JP3123216B2

JP3123216B2 - 光磁気ヘッド装置

Info

Publication number: JP3123216B2
Application number: JP04140832A
Authority: JP
Inventors: 龍一片山
Original assignee: NEC Corp
Current assignee: NEC Corp
Priority date: 1992-06-02
Filing date: 1992-06-02
Publication date: 2001-01-09
Anticipated expiration: 2016-01-09
Also published as: JPH05334757A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクに情報
の記録、再生、あるいは消去を行うための光磁気ヘッド
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、光磁気ヘッド装置の小型、低価格
化を目的として、誤差信号検出や情報信号検出に回折素
子を用いた構成が提案されている。

【０００３】図８に回折素子を用いた従来の光磁気ヘッ
ド装置の構成例を示す（例えば特開平３−２９１３７号
公報）。光源の半導体レーザ１からの出射光はコリメー
タレンズ２で平行光に変換され、ビームスプリッタ３を
透過したのち、対物レンズ４により、光磁気記録媒体で
あるディスク５上に集光される。ディスク５からの反射
光は、対物レンズ４で再び平行光に変換されたのち、ビ
ームスプリッタ３で反射され、集光光学系外に分離され
る。この光は、レンズ６で収束光に変換されたのち、回
折素子である偏光性ホログラム７に入射する。偏光性ホ
ログラム７からの透過光（０次光）および±１次回折光
は、共通の光検出器８で受光される。

【０００４】偏光性ホログラム７は、図９に示すよう
に、格子方向の異なる４つの領域９〜１２に分割されて
いる。また、基板の光学軸１３の方向は、入射光の偏光
方向に対し、約４５°に設定されている。

【０００５】図１０に偏光性ホログラム７の断面形状を
示す。複屈折性を有するニオブ酸リチウム基板１４上
に、プロトン交換領域１５および位相補償膜１６からな
る二層の回折格子が形成されている。位相補償膜１６と
しては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用いられる。回折格子のラ
イン部とスペース部の位相差は、光学軸１３に垂直な偏
光成分（常光）に対しては０、光学軸１３に平行な偏光
成分（異常光）に対してはπに設定されている。従っ
て、入射光の常光成分は回折されずにすべて透過し、異
常光成分は透過せずにすべて回折される。

【０００６】図１１に光検出器８の構成と、光検出器８
上の光スポット１７〜２５の形状を示す。この図はディ
スク５が対物レンズ４の焦点に正しく位置している場合
を示している。光検出器８は、８個の受光部２６〜３３
に分かれている。

【０００７】光スポット１７は、偏光性ホログラム７の
０次光（常光成分）であり、受光部２６で受光される。
光スポット１８〜２１は、偏光性ホログラム７の＋１次
回折光（異常光成分）であり、領域９〜１２での回折光
が、それぞれ光スポット１８，１９，２０，２１に対応
している。光スポット１８は受光部２７，２８の分割線
上、光スポット１９は受光部２９，３０の分割線上にそ
れぞれ集光される。また、光スポット２０は受光部３
１、光スポット２１は受光部３２でそれぞれ受光され
る。光スポット２２〜２５は、偏光性ホログラム７の−
１次回折光（異常光成分）であり、領域９〜１２での回
折光が、それぞれ光スポット２２，２３，２５，２４に
対応している。４つの光スポットはすべて受光部３３で
受光される。

【０００８】受光部２６〜３３からの出力をそれぞれＶ
（２６）〜Ｖ（３３）で表わすと、フォーカス誤差信号
はフーコー法の原理により、（Ｖ（２７）＋Ｖ（３
０））−（Ｖ（２８）＋Ｖ（２９））から得ることがで
きる。また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原理
により、Ｖ（３１）−Ｖ（３２）から得ることができ
る。一方、情報信号は差動検出法の原理により、０次光
と±１次回折光の差であるＶ（２６）−（Ｖ（２７）＋
Ｖ（２８）＋Ｖ（２９）＋Ｖ（３０）＋Ｖ（３１）＋Ｖ
（３２）＋Ｖ（３３））から得ることができる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】図８に示す従来の光磁
気ヘッド装置においては、偏光性ホログラム７の０次光
（常光成分）はすべて情報信号検出に用いられる。一
方、偏光性ホログラム７の±１次回折光（異常光成分）
に関しては、情報信号検出に用いられるとともに、＋１
次回折光が誤差信号検出にも用いられる。従って、二種
類の信号を電気回路上で分離する必要がある。この場
合、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分に対す
る電気回路の構成が異なることになるため、その周波数
特性に違いが生じる。その結果として、差動検出法にお
いて、半導体レーザの強度変動やディスクの反射率変動
に起因する同相ノイズを、すべての周波数に対して十分
に抑圧することができないという課題がある。

【００１０】本発明の目的は、このような従来の課題を
解決し、情報信号検出に用いる常光成分と異常光成分に
対する電気回路の構成が同じであるためその周波数特性
も同一であり、その結果として、差動検出法において同
相ノイズをすべての周波数に対して十分に抑圧すること
が可能な光磁気ヘッド装置を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、光源と、光源
からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集光手段
と、光磁気記録媒体からの反射光を集光手段外に分離す
る分離手段と、複屈折性を有する基板上に、オフアクシ
スのレンズ作用を有する回折格子が二つの領域に分割し
て形成され、回折効率に偏光依存性を有し、分離手段に
より分離された光を回折する回折素子と、回折素子から
の＋１次回折光の焦点位置に設置され、回折素子からの
±１次回折光を受光する第一の受光部群および回折素子
からの透過光を受光する第二の受光部群を有する光検出
器を備え、前記第一の受光部群は、回折素子の各々の領
域からの＋１次回折光を受光する四分割受光部および回
折素子の各々の領域からの−１次回折光を受光する二分
割受光部または三分割受光部から構成され、前記第二の
受光部群は、回折素子の各々の領域からの透過光を受光
する二分割受光部から構成され、第一の受光部群の出力
からフォーカスエラー信号、第二の受光部群の出力から
トラックエラー信号をそれぞれ検出し、第一および第二
の受光部群の出力の差から情報信号を検出することを特
徴としている。

【００１２】また、本発明は、光源と、光源からの出射
光を光磁気記録媒体上に集光する集光手段と、光磁気記
録媒体からの反射光を集光手段外に分離する分離手段
と、複屈折性を有する基板上に、オフアクシスのレンズ
作用を有する回折格子が二つの領域に分割して形成さ
れ、回折効率に偏光依存性を有し、分離手段により分離
された光を回折する回折素子と、回折素子からの−１次
回折光の焦点位置に設置され、回折素子からの±１次回
折光を受光する第一の受光部群および回折素子からの透
過光を受光する第二の受光部群を有する光検出器を備
え、第一の受光部群は、回折素子の各々の領域からの−
１次回折光を受光する四分割受光部および回折素子の各
々の領域からの＋１次回折光を受光する二分割受光部ま
たは三分割受光部から構成され、第二の受光部群は、回
折素子の各々の領域からの透過光を受光する二分割受光
部から構成され、第一の受光部群の出力からフォーカス
エラー信号、第二の受光部群の出力からトラックエラー
信号をそれぞれ検出し、第一および第二の受光部群の出
力の差から情報信号を検出することを特徴としている。

【００１３】

【作用】本発明の光磁気ヘッド装置においては、光磁気
記録媒体からの反射光は、回折効率に偏光依存性を有す
る回折素子により、０次光（常光成分）および±１次回
折光（異常光成分）に分離される。回折素子は二つの領
域に分割して形成されており、光検出器は回折素子から
の＋１次回折光または−１次回折光の焦点位置に設置さ
れている。従って、フォーカス誤差信号は、＋１次回折
光または−１次回折光からフーコー法の原理により検出
できる。また、回折素子はオフアクシスのレンズ作用を
有するため、０次光は光検出器上に焦点を結ばず、ファ
ーフィールドの位置で受光される。従って、トラック誤
差信号は、０次光からプッシュプル法の原理により検出
できる。一方、情報信号は、従来例と同様に０次光と±
１次回折光との差から差動検出法により検出できる。

【００１４】

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。

【００１５】図１は、本発明の光磁気ヘッド装置の第１
の実施例の構成を示す図である。図１において、光源の
半導体レーザ１からの出射光は、コリメータレンズ２で
平行光に変換され、ビームスブリッタ３を透過したの
ち、対物レンズ４により、光磁気記録媒体であるディス
ク５上に集光される。ディスク５からの反射光は、対物
レンズ４で再び平行光に変換されたのち、ビームスプリ
ッタ３で反射され、集光光学系外に分離される。この光
は、レンズ６で収束光に変換されたのち、回折効率に偏
光依存性を有する回折素子である偏光性ホログラム３４
に入射し、０次光および±１次回折光に分離される。こ
れらの光は、共通の光検出器３５で受光される。

【００１６】偏光性ホログラム３４はオフアクシスのレ
ンズ作用を有し、＋１次回折光に対しては凸レンズ、−
１次回折光に対しては凹レンズとして働く。光検出器３
５は＋１次回折光の焦点位置に設置されているため、０
次光および−１次回折光は、光検出器３５の後方に焦点
を結ぶ。

【００１７】偏光性ホログラム３４は、図２に示すよう
に、２つの領域３６、３７に分割されている。また、基
板の光学軸１３の方向は、入射光の偏光方向に対し、約
４５°に設定されてる。

【００１８】偏光性ホログラム３４の断面形状は図１０
に示す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸
リチウム基板１４上に、プロトン交換領域１５および位
相補償膜１６からなる二層の回折格子が形成されてい
る。位相補償膜１６としては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用い
られる。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、
光学軸１３に垂直な偏光成分（常光）に対しては０、光
学軸１３に平行な偏光成分（異常光）に対してはπに設
定されている。従って、入射光の常光成分は回折されず
にすべて透過し、異常光成分は透過せずにすべて回折さ
れる。

【００１９】図３に光検出器３５の構成と、光検出器３
５上の光スポット４１〜４５の形状を示す。この図はデ
ィスク５が対物レンズ４の焦点に正しく位置している場
合を示している。光検出器３５は、８個の受光部４６〜
５３に分かれている。

【００２０】光スポット４１は、偏光性ホログラム３４
の０次光（常光成分）であり、受光部４６，４７にまた
がってファーフィールドの位置で受光される。光スポッ
ト４２，４３は、偏光性ホログラム３４の＋１次回折光
（異常光成分）であり、領域３６，３７での回折光が、
それぞれ光スポット４３，４２に対応している。光スポ
ット４２は受光部４８，４９の分割線上、光スポット４
３は受光部５０，５１の分割線上にそれぞれ集光され
る。光スポット４４，４５は、偏光性ホログラム３４の
−１次回折光（異常光成分）であり、領域３６，３７で
の回折光が、それぞれ光スポット４５，４４に対応して
いる。光スポット４４は受光部５２、光スポット４５は
受光部５３でそれぞれ受光される。

【００２１】受光部４６〜５３からの出力をそれぞれＶ
（４６）〜Ｖ（５３）で表わすと、フォーカス誤差信号
はフーコー法の原理により、（Ｖ（４８）＋Ｖ（５１）
＋Ｖ（５２））−（Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）＋Ｖ（５
３））から得ることができる。ここで、Ｖ（５２）およ
びＶ（５３）はフォーカス誤差信号の検出に寄与しない
が、電気回路の構成の都合上このような演算を行うこと
とする。また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原
理により、Ｖ（４６）−Ｖ（４７）から得ることができ
る。一方、情報信号は差動検出法の原理により、偏光性
ホログラム３４の０次光と±１次回折光の差である（Ｖ
（４６）＋Ｖ（４７））−（Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）＋
Ｖ（５０）＋Ｖ（５１）＋Ｖ（５２）＋Ｖ（５３））か
ら得ることができる。

【００２２】以上の演算をわかりやすく記述するため、
次のように記号を定める。

【００２３】Ａ＝Ｖ（４８）＋Ｖ（５１）＋Ｖ（５２）Ｂ＝Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）＋Ｖ（５３）Ｃ＝Ｖ（４６）Ｄ＝Ｖ（４７）すると、各信号は次のような式で表わされる。

【００２４】フォーカスエラー信号＝Ａ−Ｂトラックエラー信号＝Ｃ−Ｄ情報信号＝（Ｃ＋Ｄ）−（Ａ＋Ｂ）従って、本実施例においては、情報信号検出に用いる常
光成分（Ｃ、Ｄ）と異常光成分（Ａ、Ｂ）に対する電気
回路の構成がまったく同じになり、その周波数特性も同
一になる。その結果として、差動検出法において同相ノ
イズをすべての周波数に対して十分に抑圧することが可
能になる。

【００２５】図４に光検出器３５の別の構成と、光検出
器３５上の光スポット４１〜４５の形状を示す。図４の
構成では、図３に示す２つの受光部５２，５３に相当す
る部分が３つの受光部５４〜５６に分割されており、光
スポット４４は受光部５４と５５、光スポット４５は受
光部５４と５６にそれぞれまたがって受光される。

【００２６】受光部５４〜５６からの出力をそれぞれＶ
（５４）〜Ｖ（５６）で表わすと、フォーカス誤差信号
はフーコー法の原理により、（Ｖ（４８）＋Ｖ（５１）
＋Ｖ（５４））−（Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）＋Ｖ（５
５）＋Ｖ（５６））から得ることができる。また、情報
信号は差動検出法の原理により、（Ｖ（４６）＋Ｖ（４
７））−（Ｖ（４８）＋Ｖ（４９）＋Ｖ（５０）＋Ｖ
（５１）＋Ｖ（５４）＋Ｖ（５５）＋Ｖ（５６））から
得ることができる。光スポット４４と４５の強度がアン
バランスになった場合、図３に示す構成ではフォーカス
誤差信号にオフセットを生じるが、図４に示す構成では
オフセットを生じないという利点がある。

【００２７】図１には、ビームスプリッタ３と光検出器
３５の間に、レンズ６、偏光性ホログラム３４がこの順
に配置されている構成を示したが、レンズ６、偏光性ホ
ログラム３４の順序は逆でも構わない。また、ビームス
プリッタ３、レンズ６、偏光性ホログラム３４のうち二
つ以上の素子を、接着により一体化することも可能であ
る。

【００２８】図５に、本発明の光磁気ヘッド装置の第２
の実施例の構成を示す。ディスク５からの反射光がレン
ズ６で収束光に変換されるまでの構成は図８に示す従来
例と同じであるので、説明は省略する。レンズ６で収束
光に変換された光は、回折効率に偏光依存性を有する回
折素子である偏光性ホログラム３４に入射し、０次光お
よび±１次回折光に分離される。これらの光は、共通の
光検出器５７で受光される。

【００２９】偏光性ホログラム３４はオフアクシスのレ
ンズ作用を有し、＋１次回折光に対しては凸レンズ、−
１次回折光に対しては凹レンズとして働く。光検出器５
７は−１次回折光の焦点位置に設置されているため、０
次光および＋１次回折光は、光検出器５７の前方に焦点
を結ぶ。

【００３０】偏光性ホログラム３４は、図２に示すよう
に、２つの領域３６、３７に分割されている。また、基
板の光学軸１３の方向は、入射光の偏光方向に対し、約
４５°に設定されてる。

【００３１】偏光性ホログラム３４の断面形状は図１０
に示す従来例と同じであり、複屈折性を有するニオブ酸
リチウム基板１４上に、プロトン交換領域１５および位
相補償膜１６からなる二層の回折格子が形成されてい
る。位相補償膜１６としては、例えばＮｂ₂Ｏ₅が用い
られる。回折格子のライン部とスペース部の位相差は、
光学軸１３に垂直な偏光成分（常光）に対しては０、光
学軸１３に平行な偏光成分（異常光）に対してはπに設
定されている。従って、入射光の常光成分は回折されず
にすべて透過し、異常光成分は透過せずにすべて回折さ
れる。

【００３２】図６に光検出器５７の構成と、光検出器５
７上の光スポット５８〜６２の形状を示す。この図はデ
ィスク５が対物レンズ４の焦点に正しく位置している場
合を示している。光検出器５７は、８個の受光部６３〜
７０に分かれている。

【００３３】光スポット５８は、偏光性ホログラム３４
の０次光（常光成分）であり、受光部６３，６４にまた
がってファーフィールドの位置で受光される。光スポッ
ト５９，６０は、偏光性ホログラム３４の＋１次回折光
（異常光成分）であり、領域３６，３７での回折光が、
それぞれ光スポット６０，５９に対応している。光スポ
ット５９は受光部６５、光スポット６０は受光部６６で
それぞれ受光される。光スポット６１，６２は、偏光性
ホログラム３４の−１次回折光（異常光成分）であり、
領域３６，３７での回折光がそれぞれ光スポット６２，
６１に対応している。光スポット６１は受光部６７，６
８の分割線上、光スポット６２は受光部６９，７０の分
割線上にそれぞれ集光される。

【００３４】受光部６３〜７０からの出力をそれぞれＶ
（６３）〜Ｖ（７０）で表わすと、フォーカス誤差信号
はフーコー法の原理により、（Ｖ（６５）＋Ｖ（６７）
＋Ｖ（７０））−（Ｖ（６６）＋Ｖ（６８）＋Ｖ（６
９））から得ることができる。ここで、Ｖ（６５）およ
びＶ（６６）はフォーカス誤差信号の検出に寄与しない
が、電気回路の構成の都合上このような演算を行うこと
とする。また、トラック誤差信号はプッシュプル法の原
理により、Ｖ（６３）−Ｖ（６４）から得ることができ
る。一方、情報信号は差動検出法の原理により、偏光性
ホログラム３４の０次光と±１次回折光の差である（Ｖ
（６３）＋Ｖ（６４））−（Ｖ（６５）＋Ｖ（６６）＋
Ｖ（６７）＋Ｖ（６８）＋Ｖ（６９）＋Ｖ（７０））か
ら得ることができる。

【００３５】以上の演算をわかりやすく記述するため、
次のように記号を定める。

【００３６】Ｅ＝Ｖ（６５）＋Ｖ（６７）＋Ｖ（７０）Ｆ＝Ｖ（６６）＋Ｖ（６８）＋Ｖ（６９）Ｇ＝Ｖ（６３）Ｈ＝Ｖ（６４）すると、各信号は次のような式で表わされる。

【００３７】フォーカスエラー信号＝Ｅ−Ｆトラックエラー信号＝Ｇ−Ｈ情報信号＝（Ｇ＋Ｈ）−（Ｅ＋Ｆ）従って、本実施例においても、情報信号検出に用いる常
光成分（Ｇ、Ｈ）と異常光成分（Ｅ、Ｆ）に対する電気
回路の構成がまったく同じになり、その周波数特性も同
一になる。その結果として、差動検出法において同相ノ
イズをすべての周波数に対して十分に抑圧することが可
能になる。

【００３８】図７に光検出器５７の別の構成と、光検出
器５７上の光スポット５８〜６２の形状を示す。図７の
構成では、図６に示す２つの受光部６５，６６に相当す
る部分が３つの受光部７１〜７３に分割されており、光
スポット５９は受光部７１と７２、光スポット６０は受
光部７１と７３にそれぞれまたがって受光される。

【００３９】受光部７１〜７３からの出力をそれぞれＶ
（７１）〜Ｖ（７３）で表わすと、フォーカス誤差信号
はフーコー法の原理により、（Ｖ（７１）＋Ｖ（６７）
＋Ｖ（７０））−（Ｖ（７２）＋Ｖ（７３）＋Ｖ（６
８）＋Ｖ（６９））から得ることができる。また、情報
信号は差動検出法の原理により、（Ｖ（６３）＋Ｖ（６
４））−（Ｖ（７１）＋Ｖ（７２）＋Ｖ（７３）＋Ｖ
（６７）＋Ｖ（６８）＋Ｖ（６９）＋Ｖ（７０））から
得ることができる。光スポット５９と６０の強度がアン
バランスになった場合、図６に示す構成ではフォーカス
誤差信号にオフセットを生じるが、図７に示す構成では
オフセットを生じないという利点がある。

【００４０】図５には、ビームスプリッタ３と光検出器
５７の間に、レンズ６、偏光性ホログラム３４がこの順
に配置されている構成を示したが、レンズ６、偏光性ホ
ログラム３４の順序は逆でも構わない。また、ビームス
プリッタ３、レンズ６、偏光性ホログラム３４のうち二
つ以上の素子を、接着により一体化することも可能であ
る。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、情報信
号検出に用いる常光成分と異常光成分に対する電気回路
の構成が同じであるためその周波数特性も同一であり、
その結果として、差動検出法において同相ノイズをすべ
ての周波数に対して十分に抑圧することができるという
効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光磁気ヘッド装置の第１の実施例の構
成を示す図である。

【図２】第１の実施例に用いる偏光性ホログラムの構成
と、基板の光学軸の方向を示す図である。

【図３】第１の実施例に用いる光検出器の構成と、光検
出器上の光スポットの形状を示す図である。

【図４】第１の実施例に用いる光検出器の別の構成と、
光検出器上の光スポットの形状を示す図である。

【図５】本発明の光磁気ヘッド装置の第２の実施例の構
成を示す図である。

【図６】第２の実施例に用いる光検出器の構成と、光検
出器上の光スポットの形状を示す図である。

【図７】第２の実施例に用いる光検出器の別の構成と、
光検出器上の光スポットの形状を示す図である。

【図８】従来の光磁気ヘッド装置の構成例を示す図であ
る。

【図９】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホログ
ラムの構成と、基板の光学軸の方向を示す図である。

【図１０】従来の光磁気ヘッド装置に用いる偏光性ホロ
グラムの断面形状を示す図である。

【図１１】従来の光磁気ヘッド装置に用いる光検出器の
構成と、光検出器上の光スポットの配置を示す図であ
る。

【符号の説明】

１半導体レーザ２コリメータレンズ３ビームスプリッタ４対物レンズ５ディスク６レンズ７，３４偏光性ホログラム８，３５，５７光検出器９〜１２，３６，３７領域１３光学軸１４ニオブ酸リチウム基板１５プロトン交換領域１６位相補償膜１７〜２５，４１〜４５，５８〜６２光スポット２６〜３３，４６〜５６，６３〜７３受光部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) G11B 11/105 551 G11B 7/08 - 7/22

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光源と、光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集光手
段と、光磁気記録媒体からの反射光を集光手段外に分離する分
離手段と、複屈折性を有する基板上に、オフアクシスのレンズ作用
を有する回折格子が二つの領域に分割して形成され、回
折効率に偏光依存性を有し、分離手段により分離された
光を回折する回折素子と、回折素子からの＋１次回折光の焦点位置に設置され、回
折素子からの±１次回折光を受光する第一の受光部群お
よび回折素子からの透過光を受光する第二の受光部群を
有する光検出器を備え、前記第一の受光部群は、回折素子の各々の領域からの＋
１次回折光を受光する四分割受光部および回折素子の各
々の領域からの−１次回折光を受光する二分割受光部ま
たは三分割受光部から構成され、前記第二の受光部群は、回折素子の各々の領域からの透
過光を受光する二分割受光部から構成され、第一の受光部群の出力からフォーカスエラー信号、第二
の受光部群の出力からトラックエラー信号をそれぞれ検
出し、第一および第二の受光部群の出力の差から情報信
号を検出することを特徴とする光磁気ヘッド装置。
【請求項２】光源と、光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光する集光手
段と、光磁気記録媒体からの反射光を集光手段外に分離する分
離手段と、複屈折性を有する基板上に、オフアクシスのレンズ作用
を有する回折格子が二つの領域に分割して形成され、回
折効率に偏光依存性を有し、分離手段により分離された
光を回折する回折素子と、回折素子からの−１次回折光の焦点位置に設置され、回
折素子からの±１次回折光を受光する第一の受光部群お
よび回折素子からの透過光を受光する第二の受光部群を
有する光検出器を備え、第一の受光部群は、回折素子の各々の領域からの−１次
回折光を受光する四分割受光部および回折素子の各々の
領域からの＋１次回折光を受光する二分割受光部または
三分割受光部から構成され、第二の受光部群は、回折素子の各々の領域からの透過光
を受光する二分割受光部から構成され、第一の受光部群の出力からフォーカスエラー信号、第二
の受光部群の出力からトラックエラー信号をそれぞれ検
出し、第一および第二の受光部群の出力の差から情報信
号を検出することを特徴とする光磁気ヘッド装置。