NO316642B1 - Belegningsblanding for glass og anvendelse derav - Google Patents
Belegningsblanding for glass og anvendelse derav Download PDFInfo
- Publication number
- NO316642B1 NO316642B1 NO19933030A NO933030A NO316642B1 NO 316642 B1 NO316642 B1 NO 316642B1 NO 19933030 A NO19933030 A NO 19933030A NO 933030 A NO933030 A NO 933030A NO 316642 B1 NO316642 B1 NO 316642B1
- Authority
- NO
- Norway
- Prior art keywords
- glass
- tin
- precursor
- mixture
- mixture according
- Prior art date
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 44
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims description 38
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title description 20
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title description 13
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 47
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 42
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 35
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 claims description 32
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 31
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims description 26
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 25
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 25
- YMLFYGFCXGNERH-UHFFFAOYSA-K butyltin trichloride Chemical compound CCCC[Sn](Cl)(Cl)Cl YMLFYGFCXGNERH-UHFFFAOYSA-K 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 15
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 10
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 10
- -1 alkyl tin halide Chemical class 0.000 claims description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000008246 gaseous mixture Substances 0.000 claims description 7
- AJSTXXYNEIHPMD-UHFFFAOYSA-N triethyl borate Chemical compound CCOB(OCC)OCC AJSTXXYNEIHPMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims description 6
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 claims description 6
- 150000001642 boronic acid derivatives Chemical class 0.000 claims description 5
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 claims description 5
- AQSJGOWTSHOLKH-UHFFFAOYSA-N phosphite(3-) Chemical class [O-]P([O-])[O-] AQSJGOWTSHOLKH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BDZBKCUKTQZUTL-UHFFFAOYSA-N triethyl phosphite Chemical group CCOP(OCC)OCC BDZBKCUKTQZUTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- WZJUBBHODHNQPW-UHFFFAOYSA-N 2,4,6,8-tetramethyl-1,3,5,7,2$l^{3},4$l^{3},6$l^{3},8$l^{3}-tetraoxatetrasilocane Chemical compound C[Si]1O[Si](C)O[Si](C)O[Si](C)O1 WZJUBBHODHNQPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical group CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-M Trifluoroacetate Chemical group [O-]C(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 2
- OIDLZWQUPGLUTN-UHFFFAOYSA-N [acetyloxy-[(2-methylpropan-2-yl)oxy]silyl] acetate Chemical compound CC(=O)O[SiH](OC(C)=O)OC(C)(C)C OIDLZWQUPGLUTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- KXJLGCBCRCSXQF-UHFFFAOYSA-N [diacetyloxy(ethyl)silyl] acetate Chemical compound CC(=O)O[Si](CC)(OC(C)=O)OC(C)=O KXJLGCBCRCSXQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- TVJPBVNWVPUZBM-UHFFFAOYSA-N [diacetyloxy(methyl)silyl] acetate Chemical compound CC(=O)O[Si](C)(OC(C)=O)OC(C)=O TVJPBVNWVPUZBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 125000002252 acyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- AONDIGWFVXEZGD-UHFFFAOYSA-N diacetyloxy(methyl)silicon Chemical compound CC(=O)O[Si](C)OC(C)=O AONDIGWFVXEZGD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 2
- 125000000547 substituted alkyl group Chemical group 0.000 claims description 2
- DVYWNXMKZUKBRA-UHFFFAOYSA-N tetrakis(1-methoxypropan-2-yl) silicate Chemical compound COCC(C)O[Si](OC(C)COC)(OC(C)COC)OC(C)COC DVYWNXMKZUKBRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- UHUUYVZLXJHWDV-UHFFFAOYSA-N trimethyl(methylsilyloxy)silane Chemical compound C[SiH2]O[Si](C)(C)C UHUUYVZLXJHWDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910021627 Tin(IV) chloride Inorganic materials 0.000 claims 1
- GCTFWCDSFPMHHS-UHFFFAOYSA-M Tributyltin chloride Chemical compound CCCC[Sn](Cl)(CCCC)CCCC GCTFWCDSFPMHHS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims 1
- TUCNEACPLKLKNU-UHFFFAOYSA-N acetyl Chemical compound C[C]=O TUCNEACPLKLKNU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- RJGHQTVXGKYATR-UHFFFAOYSA-L dibutyl(dichloro)stannane Chemical compound CCCC[Sn](Cl)(Cl)CCCC RJGHQTVXGKYATR-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims 1
- 125000000816 ethylene group Chemical group [H]C([H])([*:1])C([H])([H])[*:2] 0.000 claims 1
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims 1
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 claims 1
- QQQSFSZALRVCSZ-UHFFFAOYSA-N triethoxysilane Chemical compound CCO[SiH](OCC)OCC QQQSFSZALRVCSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 17
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 15
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 11
- 239000011135 tin Substances 0.000 description 11
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 10
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 9
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 9
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 8
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 7
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 7
- 238000004833 X-ray photoelectron spectroscopy Methods 0.000 description 6
- 229910003455 mixed metal oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 4
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 3
- 238000001505 atmospheric-pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010923 batch production Methods 0.000 description 3
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 3
- 239000002841 Lewis acid Substances 0.000 description 2
- 229910008045 Si-Si Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910006411 Si—Si Inorganic materials 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N Trifluoroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(F)(F)F DTQVDTLACAAQTR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 2
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 2
- 150000007517 lewis acids Chemical class 0.000 description 2
- 239000012702 metal oxide precursor Substances 0.000 description 2
- OJMIONKXNSYLSR-UHFFFAOYSA-N phosphorous acid Chemical compound OP(O)O OJMIONKXNSYLSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 2
- 235000014214 soft drink Nutrition 0.000 description 2
- QAEDZJGFFMLHHQ-UHFFFAOYSA-N trifluoroacetic anhydride Chemical compound FC(F)(F)C(=O)OC(=O)C(F)(F)F QAEDZJGFFMLHHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CYTQBVOFDCPGCX-UHFFFAOYSA-N trimethyl phosphite Chemical compound COP(OC)OC CYTQBVOFDCPGCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CWUHERHJSPPFHQ-UHFFFAOYSA-N 2,2-dimethyloxasilinane Chemical compound C[Si]1(C)CCCCO1 CWUHERHJSPPFHQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SGNZYJXNUURYCH-UHFFFAOYSA-N 5,6-dihydroxyindole Chemical compound C1=C(O)C(O)=CC2=C1NC=C2 SGNZYJXNUURYCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BTBUEUYNUDRHOZ-UHFFFAOYSA-N Borate Chemical compound [O-]B([O-])[O-] BTBUEUYNUDRHOZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 102000014961 Protein Precursors Human genes 0.000 description 1
- 108010078762 Protein Precursors Proteins 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006702 SnO2-x Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229940058905 antimony compound for treatment of leishmaniasis and trypanosomiasis Drugs 0.000 description 1
- 150000001463 antimony compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 1
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052810 boron oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005380 borophosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001845 chromium compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N copper;5,10,15,20-tetraphenylporphyrin-22,24-diide Chemical group [Cu+2].C1=CC(C(=C2C=CC([N-]2)=C(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(N=2)=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=C3[N-]2)C=2C=CC=CC=2)=NC1=C3C1=CC=CC=C1 RKTYLMNFRDHKIL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- UCXUKTLCVSGCNR-UHFFFAOYSA-N diethylsilane Chemical compound CC[SiH2]CC UCXUKTLCVSGCNR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQLQQEHXQQLKEV-UHFFFAOYSA-N dimethoxy-methyl-trimethylsilylsilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)[Si](C)(C)C BQLQQEHXQQLKEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JDTCYQUMKGXSMX-UHFFFAOYSA-N dimethyl(methylsilyl)silane Chemical compound C[SiH2][SiH](C)C JDTCYQUMKGXSMX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UBHZUDXTHNMNLD-UHFFFAOYSA-N dimethylsilane Chemical compound C[SiH2]C UBHZUDXTHNMNLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UTUAUBOPWUPBCH-UHFFFAOYSA-N dimethylsilylidene(dimethyl)silane Chemical compound C[Si](C)=[Si](C)C UTUAUBOPWUPBCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 1
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000005329 float glass Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical group 0.000 description 1
- 229910000040 hydrogen fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- DWZFNULJNZJRLM-UHFFFAOYSA-N methoxy-dimethyl-trimethylsilylsilane Chemical compound CO[Si](C)(C)[Si](C)(C)C DWZFNULJNZJRLM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UPARUZSLIVQDTG-UHFFFAOYSA-N methyl(methylsilyl)silane Chemical compound C[SiH2][SiH2]C UPARUZSLIVQDTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000004674 methylcarbonyl group Chemical group CC(=O)* 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- MOWNZPNSYMGTMD-UHFFFAOYSA-N oxidoboron Chemical class O=[B] MOWNZPNSYMGTMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003017 phosphorus Chemical class 0.000 description 1
- 229910001392 phosphorus oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005360 phosphosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 229920000548 poly(silane) polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 229910000077 silane Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 1
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 1
- FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N silicon tetrachloride Chemical class Cl[Si](Cl)(Cl)Cl FDNAPBUWERUEDA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 229940071182 stannate Drugs 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 1
- CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N tetramethylsilane Chemical compound C[Si](C)(C)C CZDYPVPMEAXLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
- RXJKFRMDXUJTEX-UHFFFAOYSA-N triethylphosphine Chemical compound CCP(CC)CC RXJKFRMDXUJTEX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PORFVJURJXKREL-UHFFFAOYSA-N trimethylstibine Chemical compound C[Sb](C)C PORFVJURJXKREL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/23—Oxides
- C03C17/245—Oxides by deposition from the vapour phase
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/22—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with other inorganic material
- C03C17/23—Oxides
- C03C17/245—Oxides by deposition from the vapour phase
- C03C17/2453—Coating containing SnO2
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C17/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
- C03C17/34—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions
- C03C17/3411—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials
- C03C17/3417—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with at least two coatings having different compositions with at least two coatings of inorganic materials all coatings being oxide coatings
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/20—Materials for coating a single layer on glass
- C03C2217/21—Oxides
- C03C2217/23—Mixtures
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2217/00—Coatings on glass
- C03C2217/90—Other aspects of coatings
- C03C2217/91—Coatings containing at least one layer having a composition gradient through its thickness
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C2218/00—Methods for coating glass
- C03C2218/10—Deposition methods
- C03C2218/15—Deposition methods from the vapour phase
- C03C2218/152—Deposition methods from the vapour phase by cvd
- C03C2218/1525—Deposition methods from the vapour phase by cvd by atmospheric CVD
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Glass Compositions (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
Description
Oppfinnelsens område
Oppfinnelsen vedrører, som angitt i krav l's ingress, en gassformig blanding som ved en temperatur under 200 °C ved atmosfæretrykk, er egnet for avsetning av minst et første lag av tinnoksid og silisiumoksid på glass med en avsetningshastighet større enn 350 Å/s, hvor blandingen omfatter en forløper for tinnoksid, en forløper for silisiumoksid og oksygen.
Oppfinnelsen vedrører også, som angitt i krav 9, anvendelse av den gassformige blanding for avsetning av minst ett før-ste lag av tinnoksid og silisiumoksid på glass.
Beskrivelse av teknikkens stand
Transparente halvlederfilmer, så som indiumoksid, kadmium-stannat eller dopet tinnoksid, kan påføres på forskjellige transparente substrater, så som natriumkalkglass for å re-flektere infrarød stråling med lang bølgelengde. Transparente dielektriske filmer, så som titandioksid eller ikke-dopet tinnoksid, kan påføres transparente artikler, så som glassflasker, for dannelse av et basisbelegg for et andre belegg med en spesifikk funksjon. Avhengig av tykkelsen av halvlederen eller den dielektriske film kan forskjellige reflekterte fargespillfarger observeres. Denne fargespillet f ekt er betraktet som å være ødeleggende for utseende av glass anvendt eksempelvis i vinduer med lav emisivitet, eller i flasker for mat og leskedrikker.
Metoder og apparater for belegning av glass, og spesielt kontinuerlig belegning av bevegelig glass, er kjent innen teknikkens stand. En beskrivelse av et apparat som er nyt-tig ved fremstilling av en belagt glassartikkel, kan finnes i US patent 4 928 627.
Forskjellige fremgangsmåter er foreslått for å nedsette eller eliminere fargespill. For lav emisjonsanvendelse, beskrevet i US patent 3 378 396, er en artikkel omfattende et transparent glassubstrat belagt med tinn og silisiumok-sider, hvor belegget varierer gradvis i sammensetning fra et høyt forhold mellom silisiumoksid til tinnoksid, og at substratoverflaten gradvis endres fra nesten rent tinnoksid til et forhold som ikke er mer enn 60 % silisiumoksid og ikke mindre enn 40 % tinnoksid ved grenseflaten mellom dette belegg og atmosfæren. Brytningsindeksen for belegget nærmest substratet er ca. 1,5, i det vesentlige tilsvarende brytningsindeksen for silikatglass, og endres til ca. 2,0, som er brytningsindeksen for tinnoksid ved luftgfenseflaten og tilveiebringer et mellomliggende belegg uten noen optisk grenseflate. Den således belagte artikkel utviser lite fargespill i reflektert lys. I US patent 3 378 396 er det angitt at vandige oppløsninger av tinn- og silisiumklorider kan sprøytepåføres for å oppnå disse belegg. Sprøytepåfør-ing er vanligvis satsoperasjoner som ikke gir jevne filmer med høy kvalitet. Det er ikke nevnt andre påføringsmåter, så som kjemikaliedampavsetning (CVD). Det er heller ikke gitt noen indikasjon på avsetningshastigheten som er nøk-kelparameter for industriell anvendelse.
En annen tildeling er beskrevet i US patent 4 187 336. Ett eller flere lag av transparent materiale med brytningsindeks som ligger mellom den for glassubstratet og en ledende tinnoksidfilm, avsettes ved atmosfæretrykk CVD mellom glasset og tinnoksidfilmen. Det er nødvendig at de mellomliggende lag har spesifikke brytningsindekser og tykkelse for å være effektive. Det er bemerket at når de mellomliggende filmer inneholder silisiumdioksid, er egnede flyktige forbindelser funnet å være silan, dimetylsilan, dietylsilan, tetrametylsilan og silisiumhalogenider. Ingen andre forlø-pere er nevnt. De erholdte avsetningshastigheter er beskrevet å være av størrelsesorden 10-20 Ångstrom pr sek (Å/sek). Slike hastigheter er av en størrelsesorden under de som er nødvendige for en kommersiell industriell prosess .
I US patent 4 206 252 er det beskrevet en fremgangsmåte for avsetning av blandede oksider og nitrid belegningslag med kontinuerlig, varierende brytningsindeks mellom den for et glassubstrat og et infrarødt, reflekterende belegg, hvorved filmens fargespill elimineres. Når silisiumdioksid er en del av den blandede oksidfilm, er det i patentet angitt at flyktige silisiumforbindelser med Si-Si og Si-H-bindinger er egnede forløpere. Forbindelser så som l,1,2,2-tetrame-tyldisilan, l,l,2-trimetyldisilan og 1,2-dimetyldisilan er vist. Alle forbindelsene som inneholder Si-Si og Si-H-bindinger som det henvises til er kostbare, og ingen er kommersielt tilgjengelige.
I US 4 386 117 beskrives en fremgangsmåte ved fremstilling av blandede silisiumoksid/tinnoksidbelegg med spesifikke brytningsindekser eller med en kontinuerlig gradient, som vist i US patent nr 3 378 396 ved optimale avsetningshastigheter på 80-125 Å/sek under anvendelse av alkoksyperal-kylpolysilaner forløper, så som metoksypentametyldisilan eller dimetoksytetrametyldisilan. Igjen må det forstås at de nevnte forløpere er upraktiske for industriell anvendelse, fordi ingen av de er kommersielt tilgjengelige i stor skala.
I US patent nr. 5 028 566 er det bemerket i kolonne 4 at tetraetylortosilikat (TEOS) er belemret med en rekke ulemper ved dens påføring på et substrat ved lavtrykks CVD, dvs. ved trykk på ca 500 milliTorr. Disse ulemper innbefatter vanskelighet med hensyn til å dope den resulterende film med fosfor, og vanskelighet med kontrollert kildeavgi-velse som følge av TEOS lave damptrykk. I patentet er det også understreket at forsøk på en helvæskeprosess for fremstilling av borfosforsilikatglass er møtt med liten suksess.Ytterligere likestilles dopeffekten for et bredt område av fosfor-, bor-, antimon-, arsen- og kromforbindel-ser, men kun når de anvendes med silisiumforbindelser som ikke inneholder karbonoksygensilisiumbindinger og to eller flere silisiumatomer.
For flaskeanvendelser blir beleggene påført i en så liten tykkelse, dvs. ca. 100 Å, at intet fargespill er mulig. Imidlertid er filmene ikke kontinuerlige og denne diskontinuitet gjør dem uegnet for andre anvendelser. En løsning med hensyn til diskontinuitet er å avsette tykkere filmer av et materiale med den brytningsindeks nær den for artikkelen. Et blandet metalloksid/silisiumoksidmateriale, avsatt ved den vesentlige høyere hastighet enn den som til nå er oppnådd, vil være ønskelig, som diskutert ytterligere i det etterfølgende.
Alle silaner som er vist i den kjente teknikk for fremstilling av blandede metalloksid/silisiumdioksidbelegg, har visse trekk som gjør dem utilfredsstillende for kommersiell utvikling. De er meget korrosive, brennbare eller oksygen-følsomme og krever spesialbehandling. Andre er ikke lett tilgjengelige eller er for kostbare for kommersiell anvendelse. Av de materialene som kan anvendes, er det største problem som begrenser deres kommersielle utvikling i blandede metalloksid/silisiumoksid og/eller oksynitrid mellomliggende lag, er de utilstrekkelige avsetningshastigheter. Når substratet er flatt glass og avsetningsprosessen er CVD ved omgivelsestrykket, så må avsetningshastigheten for de mellomliggende lag være tilstrekkelig høy til å belegge en produksjonslinje av en glassbane som beveger seg med hastigheter så høye som 15 m/min. Avsetningshastigheter for ønskede lag på ca. 350 Å er ønskelige og hastigheter av størrelsesorden 400-600 Å/sek er foretrukne. Slike hastigheter har til nå ikke blitt oppnådd under betingelser som tillater kontinuerlig masseproduksjon av glass med egenskaper.
For å overkomme problemer som er diskutert ovenfor, er det nødvendig med silisiumoksidforløpere som er billige, lett tilgjengelige og lett å håndtere, og som har egnede avsetningshastigheter når de fordampes med metalloksidforløpere. Alkoksysilaner så som TEOS, et kommersielt tilgjengelig kjemikalium, ville være ønskelig. Imidlertid før foreliggende oppfinnelse var det ikke mulig å avsette silisiumoksidfilmer fra TEOS ved atmosfæretrykk CVD ved kommersielt akseptable avsetningshastigheter, bortsett fra ved temperatur over 700 °C. En viss suksess oppnådd ved temperaturer i området 450 til 680 °C, men kun ved modifisering av atmosfæretrykk CVD-prosessen ved plasmaforsterkning eller ned-satt trykk, ingen av hvilke er generelt akseptable for kommersiell anvendelse på en glassbane. Additiver så som oksygen, ozon eller trimetylfosfitt har også vært anvendt i disse modifiserte prosesser, men de oppnådde hastigheter er fremdeles lavere enn de som er nødvendig i et effektivt, kommersielt system. D. S. Williams og E. A. Dein har i J. Electrochem. Soc. 134 (3) 657-64(1987) vist at fosfosilikat og borfosfosilikat glassfilmer med kontrollerbar brytningsindeks kan avsettes ved hastigheter på ca. 200 Å/sek ved 515-680 °C ved lav-trykk CVD av TEOS med fosfor- eller boroksider i konsentra-sjoner som varierer som en funksjon av det anvendte additiv. Den der beskrevne lavtrykksprosess kan ikke endres til en kontinuerlig on-line påføring av oksider.
I Proceedings, 2nd International ULSI Science and Technical Symposium, ECS Proceedings Vol. 98(9), 571-78 (1989) har D. A. Webb et al. rapportert at silisiumoksidfilmer kunne avsettes fra TEOS ved hastigheter på ca. 125 Å/sek i en plas-maforsterker CVD-prosess under anvendelse av oksygen. Imidlertid er ikke plasmaforsterket CVD en velegnet variant for kontinuerlig, kommersiell påføring av oksidfilmer på glass, fordi den er en satsprosess som krever komplekst og kost-bart lavtrykksapparat.
A. K. Hochberg og D. L. 0'Meara i J. Electrochem. Soc. 136 (6) 1843 (1989) rapportert forsterket avsetning av silisiumoksid filmer ved 570 °C ved CVD ved lavt trykk når trime-tylfosf itt ble tilsatt et TEOS. På samme måte som plasma- forsterker CVD, er imidlertid lavtrykks-CVD ikke lett ut-nyttbart for kontinuerlig kommersiell påføring av silisiumoksidfilmer på et bevegelig glassark for å gi en belagt glassartikkel, delvis på grunn av omkostninger og kompleks-itet av anordninger som anvendes for lavtrykksavsetning. På basis av den kjente teknikk kan det ikke bestemmes hvilken forløperkombinasjon, om noen, som kan anvendes for kontinuerlig avsetning under betingelser og ved hastigheter egnet for masseproduksjon av blandede metalloksid/silisiumoksidfilmer med tilstrekkelig hastigheter, fra lett tilgjengelige og relativt billige reaktanter.
Primære eller sekundære belegg på glassubstrater er ytterligere nyttige for å forsterke eller komplementere egenska-pene for enten substratet eller for en eller flere av be-legningene derpå, forbedring i fargespillet er kun en anvendelse. Andre anvendelser av belegg innbefatter eksempelvis beskyttelse av substratoverflaten mot abrasjon, tilfø-ring av farget til klart glass og filtrering av spesielle bølgelengder av påfallende stråling.
Diskusjon av oppfinnelsen
Foreliggende oppfinnelse vedrører en gassformig blanding som er særpreget med det som er angitt i krav l's karakte-riserende del, ytterligere trekk fremgår av kravene 2-8. Det belagte glass utviser spesifikke egenskaper, så som eksempelvis kontrollert brytningsindeks, abrasjonsresistens, fargeforsterkning, lav emisjon, selektiv lysfiltrering og anti-fargespill på flatglassubstrater. Oppfinnelsen kan ut-føres ved hjelp av CVD ved hastigheter større enn ca. 350 Å/sek ved atmosfæretrykk og temperaturer lavere enn 700 °C, ved å anvende en blanding som i det minste innbefatter en forløper for et tinnoksid, valgt fra gruppen bestående av flyktige forbindelser av tinn. Den gassformige blanding innbefatter også en forløper for silisiumdioksid og minst to akseleratorer hvor av den ene er valgt fra vann og den andre fra gruppen bestående av organiske fosfitter og/eller organiske borater.
Fagmannen vil forstå at forløperne og materialene som omta-les i foreliggende beskrivelse må være tilstrekkelig flyktige, alene eller med de andre materialer, samt tilstrekkelig stabile under avsetningsbetingelsene og være en del av blandingen fra hvilken de ønskede filmer avsettes.
Tinnforløperne innbefatter de som kan beskrives med den generelle formel RnSnX4-n, hvor R uavhengig velges fra rette, cykliske eller forgrenede alkyler eller alkenyler med 1-6 karbonatomer, fenyl, substituert fenyl eller R'CH2CH2- hvor R' er Me02C-, Et02C-, CH3CO-, eller H02C-, X er valgt fra gruppen bestående av halogen, acetat, perfluoracetat og blandinger derav og hvor n er 0, 1, eller 2. Foretrukne forløpere for tinnoksid på artikkelen ifølge oppfinnelsen er organotinnhalogenider.
Forløpere for silisiumoksid innbefatter de beskrevet med den generelle formel RraOnSip hvor m er 3-8, n er 1-4, p er1-4 og R er uavhengig valgt fra hydrogen og acyl, rett, cyklisk eller forgrenet alkyl og substituert alkyl eller alkenyl med 1-6 karbonatomer og fenyl eller substituert fenyl. Foretrukne forløpere for silisiumoksid innbefatter tetraetylortosilikat, diacetoksidi-t-butoksysilan, etyltriacetoksysilan, metyltriacetoksysilan, metyldiacetoksylsilan, tetra-metyldisiloksan, tetrametylcyklotetrasiloksan, dipinacoloksysilan, l,l-dimetylsila-2-oksacykloheksan, tetrakis (l-metoksy-2-propoksy) silan og triet-oksysilan.
Egnede akselerator innbefatter fosfitt- og boratderivater ved den generelle formel (R"0)3P og (R<n>0)3B, hvor R" er uavhengig valgt fra rett, cyklisk eller forgrenet alkyl eller alkenyl med 1-6 karbonatomer, fenyl, substituert fenyl eller R'"CH2CH2- hvor R'" er Me02C-, Et02C-, CH3C0- eller H02C-, R" er fortrinnsvis alkyl eller alkenyl med 1-4 karbonatomer. Spesielt foretrukne akseleratorer er de som er valgt fra gruppen bestående av bor- og fosforestere, mest foretrukket er TEB og TEP.
Forløpere for det overbelagte lag omfatter MBTC eller hvilke som helst av de organotinnforbindelser som beskrives med den generelle formel RnSnX4-n ovenfor og et materiale som er valgt for å gi halvlederegenskaper til tinnoksidet, slike materialer innbefatter eksempelvis antimonforbindel-ser, så som trimetylantimon, fosforforbindelse så som trie-tylfosfin og fluorinneholdende forbindelser, så som trifluoreddiksyre, trifluoreddiksyre anhydrid, etyl trifluor-acetat 2,2,2-tri-fluoretanol, etyl 4,4,4-trifluoracetoace-ton, heptafluorbutyrylklorid og hydrogenfluorid. Tinnoksid-laget kan også gjøres ledende ved å avsette understøkiome-triske filmer med sammensetningen Sn02-x' hvor x er et ikke-helt tall med verdier i området 0-1, og hvor verdien for x kan variere innen en gitt film. Materialene for å tilveie-bringe halvlederegenskaper til tinnoksidet kan også tilset-tes forløperne for det første lag, for å fremme emisjonen av hele belegningssystemet, dvs. emisjonen for det kombi-nerte første og andre lag.
Beskrivelse av foretrukne utførelsesformer
Foreliggende oppfinnelse angår en gassformig blanding som ved temperatur under 200 °C ved atmosfæretrykk er tilpasset for avsetning av en film av tinnoksid og silisiumoksid med en hastighet større enn ca. 350 Å./sek ved hjelp av en for-løper for tinnoksid, en forløper for silisiumoksid, oksygen og minst to akseleratorer hvorav den ene er valgt fra vann og den andre fra gruppen bestående av organiske fosfitter og/eller organiske borater.
Ifølge oppfinnelsen vil blandingen resultere i en film avsatt ved atmosfæretrykk, hvor filmen omfatter ett eller flere blandede metalloksid/silisiumdioksidfilmer på et glassubstrat, idet avsetningen utføres ved hjelp av en blanding omfattende en metalloksidforløper, en silisiumdi- oksidforløper og minst et additiv som fremmer eller akselererer avsetningshastigheten vesentlig, sammenlignet med en avsetning uten additivet. De avsatte filmer kan inneholde ytterligere oksider relatert til de anvendte additiver. Ytterligere kan de avsatte, blandede oksidfilmer ha spesifikke egenskaper i seg selv, eksempelvis konstruert brytningsindeks eller kan være kombinert med andre filmer, under- eller overbelagte, eller begge deler, til å ha en kombinert egenskap, så som fargenøytralitet eller smørende evne.
I en mer foretrukket utførelsesform tilveiebringer blandingen en blandet metalloksid/silisiumdioksidfilm omfattende multiple tinnoksid/silisiumdioksidlag med eksempelvis tiltagende brytningsindeks. Ytterligere kan en valgt egenskap for et gitt lag, så som eksempelvis brytningsindeks varierer kontinuerlig slik at et overliggende lag av tinnoksid vil ha minimal reflektert farge. Et gitt lag kan ha en konsentrasjon av silisiumoksid og tinnoksid som atskil-ler seg fra konsentrasjonen av silisiumoksid og tinnoksid i et tilstøtende lag. Filmene kan også inneholde oksider av akseleratorene, spesielt når additivene inneholder fosfor eller bor.
I den mest foretrukne utførelsesform av blandingen ifølge oppfinnelsen, så omfatter forløperne for det blandede ok-sidlag organotinn-halogenider, og mer spesielt monobutyltinntriklorid (MBTC), TEOS og akseleratoren trietylfosfitt
(TEP).
Sammensetningen av filmene fremstilt ifølge oppfinnelsen ble bestemt ved røntgenstrålediffraksjon (XRD) og røntgen-strålefotoelektronspektroskopi (XPS). Artikkelen ifølge oppfinnelsen fremstilles ved en prosess under anvendelse av akseleratorer, hvorved fremgangsmåten gis en kommersielt akseptabel, kontinuerlig CVD-avsetning av oksider på bevegelig glass, spesielt en moderne flyteglasslinje hvor de tidligere kjente satsprosesser er helt uanvendbare. Effektene av tilsatt vann og tilsatt fosfitter og borater på brytningsindeksen og avsetningshastigheten for TEOS-ba-serte blandede oksidfilmer er vist i de etterfølgende tabeller. Disse resultater er sammenlignet med de i tabellen IV og V, som viser effekten av additivenes oksygen og en Lewis-syre.
Tabell I viser effekten av tilsatt vann. Når vannkonsentra-sjonen øker, uavhengig av tinn/silisiumforholdet og gass-hastigheten vil avsetningshastigheten øke til kommersielt betydningsfulle nivåer. Hastighetsforøkelsen er også med-fulgt av en forøkning av brytningsindeksen. I tabellene er de rapporterte avsetningshastigheter tilnærmet innen et område på 7 %, hvis hastigheten ikke er etterfulgt av utryk-ket + usikkerhet.
Selv når 160 °C er foretrukket kan systemtemperaturen ligge i området 125-200 °C.
Tabell II viser effekten av tilsatt TEP og av blandinger av TEP og lavere alkylboratestere, så som trietylborat (TEB). Resultatene viser at TEP meget effektivt akselererer avset-ningshastighetene for de blandede oksidfilmer, til en høy hastighet ved spesifikke og kontrollerte brytningsindeks-verdier. Tilsetning av TEB ved lavere nivåer til TEP resul-terer i en ytterligere liten hastighetsforøkning. Anvendt i foreliggende beskrivelse er betegnelsen "høy hastighet" anvendt i forbindelse med filmavsetning som beskrevet heri, større enn ca 350 Å/sek, og fortrinnsvis400 Å/sek eller høyere. Alle filmene produsert under betingelsene i tabell II var klare.
Glasstemperaturen var 665 °C, dets hastighet 0,56 m/sek, systemtemperaturen var 160 °C, luft, MBTC, TEOS og TEP eller blandinger av TEP og TEB ble injisert separat i for-dampningsseksjonen av belegningsanordningen. Hvert data-punkt er gjennomsnittet av tre prøver. Duggpunktet var fra
-74 °C til -78 °C.
Tabell III viser effekten av tilsatt oksygen. Forøkning av oksygenkonsentrasjonen øker avsetningshastigheten vesentlig, men ikke til nivåene som er nødvendig for kommersiell anvendelse.
665 °C glasstemperatur, 160 °C systemtemperatur, 50 l/min gasstrøm.
Tabell IV viser effekten av tilsatt Lewis-syre, som i foreliggende tilfelle var overskudd av MBTC. Når konsentrasjonen øker, så øker også hastigheten, men dog ikke til nivåer som er nødvendige for kommersiell anvendelse.
TABELL IV
Effekt av MBTC konsentrasjon på brytningsindeks og avsetningshastighet for blandet oksid
665 °C glasstemperatur, 160 °C systemtemperatur, 50 l/min gasstrøm.
De data som er vist i tabellene, viser at effektiv CVD av blandede oksidfilmer kan oppnås ved kommersielle hastigheter, ved hjelp av foreliggende oppfinnelse med den samti-dige kontroll av brytningsindeksen. De følgende eksempler viser filmavsetning på substrater av glass.
EKSEMPLER
Eksempel 1
En kvadratisk plate av sodakalksilikaglass, med 9 cm sider ble oppvarmet på en varm blokk til 665 °C. Gass bestående
av ca 0,16 mol% MBTC, 0,80 mol% TEOS, 0,75 mol% TEP og resten varm luft ved 160 °C ble rettet over platen med en hastighet på 12,5 l/min i ca. 10 sek. Sentrum av glassoverflaten var jevnt belagt med den film som hadde en lysegrønn
farge i reflektert lys. Under anvendelse av "Prisme Coupler"-teknikk ble brytningsindeksen funnet å være 1,6 og tykkelsen var ca, 4 260 Å, tilsvarende en avsetningshastighet på ca. 426 Å/sek. Tilsvarende avsatte filmer er vist å være amorfe ved hjelp av XRD, og består av oksider av tinn/ silisium og fosfor ved hjelp av XPS.
Eksempel 2
En gassblanding av ca 1,84 mol% MBTC, 0,78 mol% TEOS, 0,75 mol% TEP og resten varmluft ble rettet over glassoverflaten på samme måte som beskrevet i eksempel 1. Den resulterende film hadde en blek magentafarge i reflektert lys. Bryt ningsindeksen ble funnet å være 1,68 og tykkelsen var ca. 4 930 Å, tilsvarende en avsetningshastighet på ca 493 Å/sek. Tilsvarende avsatte filmer er vist å være amorfe ved hjelp av XRD og være forbindelser av oksider av tinn, silisium og fosfor ved hjelp av XPS.
Eksempel 3
En gassblanding av ca. 1,22 mol% MBTC, 0,58 mol% TEOS, 1,09 mol% H20 og resten varmluft ble rettet over glassplaten som beskrevet i eksempel l, men i 8 sek. Den resulterende film hadde en grønn farge i reflektert lys. Brytningsindeksen ble funnet å være 1,78 og filmtykkelsen var ca. 4 650 Å, tilsvarende en avsetningshastighet på ca. 580 Å/sek. Fra XRD analyser ble tilsvarende avsatte filmer funnet å bestå av sammenfallede tetragonale enhetsceller av tinnoksid som indikerte en viss faststoffoppløsningsdannelse med silisiumdioksid. XPS-analyse viste at filmene omfattet oksider av tinn og silisium.
Eksempel 4
Hver av filmene beskrevet i eksempel 1-3 ble i rekkefølge avsatt i ett sekund i stigende indeksrekkefølge. Flerlags-filmen ble deretter overbelagt med ca. 3 200 Å av fluordopet tinnoksid. Denne filmkonstruksjonen ga en transparent artikkel med i det vesentlige ingen reflektert farge under dagslysbelysningsbetingelser.
Eksempel 5
En 9 cm kvadratisk sodakalksilikaglassplate ble oppvarmet på en varm blokk til 665 °C. En gassblanding av ca. 1,04 mol% MBTC i luft ved 160 °C og en gassblanding av 1,04 mol% TEOS og 0,20 mol% TEP i luft ved 160 °C ble rettet gjennom to mikroprosessorkontrollerte kuleventiler over glasset med den totale strømningshastighet på 12,5 l/min i 30 sek. Ku-leventilene ble simultant åpnet og lukket i en programmert hastighet slik at gassblandingen som støttet an mot glass-prøven kontinuerlig ble endret fra en blanding med høy TEOS/ TEP og lav MBTC til en blanding med lav TEOS/TEP og høy MBTC. Glassflatens sentrum ble jevnt belagt med en film bestående av oksider av tinn, silisium og fosfor, bestemt ved XPS-analyse. Når filmtykkelsen tiltok, økte mengden av tinn gradvis, mens mengden av silisium og fosfor avtok. Brytningsindekser ble beregnet fra disse data og fra data avledet fra standardfilmer, og ble funnet å ligge i området 1,52-1,87. Denne filmkonstruksjon ga en artikkel med i det vesentlige ingen reflektert farge når den ble overbelagt med fluordopet tinnoksid.
Eksempel 6
En gassblanding av 0,16 mol% MBTC, 0,80 mol% TEOS og resten varmluft ble rettet mot en overflate som beskrevet i eksempel 1 i ca. 60 sek. Den resulterende film hadde en magentafarge i reflektert lys og en brytningsindeks på 1,69. Filmtykkelsen var ca. 2 260 Å, tilsvarende en avsetningshastighet på ca. 3 8 Å/sek.
Eksempel 7
0,5 1 leskedrikkflaske i klart glass ble rotert og oppvarmet til ca. 600 °C i en ovn i løpet av 3 min. Den oppvar-mede flaske ble overført til et belegningskammer hvor den ble brakt i kontakt med en dampblanding av 0,16 mol% MBTC, 0,80 mol% TEOS, 0,75 mol% TEP og resten varmluft ved ca. 170 °C i 10 sek. Den resulterende film var magenta-blå i farge og var jevnt fordelt på sideveggene av beholderen fra skulder til bunn. Avsetningshastigheten ble estimert til å være ca. 200 Å/sek fra filmens farge, sammenlignet med 50 Å/sek for en flaske belagt med kun en dampblanding av MBTC og TEOS.
Basert på de foregående tabeller og eksempler vil fagmannen forstå at TEB, TEP og vann tjener som akseleratorer ved CVD av oksidfiImer på glass, og at TEP og TEB er synergistiske med hensyn til å akselerere avsetningen av TEOS og MBTC. Akseleratorer som er nyttige i oppfinnelsen er valgt fra gruppen bestående av borat og fosfittestere, alkyltinnhalo-genider og vann.
Selv om blandingen ifølge oppfinnelsen fortrinnsvis påføres kontinuerlig på et bevegelig glassubstrat ved i og for seg kjente fremgangsmåter for fagmannen, så kan foreliggende blanding også anvendes i en satsvis prosess. Ved påføring under kontinuerlige avsetningsbetingelser, blir blandingen fortrinnsvis bibeholdt ved temperaturer under ca. 200 °C, og mer foretrukket under ca. 175 °C, og påført glasset som beveges med en hastighet på ca. 15 m/sek til å gi en avsetning med en hastighet på minst 350 Å/sek, og fortrinnsvis med en hastighet på minst 400 A/sek.
Claims (9)
1. Gassformig blanding som ved en temperatur under 200 °C ved atmosfæretrykk, er egnet for avsetning av minst et første lag av tinnoksid og silisiumoksid på glass med en avsetningshastighet større enn 350 Å/s, hvor blandingen omfatter en forløper for tinnoksid, en forløper for silisiumoksid og oksygen,
karakterisert vedat blandingen ytterligere inneholder minst to akseleratorer hvor av den ene er valgt fra vann og den andre fra gruppen bestående av organiske fosfitter og/eller organiske borater.
2. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat akseleratoren er trietylfosfitt.
3. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat forløperen for tinnoksid er RnSnX4-n, hvor R er en rett, cyklisk eller forgrenet alkyl, eller alkenyl med 1-6 karbonatomer, fenyl, substituert fenyl eller R'CH2CH2-, hvor R' er Me02C-, Et02C-, CH3CO- eller H02C-; X er valgt fra gruppen bestående av halogen, acetat, perfluoracetat og blandinger derav; og hvor n er 0, 1 eller 2.
4. Blanding ifølge krav l,
karakterisert vedat forløperen for tinnoksid er et alkyltinnhalogenid, særlig alkyltinnklorid, så som monobutyltinntriklorid, dibutyltinnndiklorid, tributyl-tinnklorid eller tinntetraklorid.
5. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat forløperen for silisiumoksid er Rn,OnSip hvor m er 3-8, n er 1-4, p er 1-4 og R er uavhengig valgt fra hydrogen og acyl, rett, cyklisk eller forgrenet alkyl og substituert alkyl eller alkenyl med 1-6 karbonatomer og fenyl eller substituert fenyl.
6. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat forløperen for sili-sumoksid er valgt fra gruppen bestående av tetraetylortosilikat, diacetoksidi-t-butoksysilan, etyltriacetoksysilan, metyltriacetoksysilan, metyldiacetoksylsilan, tetrametyldi-siloksan, tetrametylcyklotetrasiloksan, dipinacoloksysilan, 1,l-dimetylsila-2-oksacykloheksan, tetrakis (l-metyoksy-2-propoksy) silan og trietoksysilan.
7. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat forløperen for silisiumoksid er tetraetylortosilikat.
8. Blanding ifølge krav 1,
karakterisert vedat akseleratoren omfatter trietylfosfitt og trietylborat.
9. Anvendelse av den gassformige blanding ifølge krav 1-8 for avsetning av minst et første lag av tinnoksid og silisiumoksid på glass ved en temperatur under ca. 200 °C ved atmosfæretrykk, under en fremgangsmåte for avsetning av minst ett amorft lag på glass med en hastighet større enn 400 Å/sek, hvilket lag har en kontrollert brytningsindeks ved å påføre glasset kontinuerlig kjemisk dampavsetning av blandingen av monobutyltinnklorid, tetraetylortosilikat og en akselerator på et bevegelig glassark hvor glasset har en temperatur i området 450-650 °C.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US81436691A | 1991-12-26 | 1991-12-26 | |
US81435291A | 1991-12-27 | 1991-12-27 | |
PCT/US1992/010873 WO1993013393A1 (en) | 1991-12-26 | 1992-12-21 | Coating composition for glass |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NO933030D0 NO933030D0 (no) | 1993-08-25 |
NO933030L NO933030L (no) | 1993-10-22 |
NO316642B1 true NO316642B1 (no) | 2004-03-22 |
Family
ID=27123834
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO19933031A NO316683B1 (no) | 1991-12-26 | 1993-08-25 | Belagt glassartikkel |
NO19933029A NO316641B1 (no) | 1991-12-26 | 1993-08-25 | Fremgangsmate ved belegging av et glass-substrat |
NO19933030A NO316642B1 (no) | 1991-12-26 | 1993-08-25 | Belegningsblanding for glass og anvendelse derav |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NO19933031A NO316683B1 (no) | 1991-12-26 | 1993-08-25 | Belagt glassartikkel |
NO19933029A NO316641B1 (no) | 1991-12-26 | 1993-08-25 | Fremgangsmate ved belegging av et glass-substrat |
Country Status (26)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US5401305A (no) |
EP (4) | EP0927706B1 (no) |
JP (3) | JP3485918B2 (no) |
KR (3) | KR100238920B1 (no) |
CN (3) | CN1041814C (no) |
AR (1) | AR248263A1 (no) |
AT (2) | ATE272582T1 (no) |
AU (3) | AU663559B2 (no) |
BR (3) | BR9205674A (no) |
CA (3) | CA2104591C (no) |
CZ (3) | CZ286854B6 (no) |
DE (2) | DE69230219T2 (no) |
DK (2) | DK0927706T3 (no) |
ES (2) | ES2137984T3 (no) |
GR (1) | GR3031624T3 (no) |
HU (3) | HUT67158A (no) |
MX (2) | MX9207592A (no) |
MY (1) | MY110355A (no) |
NO (3) | NO316683B1 (no) |
NZ (1) | NZ246459A (no) |
PL (1) | PL169649B1 (no) |
PT (4) | PT927706E (no) |
RU (2) | RU2091340C1 (no) |
SK (3) | SK281638B6 (no) |
UY (3) | UY23526A1 (no) |
WO (3) | WO1993012934A1 (no) |
Families Citing this family (64)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
HUT67158A (en) * | 1991-12-26 | 1995-02-28 | Atochem North America Elf | Coated glass article |
US5599387A (en) * | 1993-02-16 | 1997-02-04 | Ppg Industries, Inc. | Compounds and compositions for coating glass with silicon oxide |
US5863337A (en) * | 1993-02-16 | 1999-01-26 | Ppg Industries, Inc. | Apparatus for coating a moving glass substrate |
US5356718A (en) * | 1993-02-16 | 1994-10-18 | Ppg Industries, Inc. | Coating apparatus, method of coating glass, compounds and compositions for coating glasss and coated glass substrates |
US5395698A (en) * | 1993-06-04 | 1995-03-07 | Ppg Industries, Inc. | Neutral, low emissivity coated glass articles and method for making |
DE4433206A1 (de) * | 1994-09-17 | 1996-03-21 | Goldschmidt Ag Th | Verfahren zur pyrolytischen Beschichtung von Glas-, Glaskeramik- und Emailprodukten |
DE19504906A1 (de) * | 1995-02-15 | 1996-08-22 | Goldschmidt Ag Th | Verfahren zur Heißendvergütung von Hohlglaskörpern durch Aufbringen von Metallverbindungen auf die heiße äußere Glasoberfläche |
CO4560356A1 (es) * | 1995-02-22 | 1998-02-10 | Elf Atochem Vlissingen Bv | Proceso para la produccion de un recubrimiento de proteccion sobre la superficie de un articulo de vidrio o ceramica |
US5648175A (en) * | 1996-02-14 | 1997-07-15 | Applied Materials, Inc. | Chemical vapor deposition reactor system and integrated circuit |
GB9616983D0 (en) * | 1996-08-13 | 1996-09-25 | Pilkington Plc | Method for depositing tin oxide and titanium oxide coatings on flat glass and the resulting coated glass |
GB9710547D0 (en) * | 1997-05-23 | 1997-07-16 | Pilkington Plc | Coating method |
FR2780054B1 (fr) * | 1998-06-19 | 2000-07-21 | Saint Gobain Vitrage | Procede de depot d'une couche a base d'oxyde metallique sur un substrat verrier, substrat verrier ainsi revetu |
FR2789698B1 (fr) * | 1999-02-11 | 2002-03-29 | Air Liquide | Procede et installation pour former un depot d'une couche sur un substrat |
US6797388B1 (en) * | 1999-03-18 | 2004-09-28 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Methods of making low haze coatings and the coatings and coated articles made thereby |
JP3227449B2 (ja) * | 1999-05-28 | 2001-11-12 | 日本板硝子株式会社 | 光電変換装置用基板とその製造方法、およびこれを用いた光電変換装置 |
LU90432B1 (fr) * | 1999-09-01 | 2001-03-02 | Glaverbel | Couche pyrolytique phosphostannate ou borostannate et vitrage comportant cette couche |
US6399208B1 (en) * | 1999-10-07 | 2002-06-04 | Advanced Technology Materials Inc. | Source reagent composition and method for chemical vapor deposition formation or ZR/HF silicate gate dielectric thin films |
US20040175500A1 (en) * | 2002-01-28 | 2004-09-09 | Akira Fujisawa | Method for forming transparent conductive film, transparent conductive film, glass substrate having the same and photoelectric transduction unit including the glass substrate |
US7030042B2 (en) * | 2002-08-28 | 2006-04-18 | Micron Technology, Inc. | Systems and methods for forming tantalum oxide layers and tantalum precursor compounds |
US6784049B2 (en) * | 2002-08-28 | 2004-08-31 | Micron Technology, Inc. | Method for forming refractory metal oxide layers with tetramethyldisiloxane |
US20050196623A1 (en) * | 2004-03-03 | 2005-09-08 | Mckown Clem S.Jr. | Solar control coated glass composition |
US20050221003A1 (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-06 | Remington Michael P Jr | Enhancement of SiO2 deposition using phosphorus (V) compounds |
US7372610B2 (en) | 2005-02-23 | 2008-05-13 | Sage Electrochromics, Inc. | Electrochromic devices and methods |
KR20080056199A (ko) | 2005-10-11 | 2008-06-20 | 구라레 루미나스 가부시끼가이샤 | 발광체 |
US8258690B2 (en) | 2005-10-11 | 2012-09-04 | Kuraray Co., Ltd. | High brightness inorganic electroluminescence device driven by direct current |
RU2445340C2 (ru) * | 2005-10-11 | 2012-03-20 | Курарей Ко, ЛТД., | Светящееся тело |
CN101365658A (zh) * | 2006-01-16 | 2009-02-11 | 日本板硝子株式会社 | 其上形成有薄膜的玻璃板 |
EP2038231B1 (en) * | 2006-06-05 | 2017-04-12 | Pilkington Group Limited | Glass article having a zinc oxide coating and method for making same |
US8158262B2 (en) * | 2006-06-05 | 2012-04-17 | Pilkington Group Limited | Glass article having a zinc oxide coating and method for making same |
US20080026147A1 (en) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Gulbrandsen Chemicals, Inc. | Method and formulation for depositing a metal-containing coating on a substrate |
US20080152804A1 (en) * | 2006-07-28 | 2008-06-26 | Gulbrandsen Chemicals, Inc. | Method for depositing a metal-containing coating on a substrate |
EP2061729A1 (en) * | 2006-08-29 | 2009-05-27 | Pilkington Group Limited | Method of making low resistivity doped zinc oxide coatings and the articles formed thereby |
MX2009002176A (es) * | 2006-08-29 | 2009-04-22 | Pilkington Group Ltd | Metodo para la fabricacion de articulo de vidrio recubierto con oxido de zinc impurificado, de baja resistividad y articulo de vidrio recubierto fabricado mediante el mismo. |
FR2913973B1 (fr) * | 2007-03-21 | 2011-02-18 | Saint Gobain | Substrat verrier revetu de couches a tenue mecanique amelioree |
JP5475461B2 (ja) * | 2007-01-15 | 2014-04-16 | サン−ゴバン グラス フランス | 改良された機械的強度を有する層でコーティングされたガラス基板 |
US8133599B2 (en) | 2008-11-19 | 2012-03-13 | Ppg Industries Ohio, Inc | Undercoating layers providing improved photoactive topcoat functionality |
US20100124642A1 (en) * | 2008-11-19 | 2010-05-20 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Undercoating layers providing improved conductive topcoat functionality |
DE112009003493T5 (de) * | 2008-11-19 | 2012-09-06 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Grundierungsschichten, die eine verbesserte Deckschichtfunktionalität verleihen |
US7998586B2 (en) | 2008-11-19 | 2011-08-16 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Undercoating layers providing improved topcoat functionality |
DE102008060923B4 (de) | 2008-12-06 | 2012-09-27 | Innovent E.V. | Verwendung einer Schicht |
WO2011005639A1 (en) * | 2009-07-06 | 2011-01-13 | Arkema Inc. | Oled substrate consisting of transparent conductive oxide (tco) and anti-iridescent undercoat |
US9224892B2 (en) | 2009-12-21 | 2015-12-29 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Silicon thin film solar cell having improved haze and methods of making the same |
US9366783B2 (en) * | 2009-12-21 | 2016-06-14 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Silicon thin film solar cell having improved underlayer coating |
US20110146768A1 (en) * | 2009-12-21 | 2011-06-23 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Silicon thin film solar cell having improved underlayer coating |
FR2956659B1 (fr) * | 2010-02-22 | 2014-10-10 | Saint Gobain | Substrat verrier revetu de couches a tenue mecanique amelioree |
EP2441860A1 (en) * | 2010-10-13 | 2012-04-18 | Nederlandse Organisatie voor toegepast -natuurwetenschappelijk onderzoek TNO | Apparatus and method for atomic layer deposition on a surface |
US8557099B2 (en) | 2010-10-25 | 2013-10-15 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Electrocurtain coating process for coating solar mirrors |
RU2477711C1 (ru) * | 2011-08-12 | 2013-03-20 | Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина" | Легированное кварцевое стекло с тетраэдрической координацией атомов титана |
US8734903B2 (en) | 2011-09-19 | 2014-05-27 | Pilkington Group Limited | Process for forming a silica coating on a glass substrate |
EP2761054B1 (en) * | 2011-09-30 | 2019-08-14 | Arkema, Inc. | Deposition of silicon oxide by atmospheric pressure chemical vapor deposition |
CN102584025B (zh) * | 2012-01-19 | 2014-06-11 | 江苏秀强玻璃工艺股份有限公司 | 具有宽带隙折射率可调隔离层玻璃的制备方法 |
US20130334089A1 (en) * | 2012-06-15 | 2013-12-19 | Michael P. Remington, Jr. | Glass Container Insulative Coating |
US20140261663A1 (en) * | 2013-03-12 | 2014-09-18 | Ppg Industries Ohio, Inc. | High Haze Underlayer For Solar Cell |
TW201716245A (zh) * | 2015-08-05 | 2017-05-16 | 康寧公司 | 用於將片材與載體鍵結之物件及方法 |
US10858379B2 (en) * | 2015-11-11 | 2020-12-08 | Korea Research Institute Of Chemical Technology | Metal precursor for making metal oxide |
EP3173507A1 (de) * | 2015-11-25 | 2017-05-31 | Umicore AG & Co. KG | Verfahren zur metallorganischen gasphasenabscheidung unter verwendung von lösungen von indiumalkylverbindungen in kohlenwasserstoffen |
GB201523156D0 (en) | 2015-12-31 | 2016-02-17 | Pilkington Group Ltd | High strength glass containers |
CA2920646A1 (en) * | 2016-02-12 | 2017-08-12 | Seastar Chemicals Inc. | Organometallic compound and method |
CN106217968A (zh) * | 2016-07-15 | 2016-12-14 | 常熟市赛蒂镶嵌玻璃制品有限公司 | 一种高耐磨防爆玻璃 |
JP7372234B2 (ja) | 2017-08-31 | 2023-10-31 | ピルキントン グループ リミテッド | コーティングされたガラス物品、その作製方法、およびそれにより作製された光電池 |
US11485678B2 (en) | 2017-08-31 | 2022-11-01 | Pilkington Group Limited | Chemical vapor deposition process for forming a silicon oxide coating |
JP6993394B2 (ja) * | 2019-08-06 | 2022-02-21 | バーサム マテリアルズ ユーエス,リミティド ライアビリティ カンパニー | ケイ素化合物及びケイ素化合物を使用してフィルムを堆積する方法 |
US20230159381A1 (en) * | 2020-04-23 | 2023-05-25 | Pilkington Group Limited | Method of making a coated glass article |
TR202010598A2 (tr) * | 2020-07-03 | 2022-01-21 | Tuerkiye Sise Ve Cam Fabrikalari Anonim Sirketi | Cam yüzeyler için geliştirilmiş antimikrobiyel kaplama çözeltisi, antimikrobiyel kaplamalı cam ve bunun uygulama prosesi |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3378396A (en) * | 1967-03-27 | 1968-04-16 | Zaromb Solomon | Conductive oxide-coated articles |
US3984581A (en) * | 1973-02-28 | 1976-10-05 | Carl Zeiss-Stiftung | Method for the production of anti-reflection coatings on optical elements made of transparent organic polymers |
US3949146A (en) * | 1973-08-24 | 1976-04-06 | Rca Corporation | Process for depositing transparent electrically conductive tin oxide coatings on a substrate |
DE2454657A1 (de) * | 1974-11-18 | 1976-05-20 | Jenaer Glaswerk Schott & Gen | Beschichtung zum verhindern des beschlagens von oberflaechen |
US4227929A (en) * | 1976-08-26 | 1980-10-14 | Ameron, Inc. | Siloxane-tin coatings |
US4206252A (en) * | 1977-04-04 | 1980-06-03 | Gordon Roy G | Deposition method for coating glass and the like |
US4308316A (en) * | 1977-04-04 | 1981-12-29 | Gordon Roy G | Non-iridescent glass structures |
US4187336A (en) * | 1977-04-04 | 1980-02-05 | Gordon Roy G | Non-iridescent glass structures |
SU833649A1 (ru) * | 1979-02-12 | 1981-05-30 | Северо-Западный Заочный Политехническийинститут | Пленкообразующий раствор дл стекл н-НыХ издЕлий |
JPS5734164A (en) * | 1980-08-06 | 1982-02-24 | Kansai Paint Co Ltd | Film-forming composition |
US4386117A (en) * | 1981-11-20 | 1983-05-31 | Gordon Roy G | Coating process using alkoxy substituted silicon-bearing reactant |
JPS58189263A (ja) * | 1982-04-28 | 1983-11-04 | Hitachi Chem Co Ltd | SiO↓2膜形成用塗布液 |
JPS59125433A (ja) * | 1982-12-30 | 1984-07-19 | Fujitsu Ltd | 音声応答方式 |
US4590096A (en) * | 1984-12-28 | 1986-05-20 | M&T Chemicals Inc. | Water vapor, reaction rate and deposition rate control of tin oxide film by CVD on glass |
JPS61181253A (ja) * | 1985-02-06 | 1986-08-13 | Keihachirou Shikakura | 電話機 |
JPS62263754A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Iwatsu Electric Co Ltd | デ−タ入力装置 |
US5028566A (en) * | 1987-04-10 | 1991-07-02 | Air Products And Chemicals, Inc. | Method of forming silicon dioxide glass films |
US4880664A (en) * | 1987-08-31 | 1989-11-14 | Solarex Corporation | Method of depositing textured tin oxide |
EP0486475B1 (en) * | 1988-03-03 | 1997-12-03 | Asahi Glass Company Ltd. | Amorphous oxide film and article having such film thereon |
AU616736B2 (en) * | 1988-03-03 | 1991-11-07 | Asahi Glass Company Limited | Amorphous oxide film and article having such film thereon |
US5382383A (en) * | 1988-08-24 | 1995-01-17 | Catalysts & Chemicals Industries Co., Ltd. | Coating solutions for forming transparent conductive ceramic coatings, substrates coated with transparent conductive ceramic coatings and process for preparing same, and uses of substrates coated with transparent conductive ceramic coatings |
JP2856754B2 (ja) * | 1989-02-17 | 1999-02-10 | 株式会社東芝 | 紫外線抑制発光源、紫外線抑制発光源用塗布剤、及び紫外線抑制発光源の製造方法 |
DE68921737T2 (de) * | 1989-03-07 | 1995-11-09 | Asahi Glass Co Ltd | Laminierte Glaskonstruktion. |
JPH0717407B2 (ja) * | 1989-10-09 | 1995-03-01 | 旭硝子株式会社 | 機能薄膜付ガラスの製造方法 |
US5090985A (en) * | 1989-10-17 | 1992-02-25 | Libbey-Owens-Ford Co. | Method for preparing vaporized reactants for chemical vapor deposition |
HUT67158A (en) * | 1991-12-26 | 1995-02-28 | Atochem North America Elf | Coated glass article |
-
1992
- 1992-12-21 HU HU9302413A patent/HUT67158A/hu unknown
- 1992-12-21 CZ CZ19931733A patent/CZ286854B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 ES ES93901245T patent/ES2137984T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 BR BR9205674A patent/BR9205674A/pt not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 JP JP51173493A patent/JP3485918B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-21 SK SK914-93A patent/SK281638B6/sk unknown
- 1992-12-21 HU HU9302412A patent/HU214047B/hu not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 NZ NZ246459A patent/NZ246459A/en unknown
- 1992-12-21 DE DE69230219T patent/DE69230219T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-21 AU AU33229/93A patent/AU663559B2/en not_active Expired
- 1992-12-21 WO PCT/US1992/010874 patent/WO1993012934A1/en active IP Right Grant
- 1992-12-21 AT AT99106266T patent/ATE272582T1/de not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 WO PCT/US1992/010872 patent/WO1993012892A1/en active IP Right Grant
- 1992-12-21 EP EP99106266A patent/EP0927706B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 DK DK99106266T patent/DK0927706T3/da active
- 1992-12-21 JP JP51173593A patent/JP3485919B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 AU AU33230/93A patent/AU651754B2/en not_active Expired
- 1992-12-21 RU RU9293058398A patent/RU2091340C1/ru active
- 1992-12-21 SK SK915-93A patent/SK282993B6/sk unknown
- 1992-12-21 DE DE1992633396 patent/DE69233396T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-21 KR KR1019930702539A patent/KR100238920B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 CA CA002104591A patent/CA2104591C/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-21 EP EP93901246A patent/EP0573640A4/en not_active Withdrawn
- 1992-12-21 MX MX9207592A patent/MX9207592A/es unknown
- 1992-12-21 SK SK913-93A patent/SK282141B6/sk unknown
- 1992-12-21 CZ CZ19931734A patent/CZ286855B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 AT AT93901245T patent/ATE186039T1/de not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 PL PL92300480A patent/PL169649B1/pl not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 AU AU33228/93A patent/AU3322893A/en not_active Abandoned
- 1992-12-21 CA CA002104592A patent/CA2104592A1/en not_active Abandoned
- 1992-12-21 CZ CZ19931735A patent/CZ289572B6/cs not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 RU RU93058399A patent/RU2102347C1/ru not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 BR BR9205673A patent/BR9205673A/pt not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 JP JP51173693A patent/JP3485920B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 CA CA002104590A patent/CA2104590C/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 EP EP93901245A patent/EP0573639B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 ES ES99106266T patent/ES2221257T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-21 KR KR1019930702540A patent/KR100243801B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 PT PT99106266T patent/PT927706E/pt unknown
- 1992-12-21 BR BR9205672A patent/BR9205672A/pt not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 WO PCT/US1992/010873 patent/WO1993013393A1/en active IP Right Grant
- 1992-12-21 HU HU9302411A patent/HUT67686A/hu unknown
- 1992-12-21 DK DK93901245T patent/DK0573639T3/da active
- 1992-12-21 KR KR1019930702538A patent/KR100238740B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1992-12-21 MX MX9207591A patent/MX9207591A/es unknown
- 1992-12-26 CN CN92115289A patent/CN1041814C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-26 CN CN92115290A patent/CN1043988C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1992-12-26 CN CN92115316A patent/CN1041815C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1992-12-28 UY UY23526A patent/UY23526A1/es not_active IP Right Cessation
- 1992-12-28 AR AR92324007A patent/AR248263A1/es active
- 1992-12-28 UY UY23527A patent/UY23527A1/es not_active IP Right Cessation
- 1992-12-28 PT PT101161A patent/PT101161B/pt not_active IP Right Cessation
- 1992-12-28 PT PT101160A patent/PT101160B/pt active IP Right Grant
- 1992-12-28 UY UY23528A patent/UY23528A1/es not_active IP Right Cessation
- 1992-12-28 PT PT101159A patent/PT101159B/pt active IP Right Grant
-
1993
- 1993-02-03 MY MYPI93000167A patent/MY110355A/en unknown
- 1993-07-19 EP EP93901244A patent/EP0582691A4/en not_active Withdrawn
- 1993-08-25 NO NO19933031A patent/NO316683B1/no not_active IP Right Cessation
- 1993-08-25 NO NO19933029A patent/NO316641B1/no unknown
- 1993-08-25 NO NO19933030A patent/NO316642B1/no unknown
- 1993-12-13 US US08/104,125 patent/US5401305A/en not_active Ceased
-
1999
- 1999-04-07 US US09/287,664 patent/USRE41799E1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-29 GR GR990402439T patent/GR3031624T3/el unknown
Also Published As
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NO316642B1 (no) | Belegningsblanding for glass og anvendelse derav | |
RU2118302C1 (ru) | Способ получения покрытия на стеклянной подложке (варианты) |