JP3108552B2 - 光学ヘッド - Google Patents
光学ヘッドInfo
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- JP3108552B2 JP3108552B2 JP04320571A JP32057192A JP3108552B2 JP 3108552 B2 JP3108552 B2 JP 3108552B2 JP 04320571 A JP04320571 A JP 04320571A JP 32057192 A JP32057192 A JP 32057192A JP 3108552 B2 JP3108552 B2 JP 3108552B2
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- beam splitter
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクドライ
ブ装置等の光学的情報記録再生装置に用いられる光学ヘ
ッドに関するものであり、特に、その光学系にサーボ信
号を検出するためにホログラム等の回折手段を備えた光
学ヘッドに関するものである。
ブ装置等の光学的情報記録再生装置に用いられる光学ヘ
ッドに関するものであり、特に、その光学系にサーボ信
号を検出するためにホログラム等の回折手段を備えた光
学ヘッドに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】光磁気ディスクドライブ装置等の光学的
情報記録再生装置に用いられる光学ヘッドは、アクセス
時間を短縮するために、小型化・軽量化が必要である。
そこで、光学ヘッドの小型化・軽量化のために、光学系
にホログラム素子を用いた光学ヘッドが提案されてい
る。以下に、ホログラム素子を用いた上記従来の光学ヘ
ッドを図７および図８を参照しながら説明する。
情報記録再生装置に用いられる光学ヘッドは、アクセス
時間を短縮するために、小型化・軽量化が必要である。
そこで、光学ヘッドの小型化・軽量化のために、光学系
にホログラム素子を用いた光学ヘッドが提案されてい
る。以下に、ホログラム素子を用いた上記従来の光学ヘ
ッドを図７および図８を参照しながら説明する。
【０００３】上記従来の光学ヘッドは、図７に示すよう
に、半導体レーザユニット６０内部に光源として半導体
レーザ６１を備えており、半導体レーザユニット６０上
部にホログラム６２ａを有するホログラム素子６２を備
えている。また、上記の半導体レーザ６１から記録媒体
７０に至る光路には、半導体レーザ６１側より順に、上
記のホログラム素子６２、コリメートレンズ６３、偏光
ビームスプリッタ６４および対物レンズ６５が配置され
ている。さらに、図８に示すように、サーボ誤差信号受
光素子６６が半導体レーザユニット６０内部に備えられ
ており、このサーボ誤差信号受光素子６６は、ホログラ
ム６２ａで回折された回折光が集光する位置に配置され
ている。
に、半導体レーザユニット６０内部に光源として半導体
レーザ６１を備えており、半導体レーザユニット６０上
部にホログラム６２ａを有するホログラム素子６２を備
えている。また、上記の半導体レーザ６１から記録媒体
７０に至る光路には、半導体レーザ６１側より順に、上
記のホログラム素子６２、コリメートレンズ６３、偏光
ビームスプリッタ６４および対物レンズ６５が配置され
ている。さらに、図８に示すように、サーボ誤差信号受
光素子６６が半導体レーザユニット６０内部に備えられ
ており、このサーボ誤差信号受光素子６６は、ホログラ
ム６２ａで回折された回折光が集光する位置に配置され
ている。
【０００４】また、半導体レーザ６１から照射されて記
録媒体７０の記録面で反射された反射光（以下、戻り光
と称する）が偏光ビームスプリッタ６４に入射し、この
偏光ビームスプリッタ６４で反射された戻り光の光路上
にウォラストンプリズム６７およびスポットレンズ６８
が配置されている。そして、ウォラストンプリズム６７
でＰ偏光成分とＳ偏光成分とに２分割された戻り光がス
ポットレンズ６８によりそれぞれ集光する位置に２分割
の情報信号受光素子６９が配置されており、この情報信
号受光素子６９の出力に基づいて、情報信号が検出され
るようになっている。
録媒体７０の記録面で反射された反射光（以下、戻り光
と称する）が偏光ビームスプリッタ６４に入射し、この
偏光ビームスプリッタ６４で反射された戻り光の光路上
にウォラストンプリズム６７およびスポットレンズ６８
が配置されている。そして、ウォラストンプリズム６７
でＰ偏光成分とＳ偏光成分とに２分割された戻り光がス
ポットレンズ６８によりそれぞれ集光する位置に２分割
の情報信号受光素子６９が配置されており、この情報信
号受光素子６９の出力に基づいて、情報信号が検出され
るようになっている。
【０００５】上記のホログラム６２ａは、図８に示すよ
うに、格子周期の異なる３つの回折ホログラム６２ａ1
・６２ａ2・６２ａ3がホログラム素子６２の表面に形成
されて構成されている。また、上記のサーボ誤差信号受
光素子６６は、中央に配置されたフォーカス誤差信号検
出用の２分割フォトダイオード６６ａと、この２分割フ
ォトダイオード６６ａの両側に配置されたラジアル誤差
信号検出用のフォトダイオード６６ｂ・６６ｂとで構成
されている。
うに、格子周期の異なる３つの回折ホログラム６２ａ1
・６２ａ2・６２ａ3がホログラム素子６２の表面に形成
されて構成されている。また、上記のサーボ誤差信号受
光素子６６は、中央に配置されたフォーカス誤差信号検
出用の２分割フォトダイオード６６ａと、この２分割フ
ォトダイオード６６ａの両側に配置されたラジアル誤差
信号検出用のフォトダイオード６６ｂ・６６ｂとで構成
されている。
【０００６】そして、戻り光のうち、偏光ビームスプリ
ッタ６４およびコリメートレンズ６３を通過してホログ
ラム素子６２に入射した戻り光は、３つの回折ホログラ
ム６２ａ1 ・６２ａ2 ・６２ａ3 で回折されて３分割さ
れ、その内の１つの回折光は２分割フォトダイオード６
６ａの分割線上に集光し、残りの２つの回折光はフォト
ダイオード６６ｂ・６６ｂにそれぞれ集光する。その
後、２分割フォトダイオード６６ａの出力に基づいて、
フォーカス誤差信号が検出される一方、フォトダイオー
ド６６ｂ・６６ｂの出力に基づいて、ラジアル誤差信号
が検出されるようになっている。
ッタ６４およびコリメートレンズ６３を通過してホログ
ラム素子６２に入射した戻り光は、３つの回折ホログラ
ム６２ａ1 ・６２ａ2 ・６２ａ3 で回折されて３分割さ
れ、その内の１つの回折光は２分割フォトダイオード６
６ａの分割線上に集光し、残りの２つの回折光はフォト
ダイオード６６ｂ・６６ｂにそれぞれ集光する。その
後、２分割フォトダイオード６６ａの出力に基づいて、
フォーカス誤差信号が検出される一方、フォトダイオー
ド６６ｂ・６６ｂの出力に基づいて、ラジアル誤差信号
が検出されるようになっている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、半導体レーザ６１とコリメートレンズ６
３との間にホログラム６２ａを配置するために、半導体
レーザユニット６０上部にホログラム素子６２を設置す
る必要がある。また、偏光ビームスプリッタ６４に入射
する戻り光が平行光となっているので、情報信号受光素
子６９にて情報信号を検出するためには、ウォラストン
プリズム６７で２分割された戻り光をそれぞれ集光させ
るスポットレンズ６８が必要となっている。従って、上
記従来の構成では光学部品点数が多くなり、光学ヘッド
の重量が重たくなるのでアクセスが高速に行えないとい
う問題点を有している。
来の構成では、半導体レーザ６１とコリメートレンズ６
３との間にホログラム６２ａを配置するために、半導体
レーザユニット６０上部にホログラム素子６２を設置す
る必要がある。また、偏光ビームスプリッタ６４に入射
する戻り光が平行光となっているので、情報信号受光素
子６９にて情報信号を検出するためには、ウォラストン
プリズム６７で２分割された戻り光をそれぞれ集光させ
るスポットレンズ６８が必要となっている。従って、上
記従来の構成では光学部品点数が多くなり、光学ヘッド
の重量が重たくなるのでアクセスが高速に行えないとい
う問題点を有している。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１記載の
光学ヘッドは、上記の課題を解決するために、記録媒体
に照射する光を出射する光源と、この光源から出射され
た光を上記記録媒体の記録面に集光する集光手段と、上
記記録媒体から反射された反射光のうち情報信号光を反
射すると共にサーボ誤差信号光を透過するビームスプリ
ッタと、上記サーボ誤差信号光を検出するサーボ誤差信
号検出手段と、上記情報信号光を検出する情報信号検出
手段とを有する１ビーム方式の光学ヘッドにおいて、上
記集光手段は上記反射光を集光し、上記ビームスプリッ
タが上記光源と上記集光手段との間に配設されると共
に、上記集光手段によって集光された上記反射光のうち
上記サーボ誤差信号光を回折させて上記サーボ誤差信号
検出手段に集光するよう導くホログラムが上記ビームス
プリッタの光源側表面に形成されていることを特徴とし
ている。
光学ヘッドは、上記の課題を解決するために、記録媒体
に照射する光を出射する光源と、この光源から出射され
た光を上記記録媒体の記録面に集光する集光手段と、上
記記録媒体から反射された反射光のうち情報信号光を反
射すると共にサーボ誤差信号光を透過するビームスプリ
ッタと、上記サーボ誤差信号光を検出するサーボ誤差信
号検出手段と、上記情報信号光を検出する情報信号検出
手段とを有する１ビーム方式の光学ヘッドにおいて、上
記集光手段は上記反射光を集光し、上記ビームスプリッ
タが上記光源と上記集光手段との間に配設されると共
に、上記集光手段によって集光された上記反射光のうち
上記サーボ誤差信号光を回折させて上記サーボ誤差信号
検出手段に集光するよう導くホログラムが上記ビームス
プリッタの光源側表面に形成されていることを特徴とし
ている。
【０００９】本発明の請求項２記載の光学ヘッドは、上
記の課題を解決するために、記録媒体に照射する光を出
射する光源と、この光源から出射された光を上記記録媒
体の記録面に集光する集光手段と、上記記録媒体から反
射された反射光のうち情報信号光を反射すると共にサー
ボ誤差信号光を透過するビームスプリッタと、上記サー
ボ誤差信号光を検出するサーボ誤差信号検出手段と、上
記情報信号光を検出する情報信号検出手段と、ラジアル
誤差信号を検出するように上記ビームスプリッタの光源
側表面に形成された３ビーム用グレーティングとを有す
る光学ヘッドにおいて、上記集光手段は上記反射光を集
光し、上記ビームスプリッタが上記光源と上記集光手段
との間に配設されると共に、上記集光手段によって集光
された上記反射光のうちサーボ誤差信号光を回折させて
上記サーボ誤差信号検出手段に集光するよう導くホログ
ラムが上記ビームスプリッタの集光手段側表面に形成さ
れていることを特徴としている。
記の課題を解決するために、記録媒体に照射する光を出
射する光源と、この光源から出射された光を上記記録媒
体の記録面に集光する集光手段と、上記記録媒体から反
射された反射光のうち情報信号光を反射すると共にサー
ボ誤差信号光を透過するビームスプリッタと、上記サー
ボ誤差信号光を検出するサーボ誤差信号検出手段と、上
記情報信号光を検出する情報信号検出手段と、ラジアル
誤差信号を検出するように上記ビームスプリッタの光源
側表面に形成された３ビーム用グレーティングとを有す
る光学ヘッドにおいて、上記集光手段は上記反射光を集
光し、上記ビームスプリッタが上記光源と上記集光手段
との間に配設されると共に、上記集光手段によって集光
された上記反射光のうちサーボ誤差信号光を回折させて
上記サーボ誤差信号検出手段に集光するよう導くホログ
ラムが上記ビームスプリッタの集光手段側表面に形成さ
れていることを特徴としている。
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【作用】請求項１記載の構成によれば、ビームスプリッ
タが光源と集光手段との間に配設されている。従って、
ビームスプリッタに入射する反射光は集光されているの
で、例えば、情報信号光を集光させるスポットレンズ等
を設けなくとも、情報信号検出手段にて情報信号光を検
出することが可能となる。
タが光源と集光手段との間に配設されている。従って、
ビームスプリッタに入射する反射光は集光されているの
で、例えば、情報信号光を集光させるスポットレンズ等
を設けなくとも、情報信号検出手段にて情報信号光を検
出することが可能となる。
【００１３】また、集光された反射光のうちサーボ誤差
信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手段に集光する
よう導くホログラムがビームスプリッタの光源側表面に
形成されている。従って、ホログラムを配置するための
特別な光学部材を設置する必要が無い。
信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手段に集光する
よう導くホログラムがビームスプリッタの光源側表面に
形成されている。従って、ホログラムを配置するための
特別な光学部材を設置する必要が無い。
【００１４】これにより、光学ヘッドを構成する光学部
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができる。
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができる。
【００１５】請求項２記載の構成によれば、ビームスプ
リッタが光源と集光手段との間に配設されている。従っ
て、ビームスプリッタに入射する反射光は集光されてい
るので、例えば、情報信号光を集光させるスポットレン
ズ等を設けなくとも、情報信号検出手段にて情報信号光
を検出することが可能となる。
リッタが光源と集光手段との間に配設されている。従っ
て、ビームスプリッタに入射する反射光は集光されてい
るので、例えば、情報信号光を集光させるスポットレン
ズ等を設けなくとも、情報信号検出手段にて情報信号光
を検出することが可能となる。
【００１６】また、ラジアル誤差信号を検出するように
３ビーム用グレーティングが上記ビームスプリッタの光
源側表面に形成され、集光された反射光のうちサーボ誤
差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手段に集光す
るよう導くホログラムがビームスプリッタの集光手段側
表面に形成されている。従って、ホログラムを配置する
ための特別な光学部材を設置する必要が無い。
３ビーム用グレーティングが上記ビームスプリッタの光
源側表面に形成され、集光された反射光のうちサーボ誤
差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手段に集光す
るよう導くホログラムがビームスプリッタの集光手段側
表面に形成されている。従って、ホログラムを配置する
ための特別な光学部材を設置する必要が無い。
【００１７】これにより、光学ヘッドを構成する光学部
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができる。
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができる。
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【００２１】
【００２２】
【００２３】
【００２４】
【実施例】〔実施例１〕 本発明の一実施例について図１および図２に基づいて説
明すれば、以下の通りである。
明すれば、以下の通りである。
【００２５】本実施例にかかる１ビーム方式の光学ヘッ
ドは、光磁気ディスクドライブ装置や、光磁気カード装
置、光磁気テープ装置等の光学的情報記録再生装置に用
いられ、図１に示すように、半導体レーザユニット１内
部に光源としての半導体レーザ２を備えている。この半
導体レーザ２から光磁気ディスク等の記録媒体１０に至
る光路には、半導体レーザ２側より順に、偏光ビームス
プリッタ３、コリメートレンズ（集光手段）４および対
物レンズ（集光手段）５が配置されている。上記の偏光
ビームスプリッタ３は、半導体レーザユニット１上部に
固定されており、また、偏光ビームスプリッタ３の半導
体レーザ２側表面の光路上にホログラム６が形成されて
いる。
ドは、光磁気ディスクドライブ装置や、光磁気カード装
置、光磁気テープ装置等の光学的情報記録再生装置に用
いられ、図１に示すように、半導体レーザユニット１内
部に光源としての半導体レーザ２を備えている。この半
導体レーザ２から光磁気ディスク等の記録媒体１０に至
る光路には、半導体レーザ２側より順に、偏光ビームス
プリッタ３、コリメートレンズ（集光手段）４および対
物レンズ（集光手段）５が配置されている。上記の偏光
ビームスプリッタ３は、半導体レーザユニット１上部に
固定されており、また、偏光ビームスプリッタ３の半導
体レーザ２側表面の光路上にホログラム６が形成されて
いる。
【００２６】また、半導体レーザ２から照射されて記録
媒体１０の記録面で反射された反射光（以下、戻り光と
称する）が対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介
して偏光ビームスプリッタ３に入射し、この偏光ビーム
スプリッタ３で反射された戻り光（情報信号光）の光路
上にウォラストンプリズム７が配置されている。このウ
ォラストンプリズム７は、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との
屈折率が異なっている。そこで、ウォラストンプリズム
７にてＰ偏光成分とＳ偏光成分とに２分割された情報信
号光がそれぞれ集光する位置に２分割の情報信号受光素
子（情報信号検出手段）８が配置されており、この情報
信号受光素子８の出力に基づいて、情報信号が検出され
るようになっている。
媒体１０の記録面で反射された反射光（以下、戻り光と
称する）が対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介
して偏光ビームスプリッタ３に入射し、この偏光ビーム
スプリッタ３で反射された戻り光（情報信号光）の光路
上にウォラストンプリズム７が配置されている。このウ
ォラストンプリズム７は、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分との
屈折率が異なっている。そこで、ウォラストンプリズム
７にてＰ偏光成分とＳ偏光成分とに２分割された情報信
号光がそれぞれ集光する位置に２分割の情報信号受光素
子（情報信号検出手段）８が配置されており、この情報
信号受光素子８の出力に基づいて、情報信号が検出され
るようになっている。
【００２７】さらに、半導体レーザユニット１内部に
は、例えばフォトダイオードからなるサーボ誤差信号受
光素子（サーボ誤差信号検出手段）９が備えられてお
り、このサーボ誤差信号受光素子９は、戻り光のうち、
偏光ビームスプリッタ３を透過し、ホログラム６で回折
された光（サーボ誤差信号光）が集光する位置に配置さ
れている。
は、例えばフォトダイオードからなるサーボ誤差信号受
光素子（サーボ誤差信号検出手段）９が備えられてお
り、このサーボ誤差信号受光素子９は、戻り光のうち、
偏光ビームスプリッタ３を透過し、ホログラム６で回折
された光（サーボ誤差信号光）が集光する位置に配置さ
れている。
【００２８】上記のホログラム６は、図２に示すよう
に、格子周期の異なる３つの回折ホログラム６ａ・６ｂ
・６ｃが偏光ビームスプリッタ３の半導体レーザ２側表
面に形成されて構成されている。また、上記のサーボ誤
差信号受光素子９は、中央に配置されたフォーカス誤差
信号検出用の２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａ
と、この２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａの両側
に配置されたラジアル誤差信号検出用のラジアル誤差信
号受光素子９ｂ・９ｂとで構成されている。尚、上記の
ようにホログラム６を３つの回折ホログラム６ａ・６ｂ
・６ｃに分割し、かつ、サーボ誤差信号受光素子９を２
分割フォーカス誤差信号受光素子９ａおよびラジアル誤
差信号受光素子９ｂ・９ｂで構成したのは、フォーカス
誤差信号の検出をフーコー法で行い、ラジアル誤差信号
の検出をプッシュプル法で行うためである。
に、格子周期の異なる３つの回折ホログラム６ａ・６ｂ
・６ｃが偏光ビームスプリッタ３の半導体レーザ２側表
面に形成されて構成されている。また、上記のサーボ誤
差信号受光素子９は、中央に配置されたフォーカス誤差
信号検出用の２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａ
と、この２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａの両側
に配置されたラジアル誤差信号検出用のラジアル誤差信
号受光素子９ｂ・９ｂとで構成されている。尚、上記の
ようにホログラム６を３つの回折ホログラム６ａ・６ｂ
・６ｃに分割し、かつ、サーボ誤差信号受光素子９を２
分割フォーカス誤差信号受光素子９ａおよびラジアル誤
差信号受光素子９ｂ・９ｂで構成したのは、フォーカス
誤差信号の検出をフーコー法で行い、ラジアル誤差信号
の検出をプッシュプル法で行うためである。
【００２９】本実施例の構成によれば、半導体レーザ２
からのレーザ光が偏光ビームスプリッタ３、コリメート
レンズ４および対物レンズ５を介して記録媒体１０の記
録面上に集光される。記録媒体１０の記録面で反射し、
対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介して集光さ
れた戻り光のうち、偏光ビームスプリッタ３を透過した
サーボ誤差信号光は上記のホログラム６に入射され、回
折ホログラム６ａ・６ｂ・６ｃで回折されて３分割され
る。
からのレーザ光が偏光ビームスプリッタ３、コリメート
レンズ４および対物レンズ５を介して記録媒体１０の記
録面上に集光される。記録媒体１０の記録面で反射し、
対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介して集光さ
れた戻り光のうち、偏光ビームスプリッタ３を透過した
サーボ誤差信号光は上記のホログラム６に入射され、回
折ホログラム６ａ・６ｂ・６ｃで回折されて３分割され
る。
【００３０】そして、回折ホログラム６ｃで回折された
回折光は２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａの分割
線上に導かれる一方、回折ホログラム６ａ・６ｂで回折
された回折光はラジアル誤差信号受光素子９ｂ・９ｂに
それぞれ導かれる。その後、２分割フォーカス誤差信号
受光素子９ａの出力に基づいて、フーコー法によりフォ
ーカス誤差信号が検出され、ラジアル誤差信号受光素子
９ｂ・９ｂの出力に基づいて、プッシュプル法によりラ
ジアル誤差信号が検出される。
回折光は２分割フォーカス誤差信号受光素子９ａの分割
線上に導かれる一方、回折ホログラム６ａ・６ｂで回折
された回折光はラジアル誤差信号受光素子９ｂ・９ｂに
それぞれ導かれる。その後、２分割フォーカス誤差信号
受光素子９ａの出力に基づいて、フーコー法によりフォ
ーカス誤差信号が検出され、ラジアル誤差信号受光素子
９ｂ・９ｂの出力に基づいて、プッシュプル法によりラ
ジアル誤差信号が検出される。
【００３１】以上のように、本実施例にかかる光学ヘッ
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ２とコリ
メートレンズ４との間に配設されると共に、半導体レー
ザユニット１上部に固定されている偏光ビームスプリッ
タ３の半導体レーザ２側表面の光路上にホログラム６が
形成された構成である。
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ２とコリ
メートレンズ４との間に配設されると共に、半導体レー
ザユニット１上部に固定されている偏光ビームスプリッ
タ３の半導体レーザ２側表面の光路上にホログラム６が
形成された構成である。
【００３２】それゆえ、偏光ビームスプリッタ３に入射
する戻り光は、対物レンズ５およびコリメートレンズ４
により集光されているので、例えば、情報信号光を集光
させるスポットレンズ等を設けなくとも、情報信号受光
素子８にて情報信号を検出することが可能となってい
る。また、ホログラム６を配置するための特別な光学部
材が不要となっている。
する戻り光は、対物レンズ５およびコリメートレンズ４
により集光されているので、例えば、情報信号光を集光
させるスポットレンズ等を設けなくとも、情報信号受光
素子８にて情報信号を検出することが可能となってい
る。また、ホログラム６を配置するための特別な光学部
材が不要となっている。
【００３３】これにより、従来と比較して光学部品点数
を減らすことができ、小型化・軽量化が可能となる。従
って、光学ヘッドの高速アクセス化が可能となり、アク
セス時間を短縮することができる。
を減らすことができ、小型化・軽量化が可能となる。従
って、光学ヘッドの高速アクセス化が可能となり、アク
セス時間を短縮することができる。
【００３４】尚、上記の実施例においては、コリメート
レンズ４および対物レンズ５を備えた無限仕様型の光学
系を有する構成について説明したが、コリメートレンズ
４および対物レンズ５の代わりに、これら２つのレンズ
４・５と同一の機能を有する別のレンズを備えた有限仕
様型の光学系を有する構成としてもよい。また、上記の
実施例においては、偏光ビームスプリッタ３とウォラス
トンプリズム７とを近接させて配置した構成となってい
るが、勿論、偏光ビームスプリッタ３とウォラストンプ
リズム７とを適宜離して配置した構成としてもよい。
レンズ４および対物レンズ５を備えた無限仕様型の光学
系を有する構成について説明したが、コリメートレンズ
４および対物レンズ５の代わりに、これら２つのレンズ
４・５と同一の機能を有する別のレンズを備えた有限仕
様型の光学系を有する構成としてもよい。また、上記の
実施例においては、偏光ビームスプリッタ３とウォラス
トンプリズム７とを近接させて配置した構成となってい
るが、勿論、偏光ビームスプリッタ３とウォラストンプ
リズム７とを適宜離して配置した構成としてもよい。
【００３５】〔実施例２〕 本発明の他の実施例について図３および図４に基づいて
説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前
記の実施例１の図面に示した部材と同一の機能を有する
部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜上、前
記の実施例１の図面に示した部材と同一の機能を有する
部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略する。
【００３６】本実施例にかかる１ビーム方式の光学ヘッ
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザユニット
１上部に固定される代わりに、図３および図４に示すよ
うに、半導体レーザユニット１の上方に、或る距離を置
いて配置された構成となっている。その他の構成部材お
よび配置は、前記の実施例１の光学ヘッドと同一であ
る。
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザユニット
１上部に固定される代わりに、図３および図４に示すよ
うに、半導体レーザユニット１の上方に、或る距離を置
いて配置された構成となっている。その他の構成部材お
よび配置は、前記の実施例１の光学ヘッドと同一であ
る。
【００３７】これにより、本実施例にかかる光学ヘッド
は、前記の実施例１の光学ヘッドと同様に、従来と比較
して光学部品点数を減らすことができ、小型化・軽量化
が可能となる。従って、光学ヘッドの高速アクセス化が
可能となり、アクセス時間を短縮することができる。
は、前記の実施例１の光学ヘッドと同様に、従来と比較
して光学部品点数を減らすことができ、小型化・軽量化
が可能となる。従って、光学ヘッドの高速アクセス化が
可能となり、アクセス時間を短縮することができる。
【００３８】その上、偏光ビームスプリッタ３が半導体
レーザユニット１上部に固定されていないので、例えば
光学ヘッドを組み立てる際に、偏光ビームスプリッタ３
の取り付け位置や取り付け角度等を微調整することがで
きる。それゆえ、仮に、サーボ誤差信号受光素子９等に
取り付け誤差が発生しても、この取り付け誤差を吸収す
ることができ、光学ヘッドの精度を確保することが可能
となる。
レーザユニット１上部に固定されていないので、例えば
光学ヘッドを組み立てる際に、偏光ビームスプリッタ３
の取り付け位置や取り付け角度等を微調整することがで
きる。それゆえ、仮に、サーボ誤差信号受光素子９等に
取り付け誤差が発生しても、この取り付け誤差を吸収す
ることができ、光学ヘッドの精度を確保することが可能
となる。
【００３９】〔実施例３〕 本発明のさらに他の実施例について図５および図６に基
づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜
上、前記の実施例１の図面に示した部材と同一の機能を
有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略
する。
づいて説明すれば、以下の通りである。尚、説明の便宜
上、前記の実施例１の図面に示した部材と同一の機能を
有する部材には、同一の符号を付記し、その説明を省略
する。
【００４０】本実施例にかかる光学ヘッドは、偏光ビー
ムスプリッタ３の半導体レーザ２側表面に形成されたホ
ログラム６の代わりに、図５および図６に示すように、
半導体レーザユニット１上部に固定された偏光ビームス
プリッタ３の半導体レーザ２側表面の光路上にグレーテ
ィング（３ビーム用グレーティング）１１が形成される
一方、偏光ビームスプリッタ３のコリメートレンズ４側
表面の光路上にホログラム１２が形成された構成となっ
ている。また、サーボ誤差信号受光素子９の代わりに、
サーボ誤差信号受光素子（サーボ誤差信号検出手段）１
３が半導体レーザユニット１内部に配置された構成とな
っている。その他の構成部材および配置は、前記の実施
例１の光学ヘッドと同一である。
ムスプリッタ３の半導体レーザ２側表面に形成されたホ
ログラム６の代わりに、図５および図６に示すように、
半導体レーザユニット１上部に固定された偏光ビームス
プリッタ３の半導体レーザ２側表面の光路上にグレーテ
ィング（３ビーム用グレーティング）１１が形成される
一方、偏光ビームスプリッタ３のコリメートレンズ４側
表面の光路上にホログラム１２が形成された構成となっ
ている。また、サーボ誤差信号受光素子９の代わりに、
サーボ誤差信号受光素子（サーボ誤差信号検出手段）１
３が半導体レーザユニット１内部に配置された構成とな
っている。その他の構成部材および配置は、前記の実施
例１の光学ヘッドと同一である。
【００４１】上記のグレーティング１１は、半導体レー
ザ２から入射されたレーザ光を０次回折光および±１次
回折光に分割する。また、上記のホログラム１２は、格
子周期の異なる第一ホログラム１２ａおよび第二ホログ
ラム１２ｂで構成されている。そして、上記のサーボ誤
差信号受光素子１３は、中央に配置されたフォーカス誤
差信号検出用の２分割フォーカス誤差信号受光素子１３
ａと、この２分割フォーカス誤差信号受光素子１３ａの
両側に配置されたラジアル誤差信号検出用のラジアル誤
差信号受光素子１３ｂ・１３ｂとで構成されている。
尚、上記のようにホログラム１２を第一および第二ホロ
グラム１２ａ・１２ｂに分割し、かつ、サーボ誤差信号
受光素子１３を２分割フォーカス誤差信号受光素子１３
ａおよびラジアル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂで構
成したのは、フォーカス誤差信号の検出をフーコー法で
行い、ラジアル誤差信号の検出をプッシュプル法で行う
ためである。
ザ２から入射されたレーザ光を０次回折光および±１次
回折光に分割する。また、上記のホログラム１２は、格
子周期の異なる第一ホログラム１２ａおよび第二ホログ
ラム１２ｂで構成されている。そして、上記のサーボ誤
差信号受光素子１３は、中央に配置されたフォーカス誤
差信号検出用の２分割フォーカス誤差信号受光素子１３
ａと、この２分割フォーカス誤差信号受光素子１３ａの
両側に配置されたラジアル誤差信号検出用のラジアル誤
差信号受光素子１３ｂ・１３ｂとで構成されている。
尚、上記のようにホログラム１２を第一および第二ホロ
グラム１２ａ・１２ｂに分割し、かつ、サーボ誤差信号
受光素子１３を２分割フォーカス誤差信号受光素子１３
ａおよびラジアル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂで構
成したのは、フォーカス誤差信号の検出をフーコー法で
行い、ラジアル誤差信号の検出をプッシュプル法で行う
ためである。
【００４２】本実施例の構成によれば、半導体レーザ２
からのレーザ光は、グレーティング１１にて３つの回折
光に分割された後、偏光ビームスプリッタ３、コリメー
トレンズ４および対物レンズ５を介して記録媒体１０の
記録面上に集光される。記録媒体１０の記録面で反射
し、対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介して集
光された戻り光は、偏光ビームスプリッタ３のコリメー
トレンズ４側表面に設けられた第一および第二ホログラ
ム１２ａ・１２ｂに入射される。
からのレーザ光は、グレーティング１１にて３つの回折
光に分割された後、偏光ビームスプリッタ３、コリメー
トレンズ４および対物レンズ５を介して記録媒体１０の
記録面上に集光される。記録媒体１０の記録面で反射
し、対物レンズ５およびコリメートレンズ４を介して集
光された戻り光は、偏光ビームスプリッタ３のコリメー
トレンズ４側表面に設けられた第一および第二ホログラ
ム１２ａ・１２ｂに入射される。
【００４３】第一ホログラム１２ａは、ホログラムの格
子周期が第二ホログラム１２ｂよりも狭くなっている。
このため１次回折角が大きくなり、第一ホログラム１２
ａに入射された戻り光は、２分割フォーカス誤差信号受
光素子１３ａ（図６において、半導体レーザ２から離れ
た位置にある受光素子）の中央に導かれる。また、グレ
ーティング１１にて分割され、反射された残りの２つの
戻り光（以下、サブビームと称する）は、第一および第
二ホログラム１２ａ・１２ｂにより回折されて、２分割
フォーカス誤差信号受光素子１３ａの両側に配置された
ラジアル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂに導かれる。
子周期が第二ホログラム１２ｂよりも狭くなっている。
このため１次回折角が大きくなり、第一ホログラム１２
ａに入射された戻り光は、２分割フォーカス誤差信号受
光素子１３ａ（図６において、半導体レーザ２から離れ
た位置にある受光素子）の中央に導かれる。また、グレ
ーティング１１にて分割され、反射された残りの２つの
戻り光（以下、サブビームと称する）は、第一および第
二ホログラム１２ａ・１２ｂにより回折されて、２分割
フォーカス誤差信号受光素子１３ａの両側に配置された
ラジアル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂに導かれる。
【００４４】即ち、該回折光は、合焦時には２分割フォ
ーカス誤差信号受光素子１３ａの各受光素子に入射され
る光量が等しくなる一方、焦点がずれた時には２分割フ
ォーカス誤差信号受光素子１３ａの２つの受光素子間で
入射光量が不平衡になると共に奥の２つの受光素子間で
も入射光量が不平衡になる。つまり、４つの受光素子の
対角線上の２組の受光素子の信号の和をそれぞれとり、
さらに２組の和信号の差をとることにより、フォーカス
誤差信号が検出されるようになっている。また、ラジア
ル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂに入射される１次回
折光は、２つのサブビームのそれぞれに対応しており、
３ビーム法によりラジアル誤差信号として検出される。
ーカス誤差信号受光素子１３ａの各受光素子に入射され
る光量が等しくなる一方、焦点がずれた時には２分割フ
ォーカス誤差信号受光素子１３ａの２つの受光素子間で
入射光量が不平衡になると共に奥の２つの受光素子間で
も入射光量が不平衡になる。つまり、４つの受光素子の
対角線上の２組の受光素子の信号の和をそれぞれとり、
さらに２組の和信号の差をとることにより、フォーカス
誤差信号が検出されるようになっている。また、ラジア
ル誤差信号受光素子１３ｂ・１３ｂに入射される１次回
折光は、２つのサブビームのそれぞれに対応しており、
３ビーム法によりラジアル誤差信号として検出される。
【００４５】以上のように、本実施例にかかる光学ヘッ
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ２とコリ
メートレンズ４との間に配設されると共に、偏光ビーム
スプリッタ３の半導体レーザ２側表面の光路上に３ビー
ム用のグレーティング１１が形成され、偏光ビームスプ
リッタ３のコリメートレンズ４側表面に、第一および第
二ホログラム１２ａ・１２ｂが形成された構成である。
ドは、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ２とコリ
メートレンズ４との間に配設されると共に、偏光ビーム
スプリッタ３の半導体レーザ２側表面の光路上に３ビー
ム用のグレーティング１１が形成され、偏光ビームスプ
リッタ３のコリメートレンズ４側表面に、第一および第
二ホログラム１２ａ・１２ｂが形成された構成である。
【００４６】それゆえ、偏光ビームスプリッタ３に入射
する戻り光は、対物レンズ５およびコリメートレンズ４
により集光されているので、例えば、情報信号光を集光
させるスポットレンズ等を設けなくとも、情報信号受光
素子８にて情報信号を検出することが可能となってい
る。また、ホログラム１２を配置するための特別な光学
部材が不要となっている。
する戻り光は、対物レンズ５およびコリメートレンズ４
により集光されているので、例えば、情報信号光を集光
させるスポットレンズ等を設けなくとも、情報信号受光
素子８にて情報信号を検出することが可能となってい
る。また、ホログラム１２を配置するための特別な光学
部材が不要となっている。
【００４７】これにより、従来と比較して光学部品点数
を減らすことができ、小型化・軽量化が可能となる。従
って、光学ヘッドの高速アクセス化が可能となり、アク
セス時間を短縮することができる。
を減らすことができ、小型化・軽量化が可能となる。従
って、光学ヘッドの高速アクセス化が可能となり、アク
セス時間を短縮することができる。
【００４８】尚、上記の実施例においては、偏光ビーム
スプリッタ３が半導体レーザユニット１上部に固定され
ている構成について説明したが、偏光ビームスプリッタ
３を半導体レーザユニット１上部に固定する代わりに、
偏光ビームスプリッタ３を半導体レーザユニット１の上
方に、或る距離を置いて配置した構成としてもよい。
スプリッタ３が半導体レーザユニット１上部に固定され
ている構成について説明したが、偏光ビームスプリッタ
３を半導体レーザユニット１上部に固定する代わりに、
偏光ビームスプリッタ３を半導体レーザユニット１の上
方に、或る距離を置いて配置した構成としてもよい。
【００４９】この場合にも、上記の実施例と同様に、従
来と比較して光学部品点数を減らすことができ、小型化
・軽量化が可能となる。従って、光学ヘッドの高速アク
セス化が可能となり、アクセス時間を短縮することがで
きる。その上、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ
ユニット１上部に固定されていないので、例えば光学ヘ
ッドを組み立てる際に、偏光ビームスプリッタ３の取り
付け位置や取り付け角度等を微調整することができる。
それゆえ、仮に、サーボ誤差信号受光素子１３等に取り
付け誤差が発生しても、この取り付け誤差を吸収するこ
とができ、光学ヘッドの精度を確保することが可能とな
る。
来と比較して光学部品点数を減らすことができ、小型化
・軽量化が可能となる。従って、光学ヘッドの高速アク
セス化が可能となり、アクセス時間を短縮することがで
きる。その上、偏光ビームスプリッタ３が半導体レーザ
ユニット１上部に固定されていないので、例えば光学ヘ
ッドを組み立てる際に、偏光ビームスプリッタ３の取り
付け位置や取り付け角度等を微調整することができる。
それゆえ、仮に、サーボ誤差信号受光素子１３等に取り
付け誤差が発生しても、この取り付け誤差を吸収するこ
とができ、光学ヘッドの精度を確保することが可能とな
る。
【００５０】
【００５１】
【００５２】
【００５３】
【００５４】
【００５５】
【００５６】
【００５７】
【００５８】
【００５９】
【００６０】
【００６１】
【００６２】
【発明の効果】本発明の請求項１記載の光学ヘッドは、
以上のように、集光手段は記録媒体からの反射光を集光
し、ビームスプリッタが光源と集光手段との間に配設さ
れると共に、集光手段によって集光された反射光のうち
上記サーボ誤差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出
手段に集光するよう導くホログラムが上記ビームスプリ
ッタの光源側表面に形成されている構成である。
以上のように、集光手段は記録媒体からの反射光を集光
し、ビームスプリッタが光源と集光手段との間に配設さ
れると共に、集光手段によって集光された反射光のうち
上記サーボ誤差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出
手段に集光するよう導くホログラムが上記ビームスプリ
ッタの光源側表面に形成されている構成である。
【００６３】これにより、光学ヘッドを構成する光学部
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができるという効果を奏する。
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができるという効果を奏する。
【００６４】本発明の請求項２記載の光学ヘッドは、以
上のように、集光手段は記録媒体からの反射光を集光
し、ビームスプリッタが光源と集光手段との間に配設さ
れると共に、ラジアル誤差信号を検出するように３ビー
ム用グレーティングが上記ビームスプリッタの光源側表
面に形成され、集光手段によって集光された反射光のう
ちサーボ誤差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手
段に集光するよう導くホログラムが上記ビームスプリッ
タの集光手段側表面に形成されている構成である。
上のように、集光手段は記録媒体からの反射光を集光
し、ビームスプリッタが光源と集光手段との間に配設さ
れると共に、ラジアル誤差信号を検出するように３ビー
ム用グレーティングが上記ビームスプリッタの光源側表
面に形成され、集光手段によって集光された反射光のう
ちサーボ誤差信号光を回折させてサーボ誤差信号検出手
段に集光するよう導くホログラムが上記ビームスプリッ
タの集光手段側表面に形成されている構成である。
【００６５】これにより、光学ヘッドを構成する光学部
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができるという効果を奏する。
品点数を減らすことができ、小型化・軽量化が可能とな
る。従って、高速アクセス化が可能となり、アクセス時
間を短縮することができるという効果を奏する。
【００６６】
【００６７】
【００６８】
【００６９】
【図１】本発明の一実施例における光学ヘッドの構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】図１の光学ヘッドの要部を詳細に示す説明図で
ある。
ある。
【図３】本発明の他の実施例における光学ヘッドの構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
【図４】図３の光学ヘッドの要部を詳細に示す説明図で
ある。
ある。
【図５】本発明のさらに他の実施例における光学ヘッド
の構成を示すブロック図である。
の構成を示すブロック図である。
【図６】図５の光学ヘッドの要部を詳細に示す説明図で
ある。
ある。
【図７】従来の光学ヘッドの構成を示すブロック図であ
る。
る。
【図８】従来の光学ヘッドの要部を詳細に示す説明図で
ある。
ある。
１ 半導体レーザユニット ２ 半導体レーザ（光源） ３ 偏光ビームスプリッタ ４ コリメートレンズ（集光手段） ５ 対物レンズ（集光手段） ６ ホログラム ７ ウォラストンプリズム ８ 情報信号受光素子（情報信号検出手段） ９ サーボ誤差信号受光素子（サーボ誤差信号検出手
段） ９ａ フォーカス誤差信号受光素子 ９ｂ ラジアル誤差信号受光素子 １０ 記録媒体 １１ グレーティング（３ビーム用グレーティング） １２ ホログラム １３ サーボ誤差信号受光素子（サーボ誤差信号検出
手段）
段） ９ａ フォーカス誤差信号受光素子 ９ｂ ラジアル誤差信号受光素子 １０ 記録媒体 １１ グレーティング（３ビーム用グレーティング） １２ ホログラム １３ サーボ誤差信号受光素子（サーボ誤差信号検出
手段）
Claims (2)
- 【請求項１】 記録媒体に照射する光を出射する光源
と、この光源から出射された光を上記記録媒体の記録面
に集光する集光手段と、上記記録媒体から反射された反
射光のうち情報信号光を反射すると共にサーボ誤差信号
光を透過するビームスプリッタと、上記サーボ誤差信号
光を検出するサーボ誤差信号検出手段と、上記情報信号
光を検出する情報信号検出手段とを有する１ビーム方式
の光学ヘッドにおいて、 上記集光手段は上記反射光を集光し、上記ビームスプリ
ッタが上記光源と上記集光手段との間に配設されると共
に、上記集光手段によって集光された上記反射光のうち
上記サーボ誤差信号光を回折させて上記サーボ誤差信号
検出手段に集光するよう導くホログラムが上記ビームス
プリッタの光源側表面に形成されていることを特徴とす
る光学ヘッド。 - 【請求項２】 記録媒体に照射する光を出射する光源
と、この光源から出射された光を上記記録媒体の記録面
に集光する集光手段と、上記記録媒体から反射された反
射光のうち情報信号光を反射すると共にサーボ誤差信号
光を透過するビームスプリッタと、上記サーボ誤差信号
光を検出するサーボ誤差信号検出手段と、上記情報信号
光を検出する情報信号検出手段と、ラジアル誤差信号を
検出するように上記ビームスプリッタの光源側表面に形
成された３ビーム用グレーティン具とを有する光学ヘッ
ドにおいて、 上記集光手段は上記反射光を集光し、上記ビームスプリ
ッタが上記光源と上記集光手段との間に配設されると共
に、 上記集光手段によって集光された上記反射光のうちサー
ボ誤差信号光を回折させて上記サーボ誤差信号検出手段
に集光するよう導くホログラムが上記ビームスプリッタ
の集光手段側表面に形成されていることを特徴とする光
学ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04320571A JP3108552B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 光学ヘッド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04320571A JP3108552B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 光学ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06168462A JPH06168462A (ja) | 1994-06-14 |
| JP3108552B2 true JP3108552B2 (ja) | 2000-11-13 |
Family
ID=18122923
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04320571A Expired - Fee Related JP3108552B2 (ja) | 1992-11-30 | 1992-11-30 | 光学ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3108552B2 (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2748907B2 (ja) * | 1995-09-21 | 1998-05-13 | 日本電気株式会社 | 相変化用光ヘッド装置 |
| CN1130708C (zh) | 1997-10-01 | 2003-12-10 | 松下电器产业株式会社 | 半导体激光装置 |
| JP2001034999A (ja) | 1999-05-14 | 2001-02-09 | Fujitsu Ltd | 光情報記憶装置および光学素子 |
| TW492000B (en) * | 2000-02-04 | 2002-06-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical pickup head |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6412223U (ja) * | 1987-07-10 | 1989-01-23 | ||
| JPH02128222U (ja) * | 1989-03-27 | 1990-10-23 |
-
1992
- 1992-11-30 JP JP04320571A patent/JP3108552B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JPH06168462A (ja) | 1994-06-14 |
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