NL8003411A - Inrichting voor het verwerken van optische informatie. - Google Patents

Inrichting voor het verwerken van optische informatie. Download PDF

Info

Publication number
NL8003411A
NL8003411A NL8003411A NL8003411A NL8003411A NL 8003411 A NL8003411 A NL 8003411A NL 8003411 A NL8003411 A NL 8003411A NL 8003411 A NL8003411 A NL 8003411A NL 8003411 A NL8003411 A NL 8003411A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
laser
prism
light
optical
medium
Prior art date
Application number
NL8003411A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP7466479A external-priority patent/JPS5641A/ja
Priority claimed from JP14884679U external-priority patent/JPS5668235U/ja
Priority claimed from JP1781380A external-priority patent/JPS56117339A/ja
Priority claimed from JP4843680U external-priority patent/JPS56152942U/ja
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Publication of NL8003411A publication Critical patent/NL8003411A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/08Anamorphotic objectives
    • G02B13/10Anamorphotic objectives involving prisms
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0004Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed
    • G02B19/0009Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only
    • G02B19/0014Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the optical means employed having refractive surfaces only at least one surface having optical power
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B19/00Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
    • G02B19/0033Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
    • G02B19/0047Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source
    • G02B19/0052Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with a light source the light source comprising a laser diode
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • G02B27/0938Using specific optical elements
    • G02B27/095Refractive optical elements
    • G02B27/0972Prisms
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
    • G11B7/0917Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13Optical detectors therefor
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1359Single prisms
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1398Means for shaping the cross-section of the beam, e.g. into circular or elliptical cross-section

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Description

803211/Ke/cd ' * •1"
Korte aanduiding: Inrichting voor het verwerken van optische informatie.
Be uitvinding heeft betrekking op optische informatieverwerkers, en meer in het bijzonder een verwerker voor optische informatie waarin een halfgeleiderlaserinrichting wordt gebruikt als lichtbron» 3 De laatste jaren zijn verwerkers voor optische informatie waarin halfgeleiderlasers worden gebruikt inplaats van gaslasers als lichtbron, krachtig ontwikkeld» Een optische schijf is een voorbeeld van deze techniek» De optische schijf is zodanig dat, met gebruikmaking van de halfgeleiderlaser, op een schijf vastgelegde informatie-signalen worden teruggespeeld of informatie op de schijf wordt vastgelegd met hoge dichtheid» Teneinde de informatiesignalen op de schijf vast te leggen of ze daarvan terug te spelen met de hoofdgeleiderlaser, moet een uit de halfgeleiderlaser kanende lichtbundel worden gevormd tot een lichtvlek met een middellijn van ongeveer 1 \m op de schijf, ^ door het gebruik van een koppellens en een objectief die een optisch stelsel vormen» In het algemeen heeft de halfgeleiderlaser een licht-emitterend gebied dat niet vierkant is maar rechthoekig, zodat dus de bundeldivergentie evenwijdig aan de overgang van de laserinrich-ting niet gelijk is aan die in de richting loodrecht op de overgang» Teneinde de isotrope of ronde vlek op de schijf te vormen door middel van een dergelijke halfgeleiderlaser is het noodzakelijk oa de numerieke opening van de koppellens klein te maken en om slechts de bundel te gebruiken in de omgeving van de optische as van het optische stelsel, om de intensitextsverdeling van het uit de koppellens tredende licht {gelijkmatig te maken»
Het deze maatregel wordt echter slechts een gedeelte van het door de halfgeleiderlaser uitgezonden licht op de schijf geprojek-teerd, hetgeen resulteert in het nadeel dat het nuttige effekt van het lichtgebruik van de inrichting slecht is» Dit wil zeggen de verhouding van de lichtsterkte van het op de schijf gefocusseezde licht tot die van het door de diodelaser geëmitteerde licht is klein» In het bijzonder bij het maken van een opname moet een dunne me taal film in de schijf 800 34 11 _ 2 _
Korden gesmolten om gaten te vormen, en daarvoor is een lichtsterkte nodig die verschillende malen hoger is dan in het geval van terug-spelen· Yerder wordt de levensduur van de halfgeleiderlaser verkort wanneer hij een hoeveelheid licht produceert die een bepaalde vaste 5 waarde overschrijdt· In een verwerkingsinrichting voor optische informatie waarin de halfgeleiderlaser wordt gebruikt is het dan ook vanuit het oogpunt van de levensduur en dat van de betrouwbaarheid noodzakelijk om het nuttige effekt van het gebruik van het licht van de laser te verhogen teneinde het optische uitgangsvermogen van de 10 laserinrichting zoveel mogelijk te kunnen beperken·
Be beswaren hiervan zullen in bij zonderheden worden beschre ven aan de hand van een bekende inrichting· Omdat, zoals vermeld, de halfgeleiderlaser in het algemeen een rechthoekig lichtemitterend gebied heeft, is de bundeldivergentie anisotroop· Po divergentiehoek 15 van de bundel van de halfgeleiderlaser ia verschillend, afhankelijk van de strak tuur van de laserinrichting· Zoals weergegeven in fig· 1 -2 worden door d// en d ^ de respektieve hoeken aangeduid bij e evenwijdig aan de overgang van de laserinrichting respektievelijk loodrecht daarop» In de verdeling van de lichtsterkte van de laserbundel in hei 20 verre-veldpatroon· Bij een halfgeleiderlaser van het CSP-type (channeled-substrate-planar) geldt: O/i - 8°» H - 24° en 0 1 /fy - 3 ...(1)
In de halfgeleiderlaser van het BH-type (begraven he te ros truk tuur) geldt: 25 0^ * 16^, * 32° en * 2 »««(2)
Bij de laser van BH-type is de verhouding / Oy. van de divergentie-hoeken van de bundel 2, terwijl hij bij de laser van CSF-tyupe 3 is· Langs de horizontale as in fig· 1 staat de divergentiehoek uitgezet 30 en langs de vertikale as de lichtsterkte· Fig· 2 toont een voorbeeld van een bekende verwerkingsinrichting voor optische informatie voor de vorming van de isotrope of ronde vlek met een diameter van ongeveer 1 μ* op de schijf in het geval waarin de dwarsdoorsnede van de lichtbundel uit de halfgeleiderlaser anisotroop of elliptisch is.
35 _ Zoals blijkt uit fig· 2 wordt een bundel, die een ellipti- 8 0 0 3 4 11 _ 5 - * « sche bundel-divergeatie heeft en uit een facet getreden is van een halfgeleiderlager 1, gevormd tot een lichtvlek 5 op een schijf 4 door een koppellens 2 en een objektief 3· Sen lichtdetector 6 is een middel om het optische uitgangsvermogen van de halfgeleiderlaser 1 3 waar te nemen· Door A is een optische as aangedaido In fig· 2 heeft de numerieke opening ΙΓΑ van de koppellens 2 de volgende relatie, waai in 9 de halve vaste hoek is tassen de halfgeleiderlaser 1 en de lens 2: NA* sin 9 «··(?)
Vat betreft de bandeldivergenüe van de halfgeleiderlaser 1 moet, m2 10 wanneer de waarden bij e evenwijdig aan de overgang en loodrecht daarop worden aangeduid door 9// resp0 9«j_, zoals hierboven genoemd, de numerieke opening NA van de koppellens 2 als volgt worden gekozen om de ronde vlek 3 op de schijf 4 te vormen met gebruik van een derge-lijke halfgeleiderlaser$ 15 9<9// *··(4) D.w.z* het is noodzakelijk dat de numerieke opening van de koppellens 2 klein gemaakt wordt om de lichtstralen buiten de as op te vangen, en om de bundel alleen te gebruiken in de nabijheid van de optishhe as A (9 * 0) zodat de intensiteitsverdeling van het uit de koppellens 2 20 tredende licht uniform wordt gemaakt· Volgens de bundeldivergentie-hoeken die weergegeven zijn in fig· 1 en de uitdrukkingen (1), (5) en (4) wordt bijde laser van GSP-typw het volgende verondersteld: “-0·1 ...(5) » - 5,7° «"»// <»1) 25 Dan wordt de bundel die door de koppellens 2 gegaan is in hoofdzaak rond, zodat de ronde vlek $ ontstaat op de schijf 4*
De lichtstralen buiten de optische as worden op deze manier echter buitengesloten; slechts een gedeelte van de door de half geleid :r-laser uitgezonden lichtbundel wordt op de schijf geprojekteerd· Eet 30 gevolg is het nadeel dat het nuttige effekt van het lichtgebruik van de laserinrichting inferieur is·
Gewoonlijk draait de schijf met een op en neergaande beweging van ongeveer een mm0 Om ervoor te zorgen dat de middellijn van d> vlek, ondanks de vertikale bewegingen van de draaiende schijf, niet 33 verandert, moet een automatische focussering worden uitgevoerd door hot 800 3 4 11 - 4 - optisch waarnemen van een afwijkingasignaal van de gefocusseerde vlek, welk signaal van het schijfoppervlak wordt afgenomen·
Bij de in fig· 2 weergegeven konstruktie zal, wanneer het vanaf de schijf 4 teruggekaatste licht teruggevoerd wordt naar de 5 halfgeleiderlaser 1, het uitgangsvermogen van de laser 1 variëren overeenkomstig de hoeveelheid vanaf het schijfopprvlak teruggekaatste licht, zodat de informatie van de schijf 4 gereproduceerd kan worden met het uitgangssignaal uit de lichtdetector 6· Deze techniek wordt beschreven in het Amerikaanse octrooi schrift 394*1945« 10 Anderzijds is in de Japanse octrooiaanvrage publikatienr· 55-17706 een techniek voorgesteld waarin, om de afwerking van een lichtbundel op een schijf vast te stellen, een lichtbron of lens heen en weer bewogen wordt in de richting van de optische as ervan es gelijktijdig een asuitgang synchroon wordt gedetecteerd· Deze tech-15 niek heeft echter het bezwaar dat het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstellingsregeling smal is· fig. 3 laat de variatie van het uitgangsvermogen van de halfgeleiderlaser 1 zien op het moment waarop, in de konstruktie volgens fig· 2, de numerieke opening DA van de koppellens 2 de waarde 0,1 had en de schijf 20 4 voorzichtig langs de optische as werd verplaatst. Zoals blijkt uit fig. 3 bedraagt, wanneer de numerieke opening IA van de koppellens 2 een waarde heeft die niet groter is dan 0,1, het waarneembare gebied van afwerkingen voor de automatische scherpstellingsregeling slechts 10 (jm· Dit bezwaar is toe te schrijven aan het feit dat de scherpste? ~ 23 lingspositie van de gereflekteerde en teruggekoppelde lichtbundel nabij het facet van de laserinrichting sterk verandert als gevolg var de bewegingen van de schijf· D.w.z· de defocussering van de teruggevoerde lichtvlek op het facet van de laser, zoals toe te schrijven aan de afwijking van de gefocusseerde vlek, is opvallend, met als ge-30 volg dat het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherps telling een waarde heeft van niet meer dan 10 pm. Op deze manier heeft de optische informatieverwerking waarin het vanaf de schijf gereflekteerde licht teruggevoerd wordt naar de laserinrichting, het bezwaar van het kleine waarneembare gebied van afwijkingen· Dit heefl 35 geleid tot het probleem dat de automatische scbrpstellingsregeling uneiHjV in an dat, gaan -infnrmflAie gerapjodnnaarA kan worden vanaf 800 34 11 * · _ 5 _ een schijf met grote vertik ale -verplaatsingen·
Anderzijds is het gebruik van een cilindrische lens overwogen, om te bereiken dat een op een schijf scherp gestelde vlek een cirkel benadert· Se cilinderlens heeft echter het bezwaar dat de hog< 5 bewerkingsnauwkeurigheid moeilijk kan worden bereikt, resulterend in een hoge kostprijs, en dat de opstelling van een optisch stelsel gecompliceerd wordt· Het is ook moeilijk om een lichtvlek te convergeren tot een ronde vlek van 1 μη, omdat het astigmatisme van grote invloec is vanwege het gebruik van de cilinderlenso 10 Se uitvinding beoogt de hierboven genoemde bezwaren te onder vangen en een verwerkingsinrichting voor optische informatie te verschaffen die een ronde vlek kan vormen op een schijf met een hoog nuttig effekt van het gebruik van het licht door middel van een eenvoudig optisch stelsel· 15 Verder beoogt de uitvinding een dergelijke verwerker te verschaffen waarin als lichtbron een halfgeleiderlaser wordt gebruikt met terugkoppeling door een gereflekteerde bundel, en met een breed waarneembaar gebied van afwijkingen voor servo-besturing van automatische scherpstelling· 20 Saartoe wordt volgens de uitvinding een prisma opgenomen in een optisch stelsel dat een bundel vji een halfgeleiderlaser gelei i naar een informatieopslagmedium· Meer in het bijzonder laat men volgens de uitvinding het grootste gedeelte van een niet-ronde bundel uit een halfgeleiderlaser een koppellens binnentreden door de numeriece 25 opening van de koppellens groot te maken, door verwaarlozing van de uitdrukking (4) die ter voorwaarde omschrijft waaronder de koppellens een lichtvlek op een schijf rond maakt, terwijl een prisma geplaatst wordt op een plaats volgend op de koppellens, waardoor de niet-ronde bundel die door de koppellens gekomen is, omgezet wordt in een cirkel» 50 vormige bundel·
De uitvinding zal nader worden toegelicht aan de hand van de bijgaande tekening.
ïig* 1 toont een ver-veld-patroon van het licht van een halfgeleiderlaser· 35 Fig. 2 illustreert de verwerker voor optische informatie 80034 11 - 6 - volgens de bekende techniek.
Fig. 3 Is een grafiek ter toelichting van het waarneembare gebied van afwijkingen voor automatische scherpstelling in een inrichting volgens de uitvinding» 5 Fig» 5 illustreert schematisch de uitvinding»
Fig. 6 en 7 tonen elk de kanstruktic van een uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding»
Fig. 8 dient ter toelichting van de werking van de uitvinding» 10 Fig» 9 toont de konstruktie van een andere uitvoeringsvorm van de inrichting volgens de uitvinding»
Fig» 10 en 11 tonen elk de betrekking tussen de brekingsindex en het reflektievermogen aan het ingangsfaoet en het uitgangsfa- cet van een prisma» 15
Fig» 12 en 15 tonen elk de konstruktie van wezenlijke onderdelen van een andere uitvoeringsvorm»
Fig. H» 15 en 16 tonen elk de konstruktie van een andere ui tvoerings vorm»
Fig» 17 toont het verband tussen het reflektievermogen aan 20 het ingangsfacet van een prisma en de verhouding tussen de breedte van een gebroken bundel en die van een invallende bundel.
Fig. 18 toont de konstruktie van een andere uitvoeringsvorm van de uitvinding.
Fig, 19 en 20 zijn karakteristieke grafieken waarin de af-25 hankelijkheid wordt getoond tussen het uittredende licht van een half* geleiderlaser reep» de uitgang van een fasegevoelige detectie-inricht Ing enerzijds en de afwijking van een lichtvlek vanaf een schijfoppervlak anderzijds.
Fig» 21 toont de afhankelijkheid van het waarneembare gebied 30 van afwijkingen voor de automatische scherpstellingsregeling en de numerieke opening van een lens» en fig» 22 laat de konstruktie zien van een andere uitvoerings vorm van de uitvinding»
Fig. 4 toont het verband tussen de afwijking van de scherp-35 stelling en het laseruitgangsvermogen» D.w.z, de variatie van het uit 800 3 411 - 7 - de halfgeleiderlaser tredende licht wanneer, met de in fig. 2 weergegeven konstruktie de numerieke opening HA van de koppellens 2 groot werd gemaakt (HA - 0,5) de verwaarlozing van uitdrukking (4) die de voorwaarde omschrijft waaronder met de koppellens de lichtvlek 5 op 5 de schijf 4 een ronde vorm verkrijgt, en terwijl de schijf 4 over eet kleine afstand werd verplaatst langs de optische as van het optische stelsel· Zoals blijkt uit figo 4 wordt het waarneembare gebied van afwijkingen 80 μη of iets meez<>
Hoor de numerieke opening van de koppellens groot te maken 10 worden de veranderingen van de scherp gestelde stand van de gereflek» teerde teruggekoppelde lichtvlek toe te schrijven aan de flaktuaties van de schijf klein, en wordt het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstelling groter·
Vanneer de numerieke opening van de koppellens groter is 15 wordt het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstelling groter, zodat een meer volmaakte automatische scherpstelling kan worden gerealiseerd bij vertikale bewegingen van de schijf· Bovendien zal, wanneer de numerieke opening van de koppellens groot is, de bundel uit de laser in dezelfde mate meer de koppellens 20 binnen komen, zodat dus het nuttige effekt van het gebruik van het laserlicht verder toeneemt· Wanneer echter de numerieke opening HA
van de koppellens bij benadering voldoet aan de divergentiehoek -2 "* in de vertikale richting op e in het verre-veldpatroon volgens fig·!, komt het grootste gedeelte van de bundel uit de laser de koppellens 25 binnen· Sr is dan dus in hoofdzaak voldaan aan de volgende voorwaarde i oao(6)
Omdat echter de lichtbundel die door de koppellens 2 gegaan is, voldoende aan uitdrukking (6) niet rond is, is de lichtvlek 5 evea-min rond· Volgens de uitvinding wordt, om dit probleem op te lossen 30 een prisma 7 geplaatst na de koppellens 2 die voldoet aan de uitdrukking (6), zoals weergegeven in fig· 6„ J?ig. 5 toont de vorm van het prisma 7· Men ziet hieruit dat het prisma een rechthoekig prisma is waarvan de tophoek 9a bedraagt en waarvan de brekingsindex H is· He invalshoek wordt aangeduid door 9^, en de verhouding tussen de breedto 35 1 van een invallende bundel en de breedte 0 van de gebroken bundel 800 34 11 _ 8 _ (welke verhouding aangeduid wordt als "bundelvergroting") wordt aangeduid door a . | · hese worden respektievelijk gegeven door de volgende uitdrukkingen: 00a e . [jdii 5 1 V H2»2.1 cos ö » m f o '' / ·βββ(7) α Μ Η2 η2 -1 10 cos *
Hierin wordt m gekozen overeenkomstig de struktuur van de te gebruiken halfgeleiderinriohting. Het prisma 7 maakt de ronde bundel mogelijk door het verlengen van de paralleldivergentie van de bundel uit de laser, en door deze te laten samenvallen met de diverge;ï-13 tie loodrecht erop· Wanneer men dus het grootste gedeelte van de bundel uit de laser de koppellens laat binnentreden dient de vergroting m te worden gebracht tot samenvallen met de verhouding Oj[ / van de divergentiehoeken van de bundel om de ronde bundel te verkrijgen· Wanneer bijvoorbeeld een halfgeleiderlaser van BH-type wordt 20 gebruikt , m - 2 uit uitdrukking (2), en wanneer de laser van CSP-typ» wordt gebruikt geldt m » 3 blijkens uitdrukking (1)« Wanneer dus "BK7? (het 7th borosilicaatkroonglas zoals geklassificeerd an aangeduid door Schott und Genossen GmbH) (2Γ - 1,510) wordt gebruikt als het materiaal voor het prisma 7»beeft het prisma de volgende grootheden overeen-23 kometig uitdrukking (7)1 voor de laser van BH-type; m « 2 * * 1-510e l ...te) e * 66,61° r
30 ·α - 37,43 J
voor de laser van de CSP-type; 80034 11 _ 9 - m 3 \ * " 1’510 l ...(9) » - 75,16 > ββ- 39,80°
J
5 Wanneer verder "SF-H" (het 11e zware flintglas) (IT - 1,76.(.) wordt gebruikt als materiaal voor het glas van het prisma, geldt het volgende s voor de laser van BH"type; m 2 Ί 10 H - 1,764 I β.ο(10) - 64,57° ( »a - 30,79° j voor de laser van CSP-type: m * 3 \ 15 S-1’7* I ...(11) »i- 73,76° 32,98° j 7 o or wat betreft de laser van BH«type met bundeldivergentie« hoeken voorgesteld door de uitdrukking (2), wordt het prisma 7 volger s
2Q
uitdrukking (8) of uitdrukking (10) onmiddellijk achter de koppellens 2 in fig· 6 tusaengeplaatst, terwijl wat betreft de laser van CSP-tyje waarvan de bundeldivergentiehoeken voorgesteld door de uitdrukking (1), het prisma 7 volgens uitdrukking (9) of uitdrukking (11) wordt tusser- geplaatst, waaroor de omzetting mogelijk wordt van de niet-cirkel- 25 J vormige bundel in de cirkelvormige bundel· Be cirkelvormig gemaakte lichtbundel wordt als cirkelvormige vlekken op de schijf 4 geprojecteerd door middel van het objektief 3<> Zo kan de bundel uit de half-geleiderlaser waarvan het lichtemitterende gebied rechthoekig is, niet vierkant, als ronde vlek op de schijf worden geprojekteerd zonder dal ^ er enig deel van de bundel wordt ondergeschept· Bovendien treedt er geen aberratie op door het gebruik van het prisma0 Bij de konstruktie volgens de onderhavige uitvoeringsvorm, waarin de bundel die treedt uit een vlak van de halfgeleiderlaser 1 wordt gereflekteerd door de 800 34 11 _ 10 _ schijf en het geref lekteerde licht teruggevoerd wordt naar het vlak, wordt de numerieke opening van de koppellens 2 groot gemaakt overeenkomstig uitdrukking (6), zodat het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstelling vergroot wordt, zoals blijkt uit 5 fig, 4e
In fig. 6 wordt de bundel uit de halfgeleiderlaser 6 ingesteld op P-polarisatie, waarin de vector van het elektrische veld trilt in het vlak evenwijdig aan het vlak van de tekening (zoals aangeduid door de pijl in de tekening)· Se koppellens 2 wordt in de brandpunt- 10 positie geplaatst ten opzichte van de laserinrichting 1 en maakt van de invallende bundel van het prisma ^ een gecollimeerde bundel·
Fig· 7 toont een andere uitvoeringsvorm, waarin dezelfde symbolen ook in fig· 6 dezelfde of equivalente onderdelen aanduiden·
In de uitvoering volgens fig» 7 wordt, anders dan in die volgens fig.p, 15 J de loodrechte divergentie van de bundel samengedrukt en gebracht tot samenvallen met de paralleldi vergen tie $ het vlak van inval van het prisma 7 is dan ook tegengesteld aan dat van de uitvoering volgens fig«6· Heer in het bijzonder wordt de bundel uit de laser 1 ingesteld op S-^olarisatie (waarin de vector van het elektrische veld trilt lood-20 recht op het vlak van de tekening), zoals aangeduid door de zwarte stippen in de tekening· Sr vindt («zetting plaats in P-polarisatie door een halve-golflengteplaat 11 en dan gaat de bundel het prisma 7 binnen· Het deze konstruktie wordt het mogelijk om het objektief 3 kl*in te maken· 25 In het bovenstaande is de polarisatie van de bundel de S~ polarisatie in de richting loodrecht op de overgang van de laserinrichting, en de P-polarisatie in de richting evenwijdig daaraan, zoal} weergegeven in fig· 8«
In het bovenstaande is slechts de verwerker voor optische 30 informatie beschreven die bepaalde informatie vastlegt en terugspeelt door vanaf de schijf de uit een vlak van de halfgeleiderlaser tredend» bundel te reflekteren en het gereflekteerde licht terug te koppelen naar het vlak van de laser· De uitvinding is echter niet beperkt tot deze uitvoering maar is ook toepasbaar op een verwerker voor optische 33 informatie waarin bepaalde informatie wordt vastgelegd en teruggespee Ld 800 3411 _ 11_ door een prisma in een optisch stelsel te plaatsen om een handel uit een hoofdgeleiderlaser op een schijf te introduceren, waarbij gere-flekteerd licht vanaf de schijf wordt opgevangen door midde^ran het prisma en dan de variatie van het gereflekteerde licht wordt waarge-5 nomen door middel van een lichtdetector,
Fig· 9 toont de konstroktie van een uitvoeringsvorm voor het geval waarin de uitvinding op een dergelijke verwerker is toegepast· In de konstroktie volgens fig. 6 zijn een prisma 9 en een kwar' golflengteplaat 8 geplaatst tussen het prisma 7 en het objektief 3* 10 Die konstroktie maakt het mogelijk om het gereflekteerde licht van d< schijf 4 af te nemen door middel van het prisma 9 en om de variatie van dit gereflekteerde licht waar te nemen door middel van een liht-detector 10, In de uitvoering volgens fig» 9 wordt de lichtdetector 6 gebruikt als monitor voor de uitgang van het laserlicht , voor de 15 automatische vermogensregeling om het uittredende laserlicht konstani te houden·
In het bovenstaande is in het geheel geen melding gemaakt van reflektieverlies als gevolg van het tossenplaatsen van het prisma 7* Het is echter gewenst om de brekingsindex If van het prisma 7 20 zo te kiezen dat het reflektieverlies als gevolg van de aanwezigheid van het prisma zo gering mogelijk blijft. Aan de hand van fig· 9 ziet men de ref lek tie vermogens en aan het ingangsdak en het uit- gangsvlak PQ van het prisma 7· Ze worden xespektievelijk gegeven door de volgende uitdrukkingen: 25 ^ , tan2^ - »g) tan2^ + »a) ...(12) w „ (SLil)2 ^ (ff + 1)
Fig· 10 en 11 tonen de resultaten van de betrekkingen tus-90 sen de reflektievermogens en de brekingsindex N van het prisma zoals verkregen uit de uitdrukkingen (7) en (12), Fig. 10 illustreert het geval m » 2, terwijl fig, 11 het geval is waar m 3. fi0* in de -figuren zal later worden beschreven· Het re flek tie ve rlie s van het pri;»- 800 34 11 -12- ma is het kleinste wanneer de som van E^ en minimaal is o Uit de tekening blijkt dan ook dat een materiaal waarvan de brekingsindex ft ongeveer 1,4 bedraagt de voorkeur verdient a2sprismamateriaal in het geval van m 2, terwijl een materiaal waarvan de brekingsindex 5 ft ongeveer 1,7 is de voorkeur verdient in het geval van m * 3« let is dus gunstig om M7 te gebruiken (ft » 1,510) voor de laser van 2H-type, en SF-11 (ft - 1,764) voor de laser van CSP-type als materiaal voor het prisma 7»
Teneinde het re flek tie ve rlie s als gevolg van het prisma 7 10 te verminderen, is ook een coating van het ingangs- en uitgangsvlak van het prisma 7 effektief, met een enkele of een meervoudige anti·· reflektielaago In dat geval mag ook het reflektievermogen Ej. aan het ingangsvlak voldoende klein zijn door de brekingsindex 1 van het prisma te kiezen en slechts het uitgangsvlak Pq te bedekken met een 15 anti-reflektielaag* Meer in het bijzonder kan, in het geval van het gebruik vaqèen laser van BH-type, zoals blijkt uit fig* 10, het reflek-tievermogen 2^ 1$ of minder worden gemaakt door de brekingsindex 1ST te kiezen in het gebied van 1,65 - 2,45· Bij wijze van voorbeeld kan, wanneer SF-11 wordt gebruikt als prismamateriaal, het reflektievermo-20 gen Eg. aan het ingangsvlak P^ 0,004 worden gemaakt* Anderzijds kan, wanneer een halfgeleider van CSP-type wordt gebruikt, zoals blijkt uit fig*'11, het reflektievermogen 1% of minder worden gemaakt door de brekingsindex ft te kiezen in een gebied van 2,45-5,55* Bij wijze van voorbeeld kan een kristal zoals TiOg of ΤΘΟ2 worden gebruikt als 25 prismamateriaal*
Verder kan in de uitvoering van fig* 9 het reflektieverlies worden verminderd door het prisma 7 en het prisma 9 tot een enkele konstruktie te verenigen, zoals weergegeven in fig* 12 of 13<> Fig* 12 toont een uitvoering in het geval waarin de prisma’s 7 en 9 gekon-50 strueerd zijn tot een enkel lichaam met een identiek materiaal* In de figuur wordt door 79 het tot één lichaam verenigde prisma aangeduil en de kwartgolflengteplaat 8 is ook aan het prisma 79 vastgezet· hoor de konstruktie als eenheid kunnen de reflektieverliezen aan het uitgangsvlak van het prisma 7 en het ingangsvlak van het prisma 9 worden 35 voorkomen* Fig« 13 toont een uitvoering in het geval waarin de prisma’s 800 3 4 11 - 15- 7 en 9 tot een lichaam zijn verenigd door het gebruik van verschillet -de materialen*» Bij wijze van voorbeeld wordt, in het geval waar het materiaal van het prisma 9 B£7 is (ff * 1,510), het reflektievermogen Bq* aan het grensvlak 20 tussen de prisma’s 7 en 9 gegeven door de 5 volgende uitdrukking, waarin ff de brekingsindex van het prisma 7 aanduidt; v - Φ; 11¾ >2
Zn fig» 10 en 11 is het verband tussen het reflektievezmogen SQf en de brekingsindex ff bij m » 2 rasp» m » 3 met stippellijnen 10 weergegeven» Zoals blijkt uit deze figuren kan het reflektieverlies als gevolg van het prisma 7 sterk worden verbeterd» Bij wijze van voorbeeld, veronderstellend dat het materiaal van het prisma 7 SF-11 is (ff * 1,7^4» kan het volgende worden vastgestelds voor de laser van BB»type; 15 * 0,004
Bq*- 0,006 en voor de laser van CSP-type:
Bj » 0,067
Bg'- 0,006 20 In de bovenstaande uitvoeringen is het geval beschreven waar in de niet-ronde bundel die door de koppellens gegaan is omgezet wordt in een ronde bundel door een enkel prisma te plaatsen in het stadium achter de koppellens» Vanzelfsprekend kan echter een aantal prisma's op diezelfde plaats worden neergezet.» In de volgende uitvoerin-25 gen zullen gevallen worden beschreven met twee prisma’s»
Fig. 14, 15 en 16 tonen verschillende uitvoeringsvormen van de uitvinding, waarin dezelfde symbolen als in fige 6, 7 en 9 dezelfde of gelijkwaardige onderdelen aanduiden» In fig» 14» 15 en 16 zijn twee prisma’s 7 a en 7^ geplaatst in het stadium achter de koppel-30 lens 2» Deze twee prisma's hebben dezelfde tophoek en dezelfde brekingsindex, en verder kunnen ze dezelfde ingangs- en uitgangshoeken hebben voor de lichtbundel» Zoals blijkt uit de tekening zijn de prisma's 7a en 7b rechthoekige prisma's met tophoek 9 en waarvan de oc brekingsindices ff zijn» de hoek van inval van elke prisma is aange-35 [Huid door e^, terwijl de verhouding tussen de breedte I van de inVal·· 800 3 4 11 - 14-
Xende bundel en de breedte O van de gebroken bondol (de bundelvergroting) aangeduid door m » γ * Ban gelden respektievelijk de volgen·· de vergelijkingen: β ίττ; > cos 0. -I “2- 5 1 Jn -1
- - (ff2 - 1) B
cos 0 S 1 ' .
«2 > *.*(14) Μ N m - 1 / /— cos 0 yf m m _α 10 oos 0^
Het reflektievermogen Rj. aan het ingangsvlak van elk van de prisma's 7a en 7b wordt jgegeven door de volgende uitdrukking: tan2(0 - © )
Sj - -i-2— ...(15) 15 tan2 (0λ+ 0α)
Hier wordt, veronderstellend dat 0. + 0 - 90°, het reflek- * β tievermogen R^. nul, en het reflektieverlies van het licht aan het in- gangsvlak van elk van de prisma's 7a en fb wordt nul. (Hen geval waai - in 0. - 0^ komt overeen met de normale invalshoek en betekent dat de i cc 20 prisma's geen effekt hebben). Hier wordt het reflektievermogen nul op het moment waarop tg 0i - ff, welke hoek de zogenaamde Brewaterhoek is. Ban wordt uitdrukking (14) gereduceerd tot: ff mfa ^ 0, - tan"1ff ...(16)
25 I
®α * cos" ET® 008 j
In het geval waarin bijvoorbeeld de laser van CSP-type wordt gebruikt wordt de vorm van de twee prisma's 7a en 7b als volgt; op -grondslag van uitdrukking (16), onder de voorwaarde dat de bundelver- 800 34 11 - 15- groting m 3 is op basis ran uitdrukking (1): m« 3 \ ff - 1,732 »i-60“ V ...(17) 5 0-30 f a Β,-0 ✓
Vat betreft de laser van GSP-type, waarvan de bundeldivergen-tiehoeken voorgaste ld worden door uitdrukking (1), worden de twee prisma's 7a en ?b volgens uitdrukking (17) onmiddellijk achter de koj-10 pellens geplaatst, zoals weergegeven in fig· 14» 13 of 16, waardoor de niet-ronde bundel kan worden omgezet in de ronde bundel· Zelfs in hei geval waarin de brekingsindices If van de prisma's 7a en 7b niet de waarde \/m kunnen hebben waarbij het reflektievermogen S^. nul wordt, zijn brekingsindices dichtbij die waarde op bevredigende wijze denk-13 baar omdat daardoor het reflektievermogen bijna nul wordt· Het is gewenst om het uitgangsvlak te bedekken met een anti-reflektielaag·
Het verband tussen de bundelvergroting m en het reflektievermogen is weergegeven in fig. 17» In deze figuur geeft een stree )-stippellijn het geval aan waarin een enkel prisma uit BE7 (ff * 1,310) 20 werd gebruikt, en een gebroken lijn het geval waarin een enkel prisma werd gebruikt uit SF-11 (H - 1,764)* Zoals blijkt uit fig· 17 dient, in het geval waarin het enkele prisma 7 aanwezig is, zoals in de uitvoering volgens fig· 6, 7 of 9, en waarin de bundelvergroting m gekoznn wordt op 2-3, het materiaal van het prisma een betrekkelijk grote 23 brekingsindex H te hebben ter vermindering van het re f lek tie verlies van het licht aan het ingangsvlak van het prisma· Vederom verwijzend naar de figuur geeft de getrokken lijn het geval aan waarin twee pris-· ma's bestaande uit HE? werden gebruikte In het geval van het algemeen bekende glasmateriaal BK? is de brekingsindex H 1,510, dichtbij een 30 golflengte van 8000 1· In dit geval wordt het reflektievermogen nu], wanneer de bundelvergroting m 2,28 is· Bovendien is, zoals blijkt uit de figuur, de doorlatingscofffficient minstens 99i9% in het gebied waarin de bundelvergroting m 2,1 — 2,3 is· Vanneer de doorlatings— coefficient mag dalen tot 99j» kan het uit BK7 bestaande prisma worden 800 3 4 11 - 16- gebruikt in het gebied waarin de bondelvergroting m 1,8-3 is· D.w.z· wanneer de twee prismi's 7 a en 7b opgenomen worden, zoals in de uitvoering volgens fig· H» 15 of 16, de prisma's met een kleine brekingsindex m de bundelvergroting m groot kunnen maken en ook het bruikbare 3 gebied kunnen vergroten· Dit geeft aanleiding tot het voordeel dat de ronde bundel gevormd kan worden door het gebruik van prisma's die bestaan uit conventioneel optisch glas (d»w«z· BK?)·
Vervolgens zal een uitvoering volgens de uitvinding beschreven in het geval van het uitvoeren van een automatische scherpstel-10 lingsregelingo fig· 18 toont daarvoor een uitvoeringsvorm volgens de uitvinding· Een optische pickup 12 bestaat uit de halfgeleiderlaser 1, de koppellens 2, het objektief 3 en de lichtdetector 6· Een uit een vlak 13 van de laser 1 tredende laserbundel wordt op de schijf 4 ge-projekteerd door de lenzen 2 en 3 en wordt gereflekteerd vanaf de 13 schijf 4« De gereflekteerde bundel wordt teruggevoerd naar het uit-gangsvlak 13 van de laser via de lenzen 2 en 3· Met deze konstruktie varieert de laseruitgang van de inrichting 1 overeenkomstig de veranderingen van het reflektievermogen van de schijf, zodat dus informatie teruggespeeld wordt door het waarnemen van die variatie van de 20 lichtdetector 6·
De automatische scherpstellingsregeling voert een terugkop-pelregeling uit door het waarnemen van een afwijking van een scherp gestelde vlek en door middelen om het objektief te bewegen of de hele optische opname-inrichting naar aanleiding van die afwijking· 23 De waarneming van de afwijking van de scherp gestelde vlek gebruikt de eigenschap (in fig· 19 aangeduid door een gebroken lijn) dat het optische uitgangsvermogen van de halfgeleiderlaser afneemt als gevolg van afwijkingen van de scherpstelling· Met deze eigenschap is echter de richting van de afwijking van de scherpstelling nog niet 30 bekend· Daarom wordt de lens van de laser heen en weer bewogen in de richting van de optische as en wordt het laseruitgangsvexmogen synchroon waargenomen, waardoor men de richting van de afwijking van de scherpstelling leert kennen· In de konstruktie volgens fig·18 wordt de lens 3 heen en weer bewogen in de richting van de optische as door 33 middel van een pi 8zo-elektrische vibrator 15 en overeenkomstig een 800 3411 4 * - 17- signaal van een wissels troostbron 160 Het door de lichtdetector 6 waargenomen laseruitgangsvexmogen wordt synchroon waargenomen door een fasegevoelige detectieketen ^ aan de hand van het signaal Tan de wis-selstroombron 16« Zoals blijkt uit fig0 20 wordt de polariteit Tan 3 het uitgangsvermogen Tan de fasegeToelige detectieketen 7 veranderd in afhankelijkheid Tan de richting Tan de afwijking Tan de focusseriig»
De uitgang Tan de detectieketen 7 wordt teruggevoerd naar ; een elektromagnetische spoel 14 om het objektief 3 of de hele optische kop 12 te bewegen ter vermindering Tan de afwijking Tan de focusserirg* 10 Figo 22 toont de konstruktie Tan een andere uitvoering
Tolgens de uitvinding voor het geval waarin de numerieke opening van de koppellens 2 0,5 wordt gemaakt» Be uitvoering is zodanig dat auto·* statische regelmiddelen voor de scherpstelling zijn toegevoegd aan de konstruktie van fig» 6» Heer in het bijzonder wordt, wanneer de nume-15 rieke opening van de koppellens 2 groter gemaakt wordt dan de minimal» bundeldivergentiehoek van de laserbundel uit de laser 1, de uit de koppellens 2 tredende bundel elliptisch» Boor plaatsing van het prisma 7 achter de koppellens 2 wordt dan ook de uit de koppellens 2 tredende bundel rond gemaakt en dan geleid naar het objektief 3 en dan 20 wordt de lichtvlek 3 op de schijf 4 gevormd door dit objektief 3* Het vanaf de schijf 4 gereflekteerde licht wordt teruggevoerd naar de laser 1» Omdat de laseruitgang van de halfgeleiderlaser varieert over· eehkomstig de veranderingen van het reflektievezmogen van de schijf wordt informatie teruggespeeld door het waarnemen van de variatie 23 door middel van de lichtdetector 6« Be automatische scherpstellings-regeling wordt zodanig uitgevoerd dat het objektief 3 heen en weer beweegt in de richting van de optische as door middel van de piSzo-elektrische vibrator 15 en overeenkomstig het signaal van de wissel-stroombron 16, dat de door de lichtdetector 6 waargenomen laseruitgang5s-30 energie synchroon wordt gedetecteerd door middel van de fasegevoelige detectieketen 17 aan de hand van het signaal van de wisselstroombron 16, dat de uitgang van de keten 17 teruggevoerd wordt naar de elektro·· magnetische spoel 14, en dat het objektief 3 of de hele optische kop 12 door de spoel 14 wordt bewogen ter verkleining van de afwijking 33 van de gefocusseerde vlek· 800 34 11 _ 18_
De belangrijkste eigenschap van de uitvoering van fig· 18 of 22 is dat het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstellingsregeling vergroot wordt door het laseruitgangs*-vlak 13 te bedekken met een an ti «re flek tielaag o In figo 19 en 20 3 komen een getrokken lijn en een gebroken lijn overeen met het geval waarin de anti-reflektielaag wel resp» niet aanwezig is0 Uiteraard wordt, wanneer de anti-reflektielaag niet aanwezig is, het waarneembare gebied van de afwijkingen 10 μζι of meer, terwijl wanneer de film aanwezig is dit gebied wordt uitgebreid tot 40 pm of meer· De resul-10 taten van fig» 19 en 20 komen overeen met het geval waarin de numerieke opening 2TA van het objektief 3 0,5 was en die van de koppellens 2 0,25«
Figo 21 illustreert de afhankelijkheid tussen het waarneem-' bare gebied van afwijkingen voor de automatische scherpstellingsrege-15 ling en de numerieke opening van de koppellens 2» Bij wijze van voorbeeld wordt vermeld dat, wanneer de numerieke opening van de koppellens 2 0,5 werd gemaakt, het waarneembare gebied van afwijkingen 80 μη of meer was door toepassing van de anti-reflektielaag (aangeduid met een getrokken lijn), maar beneden 30 μ zonder die bedekkingslaag 20 (aangegeven door een gebroken lijn)·
Zoals hierboven werd beschreven wordt, in de verwerker voor optische informatie met de konstruktie waarin de uit een vlak van de halfgeleiderlaser tredende bundel gereflekteerd wordt door de schijf en waarin het gereflekteerde licht teruggevoerd wordt naar het vlak, 25 het waarneembare gebied van afwijkingen voor de automatische scherp-stellingsregeling verder vergroot door dat vlak te bedekken met de anti-reflektielaag· Zo wordt zelfs wanneer de vertikale bewegingen van de schijf een waarde hebben van ongeveer 1 mm, automatische scherp-stellingsregeling mogelijk» 30 In de bovenstaande beschrijving van de uitvinding is de inrichting beschreven met een konstruktie waarin de uit een vlak van de halfgeleiderlaser tredende bundel gereflekteerd wordt door de schijf en waarin het gereflekteerde licht teruggevoerd wordt naar het vlak, voor het geval waarin de variatie van de hoeveelheid van het vanaf 35 de schijf geref lek teerde licht waargenomen wordt in de vorm van een 800 3411 -19 - variatie van de laserbundel uit het andere vlak van de halfgeleiderlager· Vanzelfsprekend is de uitvinding ook toepasbaar op het geval waarin ie variatie van het gereflekteerde licht waargenomen wordt in de vorm van een variatie van een excitatie stroom van de halfgeleider» 5 laser·
Het bovenstaande zal duidelijk zijn dat de uitvinding wordt gekenmerkt door een prisma om het profiel van een bundel uit een hali-geleiderlaser om te vormen, en welk prisma geplaatst wordt in een op» tisch systeem dat de bundel geleid naar een informatie-opslagmedium· -Conclusies- 800 34 11

Claims (1)

  1. — 20“ 1« Inrichting voor het verwerken van optische informatie, met een lichtbron, een inforaatie-opslagmedium, een optisch stelsel dat een uit de lichtbron kanende bandel convergeert op het medium, en middelen voor het waarnemen van een variatie van een lichthoeveel-5 heid van de lichtbundel die van het medium afkomt, gekenmerk t doordat de lichtbron een halfgeleiderlaser is waarvan het lichtemit terende gebied rechthoekig is, en dat het optische systeem een prisma bevat dat de door de laserinrlchting uitgezonden niet cirkelvormige bundel omzet in een cirkelvormige bundel, 10 2» Inrichting volgens conclusie 1,met het ken merk, dat het prisma bestaat uit twee afzonderlijke prisma's waarvan de tophoeken en de brekingsindices gelijk zijn» 3e Inrichting volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat de twee prisma's voldoen aan de relatie dat in hoofdzaak 15 N - J~m , waarin N een brekingsindices aanduidt en m de bundelvergro-I tingen0 4# Inrichting volgens één der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat optische middelen geplaatst zijn in een optische baan tussen het prisma en het medium voor het afleiden van de 20 vanaf het medium geref lek teerde bundel en dat de detectiemiddelen een lichtdetector zijn die de gereflekteerde bundel ontvangt van de genoemde optische middelen, 5« Inrichting volgens conclusie 4, met het kenmerk, dat de optische middelen gevormd worden door een enkel pris-25 ma0 6o Inrichting volgens één der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat van het prisma tenminste het uit gangs vlak voorzien is van een anti-reflektielaag, _ 7· Inrichting volgens één der voorgaande conclusies, met 800 3 4 11 — 21 - het kenmerk, dat een lens, die in hoofdzaak voldoet aan Qn < θ < ö j_ (waarin 9 de halve vaste hoek aanduidt tussen de laser-inrichting en de lens en ö/j en Ö de divergentiehoeken van de bun*» del uit de laserinrichting in een richting evenwijdig aan een over·* 5 gang van de laserinrichting respektievelijk in de richting loodrecht daarop) geplaatst is in de optische haan tussen de laserinrichting en het prisma, dat de uit een vlak van de laserinrichting tredende hundel gereflekteerd wordt door het medium en dan teruggezonden naar het genoemde vlak door het optische systeem heen, en dat de detectie·» 10 inrichting een lichtdetector is die de hundel ontvangt welke uit het andere vlak van de laserinrichting treedt* 8« Inrichting volgens conclusie 7, m e t het kenmerk, dat een vlak van de laserinrichting voorzien is van een ant:.-reflektielaag en dat de inrichting voorzien is van eerste aandrijf-15 middelen on het optische systeem in trilling te brengen langs de optische as met een bepaalde periode, en tweede aandrijfmiddelen om het optische systeem langs de optische as te verplaatsen overeenkomstig een uitgangssignaal uit de lichtdetector* 80034 11
NL8003411A 1979-06-15 1980-06-12 Inrichting voor het verwerken van optische informatie. NL8003411A (nl)

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7466479A JPS5641A (en) 1979-06-15 1979-06-15 Processor for optical information
JP7466479 1979-06-15
JP14884679 1979-10-29
JP14884679U JPS5668235U (nl) 1979-10-29 1979-10-29
JP1781380A JPS56117339A (en) 1980-02-18 1980-02-18 Optical information processor
JP1781380 1980-02-18
JP4843680U JPS56152942U (nl) 1980-04-10 1980-04-10
JP4843680 1980-04-10

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8003411A true NL8003411A (nl) 1980-12-17

Family

ID=27456839

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8003411A NL8003411A (nl) 1979-06-15 1980-06-12 Inrichting voor het verwerken van optische informatie.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4333173A (nl)
CA (1) CA1136273A (nl)
DE (1) DE3022299C2 (nl)
FR (1) FR2459513B1 (nl)
GB (1) GB2053553B (nl)
NL (1) NL8003411A (nl)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS566038U (nl) * 1979-06-25 1981-01-20
FR2498341A1 (fr) * 1981-01-20 1982-07-23 Thomson Csf Dispositif optique detecteur d'ecart de focalisation et enregistreur lecteur optique comportant un tel dispositif
JPS57196212A (en) * 1981-05-29 1982-12-02 Hitachi Ltd Optical system for semiconductor laser
DE3376172D1 (en) * 1982-01-22 1988-05-05 Hitachi Ltd Method and apparatus for reducing semiconductor laser optical noise
CA1204199A (en) * 1982-02-19 1986-05-06 Shigeo Kubota Optical apparatus
FR2523350B1 (fr) * 1982-03-09 1987-05-22 Thomson Csf Tete optique dans un dispositif d'enregistrement-lecture d'un support d'information
US4468551A (en) * 1982-07-30 1984-08-28 Armco Inc. Laser treatment of electrical steel and optical scanning assembly therefor
US4609258A (en) * 1982-10-29 1986-09-02 Joseph W. Price Diode laser collimator
US4520471A (en) * 1983-02-07 1985-05-28 Rca Corporation Multi-channel recording/playback optics for laser diode arrays
EP0148278B1 (en) * 1983-07-06 1990-11-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Light pickup
EP0156141B1 (en) * 1984-03-09 1992-05-13 Hitachi, Ltd. Prism optics and optical information processing apparatus
US4575194A (en) * 1984-03-26 1986-03-11 Xerox Corporation Semiconductor laser beam collimator
US4588263A (en) * 1984-05-02 1986-05-13 International Business Machines Corporation An adjustable-optical prism with integral-polarizing beam splitter and applications thereof
US4623225A (en) * 1984-06-29 1986-11-18 Melles Griot, Irvine Company Anamorphic prism for beam shaping
US4734906A (en) * 1984-07-06 1988-03-29 Storage Technology Partners 11 Optical disk recording and readout system having read, write and coarse light beams
US4643538A (en) * 1984-07-06 1987-02-17 Storage Technology Partners Ii Combined beam cross-section correcting, collimating and de-astigmatizing optical system
JPS61122942A (ja) * 1984-11-16 1986-06-10 Canon Inc 光情報処理装置
JPH0734068B2 (ja) * 1984-11-22 1995-04-12 ミノルタ株式会社 結像光学装置
US4627690A (en) * 1985-03-08 1986-12-09 Polaroid Corporation Optical system with anamorphic prism
JPH0693044B2 (ja) * 1985-03-22 1994-11-16 株式会社日立製作所 プリズム光学系及びそれを用いた情報装置
EP0204495A3 (en) * 1985-06-03 1988-06-22 Xerox Corporation Astigmatism correction in laser diodes
EP0210582B1 (en) * 1985-07-29 1991-02-27 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Optical head apparatus
JPS63268139A (ja) * 1987-04-24 1988-11-04 Alps Electric Co Ltd 光学式ピツクアツプの光学装置
DE3787282T2 (de) * 1987-10-05 1994-03-31 Hitachi Ltd Optischer Aufbau mit einer phasenstarr gekoppelten Laserdiodenzeile.
US5289313A (en) * 1988-09-28 1994-02-22 Canon Kabushiki Kaisha Optical head using semiconductor laser array as light source
JPH03130940A (ja) * 1989-05-24 1991-06-04 Kyocera Corp 光スポット制御方法および制御装置
JPH0322235A (ja) * 1989-06-19 1991-01-30 Victor Co Of Japan Ltd 光磁気ディスク記録再生装置
US5202869A (en) * 1990-04-20 1993-04-13 Sharp Kabushiki Kaisha Optical head device including diffraction grating
JP2656136B2 (ja) * 1990-05-29 1997-09-24 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
JPH0422913A (ja) * 1990-05-18 1992-01-27 Nikon Corp 色消ビーム整形光学系
US5331622A (en) * 1991-05-28 1994-07-19 Applied Magnetics Corporation Compact optical head
US5657164A (en) * 1991-05-28 1997-08-12 Discovision Associates Optical beamsplitter
US5477386A (en) * 1991-07-24 1995-12-19 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Optical system for optical disc apparatus including anamorphic prisms
US5155633A (en) * 1991-07-30 1992-10-13 Applied Magnetics Corporation Anamorphic achromatic prism for optical disk heads
US5359588A (en) * 1992-02-12 1994-10-25 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Optical recording/reproducing apparatus
DE4330794C2 (de) * 1992-09-10 1999-12-23 Toshiba Kawasaki Kk Optische Kopfvorrichtung zur Verwendung in einer optischen Aufzeichnungs- und Schreib/Lesevorrichtung
JP3351046B2 (ja) * 1993-09-22 2002-11-25 ソニー株式会社 レーザ製版装置
DE4404525C1 (de) * 1994-02-12 1995-02-23 Ant Nachrichtentech Anordnung zur Anpassung unterschiedlicher Feldverteilungen von Lichtstrahlen
JP3438365B2 (ja) * 1994-11-29 2003-08-18 ソニー株式会社 複合光学装置およびその製造方法
US6038089A (en) 1996-05-14 2000-03-14 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Beam shaping optical system
US5875160A (en) * 1996-12-14 1999-02-23 Ricoh Company, Ltd. Method and device for initializing optical recording medium of phase change type, and optical recording medium
US6195315B1 (en) 1997-07-11 2001-02-27 Ricoh Company, Ltd. Optical disk apparatus compatible with different types of mediums
US20010050892A1 (en) * 1997-07-11 2001-12-13 Yoshitaka Takahashi Optical disk apparatus compatible with different types of mediums
EP0916441A1 (en) * 1997-11-14 1999-05-19 Fujifilm Electronic Imaging Limited Focus detection system and method
US6542304B2 (en) 1999-05-17 2003-04-01 Toolz, Ltd. Laser beam device with apertured reflective element
EP1241501A1 (en) * 2001-02-16 2002-09-18 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) An optical system
TW591248B (en) * 2001-05-12 2004-06-11 Samsung Electronics Co Ltd Many-sided reflection prism and optical pickup
US8988674B2 (en) * 2013-07-29 2015-03-24 Ultratech, Inc. Systems and methods for measuring high-intensity light beams

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2178245A (en) * 1936-06-24 1939-10-31 Klangfilm Gmbh Sound recording apparatus
GB1389444A (en) * 1971-03-09 1975-04-03 Sira Institute Apparatus for automatic inspection of materials
NL7312139A (nl) * 1972-09-08 1974-03-12
US3848095A (en) * 1972-12-20 1974-11-12 I O Metrics Corp Three dimensional electro-optical retrieval system
US3946367A (en) * 1972-12-20 1976-03-23 Videonics Of Hawaii, Inc. Three dimensional electro-optical retrieval system
US4017153A (en) * 1973-05-18 1977-04-12 Agence Nationale De Valorisation De La Recherche (Anvar) Polarization analyzers and duplexers
FR2251876B1 (nl) * 1973-11-16 1977-09-23 Thomson Brandt
JPS5760693B2 (nl) * 1974-02-12 1982-12-21 Sony Corp
NL176314C (nl) * 1974-02-15 1985-03-18 Philips Nv Inrichting voor het uitlezen van een registratiedrager waarop informatie is aangebracht in een optisch uitleesbare structuur.
US3983317A (en) * 1974-12-09 1976-09-28 Teletype Corporation Astigmatizer for laser recording and reproducing system
US4030122A (en) * 1975-07-28 1977-06-14 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Recording apparatus utilizing small optical components
US3974507A (en) * 1975-09-29 1976-08-10 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Conversion of stripe-geometry junction laser emission to a spherical wavefront
US4084881A (en) * 1975-10-21 1978-04-18 Canon Kabushiki Kaisha Light beam scanning device
DE2647397A1 (de) * 1975-10-21 1977-05-05 Canon Kk Lichtstrahl-abtastvorrichtung
JPS5264215A (en) * 1975-11-21 1977-05-27 Pioneer Electronic Corp Optical signal reader
NL7608561A (nl) * 1976-08-02 1978-02-06 Philips Nv Optische uitleeseenheid voor het aftasten van een registratiedrager voorzien van een stra- lingsreflekterende informatiestruktuur.
JPS53100841A (en) * 1977-02-15 1978-09-02 Canon Inc Beam shaping optical system
US4203652A (en) * 1977-02-15 1980-05-20 Canon Kabushiki Kaisha Beam shaping optical system
US4235507A (en) * 1977-09-16 1980-11-25 Hitachi, Ltd. Optical system to condense light from a semiconductor laser into a circular spot
US4214817A (en) * 1978-09-14 1980-07-29 Mcnaney Joseph T Prismatic light beam expansion or compression system

Also Published As

Publication number Publication date
US4333173A (en) 1982-06-01
GB2053553A (en) 1981-02-04
FR2459513A1 (fr) 1981-01-09
FR2459513B1 (fr) 1986-12-12
GB2053553B (en) 1983-08-24
DE3022299C2 (de) 1987-01-02
CA1136273A (en) 1982-11-23
DE3022299A1 (de) 1980-12-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL8003411A (nl) Inrichting voor het verwerken van optische informatie.
US4464741A (en) Optical focusing-error detection device
KR20070085305A (ko) 근접장 광학 렌즈-매체 접근방법
US6304542B1 (en) Compact dual wavelength optical pickup head
US6510119B2 (en) Optical head device
JPH0317835A (ja) 焦点誤差検出を改良した光ヘツド
JPH0434740A (ja) 光学ヘッド
JPS586534A (ja) 再生装置の光学装置
JPH10134398A (ja) 光ヘッド装置
US8179770B2 (en) Optical pickup apparatus
JP4161439B2 (ja) 光ヘッド
JP2574332B2 (ja) 光ビーム装置
JP2699986B2 (ja) 光ヘッドの焦点誤差を検出するための装置
JPS60133551A (ja) 光ヘツド装置
JP4000388B2 (ja) 光学装置および光ピックアップ装置
JP2815345B2 (ja) 光ピックアップ用対物レンズの傾斜度測定装置
EP0911819A1 (en) Compact dual wavelenght optical pickup head
JPH0261831A (ja) 光学的ヘッド
JPS5841448A (ja) 光学的焦点位置移動方式
JPH056562A (ja) チルト検出装置
JP2002230821A (ja) 情報記録再生装置
JP2002074731A (ja) 光ピックアップ装置
JPH0573943A (ja) 分離型光ピツクアツプ装置
JPH06124462A (ja) 光学式再生装置
JPS59157852A (ja) 光学ヘツド

Legal Events

Date Code Title Description
A1A A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
A85 Still pending on 85-01-01
BC A request for examination has been filed
BV The patent application has lapsed