaging
US10578563B2 (en) 2012-12-21 2020-03-03 Carestream Health, Inc. Phase contrast imaging computed tomography scanner
US9494534B2 (en) 2012-12-21 2016-11-15 Carestream Health, Inc. Material differentiation with phase contrast imaging
US10096098B2 (en) 2013-12-30 2018-10-09 Carestream Health, Inc. Phase retrieval from differential phase contrast imaging
US9357975B2 (en) 2013-12-30 2016-06-07 Carestream Health, Inc. Large FOV phase contrast imaging based on detuned configuration including acquisition and reconstruction techniques
AU2012268876A1 (en) * 2012-12-24 2014-07-10 Canon Kabushiki Kaisha Non-linear solution for 2D phase shifting
JP2014178130A (ja) * 2013-03-13 2014-09-25 Canon Inc X線撮像装置及びx線撮像システム
FR3015162B1 (fr) * 2013-12-13 2017-11-03 Commissariat Energie Atomique Mire de resolution pour systeme d'imagerie a rayons x et procede de fabrication
CN105142524A (zh) * 2014-02-10 2015-12-09 约翰斯·霍普金斯大学 处于高能量的x射线相衬成像和ct的大视场光栅干涉仪
DE102014205670A1 (de) * 2014-03-26 2015-10-01 Siemens Aktiengesellschaft Röntgenaufnahmesystem mit anpaßbarem Filter
JP6667215B2 (ja) * 2014-07-24 2020-03-18 キヤノン株式会社 X線遮蔽格子、構造体、トールボット干渉計、x線遮蔽格子の製造方法
CN106575533B (zh) * 2014-08-05 2018-11-27 皇家飞利浦有限公司 用于x射线成像设备的光栅设备
US10117629B2 (en) 2014-12-03 2018-11-06 Board Of Supervisors Of Louisiana State University And Agricultural And Mechanical College High energy grating techniques
US10506993B2 (en) 2015-08-26 2019-12-17 Koninklijke Philips N.V. Dual energy differential phase contrast imaging
WO2017055181A1 (en) * 2015-09-30 2017-04-06 Koninklijke Philips N.V. Focussing of gratings for differential phase contrast imaging by means of electro-mechanic transducer foils
JPWO2017061554A1 (ja) * 2015-10-09 2018-07-26 シャープ株式会社 採光部材、採光部材の製造方法、採光装置
CN109964118A (zh) * 2016-11-10 2019-07-02 皇家飞利浦有限公司 基于光栅的相位对比成像
CN106896435B (zh) * 2017-02-22 2019-10-18 诸暨市霞伟花木场 光栅膜制作方法、装置及系统
JP6753342B2 (ja) * 2017-03-15 2020-09-09 株式会社島津製作所 放射線格子検出器およびx線検査装置
EP3375375A1 (en) * 2017-03-16 2018-09-19 Koninklijke Philips N.V. X-ray device
TWI629475B (zh) 2017-04-18 2018-07-11 財團法人工業技術研究院 非接觸式雙平面定位方法與裝置
EP3453327A1 (en) 2017-09-08 2019-03-13 Koninklijke Philips N.V. Method for determining a spectral computed tomography scan protocol
CN109521631B (zh) * 2017-09-19 2021-04-30 奥比中光科技集团股份有限公司 投射不相关图案的深度相机
CN107797177B (zh) * 2017-11-17 2020-02-11 杭州光粒科技有限公司 一种周期渐变光栅显示波导及其制作方法与应用
KR101991813B1 (ko) * 2017-12-21 2019-06-21 연세대학교 원주산학협력단 단일 격자 기반 위상차 엑스선 영상화 시스템 및 장치
EP3534377B1 (de) * 2018-02-28 2021-11-17 Siemens Healthcare GmbH Verfahren zur herstellung eines mikrostrukturbauteils
CN109243661B (zh) * 2018-09-29 2020-07-28 同济大学 一种侧壁倾斜式x射线层状多层膜光栅结构
EP3654075A1 (en) * 2018-11-13 2020-05-20 Koninklijke Philips N.V. Structured grating component, imaging system and manufacturing method
KR20210094104A (ko) 2018-12-17 2021-07-28 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 경사 격자들의 롤링 k 벡터들의 조절
US11150394B2 (en) * 2019-01-31 2021-10-19 Facebook Technologies, Llc Duty cycle range increase for waveguide combiners
CN110854217A (zh) * 2019-11-28 2020-02-28 电子科技大学中山学院 一种增强入射光有效光程的太阳能电池
CN111600199B (zh) * 2020-06-02 2021-08-06 南京大学(苏州)高新技术研究院 一种有限长带宽的高功率半导体激光器
WO2022109995A1 (zh) * 2020-11-27 2022-06-02 深圳大学 大视场x射线吸收光栅及其制作方法
EP4020024A1 (en) 2020-12-22 2022-06-29 Paul Scherrer Institut Method for producing high aspect ratio fan-shaped optics
EP4092687A1 (en) 2021-05-17 2022-11-23 Koninklijke Philips N.V. Structured x-ray attenuators
US11813102B2 (en) * 2021-10-06 2023-11-14 Houxun Miao Interferometer for x-ray phase contrast imaging

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5009484A (en) * 1989-05-03 1991-04-23 Advanced Environmental Research Group Diffraction gratings having high efficiencies
US5116461A (en) * 1991-04-22 1992-05-26 Motorola, Inc. Method for fabricating an angled diffraction grating
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
JP4086543B2 (ja) * 2002-05-16 2008-05-14 日東電工株式会社 無機材料の選択的なエッチング処理方法および該方法により選択エッチング処理された無機材料並びに光学素子
DE10318594B4 (de) 2003-04-24 2008-01-03 Wilhelm Karmann Gmbh Überrollschutz-Vorrichtung für ein Kraftfahrzeug
JP2005004068A (ja) 2003-06-13 2005-01-06 Dainippon Printing Co Ltd スラント凹凸パターンの形成方法及びスラント凹凸パターンを有する基板
EP1731099A1 (en) * 2005-06-06 2006-12-13 Paul Scherrer Institut Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source
CN101313234B (zh) * 2005-11-18 2011-01-05 纳诺科普有限公司 制造衍射光栅元件的方法
DE102006037254B4 (de) * 2006-02-01 2017-08-03 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen mit röntgenoptischen Gittern, sowie Röntgen-System, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-Computer-Tomographie-System
DE102006037281A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-09 Siemens Ag Röntgenoptisches Durchstrahlungsgitter einer Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen von einem Untersuchungsobjekt
DE102006046034A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-16 Siemens Ag Röntgen-CT-System zur Erzeugung projektiver und tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
CN101011255B (zh) 2006-02-01 2010-10-27 西门子公司 带x射线光学光栅用于相位对比测量的焦点-检测器装置
US7935459B2 (en) * 2006-06-22 2011-05-03 Georgia Tech Research Corporation Photo-masks and methods of fabricating surface-relief grating diffractive devices
EP1879020A1 (en) 2006-07-12 2008-01-16 Paul Scherrer Institut X-ray interferometer for phase contrast imaging
GB2441578A (en) 2006-09-08 2008-03-12 Ucl Business Plc Phase Contrast X-Ray Imaging
DE102007024156B3 (de) * 2007-05-24 2008-12-11 Siemens Ag Röntgenabsorptionsgitter
JP4642818B2 (ja) * 2007-08-02 2011-03-02 株式会社ナノクリエート 回折格子の製造方法
JP5438022B2 (ja) 2007-11-26 2014-03-12 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ X線位相コントラストイメージングの検出セットアップ
DE102007058986B3 (de) * 2007-12-07 2009-07-30 Siemens Ag Streustrahlenraster und Verfahren zur Herstellung

Also Published As

Publication number Publication date
RU2544390C2 (ru) 2015-03-20
WO2010146498A1 (en) 2010-12-23
EP2443491B1 (en) 2020-03-04
JP6316889B2 (ja) 2018-04-25
CN102460237A (zh) 2012-05-16
JP2017012814A (ja) 2017-01-19
JP2012530270A (ja) 2012-11-29
JP2018033988A (ja) 2018-03-08
US20120057677A1 (en) 2012-03-08
EP2443491A1 (en) 2012-04-25
US9348067B2 (en) 2016-05-24
JP6281969B2 (ja) 2018-02-21
CN102460237B (zh) 2015-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2012101313A (ru) Наклонные дифракционные решетки и способ изготовления наклонных дифракционных решеток
JP5725870B2 (ja) X線撮像装置およびx線撮像方法
JP2016501630A5 (ru)
KR101925028B1 (ko) 깊이 영상 생성 장치 및 방법
TW200712435A (en) Pattern light irradiation device, three-dimensional shape measuring device, and method of pattern light irradiation
JP2014216570A5 (ja) 描画装置、描画方法、および物品の製造方法
JP2015072263A (ja) X線撮像システム
JP2009219708A5 (ru)
JP2013213720A (ja) X線トポグラフィ装置
US20160035450A1 (en) Talbot interferometer, talbot interference system, and fringe scanning method
RU2556712C2 (ru) Устройство рентгеновского формирования изобретений
WO2019220689A1 (ja) X線イメージング装置
JP5208224B2 (ja) 放射線撮影装置、及び放射線撮影システム
WO2019138705A1 (ja) X線位相撮像システム
US11000249B2 (en) X-ray detector for grating-based phase-contrast imaging
JP6424760B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP2012093117A (ja) 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム
KR20180121534A (ko) 방사선 화상 생성 장치
JP7131625B2 (ja) X線位相イメージング装置
US20180348148A1 (en) X-ray talbot capturing apparatus
JP5787597B2 (ja) 撮像装置
JPWO2020188856A1 (ja) X線イメージング装置
El-Ghazaly et al. X-ray phase contrast imaging at MAMI
JP2015025988A (ja) 光照射装置および描画装置
JP2006149493A (ja) X線の屈折効果を利用した高分解能画像診断装置