NL8403227A - Opspanplaat. - Google Patents
Opspanplaat. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8403227A NL8403227A NL8403227A NL8403227A NL8403227A NL 8403227 A NL8403227 A NL 8403227A NL 8403227 A NL8403227 A NL 8403227A NL 8403227 A NL8403227 A NL 8403227A NL 8403227 A NL8403227 A NL 8403227A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- clamping plate
- assembly device
- pins
- plate
- workpiece
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/707—Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details
- G03F7/70708—Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details being electrostatic; Electrostatically deformable vacuum chucks
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/707—Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Jigs For Machine Tools (AREA)
Description
P & C - « i
Varian Associates, Ine.
Korte aanduiding: Opspanplaat
Bij de fotolithografische bewerking wordt een halfgeleider-plaatje bevestigd op een opspanplaat» teneinde een nauwkeurige positionering te verkrijgen. Voor een optimaal resultaat is het belangrijk, dat het plaatje vast bevestigd is aan de opspanplaat en dat de opspanplaat een vlak 5 montage-oppervlak aan het plaatje biedt.
Een bekende opspanplaat wordt beschreven in het Amerikaanse octrooi-schrift 4.213.698. Zoals in fig. 1 en 2 getoond wordt, maakt een dergelijke bekende opspanplaat gebruik van een vacuumbron, om het plaatje neer te drukken op een aantal metalen ondersteuningsstiften. Dergelijke bekende opspan-10 platen zijn kostbaar om te fabriceren en het plaatje kan uitgerekt en vervormd worden, aangezien de metalen opspanplaat en het halfgeleiderplaatje verschillende thermische uitzettingscoefficienten hebben. Aangezien het montage-oppervlak voor het plaatje een metaal is, kan koude uitzetting en daaropvolgende diffusiekamerverontreiniging optreden.
13 Volgens de getoonde voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding wordt een vacuum-opspanplaat gefabriceerd uit een enkel stuk monolitisch silicium. Het oppervlak van de opspanplaat wordt vlak gepolijst en geëtst, zodat een ringvormig buitenafdichtingsoppervlak een binnengebied van afgevlakte pieken en dalen omringt. Door het binnengebied geboorde ga-20 ten staan de toepassing van een vacuum toe. Het te bewerken halfgeleiderplaatje komt alleen in contact met het ringvormige oppervlak en met de pieken van het binnengebied. Luchtstromingsbanen door de dalen zorgen ervoor, dat het vacuum het plaatje vast op de afgevlakte pieken en het ringvormige afdichtingsoppervlak drukt. Aangezien het montage-oppervlak (samengesteld 25 uit het ringvormige afdichtingsoppervlak en de toppen van de pieken) slechts ongeveer 4% van het totale oppervlak van de opspanplaat bedraagt, is de kans dat een korreltje zand e.d. tussen het plaatje en het montage-oppervlak kan komen, laag. Aangezien de opspanplaat en het plaatje gefabriceerd kunnen worden uit hetzelfde materiaal, zijn de thermische uitzettingscoëfficient 30 van het plaatje en de opspanplaat gelijk. Verder heeft koude uitzetting tussen de opspanplaat en het plaatje geen invloed op de vlakheid van de opspanplaat, aangezien een afgebroken piek breekt zonder bramen. Verder kan koude uitzetting tussen de opspanplaat en het plaatje geen verontreiniging van een in een latere bewerkingsstap gebruikte diffusiekamer veroorzaken, 35 aangezien het materiaal van de opspanplaat inert is.
In een andere voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding wordt een elektrostatische kracht gebruikt om het plaatje stevig op de opspanplaat te drukken. Een diëlektrisch materiaal wordt toegevoegd 8403227 -2- " # ♦ aan het montage-oppervlak, het plaatje wordt geaard en een hoge spanning wordt toegevoerd aan de opspanplaat. De vacuumbron kan bij aanvang gebruikt worden om het plaatje op de bevestigingsplaat te drukken en de elektrostatische kracht zorgt voor het stevig vasthouden van het plaatje op de op-5 spanplaat, zodra de afstand tussen het plaatje en de opspanplaat klein is.
De onderhavige uitvinding wordt hierna nader beschreven, met verwijzing naar de tekening, waarin:
Fig. 1 in perspektief een bekende, opspanplaat toont.
Fig. 2 een zijaanzicht toont van de in fig. 1 getoonde bekende 10 opspanplaat.
Fig. 3 in perspectief een van pinnen voorziene opspanplaat toont, welke geconstrueerd is volgens de voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding.
Fig. 4 een bovenaanzicht van de in fig. 3 getoonde opspanplaat 15 toont.
Fig. 5 een zijaanzicht, langs lijn A-A, van de in fig. 4 getoonde opspanplaat toont.
Fig. 6 een vergroot aanzicht van het binnengebied van de in fig. 3 getoonde opspanplaat toont.
20 ' Fig. 7 een andere voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uit vinding toont, waarin een elektrostatische kracht gebruikt wordt om een plaatje stevig vast te houden op de in fig. 5 getoonde opspanplaat.
Fig. 1 en 2 tonen een perspectief- en zijaanzicht van een bekende opspanplaat, waarbij afzonderlijke stiften, meestal van metaal, gebruikt 25 worden om het te bewerken plaatje te ondersteunen.
Fig. 3 toont een perspectief aanzicht van een monolitische vacuum-opspanplaat 1, welke gecontrueerd wordt volgens de getoonde voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding. Opspanplaat 1 omvat een enkel stuk monolitisch silicium, welke 9 cm in diameter en 1,5 cm dik is. Het is 30 eveneens mogelijk om de opspanplaat 1 te fabriceren uit andere kristallijne materialen zoals bijvoorbeeld GaAs, kwarts of saffier en om andere dimensies voor de opspanplaat te gebruiken, afhankelijk van de grootte van het plaatje. Een vlak ringvormig afdichtingsoppervlak 3 ligt langs de buitenrand van het bovenoppervlak van de opspanplaat 1 en omringt een binnengebied 5.
35 Een zestal luchtgaten 7 is door de opspanplaat 1 geboord, om voor een verbinding met een vacuumbron te zorgen.
Fig. 4 toont een bovenaanzicht van de opspanplaat 1 en fig.5 toont een zijaanzicht langs de lijn A-A; het binnengebied 5 is in beide figuren op vergrote schaal weergegeven, om de nadruk te leggen op de pieken 11 en 8403227 * * -3- / dalen 13. Bij een hierboven genoemde opspanplaat 1 van 9 cm in diameter* is het ringvormige afdichtingsoppervlak 3 5 mm breed, de afgevlakte toppen van de pieken 11 zijn 200 micron bij 200 micron, de middelpunten van de pieken 11 liggen ongeveer 1000 micron uit elkaar en de afgevlakte toppen van de 5 pieken 11 bevinden zich 50 micron boven de bodem van de dalen 13. De gaten 7 zijn 0,9 mm in diameter en een verzamelkamer 15 kan in de onderkant van de opspanplaat 1 gefreesd worden, om te zorgen voor een aansluiting voor een vacuumbron 17. Verschillende opspanplaten 1 zijn geconstrueerd, waarin de hoogte van de pieken 11 boven de dalen 13 tot 100 micron toenamen.
10 Fig. 6 toont een weergave van een gescande micro-elektronenopname van een deel van het binnengebied 5. De pieken 11 in deze figuur kunnen beschouwd worden als vlak-afgetopte pyramiden, hoewel andere configuraties, bijvoorbeeld vierkante pinnen, gebruikt kunnen worden. Opspanplaat 1 wordt gevormd uit een enkel stuk monolitisch silicium met een <.100> kristallijne 15 roosteroriëntatie. Silicium met andere kristallijne roosteroriëntaties kan ook gebruikt worden, om pieken 11 met verschillende andere geometrieën te vormen. Opspanplaat 1 wordt eerst in de gewenste vorm en grootte gesneden en de verzamelkamer 13 wordt gefreesd. Het bovenoppervlak (bestaande uit het ringvormige afdichtingsoppervlak 3 en het binnengebied 5) wordt gepo-20 lijst, totdat de gewenste graad van vlakheid verkregen is, hetgeen van een submicronniveau kan zijn, waarbij gebruik gemaakt wordt van bekende moderne technieken. Een spanning-compenserende oxidelaag wordt aangebracht op het bovenoppervlak en een nitridemasker, zodanig ontworpen om te zorgen voor de gewenste etsing van de pieken 11 en dalen 13, wordt aangebracht op de span-25 ning-compenserende oxidelaag. Een oriëntatieafhankelijk etsmiddel (bijvoorbeeld Κ0Η voor het hierboven genoemde <100> silicium) wordt toegepast voor het etsen van de pieken 11 en dalen 13. Uiteindelijk wordt het nitridemasker verwijderd en een slijtlaag van nitride wordt aangebracht op de spanning-compenserende oxidelaag.
30 Een plaatje, met een diameter ongeveer gelijk aan de diameter van de opspanplaat 1, wordt op het bovenoppervlak van de opspanplaat 1 geplaatst. Het vlakke ringvormige afdichtingsoppervlak 3 verschaft een luchtafdichting langs de rand van het plaatje. Een door middel van een vacuumbron 17 via de verzamelkamer 13 en de gaten 17 verkregen vacuum, drukt het plaatje 35 tegen het ringvormige oppervlak 3 en de pieken 11 aan. De vele pieken 11 verschaffen een groot aantal vlakke ondersteuningspunten voor het- plaatje.
Fig. 7 toont een andere voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding, waarin zowel een vacuum als elektrostatische krachten toegepast worden, om een plaatje 21 op de fig. 5 getoonde opspanplaat 1 te 8403227 " è v -4- drukken. Een diëlektrische laag 23 wordt aangebracht op de pieken 11 en dalen 13 van de opspanplaat 1. De diëlektrische laag 23 kan bijvoorbeeld een 2-3 micron dikke siliciumdioxidelaag bevatten. Een hoge spanning, in de orde van 1000 Volt, wordt toegevoerd aan de opspanplaat 1 door een 5 voedingsbron 25 en het plaatje 21 is geaard. De vacuumbron wordt eerst gebruikt om het plaatje 21 dichtbij de opspanplaat 1 te brengen. Daarna wordt de voedingsbron 25 ingeschakeld en een elektrostatische kracht, evenredig met het kwadraat van de voedingsspanning 25 (en omgekeerd evenredig met het kwadraat van de afstand tussen de opspanplaat 1 en het plaatje 21), 10 wordt aangewend om het plaatje 21 tegen de pieken 11 van de opspanplaat 1 te drukken. Het oppervlak van de pieken 11 kan vergroot worden ten opzichte van het bovenoppervlak, om de elektrostatische kracht te laten toenemen en in dit geval kunnen de vacuumbron 17 en het ringvormige afdichtingsopper-vlak 3 overbodig zijn.
15 Ή-ΗίΗΗ+Ι I I I 1 I I I I I I· 8403227
Claims (15)
1. Montage-inrichting voor het ondersteunen van een werkstuk, gekenmerkt door: een opspanplaat met een groot aantal pinnen voor het ondersteunen van het werkstuk, waarbij de opspanplaat uit één stuk kristallijn materiaal 5 is samengesteld.
2. Montage-inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de pinnen gevormd worden door het etsen van het stuk kristallijne materiaal.
3. Montage-inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de pinnen toppen hebben, die nagenoeg vlak zijn.
4. Montage-inrichting volgens conclusie 3, met het kenmerk, dat de toppen van de pinnen nagenoeg in één vlak liggen.
5. Montage-inrichting volgens conclusie 4, met het kenmerk, dat de pinnen bij benadering afgevlakte pyramiden zijn.
6. Montage-inrichting volgens conclusie 4, gekenmerkt door een 15 ringvormig afdichtingsoppervlak, welke nagenoeg vlak is en in één vlak ligt met de toppen van de pinnen.
7. Montage-inrichting volgens conclusie 6, gekenmerkt door: door de pinnen bepaalde dalen; een verzamelkamer voor het opbouwen van een vacuum; en 20 één of meerdere gaten in de opspanplaat, waarbij de gaten de ver zamelkamer met één of meer dalen verbindt.
8. Montage-inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het kristallijne materiaal silicium is.
9. Montage-inrichting volgens conclusie 8, met het kenmerk, dat het 25 silicium een 100 kristallijne roosteroriëntatie heeft.
10. Montage-inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat het werkstuk het kristallijne materiaal bevat.
11. Montage-inrichting volgens conclusie 10, met het kenmerk, dat het werkstuk een halfgeleiderplaatje bevat.
12. Montage-inrichting volgens conclusie 4, gekenmerkt door een op de verzamelkamer aangesloten vacuumbron.
13. Montage-inrichting volgens conclusie 4, gekenmerkt door een de pinnen bedekkende dielektrische laag en een op de opspanplaat aangesloten hoge voedingsspanning.
14. Montage-inrichting volgens conclusie 13, met het kenmerk, dat het werkstuk geaard is. 8403227 v< « « t -6-
15. Montage-inrichting volgens conclusie 14, gekenmerkt door een op de verzamelkamer aangesloten vacuumbron. 8403227
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US54781183A | 1983-11-01 | 1983-11-01 | |
US54781183 | 1983-11-01 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8403227A true NL8403227A (nl) | 1985-06-03 |
Family
ID=24186226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8403227A NL8403227A (nl) | 1983-11-01 | 1984-10-24 | Opspanplaat. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6099538A (nl) |
DE (1) | DE3438980A1 (nl) |
FR (1) | FR2554250A1 (nl) |
GB (1) | GB2149697B (nl) |
NL (1) | NL8403227A (nl) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4551192A (en) * | 1983-06-30 | 1985-11-05 | International Business Machines Corporation | Electrostatic or vacuum pinchuck formed with microcircuit lithography |
DE3514741A1 (de) * | 1985-04-24 | 1986-10-30 | Supfina Maschinenfabrik Hentzen Kg, 5630 Remscheid | Vorrichtung zum feinbearbeiten ebener flaechen von scheibenfoermigen werkstuecken mit unbearbeiteter auflageseite und geringer wandstaerke |
JP2581066B2 (ja) * | 1987-03-31 | 1997-02-12 | 富士通株式会社 | ウエ−ハ搬送方法及び装置 |
JP2748127B2 (ja) * | 1988-09-02 | 1998-05-06 | キヤノン株式会社 | ウエハ保持方法 |
JPH02174116A (ja) * | 1988-12-26 | 1990-07-05 | Toshiba Ceramics Co Ltd | サセプタ |
JPH0488045U (nl) * | 1990-12-18 | 1992-07-30 | ||
JPH05251544A (ja) * | 1992-03-05 | 1993-09-28 | Fujitsu Ltd | 搬送装置 |
US5600530A (en) | 1992-08-04 | 1997-02-04 | The Morgan Crucible Company Plc | Electrostatic chuck |
EP0669640A1 (en) * | 1994-02-25 | 1995-08-30 | Applied Materials, Inc. | Susceptor for deposition apparatus |
US5645646A (en) * | 1994-02-25 | 1997-07-08 | Applied Materials, Inc. | Susceptor for deposition apparatus |
US5583736A (en) * | 1994-11-17 | 1996-12-10 | The United States Of America As Represented By The Department Of Energy | Micromachined silicon electrostatic chuck |
US5588203A (en) * | 1995-02-28 | 1996-12-31 | Matsushita Communication Industrial Corporation Of America | Nozzle for a vacuum mounting head |
US6399143B1 (en) * | 1996-04-09 | 2002-06-04 | Delsys Pharmaceutical Corporation | Method for clamping and electrostatically coating a substrate |
DE19630932A1 (de) * | 1996-07-31 | 1998-02-05 | Wacker Siltronic Halbleitermat | Träger für eine Halbleiterscheibe und Verwendung des Trägers |
US6383890B2 (en) | 1997-12-26 | 2002-05-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Wafer bonding method, apparatus and vacuum chuck |
DE10027931C1 (de) | 2000-05-31 | 2002-01-10 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zur rückseitigen elektrischen Kontaktierung eines Halbleitersubstrats während seiner Bearbeitung |
JP3577546B2 (ja) * | 2001-02-08 | 2004-10-13 | 株式会社 日立インダストリイズ | 基板の組立方法及び組立装置 |
US6803780B2 (en) * | 2001-07-10 | 2004-10-12 | Solid State Measurements, Inc. | Sample chuck with compound construction |
FR2835242A1 (fr) * | 2002-01-28 | 2003-08-01 | Karl Suss France | Dispositif pour le support avec maintien de plaquettes |
DE10235482B3 (de) * | 2002-08-02 | 2004-01-22 | Süss Microtec Lithography Gmbh | Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate |
EP1431825A1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-06-23 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method, and substrate holder |
EP1431831B1 (en) * | 2002-12-20 | 2007-08-08 | ASML Netherlands B.V. | Lithographic apparatus, device manufacturing method and substrate holder |
DE10319272A1 (de) * | 2003-04-29 | 2004-11-25 | Infineon Technologies Ag | Multifunktionsträger sowie zugehörige Andockstation |
JP3894562B2 (ja) | 2003-10-01 | 2007-03-22 | キヤノン株式会社 | 基板吸着装置、露光装置およびデバイス製造方法 |
CN102581976B (zh) * | 2012-03-14 | 2015-04-29 | 浙江昀丰新能源科技有限公司 | 一种晶体加工用定向装置 |
CN113376974A (zh) | 2016-02-08 | 2021-09-10 | Asml荷兰有限公司 | 光刻设备、用于卸载衬底的方法和用于装载衬底的方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US661840A (en) * | 1899-12-23 | 1900-11-13 | John G Baker | Photographic-print holder. |
FR1504796A (fr) * | 1966-10-28 | 1967-12-08 | Sud Aviation | Procédé et dispositif de fixation par dépression de pièces à usiner |
US3652075A (en) * | 1969-11-10 | 1972-03-28 | Sheldon Thompson | Vacuum chuck and related apparatus and methods |
US3740900A (en) * | 1970-07-01 | 1973-06-26 | Signetics Corp | Vacuum chuck assembly for semiconductor manufacture |
GB1443215A (en) * | 1973-11-07 | 1976-07-21 | Mullard Ltd | Electrostatically clamping a semiconductor wafer during device manufacture |
US4213698A (en) * | 1978-12-01 | 1980-07-22 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Apparatus and method for holding and planarizing thin workpieces |
SE444526B (sv) * | 1978-01-23 | 1986-04-21 | Western Electric Co | Sett att i lege och plan placera en substratbricka |
DD143131A1 (de) * | 1979-04-26 | 1980-07-30 | Ute Bergner | Vorrichtung zum elektrostatischen halten von werkstuecken,insbesondere halbleiterscheiben |
DK73681A (da) * | 1981-02-19 | 1982-08-20 | Carlsen Litho A S | Fremgangsmaade ved anbringelse af forholdsvis tykke og stive kartonoriginaler paa en scannercylinder,samt apparat til brug ved udoevelse af fremgangsmaaden |
US4433835A (en) * | 1981-11-30 | 1984-02-28 | Tencor Instruments | Wafer chuck with wafer cleaning feature |
US4506184A (en) * | 1984-01-10 | 1985-03-19 | Varian Associates, Inc. | Deformable chuck driven by piezoelectric means |
-
1984
- 1984-10-18 JP JP21744884A patent/JPS6099538A/ja active Pending
- 1984-10-24 NL NL8403227A patent/NL8403227A/nl not_active Application Discontinuation
- 1984-10-24 DE DE19843438980 patent/DE3438980A1/de not_active Withdrawn
- 1984-10-30 FR FR8416591A patent/FR2554250A1/fr active Pending
- 1984-10-31 GB GB08427544A patent/GB2149697B/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3438980A1 (de) | 1985-05-09 |
FR2554250A1 (fr) | 1985-05-03 |
GB2149697A (en) | 1985-06-19 |
GB2149697B (en) | 1987-04-23 |
GB8427544D0 (en) | 1984-12-05 |
JPS6099538A (ja) | 1985-06-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL8403227A (nl) | Opspanplaat. | |
US4213698A (en) | Apparatus and method for holding and planarizing thin workpieces | |
US5703493A (en) | Wafer holder for semiconductor applications | |
US8857805B2 (en) | Method, apparatus for holding and treatment of a substrate | |
US20040259330A1 (en) | Semiconductor device and method for producing the same by dicing | |
JP3530158B2 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
KR101699717B1 (ko) | 공급 스테이션으로부터 평면형 물체 피킹 장치 | |
GB2130788A (en) | Semiconductor device with registration mark for electron beam exposure | |
WO2000044045A1 (en) | Microcircuit die-sawing protector and method | |
JPH0553076B2 (nl) | ||
GB2253739A (en) | Mounting technique for micromechanical sensors | |
GB2109995A (en) | Semiconductor structures and methods of forming such structures | |
US20200203227A1 (en) | Dicing A Wafer | |
JPH11307488A (ja) | 半導体装置、その製造方法、加工ガイドおよびその加工装置 | |
JP3250290B2 (ja) | ウエハチャック | |
JPS6244825B2 (nl) | ||
JP2574818B2 (ja) | 真空吸着固定台および真空吸着固定方法 | |
US4433835A (en) | Wafer chuck with wafer cleaning feature | |
JP2003229469A (ja) | 半導体チップピックアップ装置 | |
JP2002353296A (ja) | ウェハの保護テープ剥離装置およびウェハのマウント装置 | |
EP1458021A2 (en) | Semiconductor device fabrication method | |
JPH07176603A (ja) | 基板保持装置 | |
JPS61125709A (ja) | ピンチヤツク | |
US5707537A (en) | Bulk removal, transport and storage fixture for small batch-fabricated devices | |
JPS6234444Y2 (nl) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
CNR | Transfer of rights (patent application after its laying open for public inspection) |
Free format text: HEWLETT-PACKARD COMPANY |
|
BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
BB | A search report has been drawn up | ||
BV | The patent application has lapsed |