JPH0573943A - 分離型光ピツクアツプ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 分離型光ピックアップ装置において、固定光
学系に配置したトラッキングミラーの傾き角度を検出す
るに当たり、高い検出感度をもってより正確に傾き角度
を検出できるようにした分離型光ピックアップ装置を提
供する。 【構成】 固定光学系（１）と移動光学系（２）とから
なる分離型光ピックアップ装置であって、固定光学系
（１）に設けたトラッキングエラー検出用のトラッキン
グミラー（５）を半導体レーザ（３）とビーム整形プリ
ズム（６）との間に配置して、半導体レーザ（３）から
の出射ビームをビーム整形する前に、整形プリズム
（６）に入射する光ビームの一部を取り出してトラッキ
ングミラー（５）の傾き角度を検出し、この検出結果に
応じて移動光学系（２）を駆動して入射光ビームと、情
報記録媒体（１４）からの戻り光ビームとの光軸ずれを
補正するように構成した分離型光ピックアップ装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、分離型光ピックアップ
装置に関するものであり、特に、固定光学系にトラッキ
ングミラーを配置し、このトラッキングミラーを用いて
トラッキングエラーを検出し、補正するように構成した
光ピックアップ装置であって、更に、トラッキングミラ
ーの光軸に対する傾き角度を検出して情報記録媒体に対
する入射光ビームと情報記録媒体からの反射光ビームと
の光軸ずれを補正するように構成した分離型光ピックア
ップ装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光ピックアップ装置は、光ディスク等の
光情報記録媒体あるいは光磁気ディスク等の光磁気情報
記録媒体に対して情報の記録および／または再生を行う
ための装置としてよく知られており、種々の方式のもの
が実用化されている。

【０００３】近年、高速アクセスの要求に応じて、光ピ
ックアップ装置を固定光学系と移動光学系とに分離して
構成し、対物レンズを載置した移動光学系のみを移動さ
せてアクセスを行う分離型光ピックアップ装置が提案さ
れている。分離型光ピックアップ装置では、移動光学系
のみを移動させるため、一体型光ピックアップに比べて
可動部の重量を軽減することができ、高速アクセスを実
現することができる。

【０００４】このような分離型光ピックアップ装置にお
いて、移動光学系の重量をより軽減するために、移動光
学系には対物レンズと、フォーカスアクチュエータと、
偏向部材とを搭載するようにして、トラッキング制御
は、固定光学系にトラッキングミラーを設けて、このト
ラッキングミラーを使用して行うようにしたものが開発
されている。

【０００５】特開平２−２０３４３３号公報には、この
ような分離型光ピックアップ装置が開示されている。こ
の公報に開示されている分離型光ピックアップ装置で
は、固定光学系にトラッキングミラーを設けてプリウォ
ブリング法によってトラッキング制御を行うと共に、ト
ラッキングミラーの傾き角度を検出するようにして、こ
の検出結果に基づいて移動光学系を駆動して情報記録媒
体に入射する入射光ビームの光軸と、情報記録媒体で反
射された戻り光ビームの光軸のずれを補正するように構
成されている。ここでは、トラッキングミラーを半導体
レーザと偏光ビームスプリッタとの間に配置し、入射光
ビームの一部を偏光ビームスプリッタで反射させ、この
反射光を検出してトラッキングミラーの傾き角度の検出
を行うようにしている。

【０００６】一方、特開昭５８−７７０４６号公報に
は、光磁気ピックアップ装置が開示されている。ここで
は、光ビームのビーム整形機能と偏光機能とを持たせた
プリズムを使用することによって、部品点数を減らし、
装置全体の構成を簡潔にする一方、光ビームの透過効率
を損なう事なく、再生信号の質の向上が図られている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】特開平２−２０３４３
３号公報に開示された分離型光ピックアップ装置では、
この公報の第１図に示すように、通常の信号検出用の偏
光ビームスプリッタの外にトラッキングミラーの傾き角
度の検出用の偏光ビームスプリッタを配置している。こ
のため光ビームの透過効率が低下して、対物レンズから
の出射光量が不足し、情報記録媒体上で情報をうまく記
録できなくなるという欠点がある。

【０００８】また、同公報には、整形プリズムに関する
記載はないが、一般に、光ピックアップ装置において
は、半導体レーザからの出射光ビームを平行光にするコ
リメータレンズの対物側に整形プリズムを配置して、半
導体レーザからの光ビームを円形に整形するようにして
いる。したがって、同公報の装置では、整形プリズムで
整形された光ビームの一部を、トラッキングミラーの傾
き角度検出用の偏光ビームスプリッタで取り出して、ト
ラッキングミラーの傾き角度の検出を行うこととなる。
しかし、整形プリズムを出射後の光ビームは、ビームの
整形拡大率に応じてその角度変化が小さくなる。例え
ば、整形プリズムの角度３９°とし、ビーム拡大率を
２．５とした場合、入射角は７１．８９°で光ビームを
整形プリズムに入射させたとき、拡大後の光ビームがプ
リズムの出射端面に垂直に出射することとなる。ここ
で、入射角が１°変化して、７２．８９°で光ビームが
整形プリズムに入射したばあい、ビーム拡大後の光ビー
ムは、プリズムの出射端面の垂直面に対して０．４°の
方向へ出射することとなり、その角度変化は１／２．５
と小さくなってしまう。このために、トラッキングミラ
ーの傾き角度の検出感度が低くなってしまうという問題
がある。

【０００９】

【課題を解決するための手段及び作用】上記課題を解決
するために、本発明の分離型光ピックアップ装置は、移
動光学系と固定光学系とを具え、半導体レーザからの出
射ビームをビーム整形プリズムを用いて整形して情報記
録媒体上へ照射し、その戻り光を検出して信号の検出を
行うと共に、前記出射ビームを偏向する偏向手段を前記
固定光学系に配置してトラッキングエラーの補正を行う
ようにした分離型光ピックアップ装置において、前記偏
向手段を前記半導体レーザと前記整形プリズムとの間に
配置して、前記出射ビームのビーム整形を行う前に前記
偏向手段に入射する光ビームの一部を取り出して前記偏
向手段の偏向角度を検出し、その検出結果に応じて前記
移動光学系を駆動して情報記録媒体に対する入射光ビー
ムと情報記録媒体からの戻り光ビームとの光軸ずれを補
正するように構成したことを特徴とするものである。

【００１０】このように、本発明の分離型光ピックアッ
プ装置にあっては、トラッキングミラーの対物側にビー
ム整形用のプリズムを配置し、このプリズムに入射する
光ビームの一部を、このビーム整形用のプリズムの入射
端面で反射させて取り出して、トラッキングミラーの傾
き角度を検出するようにしている。このため、トラッキ
ングミラーの傾き角度検出のための別のビームスプリッ
タを設ける必要がなく、情報記録媒体への入射光量が小
さくなるという問題がない。

【００１１】また、ビーム整形を行う前にトラッキング
ミラーの傾き角度の検出を行うように構成しているた
め、大きな角度変化をもってトラッキングミラーの傾き
角度の検出を行うことができ、検出感度の向上を図るこ
とができる。

【００１２】

【実施例】図１は、本発明の第１の実施例の構成を示す
図である。本実施例の光ピックアップ装置は、固定光学
系１は、半導体レーザ３、コリメータレンズ４、トラッ
キングミラー５、ビーム整形プリズム６、偏光ビームス
プリッタ７、単レンズ８、検光子９、情報信号光検出器
１０、及びトラッキングミラーの角度検出用２分割光検
出器１１とを具えるものである。一方、移動光学系２は
全反射プリズム１２と対物レンズ１３とを具え、光磁気
ディスク１４の半径方向に移動可能に構成されている。

【００１３】図１に示す装置では、半導体レーザ３から
出射した光ビームは、コリメータレンズ４で平行光とな
り、トラッキングミラー５で反射されて、整形プリズム
６に入射する。この入射光ビームは、整形プリズム６で
拡大されて、楕円ビームが円形ビームに整形される。一
方、入射光ビームの一部を整形プリズム６の入射端面で
反射させて、トラッキングミラーの傾き角度検出用の２
分割光検出器１１に入射させるようにする。

【００１４】整形プリズムを通過して円形に変換された
光ビームは、偏光ビームスプリッタ７を通過して、固定
光学系１を出て移動光学系２に設けられた全反射プリズ
ム１２に入射する。光ビームはこの全反射プリズム１２
で反射されて、対物レンズ１３を介して情報記録媒体で
ある光磁気ディスク１４の情報記録面で集束される。光
磁気ディスク１４上の情報記録面には、光磁気ディスク
１４の上方に設けられた界磁コイル１５と変調光ビーム
によって記録ピットが形成されており、これを光ビーム
スポットで走査すると、戻り光は記録ピットの磁化方向
に応じてカー回転成分を持つこととなる。この戻り光は
対物レンズ１２を通過して平行光となり、再び全反射プ
リズム１２で反射され、固定光学系１の偏光ビームスプ
リッタ７に入射する。尚、偏光ビームスプリッタ７の反
射面には、Ｐ偏光を５０％、Ｓ偏光を１００％反射する
ような偏光特性を持つ誘電体多層コートを設けて、戻り
光をこの反射面で反射するときにカー回転角を増大する
ようにしている。偏光ビームスプリッタ７の偏光面で反
射された戻り光は単レンズ８を通過して集束され、検光
子９に入射する。検光子９では、Ｐ偏光成分を５０％透
過させ、Ｓ偏光成分を１００％反射して、それぞれを光
検出器１０で受光し、これらの出力の差動を取って、情
報信号の再生を行うと共にフォーカスエラー信号及びト
ラッキングエラー信号を検出する。

【００１５】トラッキングミラーの傾き角度検出用の２
分割光検出器１１は、光磁気ディスク１４に形成されて
いるトラックの半径方向に２分割された受光素子で構成
されており、トラッキングミラー５が傾くことなく設定
されているとき、光検出器１１に入射する光ビームの強
度分布の最大値の位置が分割線上に位置するように設定
されている。したがって、トラッキングミラー５に傾き
がない状態では２分割光検出器１１の受光素子の受光量
は等しくなるが、トラッキングミラー５が傾いた状態で
は、受光素子の受光量が異なるため、この各受光素子の
受光量を検出することによって、トラッキングミラーの
傾きを検出することができる。光検出器１０で検出され
るトラッキングエラー信号の出力を光磁気ディスク１４
の半径方向に移動させる移動光学系のアクチュエータ
（図示せず）に供給して、この出力に基づいて移動光学
系２を移動させて、トラッキングミラー５の傾き角度検
出信号をゼロにするようにサーボ制御して、移動光学系
２に設けた対物レンズ１３の光軸と、対物レンズ１３に
入射する固定光学系１からの光ビームの光軸のずれを、
常に小さくなるように補正することができる。

【００１６】図２は、本発明の分離型光ピックアップ装
置の第２実施例を示す図である。図２に示すように、本
実施例においては、半導体レーザ３、マイクロプリズム
１６、ガルバノミラー１７、検光子９、情報信号用光検
出器１０を、共通の半導体基板１８上に一体的に形成し
ており、これらの素子と、コリメータレンズ４、整形プ
リズム６、トラッキングミラー傾き角度検出用の２分割
光検出器１１とで、固定光学系１を構成している。移動
光学系２の構成は第１の実施例と同様である。

【００１７】半導体レーザ３から射出した光ビームは、
マイクロプリズム１６の偏光面１６ａで反射して、ガル
バノミラー１７でさらに反射されて、コリメータレンズ
４を介して整形プリズム６に入射する。このとき、入射
光ビームの一部を反射させて、これをガルバノミラ−の
傾き角度検出用の２分割光検出器１１で検出する。整形
プリズム６に入射した光ビームは、整形プリズム６で拡
大されて楕円ビームが円形ビームに変換されて移動光学
系２に入射する。更に、全反射プリズム１２で反射され
た後、対物レンズを介して、光磁気ディスク１４上で集
束される。光磁気ディスク１４で反射されてカー回転成
分を与えられた戻り光は、整形プリズム６で屈折し、コ
リメータレンズ４を通過して、ガルバノミラー１７に入
射する。更に、マイクロプリズム１６の偏光面１６ａを
介して検光子９に入射した後、情報信号用光検出器１０
で情報信号の検出を行う。マイクロプリズム１６の偏光
面１６ａには、第１実施例と同様に誘電体多層膜コート
が設けられており、戻り光のカー回転角を増大するよう
にしている。

【００１８】ガルバノミラー１７の傾き角度の検出は、
第１実施例と同様に、整形プリズム６に入射する入射光
の一部を取り出して２分割光検出器１１で受光して行
い、光軸ずれを補正するようにする。いま、整形プリズ
ム６の角度をαを３９°、ビーム拡大率を２．５倍とし
たとき、整形プリズム６に入射する光ビームの入射角度
ψ1 が７１．８９°のとき、ビーム拡大後の光ビームが
整形プリズム６の出射端面Ａに対して垂直方向に出射す
る。ガルバノミラー１７の傾き角度の検出を、従来のよ
うに、偏光ビームスプリッタを設けて、この偏光ビーム
スプリッタで反射する反射光を利用して行う場合、整形
プリズム６への入射角度が１°ずれた場合、整形プリズ
ム６を出射する光ビームの出射角度は、０。４°ずれる
だけとなり、その角度変化は１／４となってしまう。こ
れに対して、本発明のように、整形プリズム６の入射端
面Ｂで入射光の一部を反射させて、この反射光ビームを
使用してトラッキングミラーの傾き角度の検出を行う場
合は、反射光ビームの出射角度ψ1 ’は ψ1 ’＝ ψ
1 となり、入射面Ｂの法線に対してやはり７１．８９°
の方向に反射される。したがって、入射ビームの入射角
度が１°ずれたとき、出射角度もやはり１°ずれること
となり、角度変化は同じであるため、高い感度をもって
トラッキングミラーの傾き角度の検出を行うことができ
る。

【００１９】本実施例においては、半導体レーザ３、マ
イクロプリズム１６、ガルバノミラー１７、検光子９、
情報信号用光検出器１０を共通の半導体基板１８上に一
体的に形成しているため、固定光学系の部品点数を少な
くすることができ、装置全体の小型化を図ることができ
る。また、本実施例においては、半導体基板１８上に設
けた情報検出用の光検出器１０の分割線を、整形プリズ
ムにおけるビーム整形方向に一致させて設けることによ
って、フォーカスエラー信号の検出感度を向上させるこ
とができる。

【００２０】図３は、本発明の第３の実施例の構成を示
す図である。この実施例では、共通の半導体基板上１８
に、半導体レーザ３、ガルバノミラー１７、及び全反射
プリズム２０を一体的に形成し、これらの素子と、コリ
メータレンズ４と、整形プリズム、偏光ビームスプリッ
タ及び検光子の機能を兼ねたプリズム２１と、情報信号
用光検出器１０、ガルバノミラー１７の傾き角度検出用
の２分割光検出器１１とで固定光学系１を構成してい
る。移動光学系２の構成は第１の実施例と同様である。

【００２１】半導体レーザ３から射出した光ビームは、
共通の基板１８上に設けた全反射プリズム２０で反射さ
れ、更にガルバノミラー１７で反射されて、コリメータ
レンズ４に入射する。コリメータレンズ４で平行光とさ
れた後、プリズム２１に入射する。コリメータレンズ４
から出射した平行光の一部はプリズム２１の入射端面２
１ａで反射されて、ガルバノミラーの傾き角度検出用の
２分割光検出器１１に入射する。一方、残りの光は、プ
リズム２１に入射して、プリズム２１の入射端面２１ａ
がもつビーム整形機能により、屈折拡大され、楕円形状
の入射ビームを円形状のビームに変換する。

【００２２】このようにして、円形ビームに変換された
光ビームは、移動光学系２に入射して、全反射プリズム
１２で反射され、対物レンズ１３を介して光磁気記録媒
体１４に入射する。光磁気記録媒体１４で反射された光
ビームは上述した第１、第２の実施例同様にカー回転を
与えられ、対物レンズ１３、全反射プリズム１２を介し
て、再びプリズム２１に入射する。前記プリズム２１の
入射端面２１ａは、偏光ビームスプリッタとしての機能
を具えており、光磁気記録媒体１４で反射された反射ビ
ームはここで反射されて、情報信号検出用の光検出器１
０に入射する。この反射光ビームの出射端面２１ｂに
は、第１実施例における単レンズ８と検光子９との機能
を持たせたホログラムが形成されており、この出射端面
２１ｂを通過した光ビームは、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分
とに分離され、光検出器１０にて情報信号を検出する。
戻り光を反射するプリズム２１の反射面２１ａにはＰ偏
光は５０％反射し、Ｓ偏光は１００％反射させる偏光特
性をもつ誘電体多層コートが形成されており、第１及び
第２の実施例と同様に戻り光のカー回転角を増大するよ
うにしている。

【００２３】このように、第３の実施例においては、半
導体レーザ３、ガルバノミラー１７、および全反射プリ
ズム１９とが共通の半導体基板に形成されていると共
に、整形プリズム、偏光ビームスプリッタ、及び検光子
の機能を兼ねるプリズム２１を使用しているため、固定
光学系１の部品点数を一層少なくすることができ、固定
光学系の簡素化、小型化、ひいては装置全体の小型化を
図ることができる。

【００２４】図４は、本発明の第４の実施例の構成を示
す図である。この実施例の光ピックアップ装置は、同時
ベリファイが可能なように構成されている。光源とし
て、半導体レーザアレイ２２を用い、λ1 、λ2 と波長
が異なる２本のレーザビームを、コリメータレンズ４を
介して平行光とし、コリメータレンズ４の対物側に第１
のダイクロックミラー２３を配置して、波長λ1 のレー
ザビームは透過させ、波長λ2 のレーザビームを反射さ
せてこの平行光を分離する。この２本のレーザビームの
内、波長λ1 のレーザビームをライトビームとして使用
し、波長λ2 の光をリードビームとして使用するものと
する。図４に示すように、整形プリズム２４は、第１の
整形プリズム２４ａ、第２の整形プリズム２４ｂ及び偏
光ビームスプリッタ２５とからなり、第１及び第２の整
形プリズム２４ａ、２４ｂの接合面には第２のダイクロ
ックミラー２４ｃが形成されている。波長λ1 のライト
ビームは、第１の整形プリズム２４ａの入射端面に入射
して円形ビームにビーム整形され、第２のダイクロック
ミラー面２４ｃを透過して進行する。一方、波長λ2の
リードビームは、第２の整形プリズム２４ｂの入射端面
に入射して、円形ビームにビーム整形され、第２のダイ
クロックミラー２４ｃで反射されて、前記ライトビーム
と合成される。合成ビームは反射プリズム面２４ｄで反
射されて、偏光ビームスプリッタ２５を通過して移動光
学系２へ入射する。

【００２５】ライトビームのトラッキング制御は、トラ
ッキングミラー５の補助アクチュエータ（図示せず）を
用いて行い、リードビームのトラッキング制御は、移動
光学系２に設けた対物レンズ１３の二次元アクチュエー
タ（図示せず）を用いて行うものとする。光磁気ディス
ク１４で反射されてカ−回転角を与えられた反射光ビー
ムは、整形プリズム２４の合成ビームの出射端面に接合
された偏光ビームスプリッタ２５で反射されて、単レン
ズ８を介して平行平面板２６に入射する。平行平面板２
６の入射面にはダイクロックミラー面２６ａが形成され
ており、このダイクロックミラー面２６ａで反射された
光ビームを検光子９を経て情報信号用光検出器１０に入
射させ情報信号及び制御信号の検出を行う。一方平行平
面板２６を透過した光ビームを２分割光検出器２７で受
光して、この２分割光検出器２７の出力に基づいてトラ
ッキングミラー５の制御を行う。

【００２６】トラッキングミラー５の傾き角度の検出
は、第１の整形プリズム２４ａに入射するライトビーム
の一部をその入射端面で反射させて取り出して、この光
ビームを２分割光検出器１１で受光して行う。この光検
出器１１の出力に基づいて、ライトビームの光軸ずれを
補正するようにしている。このように、本発明は、同時
ベリファイ用の光ピックアップ装置にも応用することが
できる。

【００２７】図５は、本発明の第５の実施例の構成を示
す図である。この実施例では、整形プリズムを移動光学
系２の中に設け、これに入射する入射ビームの一部を取
り出して２分割光検出器でトラッキングミラーの傾き角
度を検出するように構成している。固定光学系１は、半
導体レーザ３と、コリメータレンズ４と、トラッキング
ミラー５と、偏光ビームスプリッタ７と、単レンズ８
と、検光子９と、情報信号検出用光検出器１０とから構
成されており、移動光学系２は、整形プリズム６、２分
割光検出器１１、対物レンズ１３で構成されている。

【００２８】半導体レーザ３から射出した光ビームはコ
リメータレンズ４を通過して平行光となり、トラッキン
グミラー５で反射されて、偏光ビームスプリッタ７を透
過して移動光学系２に入射する。移動光学系２に設けら
れた整形プリズム６で、楕円形状の光ビームを円形ビー
ムに変換し、この円形ビームは対物レンズ１３を介して
光磁気記録媒体１４上に集束される。界磁コイル１５に
通電して、ピットの記録を行う。光磁気記録媒体１４で
反射した戻り光ビームはカー回転角を与えられており、
対物レンズ１３で平行光となって、整形プリズム６に入
射する。整形プリズム６で円形ビームは楕円形状の光ビ
ームに再び変換されて固定光学系１に設けた偏光ビーム
スプリッタ７に入射する。このビームスプリッタ７で反
射された光ビームは単レンズ８で集束され、検光子９を
通過して、情報信号用光検出器１０で受光され、情報信
号を検出する。

【００２９】整形プリズム６に入射する入射光の一部
を、整形プリズム６の入射端面で反射させて、この反射
光を２分割光検出器１１で受光して、トラッキングミラ
ー５の傾き角度の検出を行って、この出力に基づいて光
軸ずれの補正を行うようにする。

【００３０】このような構成においては、トラッキング
ミラー５と整形プリズム６との位置が離れているため
に、トラッキングミラー５の傾き角度の検出精度を高く
することができる。また、固定光学系１を通過する光ビ
ームは平行で楕円形状であるため、固定光学系の各光学
部品を小さくすることができる。更に、偏光ビームスプ
リッタ７と対物レンズ１３との間に整形プリズム６を配
置しているために、フォーカスオフセットを小さくする
ことができる。

【００３１】整形プリズム６に代えて、例えば反射型の
整形機能をもつホログラム素子を用いるようにしても良
い。

【００３２】本発明は上述の実施例に限定されるもので
はなく、さまざまな変更、変形が考えられる。例えば、
上述の実施例では、２分割光検出器１１はトラッキング
ミラーの傾き角度検出のみに用いるように説明してある
が、この光検出器１１の出力を半導体レーザ３から射出
する光ビームの光量を一定量に保つように制御する目的
に兼ねて使用するようにしても良い。

【００３３】また、上述の実施例では、ガルバノミラー
等の機械的偏向素子について述べたが、最近は、このよ
うな機械的偏向素子に代えて、表面弾性波を用いた薄膜
偏向素子を用いて、より高速なアクセス、及び広範囲な
偏向が可能な光ピックアップ装置が提案されており、本
発明をこのような光ピックアップ装置に応用することも
できる。すなわち、薄膜偏向素子を用いた光ピックアッ
プ装置においては、表面弾性波と交差する光ビームが、
音響光学相互作用によってブラック回折され、その回折
角（偏向角）は偏向素子に印加する信号周波数によって
変化する。したがって、この回折角を変化させることに
よって、レーザビームの回折方向が変化して偏向が行わ
れるように構成されているため、偏向素子と偏光ビーム
スプリッタとの間に整形プリズムを配置し、あるいは第
５実施例に示すように移動光学系に整形プリズムを配置
するなどして、上述の実施例と同様に、これらの整形プ
リズムに入射する入射ビームの一部を取り出して、回折
角度を検出し、その結果に応じて偏向素子に印加する信
号周波数を制御するようにすることができる。本発明の
実施例は光磁気記録媒体を例にとって説明したが、フォ
トクロミック記録媒体、又は相変化型記録媒体を用いる
光ピックアップ装置にも本発明を適用することができ
る。

【００３４】

【発明の効果】上述した通り、本発明の装置によると、
トラッキングミラーの傾き角度検出用に、光ビームを取
り出すための偏光プリズムを配置する必要がないため、
情報記録媒体への照射ビームの光量不足により、未記録
部分が発生することがない。また、整形プリズムを、ト
ラッキングミラーの後ろ側に配置し、整形プリズムでビ
ーム整形を行う前に入射光の一部を取り出してトラッキ
ングミラーの傾き角度の検出を行っているため、高感度
で角度の検出を行うことができる。更に、本発明の好適
な実施例では、共通の半導体基板上に半導体レーザ、ト
ラッキングミラー、反射プリズム等を一体的に形成する
ようにしているため、部品点数を減らすことができ、固
定光学系の小型化を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例の構成を示す図である。

【図２】本発明の第２の実施例の構成を示す図である。

【図３】本発明の第３の実施例の構成を示す図である。

【図４】本発明の第４の実施例の構成を示す図である。

【図５】本発明の第５の実施例の構成を示す図である。

【符号の説明】

１ 固定光学系 ２ 移動光学系 ３ 半導体レーザ ４ コリメータレンズ ５ トラッキングミラー ６、２１、２４ 整形プリズム ７ 偏光ビームスプリッタ ９ 検光子 １０ 情報信号用光検出器 １１ トラッキングミラー角度検出用２分割光検出器 １２ 全反射プリズム １３ 対物レンズ １４ 情報記録媒体 １５ 界磁コイル １７ ガルバノミラー １８ 半導体基板

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成３年１１月２８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１５】トラッキングミラーの傾き角度検出用の２
分割光検出器１１は、光磁気ディスク１４に形成されて
いるトラックの半径方向に対応するように２分割された
受光素子で構成されており、トラッキングミラー５が傾
くことなく設定されているとき、光検出器１１に入射す
る光ビームの強度分布の最大値の位置が分割線上に位置
するように設定されている。したがって、トラッキング
ミラー５に傾きがない状態では２分割光検出器１１の受
光素子の受光量は等しくなるが、トラッキングミラー５
が傾いた状態では、受光素子の受光量が異なるため、こ
の各受光素子の受光量を検出することによって、トラッ
キングミラーの傾きを検出することができる。光検出器
１０で検出されるトラッキングエラー信号の出力を光磁
気ディスク１４の半径方向に移動させる移動光学系のア
クチュエータ（図示せず）に供給して、この出力に基づ
いて移動光学系２を移動させて、トラッキングミラー５
の傾き角度検出信号をゼロにするようにサーボ制御し
て、移動光学系２に設けた対物レンズ１３の光軸と、対
物レンズ１３に入射する固定光学系１からの光ビームの
光軸のずれを、常に小さくなるように補正することがで
きる。 ─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成４年１月２７日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１４】整形プリズムを通過して円形に変換された
光ビームは、偏光ビームスプリッタ７を通過して、固定
光学系１を出て移動光学系２に設けられた全反射プリズ
ム１２に入射する。光ビームはこの全反射プリズム１２
で反射されて、対物レンズ１３を介して情報記録媒体で
ある光磁気ディスク１４の情報記録面で集束される。光
磁気ディスク１４上の情報記録面には、光磁気ディスク
１４の上方に設けられた界磁コイル１５と変調光ビーム
によって記録ピットが形成されており、これを光ビーム
スポットで走査すると、戻り光は記録ピットの磁化方向
に応じてカー回転成分を持つこととなる。この戻り光は
対物レンズ１２を通過して平行光となり、再び全反射プ
リズム１２で反射され、固定光学系１の偏光ビームスプ
リッタ７に入射する。尚、偏光ビームスプリッタ７の反
射面には、Ｐ偏光を５０％、Ｓ偏光を１００％反射する
ような偏光特性を持つ誘電体多層コートを設けて、戻り
光をこの反射面で反射するときにカー回転角を増大する
ようにしている。偏光ビームスプリッタ７の偏光面で反
射された戻り光は単レンズ８を通過して集束され、検光
子９に入射する。検光子９では、Ｐ偏光成分を１００％
透過させ、Ｓ偏光成分を１００％反射して、それぞれを
光検出器１０で受光し、これらの出力の差動を取って、
情報信号の再生を行うと共にフォーカスエラー信号及び
トラッキングエラー信号を検出する。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００２４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００２４】図４は、本発明の第４の実施例の構成を示
す図である。この実施例の光ピックアップ装置は、同時
ベリファイが可能なように構成されている。光源とし
て、半導体レーザアレイ２２を用い、λ1 、λ2 と波長
が異なる２本のレーザビームを、コリメータレンズ４を
介して平行光とし、コリメータレンズ４の対物側に第１
のダイクロックミラー２３を配置して、波長λ1 のレー
ザビームは透過させ、波長λ2 のレーザビームを反射さ
せてこの平行光を分離する。この２本のレーザビームの
内、波長λ1 のレーザビームをライトビームとして使用
し、波長λ2 のレーザビームをリードビームとして使用
するものとする。図４に示すように、整形プリズム２４
は、第１の整形プリズム２４ａ、第２の整形プリズム２
４ｂ及び偏光ビームスプリッタ２５とからなり、第１及
び第２の整形プリズム２４ａ、２４ｂの接合面には第２
のダイクロックミラー２４ｃが形成されている。波長λ
1 のライトビームは、第１の整形プリズム２４ａの入射
端面に入射して円形ビームにビーム整形され、第２のダ
イクロックミラー面２４ｃを透過して進行する。一方、
波長λ2 のリードビームは、第２の整形プリズム２４ｂ
の入射端面に入射して、円形ビームにビーム整形され、
第２のダイクロックミラー２４ｃで反射されて、前記ラ
イトビームと合成される。合成ビームは反射プリズム面
２４ｄで反射されて、偏光ビームスプリッタ２５を通過
して移動光学系２へ入射する。

【手続補正３】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図３】

【手続補正４】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図５

【補正方法】変更

【補正内容】

【図５】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 移動光学系と固定光学系とを具え、半導
   体レーザからの出射ビームをビーム整形プリズムを用い
   て整形して情報記録媒体上へ照射し、その戻り光を検出
   して信号の検出を行うと共に、前記出射ビームを偏向す
   る偏向手段を前記固定光学系に配置してトラッキングエ
   ラーの補正を行うようにした分離型光ピックアップ装置
   において、前記偏向手段を前記半導体レーザと前記整形
   プリズムとの間に配置して、前記出射ビームのビーム整
   形を行う前に前記偏向手段に入射する光ビームの一部を
   取り出して前記偏向手段の偏向角度を検出し、その検出
   結果に応じて前記移動光学系を駆動して情報記録媒体に
   対する入射光ビームと情報記録媒体からの戻り光ビーム
   との光軸ずれを補正するように構成したことを特徴とす
   る分離型ピックアップ装置。