JPH08171748A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH08171748A JPH08171748A JP7143285A JP14328595A JPH08171748A JP H08171748 A JPH08171748 A JP H08171748A JP 7143285 A JP7143285 A JP 7143285A JP 14328595 A JP14328595 A JP 14328595A JP H08171748 A JPH08171748 A JP H08171748A
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- Japan
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- divided
- photodetector
- disc
- optical pickup
- pickup device
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
- G11B11/10545—Heads for reproducing using optical beam of radiation interacting directly with the magnetisation on the record carrier
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
- G11B7/0912—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only by push-pull method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ２分割ホログラムを用いた３ビーム方式でデ
ィスク上に情報を記録したり、読み取ることのできる光
ピックアップ装置を提供する。 【構成】 本発明の光ピックアンブ装置は、光源である
レーザダイオード３１、偏光ビーム分割器３４、回折格
子４３、反射鏡３５、対物レンズ３６、第１光検出器４
１、ホログラム素子３２、第２光検出器３９、ウォラス
トンプリズム３７から構成される。
ィスク上に情報を記録したり、読み取ることのできる光
ピックアップ装置を提供する。 【構成】 本発明の光ピックアンブ装置は、光源である
レーザダイオード３１、偏光ビーム分割器３４、回折格
子４３、反射鏡３５、対物レンズ３６、第１光検出器４
１、ホログラム素子３２、第２光検出器３９、ウォラス
トンプリズム３７から構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ピックアップ装置に係
り、特にミニディスク（mini disc）や光磁気ディスク
等に情報を記録したり、情報を読み取ることのできる光
ピックアップ装置に関する。
り、特にミニディスク（mini disc）や光磁気ディスク
等に情報を記録したり、情報を読み取ることのできる光
ピックアップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１は従来の光ピックアップ装置の構成
図を示す。
図を示す。
【０００３】図１を参照すると、従来の光ピックアップ
装置はディスク２１上に光情報を記録したり、ディスク
２１から光情報を読み取るための装置で、光源のレーザ
ダイオード１１、回折格子１２、コリメーター（collim
ator）１３、偏光ビーム分割器（ＰＢＳ、polarizing b
eam splitter）１４、反射鏡１５、対物レンズ１６、改
良されたウォラストンプリズム（modified Wollaston p
rism）１７、結像レンズ１８、凹レンズ１９及び８分割
光検出器（photodetector）２０を含む。
装置はディスク２１上に光情報を記録したり、ディスク
２１から光情報を読み取るための装置で、光源のレーザ
ダイオード１１、回折格子１２、コリメーター（collim
ator）１３、偏光ビーム分割器（ＰＢＳ、polarizing b
eam splitter）１４、反射鏡１５、対物レンズ１６、改
良されたウォラストンプリズム（modified Wollaston p
rism）１７、結像レンズ１８、凹レンズ１９及び８分割
光検出器（photodetector）２０を含む。
【０００４】回折格子１２は、レーザダイオード１１か
ら発散されるレーザビームより、ディスク２１上に記録
された光情報の読み取り及び焦点エラー（focus erro
r）検出用の１本の主ビーム（main beam）と、ディスク
２１のトラッキングエラー（tracking error）検出用の
２本の補助ビーム（sub beam）とを作る。コリメーター
１３は、回折格子１２を通過した１本の主ビームと２本
の補助ビームとを平行ビームとする。
ら発散されるレーザビームより、ディスク２１上に記録
された光情報の読み取り及び焦点エラー（focus erro
r）検出用の１本の主ビーム（main beam）と、ディスク
２１のトラッキングエラー（tracking error）検出用の
２本の補助ビーム（sub beam）とを作る。コリメーター
１３は、回折格子１２を通過した１本の主ビームと２本
の補助ビームとを平行ビームとする。
【０００５】偏光ビーム分割器１４は、コリメーター１
３から入射される各ビームのＳ波成分を全反射させ、Ｐ
波成分の一部を反射させ、残りを反射鏡１５に透過させ
る。また偏光ビーム分割器１４は、ディスク２１から反
射された各ビームのＳ波成分をウォラストンプリズム１
７に全反射させ、Ｐ波成分の一部をウォラストンプリズ
ム１７に反射させ、残りを透過させる。
３から入射される各ビームのＳ波成分を全反射させ、Ｐ
波成分の一部を反射させ、残りを反射鏡１５に透過させ
る。また偏光ビーム分割器１４は、ディスク２１から反
射された各ビームのＳ波成分をウォラストンプリズム１
７に全反射させ、Ｐ波成分の一部をウォラストンプリズ
ム１７に反射させ、残りを透過させる。
【０００６】反射鏡１５は、ＰＢＳ１４を透過したＰ波
成分を有する３本のビームをディスク２１側に反射させ
たり、ディスク２１から反射されたＰ波およびＳ波成分
を有する３本のビームをＰＢＳ１４に反射させる。
成分を有する３本のビームをディスク２１側に反射させ
たり、ディスク２１から反射されたＰ波およびＳ波成分
を有する３本のビームをＰＢＳ１４に反射させる。
【０００７】対物レンズ１６は、反射鏡１５を介して反
射されたＰ波成分を有する３本のビームをディスク２１
上に集束させたり、ディスク２１から反射されたＰ波お
よびＳ波成分が混合された３本のビームを再び平行ビー
ムとする。
射されたＰ波成分を有する３本のビームをディスク２１
上に集束させたり、ディスク２１から反射されたＰ波お
よびＳ波成分が混合された３本のビームを再び平行ビー
ムとする。
【０００８】ウォラストンプリズム１７は、ディスク２
１から反射される３本のビームをＰＢＳ１４を介して受
け取る。また、３本のビームのうち、主ビームを図４に
示すようにＰ波成分、Ｓ波成分及びＰ＋Ｓ波成分のビー
ムに分離し、且つ補助ビームをＰ波成分とＳ波成分のビ
ームに各々分離し、分離された３本の主ビームと２本の
補助ビームの５本のビームを結像レンズ１８に入射させ
る。
１から反射される３本のビームをＰＢＳ１４を介して受
け取る。また、３本のビームのうち、主ビームを図４に
示すようにＰ波成分、Ｓ波成分及びＰ＋Ｓ波成分のビー
ムに分離し、且つ補助ビームをＰ波成分とＳ波成分のビ
ームに各々分離し、分離された３本の主ビームと２本の
補助ビームの５本のビームを結像レンズ１８に入射させ
る。
【０００９】結像レンズ１８はウォラストンプリズム１
７を通過した５本のビームを結像するためのものであ
る。凹レンズ１９は円環形の表面（toric surface）を
有し、結像レンズ１８を通過したビームの角度を増加さ
せるとともに、焦点エラーの検出のために結像レンズ１
８を通過した主ビームに非点収差を発生させる。
７を通過した５本のビームを結像するためのものであ
る。凹レンズ１９は円環形の表面（toric surface）を
有し、結像レンズ１８を通過したビームの角度を増加さ
せるとともに、焦点エラーの検出のために結像レンズ１
８を通過した主ビームに非点収差を発生させる。
【００１０】８分割光検出器２０は図２のように８分割
領域から構成されているが、８分割領域のうち、中央
の”ａ、ｂ、ｃ、ｄ”分割領域は、凹レンズ１９から入
射される主ビームより分離されたＳ＋Ｐ波成分のビーム
が集束される領域であり、”ａ、ｂ、ｃ、ｄ”領域で検
出された信号により焦点エラーを検出する。前記“ａ、
ｂ、ｃ、ｄ”分割領域の上下の“ｅ”と“ｆ”分割領域
は、補助ビームから各々分離されたＰ波とＳ波成分のビ
ームが集束される領域で、“ｅ”領域と“ｆ”領域で検
出された信号の差よりトラッキングエラーを検知する。
“ａ、ｂ、ｃ、ｄ”領域の左右の“ｉ”と“ｊ”領域は
主ビームから分離されたＳ波とＰ波成分のビームが集束
される領域で、“ｉ”領域と“ｊ”領域で検出された信
号よりディスク２１上に記録された光情報を読み取るこ
とができる。
領域から構成されているが、８分割領域のうち、中央
の”ａ、ｂ、ｃ、ｄ”分割領域は、凹レンズ１９から入
射される主ビームより分離されたＳ＋Ｐ波成分のビーム
が集束される領域であり、”ａ、ｂ、ｃ、ｄ”領域で検
出された信号により焦点エラーを検出する。前記“ａ、
ｂ、ｃ、ｄ”分割領域の上下の“ｅ”と“ｆ”分割領域
は、補助ビームから各々分離されたＰ波とＳ波成分のビ
ームが集束される領域で、“ｅ”領域と“ｆ”領域で検
出された信号の差よりトラッキングエラーを検知する。
“ａ、ｂ、ｃ、ｄ”領域の左右の“ｉ”と“ｊ”領域は
主ビームから分離されたＳ波とＰ波成分のビームが集束
される領域で、“ｉ”領域と“ｊ”領域で検出された信
号よりディスク２１上に記録された光情報を読み取るこ
とができる。
【００１１】前記構造の光ピックアップ装置の動作を、
図２乃至図６を参照して詳しく説明する。
図２乃至図６を参照して詳しく説明する。
【００１２】光源のレーザダイオード１１から発散され
るレーザビームは、回折格子１２によって１本の主ビー
ムＬ１と２本の補助ビームＬ２、Ｌ３とに回折され、主
ビームと補助ビームとの３本のビームＬ１〜Ｌ３はコリ
メーター１３により平行ビームとなってＰＢＳ１４に入
射される。ＰＢＳ１４は３本のビームのＳ波成分は１０
０％反射させ、Ｐ波成分は５０％ずつ各々反射及び透過
させる。従って、入射するビームのＳ波成分はＰＢＳ１
４により全反射され、Ｐ波成分はＰＢＳ１４を介して一
部は反射され、残りは透過して反射鏡１５に入射する。
反射鏡１５はＰＢＳ１４からＰ波成分のビームを受け取
り、これをディスク２１側に反射する。反射されたビー
ムは対物レンズ１６を介してディスク２１上に集束され
る。
るレーザビームは、回折格子１２によって１本の主ビー
ムＬ１と２本の補助ビームＬ２、Ｌ３とに回折され、主
ビームと補助ビームとの３本のビームＬ１〜Ｌ３はコリ
メーター１３により平行ビームとなってＰＢＳ１４に入
射される。ＰＢＳ１４は３本のビームのＳ波成分は１０
０％反射させ、Ｐ波成分は５０％ずつ各々反射及び透過
させる。従って、入射するビームのＳ波成分はＰＢＳ１
４により全反射され、Ｐ波成分はＰＢＳ１４を介して一
部は反射され、残りは透過して反射鏡１５に入射する。
反射鏡１５はＰＢＳ１４からＰ波成分のビームを受け取
り、これをディスク２１側に反射する。反射されたビー
ムは対物レンズ１６を介してディスク２１上に集束され
る。
【００１３】１本の主ビームと２本の補助ビームとの３
本のビームＬ１〜Ｌ３は、対物レンズ１６によりディス
ク２１のトラック２１−１上に図３のように集束され
る。３本のビームのうち、主ビームＬ１は情報の読み取
り及び焦点エラーの検出に用いられ、２本の補助ビーム
Ｌ２およびＬ３はトラッキングエラーの検出に用いられ
る。ディスク２１のトラック２１−１上に集束された３
本のビームは、ディスク２１に記録された光情報読み出
し及び焦点エラーとトラッキングエラーの検出に必要な
情報をもってディスク２１から反射される。ここで、記
録された光情報はピット（Pit）情報又は磁化方向によ
るカー・ローテーション（Kerr rotation）を意味す
る。
本のビームＬ１〜Ｌ３は、対物レンズ１６によりディス
ク２１のトラック２１−１上に図３のように集束され
る。３本のビームのうち、主ビームＬ１は情報の読み取
り及び焦点エラーの検出に用いられ、２本の補助ビーム
Ｌ２およびＬ３はトラッキングエラーの検出に用いられ
る。ディスク２１のトラック２１−１上に集束された３
本のビームは、ディスク２１に記録された光情報読み出
し及び焦点エラーとトラッキングエラーの検出に必要な
情報をもってディスク２１から反射される。ここで、記
録された光情報はピット（Pit）情報又は磁化方向によ
るカー・ローテーション（Kerr rotation）を意味す
る。
【００１４】この際、ディスク２１上にＰ波成分のビー
ムが集束されるが、ディスク２１から反射されるビーム
はディスク２１のトラック２１−１に情報が記録されて
いるかどうかによってその成分が異なってくる。即ち、
ディスク２１のトラック２１−１上に情報が記録されて
いない場合は、ディスク２１から反射されるビームはＳ
波成分を含まないＰ波成分のビームであるが、ディスク
２１のトラック２１−１上に情報が記録されている場合
は、ディスク２１から反射されるビームはＳ波及びＰ波
成分の両方を含んでいる混合ビームである。
ムが集束されるが、ディスク２１から反射されるビーム
はディスク２１のトラック２１−１に情報が記録されて
いるかどうかによってその成分が異なってくる。即ち、
ディスク２１のトラック２１−１上に情報が記録されて
いない場合は、ディスク２１から反射されるビームはＳ
波成分を含まないＰ波成分のビームであるが、ディスク
２１のトラック２１−１上に情報が記録されている場合
は、ディスク２１から反射されるビームはＳ波及びＰ波
成分の両方を含んでいる混合ビームである。
【００１５】対物レンズ１６を介してディスク２１から
反射された３本のビームは反射鏡１５によりＰＢＳ１４
に入射する。ＰＢＳ１４は入射されたビームのうち、Ｓ
波成分は全部ウォラストンプリズム１７に反射させ、Ｐ
波成分は５０％をウォラストンプリズム１７に反射させ
且つ５０％を透過させる。従って、ディスク２１から反
射されたビームのうち、Ｓ波成分はＰＢＳ１４を介して
全反射されてウォラストンプリズム１７に入射し、Ｐ波
成分はＰＢＳ１４を介して５０％のみ反射されてウォラ
ストンプリズム１７に入射する。ウォラストンプリズム
１７は、図４に示すように、ＰＢＳ１４を介して入射さ
れる主ビームをＳ波、Ｐ波及びＳ＋Ｐ波成分の３本のビ
ームに分離する。また、補助ビームをＰ波及びＳ波成分
の２本のビームに分離する。従って、ディスク２１から
反射された３本のビームは、ウォラストンプリズム１７
を通って５本のビームに分離され、結像レンズ１８を介
して凹レンズ１９に入射される。
反射された３本のビームは反射鏡１５によりＰＢＳ１４
に入射する。ＰＢＳ１４は入射されたビームのうち、Ｓ
波成分は全部ウォラストンプリズム１７に反射させ、Ｐ
波成分は５０％をウォラストンプリズム１７に反射させ
且つ５０％を透過させる。従って、ディスク２１から反
射されたビームのうち、Ｓ波成分はＰＢＳ１４を介して
全反射されてウォラストンプリズム１７に入射し、Ｐ波
成分はＰＢＳ１４を介して５０％のみ反射されてウォラ
ストンプリズム１７に入射する。ウォラストンプリズム
１７は、図４に示すように、ＰＢＳ１４を介して入射さ
れる主ビームをＳ波、Ｐ波及びＳ＋Ｐ波成分の３本のビ
ームに分離する。また、補助ビームをＰ波及びＳ波成分
の２本のビームに分離する。従って、ディスク２１から
反射された３本のビームは、ウォラストンプリズム１７
を通って５本のビームに分離され、結像レンズ１８を介
して凹レンズ１９に入射される。
【００１６】非点収差を発生させる円環形の表面を有す
る凹レンズ１９は、結像レンズ１８から入射される５本
のビームの開き角を増加させるとともに、焦点エラー
（focus error）を検出するための主ビームに非点収差
を発生させる。凹レンズ１９を通過した５本のビーム
は、図５に示すように８分割光検出器２０に集束され
る。従って、図５の８分割光検出器２０の各領域に集束
される５本のビームの形態よりトラッキングエラーと焦
点エラーを検出し、且つディスク２１に記録された情報
を読み取る。
る凹レンズ１９は、結像レンズ１８から入射される５本
のビームの開き角を増加させるとともに、焦点エラー
（focus error）を検出するための主ビームに非点収差
を発生させる。凹レンズ１９を通過した５本のビーム
は、図５に示すように８分割光検出器２０に集束され
る。従って、図５の８分割光検出器２０の各領域に集束
される５本のビームの形態よりトラッキングエラーと焦
点エラーを検出し、且つディスク２１に記録された情報
を読み取る。
【００１７】先ず、補助ビームによるトラッキングエラ
ー信号（Tracking Error Signal、ＴＥＳ）は、３本の
ビームの検出方法による８分割光検出器２０の“ｅ”分
割領域と“ｆ”分割領域上に集束されたビームより検出
され、下記の式（１）のように表現される。
ー信号（Tracking Error Signal、ＴＥＳ）は、３本の
ビームの検出方法による８分割光検出器２０の“ｅ”分
割領域と“ｆ”分割領域上に集束されたビームより検出
され、下記の式（１）のように表現される。
【００１８】ＴＥＳ＝Ｓｅ−Ｓｆ・・・・（１） ここで、ＳｅとＳｆは各々８分割光検出器２０の“ｅ”
分割領域と“ｆ”分割領域上に集束されたビームの電気
的信号を示す。
分割領域と“ｆ”分割領域上に集束されたビームの電気
的信号を示す。
【００１９】一方、焦点エラー信号（Focus Error Sign
al、ＦＥＳ）は“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”分割領域上に集束さ
れたビームより検出され、下記の式（２）のように表現
される。
al、ＦＥＳ）は“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”分割領域上に集束さ
れたビームより検出され、下記の式（２）のように表現
される。
【００２０】 ＦＥＳ＝（Ｓａ＋Ｓｃ）−（Ｓｂ＋Ｓｄ）・・・・・（２） ここで、Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄは８分割光検出器２０
の”ａ”、”ｂ”、”ｃ”、および”ｄ”分割領域上に
集束されたビームの電気的信号を各々示す。
の”ａ”、”ｂ”、”ｃ”、および”ｄ”分割領域上に
集束されたビームの電気的信号を各々示す。
【００２１】図６は、非点収差により８分割光検出器２
０の“ａ”、“ｂ”、“ｃ”及び“ｄ”分割領域上に集
束されるビームの形態変化を示すもので、ディスク２１
と対物レンズ１６との間隔が変化するにしたがって分割
領域に集束されるビームの形態が変化している。即ち、
分割領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”上におけるビームの集束形
態を示すもので、図６（ａ）は対物レンズ１６とディス
ク２１との間隔が適切に保持されて焦点エラーが発生し
ていない場合、図６（ｂ）は対物レンズ１６とディスク
２１との間隔が遠いせいで焦点エラーが発生した場合、
図６（ｃ）は対物レンズ１６とディスク２１との間隔が
近いせいで焦点エラーが発生した場合を各々示す。
０の“ａ”、“ｂ”、“ｃ”及び“ｄ”分割領域上に集
束されるビームの形態変化を示すもので、ディスク２１
と対物レンズ１６との間隔が変化するにしたがって分割
領域に集束されるビームの形態が変化している。即ち、
分割領域“ａ，ｂ，ｃ，ｄ”上におけるビームの集束形
態を示すもので、図６（ａ）は対物レンズ１６とディス
ク２１との間隔が適切に保持されて焦点エラーが発生し
ていない場合、図６（ｂ）は対物レンズ１６とディスク
２１との間隔が遠いせいで焦点エラーが発生した場合、
図６（ｃ）は対物レンズ１６とディスク２１との間隔が
近いせいで焦点エラーが発生した場合を各々示す。
【００２２】光磁気ディスクの場合、ディスク上に形成
されているグルーブ（groove）の情報は、 ＡＤＩＰ（Address In Pregroove）＝（Ｓａ＋Ｓｄ）−
（Ｓｂ＋Ｓｃ） 又はＡＴＩＰ（Absolute Time in Pregroove） のような信号系を構成して検出する。
されているグルーブ（groove）の情報は、 ＡＤＩＰ（Address In Pregroove）＝（Ｓａ＋Ｓｄ）−
（Ｓｂ＋Ｓｃ） 又はＡＴＩＰ（Absolute Time in Pregroove） のような信号系を構成して検出する。
【００２３】前記の式（１）、（２）より分かるよう
に、トラッキングエラー（tracking error）と焦点エラ
ー（focus error）が発生しなければ、トラッキングエ
ラー信号ＴＥＳ＝０となり、且つ焦点エラー信号ＦＥＳ
＝０となる。
に、トラッキングエラー（tracking error）と焦点エラ
ー（focus error）が発生しなければ、トラッキングエ
ラー信号ＴＥＳ＝０となり、且つ焦点エラー信号ＦＥＳ
＝０となる。
【００２４】ディスク２１上に記録された情報は８分割
光検出器２０の“ｉ”分割領域上に集束されたＳ波成分
の主ビームと、８分割光検出器２０の“ｊ”分割領域に
集束したＰ波成分の主ビームとより読み出される。
光検出器２０の“ｉ”分割領域上に集束されたＳ波成分
の主ビームと、８分割光検出器２０の“ｊ”分割領域に
集束したＰ波成分の主ビームとより読み出される。
【００２５】光磁気信号（磁化方向によるカー・ローテ
ーション）を読み出す場合は、下記の式（３）でのよう
に“ｉ”と“ｊ”分割領域上に集束されたビームの信号
差より光情報を読み出す。
ーション）を読み出す場合は、下記の式（３）でのよう
に“ｉ”と“ｊ”分割領域上に集束されたビームの信号
差より光情報を読み出す。
【００２６】 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓｉ−Ｓｊ・・・・・（３） 一方、ディスク２１に記録された凸凹形状のピット信号
を読み出す場合は、下記の式（４）でのように８分割光
検出器２０の“ｉ”と“ｊ”分割領域上に集束されたビ
ームの光量変化より読み出す。
を読み出す場合は、下記の式（４）でのように８分割光
検出器２０の“ｉ”と“ｊ”分割領域上に集束されたビ
ームの光量変化より読み出す。
【００２７】 光情報信号（ピット信号）＝Ｓｉ＋Ｓｊ・・・・・（４） ここで、ＳｉとＳｊは８分割光検出器２０の“ｉ”と
“ｊ”分割領域上に集束されたビームの電気的信号を各
々示す。
“ｊ”分割領域上に集束されたビームの電気的信号を各
々示す。
【００２８】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の光ピッ
クアップ装置は次のような短所がある。
クアップ装置は次のような短所がある。
【００２９】従来の光ピックアップ装置は３本のビーム
により焦点エラーを検出するために非点収差を使用する
ので、非点収差を発生させるために、製作が難しくて高
い円環形の凹レンズを使用している。それのみではな
く、焦点エラー検出用のＰ＋Ｓ波成分の混合ビームをデ
ィスクで反射された主ビームから分離するために、製作
の難しい改良されたウォラストンプリズムを使用した。
また、レーザダイオードから発散されるビームの一部を
ディスクに入射させたり、ディスクから反射されたビー
ムの一部を改良されたウォラストンプリズムに入射させ
るために、製作の難しい５角形のＰＢＳを使用した。
により焦点エラーを検出するために非点収差を使用する
ので、非点収差を発生させるために、製作が難しくて高
い円環形の凹レンズを使用している。それのみではな
く、焦点エラー検出用のＰ＋Ｓ波成分の混合ビームをデ
ィスクで反射された主ビームから分離するために、製作
の難しい改良されたウォラストンプリズムを使用した。
また、レーザダイオードから発散されるビームの一部を
ディスクに入射させたり、ディスクから反射されたビー
ムの一部を改良されたウォラストンプリズムに入射させ
るために、製作の難しい５角形のＰＢＳを使用した。
【００３０】従って、従来の光ピックアップ装置は、デ
ィスク上に記録された情報を読み出すために用いられた
光学部品の数が多く、製作が難しくて高い部品を使用し
たため、光ピックアップ装置の構造が複雑であるばかり
ではなく、製造コストが高いという問題点があった。ま
た、光学部品の数の増加により光学ピックアップ装置自
体の重さが増加して、ディスク上に記録された情報を読
み出すためのアクセス時間が増加するので、情報読み取
り速度が低下するという問題点があった。
ィスク上に記録された情報を読み出すために用いられた
光学部品の数が多く、製作が難しくて高い部品を使用し
たため、光ピックアップ装置の構造が複雑であるばかり
ではなく、製造コストが高いという問題点があった。ま
た、光学部品の数の増加により光学ピックアップ装置自
体の重さが増加して、ディスク上に記録された情報を読
み出すためのアクセス時間が増加するので、情報読み取
り速度が低下するという問題点があった。
【００３１】本発明の目的は、２分割ホログラムを用い
た３ビーム方式でディスク上に情報を記録したり、読み
取ることのできる光ピックアップ装置を提供することに
ある。本発明の別の目的は、光学部品の数を減少してデ
ィスク上に記録された情報の読み取り速度を向上させる
ための光ピックアップ装置を提供することにある。本発
明のさらに別の目的は、製造コストを減少させることの
できる、単純な構造の光ピックアップ装置を提供するこ
とにある。
た３ビーム方式でディスク上に情報を記録したり、読み
取ることのできる光ピックアップ装置を提供することに
ある。本発明の別の目的は、光学部品の数を減少してデ
ィスク上に記録された情報の読み取り速度を向上させる
ための光ピックアップ装置を提供することにある。本発
明のさらに別の目的は、製造コストを減少させることの
できる、単純な構造の光ピックアップ装置を提供するこ
とにある。
【００３２】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の光ピックアップ装置は、光源のレーザダイオ
ードと、レーザダイオードから発散されるビーム又はデ
ィスクから反射されるビームのうち、Ｓ波成分は全反射
させ、Ｐ波成分は一部を反射させ残りを透過させる偏光
ビーム分割器と、レーザダイオードと偏光ビーム分割器
との間に位置し、レーザダイオードからのビームを１本
の主ビームと２本の補助ビームとにして偏光ビーム分割
器に入射させる回折格子と、偏光ビーム分割器とディス
クとの間に位置し、偏光ビーム分割器を透過したビーム
をディスク側に反射させ、ディスクから反射されたビー
ムを偏光ビーム分割器側に反射させるための反射鏡と、
反射鏡とディスクとの間に位置し、反射鏡で反射された
ビームをディスク上に集束させたり、ディスクから反射
されたビームを平行ビームにするための対物レンズと、
複数個の分割領域を有し、各分割領域に集束されるビー
ムよりトラッキングエラー及び焦点エラーを検出するた
めの第１光検出器と、１個のホログラムの参照光の位置
はレーザダイオードの発光点、物体光の位置は第１光検
出器を通る前の集束点であり、他のホログラムの参照光
の位置はレーザダイオードの発光点、物体光の位置は第
１光検出器を通った後の集束点である２個の半円形のホ
ログラムで構成されており、回折格子と偏光ビーム分割
器との間に位置し、回折格子からの３本のビームを偏光
ビーム分割器に入射させたり、偏光ビーム分割器を透過
したＰ波成分のビームを回折させて第１光検出器に集束
させるための２分割ホログラム素子と、６分割領域を有
し、各分制領域に集束されるビームによりディスクに記
録された情報を検出するための第２光検出器と、偏光ビ
ーム分割器と第２光検出器との間に位置し、偏光ビーム
分割器からのＰ波とＳ波成分との混合ビームからＰ波と
Ｓ波成分のビームを分離して、第２光検出器に入射させ
るためのウォラストンプリズムとを具備しており、その
ことにより上記目的を達成する。
の本発明の光ピックアップ装置は、光源のレーザダイオ
ードと、レーザダイオードから発散されるビーム又はデ
ィスクから反射されるビームのうち、Ｓ波成分は全反射
させ、Ｐ波成分は一部を反射させ残りを透過させる偏光
ビーム分割器と、レーザダイオードと偏光ビーム分割器
との間に位置し、レーザダイオードからのビームを１本
の主ビームと２本の補助ビームとにして偏光ビーム分割
器に入射させる回折格子と、偏光ビーム分割器とディス
クとの間に位置し、偏光ビーム分割器を透過したビーム
をディスク側に反射させ、ディスクから反射されたビー
ムを偏光ビーム分割器側に反射させるための反射鏡と、
反射鏡とディスクとの間に位置し、反射鏡で反射された
ビームをディスク上に集束させたり、ディスクから反射
されたビームを平行ビームにするための対物レンズと、
複数個の分割領域を有し、各分割領域に集束されるビー
ムよりトラッキングエラー及び焦点エラーを検出するた
めの第１光検出器と、１個のホログラムの参照光の位置
はレーザダイオードの発光点、物体光の位置は第１光検
出器を通る前の集束点であり、他のホログラムの参照光
の位置はレーザダイオードの発光点、物体光の位置は第
１光検出器を通った後の集束点である２個の半円形のホ
ログラムで構成されており、回折格子と偏光ビーム分割
器との間に位置し、回折格子からの３本のビームを偏光
ビーム分割器に入射させたり、偏光ビーム分割器を透過
したＰ波成分のビームを回折させて第１光検出器に集束
させるための２分割ホログラム素子と、６分割領域を有
し、各分制領域に集束されるビームによりディスクに記
録された情報を検出するための第２光検出器と、偏光ビ
ーム分割器と第２光検出器との間に位置し、偏光ビーム
分割器からのＰ波とＳ波成分との混合ビームからＰ波と
Ｓ波成分のビームを分離して、第２光検出器に入射させ
るためのウォラストンプリズムとを具備しており、その
ことにより上記目的を達成する。
【００３３】前記光ピックアップ装置は、焦点エラー信
号又はトラッキングエラー信号を補正するために、前記
対物レンズを上下、又は左右に移動させるアクチュエー
タをさらに具備していてもよい。
号又はトラッキングエラー信号を補正するために、前記
対物レンズを上下、又は左右に移動させるアクチュエー
タをさらに具備していてもよい。
【００３４】ディスク面をｘｙ平面とし、前記ディスク
に垂直な方向をｚ軸とすれば、レーザダイオードからの
ビームが偏光ビーム分割器に入射されるときにＰ偏光と
されるように、半導体レーザの活性層がｘｙ平面に平行
であるように構成されていてもよい。
に垂直な方向をｚ軸とすれば、レーザダイオードからの
ビームが偏光ビーム分割器に入射されるときにＰ偏光と
されるように、半導体レーザの活性層がｘｙ平面に平行
であるように構成されていてもよい。
【００３５】ウォラストンプリズムからＰ波とＳ波成分
のビームが互いに一定の角度を保持して分離されてもよ
い。
のビームが互いに一定の角度を保持して分離されてもよ
い。
【００３６】第１光検出器は、同じ大きさを有し且つ横
方向に配列された第１乃至第４分割領域と、該第１乃至
第４分割領域の面積を合わせた大きさと同じ面積を有し
且つ該第１乃至第４分割領域の上下部に各々配列された
第５及び第６分割領域とで構成され、第１分割領域と第
２分割領域との間隔は第３分割領域と第４分割領域との
間隔と同一であり、第２分割領域と第３分割領域との間
隔よりは小さくてもよい。
方向に配列された第１乃至第４分割領域と、該第１乃至
第４分割領域の面積を合わせた大きさと同じ面積を有し
且つ該第１乃至第４分割領域の上下部に各々配列された
第５及び第６分割領域とで構成され、第１分割領域と第
２分割領域との間隔は第３分割領域と第４分割領域との
間隔と同一であり、第２分割領域と第３分割領域との間
隔よりは小さくてもよい。
【００３７】６分割光検出器の第１と第４分割領域に集
束されたビームと、第２と第３分割領域に集束されたビ
ームとの信号差より焦点エラー信号を検出してもよい。
束されたビームと、第２と第３分割領域に集束されたビ
ームとの信号差より焦点エラー信号を検出してもよい。
【００３８】６分割検出器の第５分割領域と第６分割領
域に集束されたビームの信号差よりトラッキングエラー
信号を検出してもよい。
域に集束されたビームの信号差よりトラッキングエラー
信号を検出してもよい。
【００３９】６分割光検出器の第１分割領域と第２分割
領域に集束されたビームと、第３分割領域と第４分割領
域に集束されたビームとの信号差よりディスク上のグル
ーブに対する情報を検出してもよい。
領域に集束されたビームと、第３分割領域と第４分割領
域に集束されたビームとの信号差よりディスク上のグル
ーブに対する情報を検出してもよい。
【００４０】第２光検出器は２個の分割領域を有する２
分割光検出器であってもよい。
分割光検出器であってもよい。
【００４１】ディスク上の情報が光磁気情報であると
き、２分割光検出器の各分割領域に接続されたビームの
信号差よりディスク上の光情報を検出してもよい。
き、２分割光検出器の各分割領域に接続されたビームの
信号差よりディスク上の光情報を検出してもよい。
【００４２】ディスク上の情報がピット情報であると
き、２分割光検出器の各分割領域に集束された光量の変
化よりディスク上の光情報を検出してもよい。
き、２分割光検出器の各分割領域に集束された光量の変
化よりディスク上の光情報を検出してもよい。
【００４３】偏光ビーム分割器のＰ波成分の反射比は
７：３乃至６：４であってもよい。
７：３乃至６：４であってもよい。
【００４４】
【作用】本発明の光ピックアップ装置においては、レー
ザダイオードから出射したビームは、回折格子、偏光ビ
ーム分割器、反射鏡をこの順に経て、対物レンズによっ
てディスクに集光される。ディスクによって反射された
ビームは、対物レンズによって再び平行ビームにされて
から、反射鏡を介して偏光ビーム分割器に入射し、ここ
で、焦点エラーおよびトラッキングエラー検出用のビー
ムと、光情報を読み出すためのビームとに分割される。
焦点エラーおよびトラッキングエラー検出用のビーム
は、２分割ホログラム素子を通過して、第１光検出器の
分割領域に集束される。２分割ホログラム素子は、参照
光の位置がレーザダイオードの発光点であり、物体光の
位置は第１光検出器よりも前にあるビームの集束点であ
るようなホログラムと、参照光の位置がレーザダイオー
ドの発光点であり、物体光の位置は第１光検出器よりも
後ろにあるビームの集束点であるようなホログラムとを
有している。このような２分割ホログラム素子を用いる
ことにより、Ｓ＋Ｐ波成分のビームを用いなくても焦点
エラーを検出することが可能となる。また、従来用いら
れていたような凹レンズも必要なくなる。したがって、
制作が難しく高価な光学部品の数を減らすことができる
ため、光ピックアップ装置全体の製造コストを低減する
ことができ、光ピックアップ装置の構造も簡素化するこ
とができる。また、構造の簡素化により光ピックアップ
装置全体の重さを減少することができるため、アクセス
時間の低減が可能となり、その結果、情報読み取り速度
を高めることができる。
ザダイオードから出射したビームは、回折格子、偏光ビ
ーム分割器、反射鏡をこの順に経て、対物レンズによっ
てディスクに集光される。ディスクによって反射された
ビームは、対物レンズによって再び平行ビームにされて
から、反射鏡を介して偏光ビーム分割器に入射し、ここ
で、焦点エラーおよびトラッキングエラー検出用のビー
ムと、光情報を読み出すためのビームとに分割される。
焦点エラーおよびトラッキングエラー検出用のビーム
は、２分割ホログラム素子を通過して、第１光検出器の
分割領域に集束される。２分割ホログラム素子は、参照
光の位置がレーザダイオードの発光点であり、物体光の
位置は第１光検出器よりも前にあるビームの集束点であ
るようなホログラムと、参照光の位置がレーザダイオー
ドの発光点であり、物体光の位置は第１光検出器よりも
後ろにあるビームの集束点であるようなホログラムとを
有している。このような２分割ホログラム素子を用いる
ことにより、Ｓ＋Ｐ波成分のビームを用いなくても焦点
エラーを検出することが可能となる。また、従来用いら
れていたような凹レンズも必要なくなる。したがって、
制作が難しく高価な光学部品の数を減らすことができる
ため、光ピックアップ装置全体の製造コストを低減する
ことができ、光ピックアップ装置の構造も簡素化するこ
とができる。また、構造の簡素化により光ピックアップ
装置全体の重さを減少することができるため、アクセス
時間の低減が可能となり、その結果、情報読み取り速度
を高めることができる。
【００４５】
【実施例】図７は本発明の実施例による光ピックアップ
装置の構成図で、図７（ａ）はディスクの原点からｘ−
ｚ方向における構成図、図７（ｂ）はディスクの原点か
らｘ−ｙ方向における構成図である。ここで、ｘ−ｚ又
はｘ−ｙ方向はディスクの中心を原点としたものであ
る。
装置の構成図で、図７（ａ）はディスクの原点からｘ−
ｚ方向における構成図、図７（ｂ）はディスクの原点か
らｘ−ｙ方向における構成図である。ここで、ｘ−ｚ又
はｘ−ｙ方向はディスクの中心を原点としたものであ
る。
【００４６】図７を参照すると、本発明の実施例による
光ピックアップ装置はコリメーター３３、偏光ビーム分
割器３４、反射鏡３５、対物レンズ３６、プリズム３
７、集束レンズ３８、２分割光検出器３９、アクチュエ
ータ４２及びホログラムレーザ装置（hologram laser u
nit）４０から構成されている。
光ピックアップ装置はコリメーター３３、偏光ビーム分
割器３４、反射鏡３５、対物レンズ３６、プリズム３
７、集束レンズ３８、２分割光検出器３９、アクチュエ
ータ４２及びホログラムレーザ装置（hologram laser u
nit）４０から構成されている。
【００４７】ホログラムレーザ装置４０は、光源のレー
ザダイオード３１と、レーザダイオード３１から出射さ
れるレーザビームを１本の主ビームと２本の補助ビーム
からなる３本のビームとするための回折格子４３と、回
折格子４３からの３本のビームをコリメーター３３を介
して偏光ビーム分割器３４に入射させたり、ディスク４
４から反射されたビームを回折させるための２分割ホロ
グラム素子３２と、ホログラム素子３２により回折され
たビームを集束させるための６分割光検出器４１とから
構成されている。
ザダイオード３１と、レーザダイオード３１から出射さ
れるレーザビームを１本の主ビームと２本の補助ビーム
からなる３本のビームとするための回折格子４３と、回
折格子４３からの３本のビームをコリメーター３３を介
して偏光ビーム分割器３４に入射させたり、ディスク４
４から反射されたビームを回折させるための２分割ホロ
グラム素子３２と、ホログラム素子３２により回折され
たビームを集束させるための６分割光検出器４１とから
構成されている。
【００４８】コリメーター３３は、回折格子４３から入
射される３本のビームを平行ビームとし、かつ偏光ビー
ム分割器３４を透過したＰ波成分の主ビームを２分割ホ
ログラム素子３２に入射させる役割を果たす。
射される３本のビームを平行ビームとし、かつ偏光ビー
ム分割器３４を透過したＰ波成分の主ビームを２分割ホ
ログラム素子３２に入射させる役割を果たす。
【００４９】偏光ビーム分割器３４は、ｘ−ｚ方向では
反射鏡３５とコリメーター３３との間に位置し、ｘ−ｙ
方向では反射鏡３５とウォラストンプリズム３７との間
に位置する。偏光ビーム分割器３４は、コリメーター３
３を通過した３本の平行ビームを受け取り、Ｓ波成分は
全反射させ、Ｐ波成分は３３％を反射させ６７％を透過
させる。即ち、偏光ビーム分割器３４は、Ｐ波成分のビ
ームに対して７：３乃至６：４の反射比を有するので、
コリメーター３３を通過したビームのうち、Ｓ波成分を
全反射させ、Ｐ波成分の３３％を反射させ、残り６７％
を反射鏡３５に透過させる。一方、偏光ビーム分割器３
４は、ディスク４４から反射されたビームのうち、Ｓ波
成分はウォラストンプリズム３７に１００％全反射さ
せ、Ｐ波成分は３３％をウォラストンプリズム３７に反
射させ、６７％を２分割ホログラム素子３２に透過させ
る。
反射鏡３５とコリメーター３３との間に位置し、ｘ−ｙ
方向では反射鏡３５とウォラストンプリズム３７との間
に位置する。偏光ビーム分割器３４は、コリメーター３
３を通過した３本の平行ビームを受け取り、Ｓ波成分は
全反射させ、Ｐ波成分は３３％を反射させ６７％を透過
させる。即ち、偏光ビーム分割器３４は、Ｐ波成分のビ
ームに対して７：３乃至６：４の反射比を有するので、
コリメーター３３を通過したビームのうち、Ｓ波成分を
全反射させ、Ｐ波成分の３３％を反射させ、残り６７％
を反射鏡３５に透過させる。一方、偏光ビーム分割器３
４は、ディスク４４から反射されたビームのうち、Ｓ波
成分はウォラストンプリズム３７に１００％全反射さ
せ、Ｐ波成分は３３％をウォラストンプリズム３７に反
射させ、６７％を２分割ホログラム素子３２に透過させ
る。
【００５０】反射鏡３５は、偏光ビーム分割器３４と対
物レンズ３６との間に位置し、偏光ビーム分割器３４を
透過したＰ波成分のビームを対物レンズ３６に反射させ
てディスク４４上に集束されるようにし、対物レンズ３
６を介してディスク４４から反射されたビームを偏光ビ
ーム分割器３４に反射させる。ここで、反射鏡３５から
ディスク４４側に反射されるビームはＰ波成分のみを含
むビームであり、ディスク４４から偏光ビーム分割器３
４側に反射されるビームはＰ波とともにディスク４４上
の情報の有無に応じてＳ波を含む混合ビームである。
物レンズ３６との間に位置し、偏光ビーム分割器３４を
透過したＰ波成分のビームを対物レンズ３６に反射させ
てディスク４４上に集束されるようにし、対物レンズ３
６を介してディスク４４から反射されたビームを偏光ビ
ーム分割器３４に反射させる。ここで、反射鏡３５から
ディスク４４側に反射されるビームはＰ波成分のみを含
むビームであり、ディスク４４から偏光ビーム分割器３
４側に反射されるビームはＰ波とともにディスク４４上
の情報の有無に応じてＳ波を含む混合ビームである。
【００５１】ウォラストンプリズム３７は、偏光ビーム
分割器３４と集束レンズ３８との間に位置し、偏光ビー
ム分割器３４より入射されるＳ波とＰ波との混合された
ビームをＰ波成分のビームとＳ波成分のビームとに分離
して集束レンズ３８に入射させる。この際、図１１に示
すように、各ビームからＰ波成分のビームとＳ波成分の
ビームは一定の角度を保持しつつ分離される。従来で
は、Ｓ波成分とＰ波成分との混合されたＳ＋Ｐ波を焦点
エラーの検出に用いたために、改良されたウォラストン
プリズムを使用して主ビームからＳ波、Ｐ波及びＳ＋Ｐ
波を分離していた。これに対して、本発明では焦点エラ
ーの検出にＳ波とＰ波成分のビームが使用されるので、
通常のウォラストンプリズムを用いてＳ波とＰ波のみを
分離するようにする。
分割器３４と集束レンズ３８との間に位置し、偏光ビー
ム分割器３４より入射されるＳ波とＰ波との混合された
ビームをＰ波成分のビームとＳ波成分のビームとに分離
して集束レンズ３８に入射させる。この際、図１１に示
すように、各ビームからＰ波成分のビームとＳ波成分の
ビームは一定の角度を保持しつつ分離される。従来で
は、Ｓ波成分とＰ波成分との混合されたＳ＋Ｐ波を焦点
エラーの検出に用いたために、改良されたウォラストン
プリズムを使用して主ビームからＳ波、Ｐ波及びＳ＋Ｐ
波を分離していた。これに対して、本発明では焦点エラ
ーの検出にＳ波とＰ波成分のビームが使用されるので、
通常のウォラストンプリズムを用いてＳ波とＰ波のみを
分離するようにする。
【００５２】集束レンズ３８は、ウォラストンプリズム
３７と２分割光検出器３９との間に位置し、ウォラスト
ンプリズム３７からの分離されたＰ波成分のビームとＳ
波成分のビームとを、２分割光検出器３９上に集束させ
る。集束レンズ３８の後に位置した２分割光検出器３９
上には、集束レンズ３８を介して、ウォラストンプリズ
ム３７から入射されるＳ波成分のビームとＰ波成分のビ
ームとが集束される。２分割光検出器３９上に集束され
たビームから、ディスク４４に記録された情報を検知す
る。
３７と２分割光検出器３９との間に位置し、ウォラスト
ンプリズム３７からの分離されたＰ波成分のビームとＳ
波成分のビームとを、２分割光検出器３９上に集束させ
る。集束レンズ３８の後に位置した２分割光検出器３９
上には、集束レンズ３８を介して、ウォラストンプリズ
ム３７から入射されるＳ波成分のビームとＰ波成分のビ
ームとが集束される。２分割光検出器３９上に集束され
たビームから、ディスク４４に記録された情報を検知す
る。
【００５３】図８（ａ）は図７のホログラムレーザ装置
の構成図、図８（ｂ）は図８（ａ）のホログラム素子の
詳細図、図８（ｃ）は図８（ａ）の６分割光検出器の詳
細図を各々示す。
の構成図、図８（ｂ）は図８（ａ）のホログラム素子の
詳細図、図８（ｃ）は図８（ａ）の６分割光検出器の詳
細図を各々示す。
【００５４】レーザダイオード３１からのビームが前記
偏光ビーム分割器３４に入射されるときにＰ偏光となる
ように、ダイオード３１はその活性層がｘｙ平面に平行
であるように構成される。
偏光ビーム分割器３４に入射されるときにＰ偏光となる
ように、ダイオード３１はその活性層がｘｙ平面に平行
であるように構成される。
【００５５】２分割ホログラム素子３２は、回折格子４
３からの３本のビームをコリメーター３３に入射させた
り、ディスク４４から反射されて偏光ビーム分割器３４
を透過したＰ波成分のビームを回折させて６分割光検出
器４１に集束させる役割を果たす。
３からの３本のビームをコリメーター３３に入射させた
り、ディスク４４から反射されて偏光ビーム分割器３４
を透過したＰ波成分のビームを回折させて６分割光検出
器４１に集束させる役割を果たす。
【００５６】６分割光検出器４１は、横方向に配列され
た一定の大きさを有する第１〜策４の分割領域ＰＤａ〜
ＰＤｄと、前記分割領域の上下部に配列された、前記第
１〜第４分割領域の面積を合せたものと同一の大きさを
有する第５と第６の分割領域ＰＤｅおよびＰＤｆとから
構成される。第１分割領域と第２分割領域ＰＤａ、ＰＤ
ｂ、及び第３分割領域と第４分割領域ＰＤｃ、ＰＤｄは
一定の間隔ｄ１を置いて配列され、第２分割領域と第３
分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃとの間隔ｄ２は前記間隔ｄ１よ
り広く配列される。
た一定の大きさを有する第１〜策４の分割領域ＰＤａ〜
ＰＤｄと、前記分割領域の上下部に配列された、前記第
１〜第４分割領域の面積を合せたものと同一の大きさを
有する第５と第６の分割領域ＰＤｅおよびＰＤｆとから
構成される。第１分割領域と第２分割領域ＰＤａ、ＰＤ
ｂ、及び第３分割領域と第４分割領域ＰＤｃ、ＰＤｄは
一定の間隔ｄ１を置いて配列され、第２分割領域と第３
分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃとの間隔ｄ２は前記間隔ｄ１よ
り広く配列される。
【００５７】２分割ホログラム素子３２は、２個の半円
形のホログラムＨ１、Ｈ２から構成され、２個のホログ
ラムＨ１、Ｈ２の参照光の位置はレーザダイオードの発
光点とする。尚、２分割ホログラム素子３２のうち、一
方のホログラムＨ１の物体光の位置は図９に示すように
６分割光検出器４１を通る前の位置Ｑ１とし、他方のホ
ログラムＨ２の物体光の位置は６分割光検出器４１を通
った後の位置Ｑ２とする。
形のホログラムＨ１、Ｈ２から構成され、２個のホログ
ラムＨ１、Ｈ２の参照光の位置はレーザダイオードの発
光点とする。尚、２分割ホログラム素子３２のうち、一
方のホログラムＨ１の物体光の位置は図９に示すように
６分割光検出器４１を通る前の位置Ｑ１とし、他方のホ
ログラムＨ２の物体光の位置は６分割光検出器４１を通
った後の位置Ｑ２とする。
【００５８】レーザダイオード３１の発光点を向いて集
束されるビームが２分割ホログラム素子３２に入射され
ると、ホログラムＨ１に入射されるレーザビームは、６
分割光検出器４１の第４分割領域ＰＤｄを通る前、即ち
６分割光検出器４１と２分割ホログラム素子３２との位
置Ｑ１に集光し、ホログラムＨ２に入射されるレーザビ
ームは６分割された光検出器４１の第２分割領域ＰＤｂ
を通った位置Ｑ２に集光する。
束されるビームが２分割ホログラム素子３２に入射され
ると、ホログラムＨ１に入射されるレーザビームは、６
分割光検出器４１の第４分割領域ＰＤｄを通る前、即ち
６分割光検出器４１と２分割ホログラム素子３２との位
置Ｑ１に集光し、ホログラムＨ２に入射されるレーザビ
ームは６分割された光検出器４１の第２分割領域ＰＤｂ
を通った位置Ｑ２に集光する。
【００５９】従って、２分割ホログラム素子３２により
回折されたビームは図１０（ａ）のように６分割光検出
器４１に集束する。ホログラムＨ１により回折された主
ビームは６分割光検出器４１の第３分割領域ＰＤｃと第
４分割領域ＰＤｄとの境界面に接して第４分領域ＰＤｄ
に集束し（図１０（ａ）のＢ２参照）、ホログラムＨ２
により回折された主ビームは６分割光検出器４１の第１
分割領域ＰＤａと第２分割領域ＰＤｂの境界面に接して
第２分割領域ＰＤｂ上に集束する（図１０（ａ）のＢ１
参照）。
回折されたビームは図１０（ａ）のように６分割光検出
器４１に集束する。ホログラムＨ１により回折された主
ビームは６分割光検出器４１の第３分割領域ＰＤｃと第
４分割領域ＰＤｄとの境界面に接して第４分領域ＰＤｄ
に集束し（図１０（ａ）のＢ２参照）、ホログラムＨ２
により回折された主ビームは６分割光検出器４１の第１
分割領域ＰＤａと第２分割領域ＰＤｂの境界面に接して
第２分割領域ＰＤｂ上に集束する（図１０（ａ）のＢ１
参照）。
【００６０】前記構成を有する本発明の実施例による光
ピックアップシステムの動作を図８〜図１２を参照して
詳しく説明する。
ピックアップシステムの動作を図８〜図１２を参照して
詳しく説明する。
【００６１】レーザダイオード３１からのレーザビーム
は、回折格子４３を通って１本の主ビームと２本の補助
ビームとになって、２分割ホログラム素子３２を介して
コリメーター３３に入射する。コリメーター３３に入射
した３本のビームは平行ビームとなって偏光ビーム分割
器３４に入射する。Ｐ波成分のビームに対して７：３乃
至６：４の反射比を有する偏光ビーム分割器３４は、入
射する各３本のビームのうちＳ波成分は全反射させ、Ｐ
波成分は３３％を反射させ、残り６７％を反射鏡３５に
透過させる。続いて、反射鏡３５は入射するＰ波成分の
ビームを反射し、ビームの進行方向をディスク４４の方
向に変える。反射鏡３５を介して反射された３本のビー
ムは対物レンズ３６によりディスク４４上に集束され
る。ディスク４４上に集束されたビームは、ディスク４
４上から反射されて対物レンズ３６を通って平行ビーム
となり、反射鏡３５を介してさらに偏光ビーム分割器３
４に反射される。この際、ディスク４４から反射される
ビームはＰ波とＳ波との混合されたビームである。も
し、ディスク４４に情報が記録されていれば、偏光ビー
ム分割器３４に入射されるビームにはＰ波成分とともに
Ｓ波成分が含まれており、ディスク４４に情報が記録さ
れていなければ、ビームはＳ波成分を含まず、Ｐ波成分
のみがビーム中に存在することになる。偏光ビーム分割
器３４に入射するビームのうち、Ｓ波成分は偏光ビーム
分割器３４を介して１００％全反射されてウォラストン
プリズム３７に入射し、Ｐ波成分は６７％は透過してコ
リメーター３３に入射し、且つ３３％は反射されてウォ
ラストンプリズム３７に入射する。
は、回折格子４３を通って１本の主ビームと２本の補助
ビームとになって、２分割ホログラム素子３２を介して
コリメーター３３に入射する。コリメーター３３に入射
した３本のビームは平行ビームとなって偏光ビーム分割
器３４に入射する。Ｐ波成分のビームに対して７：３乃
至６：４の反射比を有する偏光ビーム分割器３４は、入
射する各３本のビームのうちＳ波成分は全反射させ、Ｐ
波成分は３３％を反射させ、残り６７％を反射鏡３５に
透過させる。続いて、反射鏡３５は入射するＰ波成分の
ビームを反射し、ビームの進行方向をディスク４４の方
向に変える。反射鏡３５を介して反射された３本のビー
ムは対物レンズ３６によりディスク４４上に集束され
る。ディスク４４上に集束されたビームは、ディスク４
４上から反射されて対物レンズ３６を通って平行ビーム
となり、反射鏡３５を介してさらに偏光ビーム分割器３
４に反射される。この際、ディスク４４から反射される
ビームはＰ波とＳ波との混合されたビームである。も
し、ディスク４４に情報が記録されていれば、偏光ビー
ム分割器３４に入射されるビームにはＰ波成分とともに
Ｓ波成分が含まれており、ディスク４４に情報が記録さ
れていなければ、ビームはＳ波成分を含まず、Ｐ波成分
のみがビーム中に存在することになる。偏光ビーム分割
器３４に入射するビームのうち、Ｓ波成分は偏光ビーム
分割器３４を介して１００％全反射されてウォラストン
プリズム３７に入射し、Ｐ波成分は６７％は透過してコ
リメーター３３に入射し、且つ３３％は反射されてウォ
ラストンプリズム３７に入射する。
【００６２】ウォラストンプリズム３７には、１００％
反射されたＳ波成分のビームと３３％反射されたＰ波成
分のビームとが混合された混合ビームが入射し、ウォラ
ストンプリズム３７は、入射した混合ビームを、図１２
のように互いに一定の角度を保持するＰ波成分のビーム
とＳ波成分のビームとに分離する。本発明ではＳ＋Ｐ波
が混合されたビームを用いて焦点エラーを検出するので
はないので、従来のように改良されたウォラストンプリ
ズムによるＰ＋Ｓ波の分離が要求されない。従って、本
発明では通常のウォラストンプリズム３７を使用して互
いに一定の角度を保持するＰ波とＳ波のみを分離すると
よい。
反射されたＳ波成分のビームと３３％反射されたＰ波成
分のビームとが混合された混合ビームが入射し、ウォラ
ストンプリズム３７は、入射した混合ビームを、図１２
のように互いに一定の角度を保持するＰ波成分のビーム
とＳ波成分のビームとに分離する。本発明ではＳ＋Ｐ波
が混合されたビームを用いて焦点エラーを検出するので
はないので、従来のように改良されたウォラストンプリ
ズムによるＰ＋Ｓ波の分離が要求されない。従って、本
発明では通常のウォラストンプリズム３７を使用して互
いに一定の角度を保持するＰ波とＳ波のみを分離すると
よい。
【００６３】ウォラストンプリズム３７により分離され
たビームは、集束レンズ３８を介して２分割光検出器３
９上に集束される。２分割光検出器３９上に集束された
ビームからディスク４４上に記録された情報を読み取る
が、ディスク４４上に記録された情報が光磁気信号（磁
化方向によるカー・ローテーション）の場合は、２分割
光検出器３９の２分割領域ＰＤｉ、ＰＤｊの信号差より
検出する。これは下記の式（５）のように表される。
たビームは、集束レンズ３８を介して２分割光検出器３
９上に集束される。２分割光検出器３９上に集束された
ビームからディスク４４上に記録された情報を読み取る
が、ディスク４４上に記録された情報が光磁気信号（磁
化方向によるカー・ローテーション）の場合は、２分割
光検出器３９の２分割領域ＰＤｉ、ＰＤｊの信号差より
検出する。これは下記の式（５）のように表される。
【００６４】 光情報信号（光磁気信号）＝Ｓｉ−Ｓｊ・・・・（５） ここで、ＳｉとＳｊは２分割光検出器３９のＰＤｉとＰ
Ｄｊの分割領域における電気的信号を各々示す。
Ｄｊの分割領域における電気的信号を各々示す。
【００６５】ディスク４４に記録された情報が凸凹形状
の光情報信号（ピット信号）の場合は、下記の式（６）
のように分割領域に集束されるビームの光量変化により
検出される。
の光情報信号（ピット信号）の場合は、下記の式（６）
のように分割領域に集束されるビームの光量変化により
検出される。
【００６６】 光情報信号（ピット信号）＝Ｓｉ＋Ｓｊ・・・・（６） トラッキングエラー信号と焦点エラー信号の検出動作に
ついて説明する。
ついて説明する。
【００６７】偏光ビーム分割器３４を透過した６７％の
Ｐ波成分の３本のビームは、コリメーター３３を介して
２分割ホログラム素子３２に入射する。そしてＰ波成分
の３本のビームは、ホログラム素子３２により回折され
て６分割光検出器４１に集束され、焦点エラー信号とト
ラッキングエラー信号を検出するのに用いられる。これ
をより詳しく説明すると、偏光ビーム分割器３４を透過
したＰ波成分の３本のビームは、コリメーター３３によ
りレーザダイオード３１の発光面を向いて集束される。
レーザダイオード３１の発光面を向いて集束される３本
のビームは、対物レンズ３６とレーザダイオード３１と
の間に位置する２分割ホログラム素子３２に入射し、２
分割ホログラム素子３２の２個のホログラムＨ１、Ｈ２
の参照光の役割を果たす。従って、ビームは図９のよう
にホログラムＨ１、Ｈ２により集束点Ｑ１、Ｑ２に集束
されて物体光が再生される。この再生ビームを６分割光
検出器４１で検出してトラッキングエラーと焦点エラー
とを検出する。
Ｐ波成分の３本のビームは、コリメーター３３を介して
２分割ホログラム素子３２に入射する。そしてＰ波成分
の３本のビームは、ホログラム素子３２により回折され
て６分割光検出器４１に集束され、焦点エラー信号とト
ラッキングエラー信号を検出するのに用いられる。これ
をより詳しく説明すると、偏光ビーム分割器３４を透過
したＰ波成分の３本のビームは、コリメーター３３によ
りレーザダイオード３１の発光面を向いて集束される。
レーザダイオード３１の発光面を向いて集束される３本
のビームは、対物レンズ３６とレーザダイオード３１と
の間に位置する２分割ホログラム素子３２に入射し、２
分割ホログラム素子３２の２個のホログラムＨ１、Ｈ２
の参照光の役割を果たす。従って、ビームは図９のよう
にホログラムＨ１、Ｈ２により集束点Ｑ１、Ｑ２に集束
されて物体光が再生される。この再生ビームを６分割光
検出器４１で検出してトラッキングエラーと焦点エラー
とを検出する。
【００６８】コリメーター３３を介して２分割ホログラ
ム素子３２にＰ波成分の主ビームが入射すると、主ビー
ムはホログラムＨ１により６分割光検出器４１の第４分
割領域ＰＤｄを通る前の位置Ｑ１に集束され、６分割光
検出器４１により切断されるビームの断面は、図１０
（ａ）に示すように第３分割領域ＰＤｃと第４分割領域
ＰＤｄとの境界面に接して第４分割領域ＰＤｄに位置す
る。また、主ビームはホログラムＨ２により６分割光検
出器４１の第２分割領域ＰＤｂを通った後の位置Ｑ２に
集束され、６分割光検出器４１により切断された断面
は、図１０（ａ）に示すように第１分割領域ＰＤａと第
２分割領域ＰＤｂとの境界面に接して第２分割領域ＰＤ
ｂに位置する。
ム素子３２にＰ波成分の主ビームが入射すると、主ビー
ムはホログラムＨ１により６分割光検出器４１の第４分
割領域ＰＤｄを通る前の位置Ｑ１に集束され、６分割光
検出器４１により切断されるビームの断面は、図１０
（ａ）に示すように第３分割領域ＰＤｃと第４分割領域
ＰＤｄとの境界面に接して第４分割領域ＰＤｄに位置す
る。また、主ビームはホログラムＨ２により６分割光検
出器４１の第２分割領域ＰＤｂを通った後の位置Ｑ２に
集束され、６分割光検出器４１により切断された断面
は、図１０（ａ）に示すように第１分割領域ＰＤａと第
２分割領域ＰＤｂとの境界面に接して第２分割領域ＰＤ
ｂに位置する。
【００６９】このように、ホログラムＨ１、Ｈ２によっ
て６分割光検出器４１の第１〜第４分割領域ＰＤａ〜Ｐ
Ｄｄ上に集束される主ビームにより焦点エラーを検出す
る。焦点エラーが無い場合には、対物レンズ３６とディ
スク４４との間隔が適切に保持され、図１０（ａ）のよ
うに、６分割光検出器４１の第２分割領域ＰＤｂと第４
分割領域ＰＤｄ上にのみビームが半月状の同じ大きさで
形成される。
て６分割光検出器４１の第１〜第４分割領域ＰＤａ〜Ｐ
Ｄｄ上に集束される主ビームにより焦点エラーを検出す
る。焦点エラーが無い場合には、対物レンズ３６とディ
スク４４との間隔が適切に保持され、図１０（ａ）のよ
うに、６分割光検出器４１の第２分割領域ＰＤｂと第４
分割領域ＰＤｄ上にのみビームが半月状の同じ大きさで
形成される。
【００７０】ディスク４４と対物レンズ３６との間隔が
遠くなると、ホログラムＨ１、Ｈ２によって集束される
集束点Ｑ１、Ｑ２の位置が互いに近くなる。このため、
図１０（ｂ）のように、ホログラムＨ１によって第４分
割領域ＰＤｄに集束されるビームは大きさが増加して第
３分割領域ＰＤｃにまで影響を及ぼし、ホログラムＨ１
によって第２分割領ＰＤｂに集束されるビームは大きさ
が減少して第１分割領域ＰＤａに影響を及ぼさなくな
る。
遠くなると、ホログラムＨ１、Ｈ２によって集束される
集束点Ｑ１、Ｑ２の位置が互いに近くなる。このため、
図１０（ｂ）のように、ホログラムＨ１によって第４分
割領域ＰＤｄに集束されるビームは大きさが増加して第
３分割領域ＰＤｃにまで影響を及ぼし、ホログラムＨ１
によって第２分割領ＰＤｂに集束されるビームは大きさ
が減少して第１分割領域ＰＤａに影響を及ぼさなくな
る。
【００７１】一方、ディスク４４と対物レンズ３６との
間隔が近くなると、ホログラムＨ１、Ｈ２によって集束
されるビームの集束点Ｑ１、Ｑ２が互いに遠くなる。こ
のため、図１０（ｃ）のように、ホログラムＨ１によっ
て第４分割領域ＰＤｄ上に集束されるビームの大きさは
小さくなって第３分割領域ＰＤｃには影響を及ぼさなく
なり、ホログラムＨ２によって第２分割領域ＰＤｂ上に
集束されるビームの大きさは大きくなって第１分割領域
ＰＤａにまで亘ることになる。
間隔が近くなると、ホログラムＨ１、Ｈ２によって集束
されるビームの集束点Ｑ１、Ｑ２が互いに遠くなる。こ
のため、図１０（ｃ）のように、ホログラムＨ１によっ
て第４分割領域ＰＤｄ上に集束されるビームの大きさは
小さくなって第３分割領域ＰＤｃには影響を及ぼさなく
なり、ホログラムＨ２によって第２分割領域ＰＤｂ上に
集束されるビームの大きさは大きくなって第１分割領域
ＰＤａにまで亘ることになる。
【００７２】焦点エラー信号ＦＥＳは下記の式（７）に
より得られる。
より得られる。
【００７３】 ＦＥＳ＝（Ｓａ＋Ｓｄ）−（Ｓｂ＋Ｓｃ）・・・・・（７） ここで、Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃ、Ｓｄは６分割光検出器４１
の各分割領域ＰＤａ、ＰＤｂ、ＰＤｃ、ＰＤｄにおける
電気的信号を各々示す。
の各分割領域ＰＤａ、ＰＤｂ、ＰＤｃ、ＰＤｄにおける
電気的信号を各々示す。
【００７４】焦点エラーが発生しない場合は、図１０
（ａ）のように６分割光検出器４１の第１および第４分
割領域ＰＤａ、ＰＤｄに入射される光量と、第２および
第３分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃに入射される光量とが同一
なので、前記式（７）でＦＥＳ＝０となる。ディスク４
４と対物レンズ３６との間隔が遠い場合は、図１０
（ｂ）のように６分割光検出器４１の第１および第４分
割領域ＰＤａ、ＰＤｄに入射される光量が、第２および
第３分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃに入射される光量より大き
いので、焦点エラーＦＥＳ＜０となる。一方、ディスク
４４と対物レンズ３６との間隔が近い場合は、図１０
（ｃ）のように第１および第４分割領域ＰＤａ、ＰＤｄ
に入射される光量は、第２および第３分割領域ＰＤｂ、
ＰＤｃに入射される光量より小さいので、焦点エラーＦ
ＥＳ＞０となる。
（ａ）のように６分割光検出器４１の第１および第４分
割領域ＰＤａ、ＰＤｄに入射される光量と、第２および
第３分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃに入射される光量とが同一
なので、前記式（７）でＦＥＳ＝０となる。ディスク４
４と対物レンズ３６との間隔が遠い場合は、図１０
（ｂ）のように６分割光検出器４１の第１および第４分
割領域ＰＤａ、ＰＤｄに入射される光量が、第２および
第３分割領域ＰＤｂ、ＰＤｃに入射される光量より大き
いので、焦点エラーＦＥＳ＜０となる。一方、ディスク
４４と対物レンズ３６との間隔が近い場合は、図１０
（ｃ）のように第１および第４分割領域ＰＤａ、ＰＤｄ
に入射される光量は、第２および第３分割領域ＰＤｂ、
ＰＤｃに入射される光量より小さいので、焦点エラーＦ
ＥＳ＞０となる。
【００７５】このようにディスク４４と対物レンズ３６
との間隔が適切でないせいで焦点エラーが発生する場合
は、焦点エラー信号ＦＥＳに応じてアクチュエータ４２
で対物レンズ３６を上下に動かすことにより、焦点エラ
ーを補正することができる。
との間隔が適切でないせいで焦点エラーが発生する場合
は、焦点エラー信号ＦＥＳに応じてアクチュエータ４２
で対物レンズ３６を上下に動かすことにより、焦点エラ
ーを補正することができる。
【００７６】次に、本発明によるトラッキングエラー補
正について説明する。
正について説明する。
【００７７】トラッキングエラー信号は、ホログラムＨ
１、Ｈ２によって回折されて６分割光検出器４１の第５
及び第６分割領域ＰＤｅ、ＰＤｆに集束されるＰ波成分
の補助ビームにより検出される。トラッキングエラー信
号は下記の式（８）により得られる。
１、Ｈ２によって回折されて６分割光検出器４１の第５
及び第６分割領域ＰＤｅ、ＰＤｆに集束されるＰ波成分
の補助ビームにより検出される。トラッキングエラー信
号は下記の式（８）により得られる。
【００７８】ＴＥＳ＝Ｓｅ−Ｓｆ・・・・（８） トラッキングエラーが発生した場合は、アクチュエータ
４２を用いて対物レンズ３６を左右に動かしてトラッキ
ングエラーを補正する。
４２を用いて対物レンズ３６を左右に動かしてトラッキ
ングエラーを補正する。
【００７９】一方、ディスク上に形成されたグルーブに
対する情報は、 ＡＤＩＰ（Address In Pregroove）＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−
（Ｓｃ＋Ｓｄ） 又はＡＴＩＰ（Absolute Time In Pregroove） のように構成してグルーブに対する情報を読み取る。
対する情報は、 ＡＤＩＰ（Address In Pregroove）＝（Ｓａ＋Ｓｂ）−
（Ｓｃ＋Ｓｄ） 又はＡＴＩＰ（Absolute Time In Pregroove） のように構成してグルーブに対する情報を読み取る。
【００８０】
【発明の効果】上述したように、本発明の光ピックアッ
プ装置によれば、２分割ホログラムを使用してトラッキ
ングエラーと焦点エラーを補正し、ディスクに形成され
たグルーブに対する情報を読み出すことにより、ディス
ク上に記録された光磁気信号や光情報（ピット）信号等
を正確に検出することができるという利点がある。
プ装置によれば、２分割ホログラムを使用してトラッキ
ングエラーと焦点エラーを補正し、ディスクに形成され
たグルーブに対する情報を読み出すことにより、ディス
ク上に記録された光磁気信号や光情報（ピット）信号等
を正確に検出することができるという利点がある。
【００８１】また、凸レンズ等の部品を使用しないの
で、光学部品の数を減少させることができるとともに、
従来より制作が容易な偏光ビーム分割器とウォラストン
プリズムとを使用することにより、光ピックアップシス
テムの構造を単純化することができ、且つ製造コストを
削減することができる。
で、光学部品の数を減少させることができるとともに、
従来より制作が容易な偏光ビーム分割器とウォラストン
プリズムとを使用することにより、光ピックアップシス
テムの構造を単純化することができ、且つ製造コストを
削減することができる。
【図１】従来の光ピックアップ装置の構成図である。
【図２】図１の８分割光検出器の構成図である。
【図３】図１のディスク上における３本のビームの集束
状態図である。
状態図である。
【図４】図１のプリズムによるＳ波とＰ波の分離状態図
である。
である。
【図５】図２の８分割光検出器上に集束された５本のビ
ームの集束状態図である。
ームの集束状態図である。
【図６】図１のディスクと対物レンズとの間隔によるビ
ームの集束状態図で、（ａ）はディスクと対物レンズと
の間隔が適切に保持された場合、（ｂ）はディスクと対
物レンズとの間隔が遠い場合、（ｃ）はディスクと対物
レンズとの間隔が近い場合を各々示す。
ームの集束状態図で、（ａ）はディスクと対物レンズと
の間隔が適切に保持された場合、（ｂ）はディスクと対
物レンズとの間隔が遠い場合、（ｃ）はディスクと対物
レンズとの間隔が近い場合を各々示す。
【図７】本発明の実施例による光ピックアップ装置の構
成図で、（ａ）はディスクの原点からｘ−ｚ方向におけ
る構成図、（ｂ）はディスクの原点からｘ−ｙ方向にお
ける構成図である。
成図で、（ａ）はディスクの原点からｘ−ｚ方向におけ
る構成図、（ｂ）はディスクの原点からｘ−ｙ方向にお
ける構成図である。
【図８】（ａ）は図７のホログラムレーザ装置の構成
図、（ｂ）は図８（ａ）のホログラム素子の詳細図、
（ｃ）は図８（ａ）の６分割光検出器の詳細図である。
図、（ｂ）は図８（ａ）のホログラム素子の詳細図、
（ｃ）は図８（ａ）の６分割光検出器の詳細図である。
【図９】図８のホログラムレーザ装置によるレーザビー
ムの回折状態図である。
ムの回折状態図である。
【図１０】図７のディスクと対物レンズとの間隔による
光検出器上におけるレーザビームの集束状態図で、
（ａ）はディスクと対物レンズとの間隔が適切に保持さ
れた場合、（ｂ）はディスクと対物レンズとの間隔が遠
い場合、（ｃ）はディスクと対物レンズとの間隔が近い
場合を各々示す。
光検出器上におけるレーザビームの集束状態図で、
（ａ）はディスクと対物レンズとの間隔が適切に保持さ
れた場合、（ｂ）はディスクと対物レンズとの間隔が遠
い場合、（ｃ）はディスクと対物レンズとの間隔が近い
場合を各々示す。
【図１１】図７のプリズムによるＳ波とＰ波の分離状態
図である。
図である。
【図１２】図７の偏光ビーム分割器によるＳ波とＰ波の
偏光状態図である。
偏光状態図である。
３１ レーザダイオード ３２ ２分割ホログラム素子 ３３ コリメーター ３４ 偏光ビーム分割器 ３５ 反射鏡 ３６ 対物レンズ ３７ プリズム ３８ 集束レンズ ３９ ２分割光検出器 ４０ ホログラムレーザ装置 ４１ ６分割光検出器 ４２ アクチュエータ ４３ 回折格子 Ｈ１、Ｈ２ ホログラム
Claims (12)
- 【請求項１】 ディスクから情報を読み出したりディス
クに情報を記録することのできる光ピックアップ装置に
おいて、 光源のレーザダイオードと、 レーザダイオードから発散されるビーム又はディスクか
ら反射されるビームのうち、Ｓ波成分は全反射させ、Ｐ
波成分は一部を反射させ残りを透過させる偏光ビーム分
割器と、 レーザダイオードと偏光ビーム分割器との間に位置し、
レーザダイオードからのビームを１本の主ビームと２本
の補助ビームとにして偏光ビーム分割器に入射させる回
折格子と、 偏光ビーム分割器とディスクとの間に位置し、偏光ビー
ム分割器を透過したビームをディスク側に反射させ、デ
ィスクから反射されたビームを偏光ビーム分割器側に反
射させるための反射鏡と、 反射鏡とディスクとの間に位置し、反射鏡で反射された
ビームをディスク上に集束させたり、ディスクから反射
されたビームを平行ビームにするための対物レンズと、 複数個の分割領域を有し、各分割領域に集束されるビー
ムよりトラッキングエラー及び焦点エラーを検出するた
めの第１光検出器と、 １個のホログラムの参照光の位置はレーザダイオードの
発光点、物体光の位置は第１光検出器を通る前の集束点
であり、他のホログラムの参照光の位置はレーザダイオ
ードの発光点、物体光の位置は第１光検出器を通った後
の集束点である２個の半円形のホログラムで構成されて
おり、回折格子と偏光ビーム分割器との間に位置し、回
折格子からの３本のビームを偏光ビーム分割器に入射さ
せたり、偏光ビーム分割器を透過したＰ波成分のビーム
を回折させて第１光検出器に集束させるための２分割ホ
ログラム素子と、 ６分割領域を有し、各分制領域に集束されるビームによ
りディスクに記録された情報を検出するための第２光検
出器と、 偏光ビーム分割器と第２光検出器との間に位置し、偏光
ビーム分割器からのＰ波とＳ波成分との混合ビームから
Ｐ波とＳ波成分のビームを分離して、第２光検出器に入
射させるためのウォラストンプリズムと、を具備するこ
とを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 焦点エラー信号又はトラッキングエラー
信号を補正するために、前記対物レンズを上下、又は左
右に移動させるアクチュエータをさらに具備することを
特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項３】 ディスク面をｘｙ平面とし、前記ディス
クに垂直な方向をｚ軸とすれば、レーザダイオードから
のビームが偏光ビーム分割器に入射されるときにＰ偏光
とされるように、半導体レーザの活性層がｘｙ平面に平
行であるように構成されることを特徴とする請求項１記
載の光ピックアップ装置。 - 【請求項４】 ウォラストンプリズムからＰ波とＳ波成
分のビームが互いに一定の角度を保持して分離されるこ
とを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項５】 第１光検出器は、同じ大きさを有し且つ
横方向に配列された第１乃至第４分割領域と、該第１乃
至第４分割領域の面積を合わせた大きさと同じ面積を有
し且つ該第１乃至第４分割領域の上下部に各々配列され
た第５及び第６分割領域とで構成され、第１分割領域と
第２分割領域との間隔は第３分割領域と第４分割領域と
の間隔と同一であり、第２分割領域と第３分割領域との
間隔よりは小さいことを特徴とする請求項１記載の光ピ
ックアップ装置。 - 【請求項６】 ６分割光検出器の第１と第４分割領域に
集束されたビームと、第２と第３分割領域に集束された
ビームとの信号差より焦点エラー信号を検出することを
特徴とする請求項５記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項７】 ６分割検出器の第５分割領域と第６分割
領域に集束されたビームの信号差よりトラッキングエラ
ー信号を検出することを特徴とする請求項５記載の光ピ
ックアップ装置。 - 【請求項８】 ６分割光検出器の第１分割領域と第２分
割領域に集束されたビームと、第３分割領域と第４分割
領域に集束されたビームとの信号差よりディスク上のグ
ルーブに対する情報を検出することを特徴とする請求項
５記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項９】 第２光検出器は２個の分割領域を有する
２分割光検出器であることを特徴とする請求項１記載の
光ピックアップ装置。 - 【請求項１０】 ディスク上の情報が光磁気情報である
とき、２分割光検出器の各分割領域に接続されたビーム
の信号差よりディスク上の光情報を検出することを特徴
とする請求項９記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項１１】 ディスク上の情報がピット情報である
とき、２分割光検出器の各分割領域に集束された光量の
変化よりディスク上の光情報を検出することを特徴とす
る請求項９記載の光ピックアップ装置。 - 【請求項１２】 偏光ビーム分割器のＰ波成分の反射比
は７：３乃至６：４であることを特徴とする請求項１記
載の光ピックアップ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940013117A KR970004210B1 (ko) | 1994-06-10 | 1994-06-10 | 광픽업 장치 |
| KR1994-13117 | 1994-06-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08171748A true JPH08171748A (ja) | 1996-07-02 |
Family
ID=19385076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7143285A Withdrawn JPH08171748A (ja) | 1994-06-10 | 1995-06-09 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5644563A (ja) |
| EP (1) | EP0692786B1 (ja) |
| JP (1) | JPH08171748A (ja) |
| KR (1) | KR970004210B1 (ja) |
| DE (1) | DE69503001T2 (ja) |
Families Citing this family (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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