JPH08306091A - 光ヘッド - Google Patents
光ヘッドInfo
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- JPH08306091A JPH08306091A JP7112912A JP11291295A JPH08306091A JP H08306091 A JPH08306091 A JP H08306091A JP 7112912 A JP7112912 A JP 7112912A JP 11291295 A JP11291295 A JP 11291295A JP H08306091 A JPH08306091 A JP H08306091A
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
- G11B11/10541—Heads for reproducing
- G11B11/10543—Heads for reproducing using optical beam of radiation
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/123—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型軽量化の可能な光磁気情報再生用光ヘッ
ドを提供する。 【構成】 半導体レーザチップ１０２からのＰ偏光をコ
リメータレンズ１０５及び対物レンズ１０７を介して光
磁気ディスクにスポット１１０として照射する。その反
射光のうちのＳ偏光成分のみを分離する偏光分離ホログ
ラム素子１０６を備えており、そのホログラム部１１２
は情報トラック方向と対応する方向の分割線で分割され
た２つの偏光分離面１１２ａ，１１２ｂを有し、ここで
分離された光を情報再生用光検出器１１４，１１５に導
く。半導体レーザ装置１０１の透光性カバー１０３は分
離ホログラム部１０４を備えており、ここで分離された
光をオートフォーカシング及びオートトラッキング用の
多分割光検出器１１３に導く。情報再生用光検出器１１
４，１１５と多分割光検出器１１３と半導体レーザチッ
プ１０２とは共通の基板１１６上に形成されている。
ドを提供する。 【構成】 半導体レーザチップ１０２からのＰ偏光をコ
リメータレンズ１０５及び対物レンズ１０７を介して光
磁気ディスクにスポット１１０として照射する。その反
射光のうちのＳ偏光成分のみを分離する偏光分離ホログ
ラム素子１０６を備えており、そのホログラム部１１２
は情報トラック方向と対応する方向の分割線で分割され
た２つの偏光分離面１１２ａ，１１２ｂを有し、ここで
分離された光を情報再生用光検出器１１４，１１５に導
く。半導体レーザ装置１０１の透光性カバー１０３は分
離ホログラム部１０４を備えており、ここで分離された
光をオートフォーカシング及びオートトラッキング用の
多分割光検出器１１３に導く。情報再生用光検出器１１
４，１１５と多分割光検出器１１３と半導体レーザチッ
プ１０２とは共通の基板１１６上に形成されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気記録媒体の記録
情報を再生する光ヘッドに関するものである。
情報を再生する光ヘッドに関するものである。
【０００２】
【従来の技術及び発明の背景】図３は、従来の光磁気記
録再生装置の光ヘッドの概略構成図である。図３におい
て、光源たる半導体レーザ１９から射出された発散光束
は、コリメータレンズ２０で平行化され、ビーム整形プ
リズム２１で断面楕円形状の平行光束とされる。この光
束は、Ｐ偏光として偏光ビームスプリッタ２２に入射す
る。この偏光ビームスプリッタ２２の特性は、例えば、
Ｐ偏光透過率６０％、Ｐ偏光反射率４０％、Ｓ偏光透過
率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光ビームスプ
リッタ２２を透過したＰ偏光光束は、対物レンズ２３に
より集光され、光磁気ディスク２４の磁性層上に光スポ
ットを形成する。また、この光ビームスポット位置に対
し、磁気ヘッド２５から磁界が印加され、磁性層上に情
報磁区が記録される。
録再生装置の光ヘッドの概略構成図である。図３におい
て、光源たる半導体レーザ１９から射出された発散光束
は、コリメータレンズ２０で平行化され、ビーム整形プ
リズム２１で断面楕円形状の平行光束とされる。この光
束は、Ｐ偏光として偏光ビームスプリッタ２２に入射す
る。この偏光ビームスプリッタ２２の特性は、例えば、
Ｐ偏光透過率６０％、Ｐ偏光反射率４０％、Ｓ偏光透過
率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光ビームスプ
リッタ２２を透過したＰ偏光光束は、対物レンズ２３に
より集光され、光磁気ディスク２４の磁性層上に光スポ
ットを形成する。また、この光ビームスポット位置に対
し、磁気ヘッド２５から磁界が印加され、磁性層上に情
報磁区が記録される。
【０００３】光磁気ディスク２４からの反射光は、対物
レンズ２３を介して偏光ビームスプリッタ２２に戻り、
ここで反射光の一部が分離されて再生光学系２７へと進
行する。再生光学系２７へ入射した光束は、先ず、偏光
ビームスプリッタ２６で更に２つに分離される。この偏
光ビームスプリッタ２６の特性は、例えば、Ｐ偏光透過
率２０％、Ｐ偏光反射率８０％、Ｓ偏光透過率０％、Ｓ
偏光反射率１００％である。
レンズ２３を介して偏光ビームスプリッタ２２に戻り、
ここで反射光の一部が分離されて再生光学系２７へと進
行する。再生光学系２７へ入射した光束は、先ず、偏光
ビームスプリッタ２６で更に２つに分離される。この偏
光ビームスプリッタ２６の特性は、例えば、Ｐ偏光透過
率２０％、Ｐ偏光反射率８０％、Ｓ偏光透過率０％、Ｓ
偏光反射率１００％である。
【０００４】偏光ビームスプリッタ２６を透過した光束
は、集光レンズ３５を介してビームスプリッタ３６へと
導かれ、ここで２つに分離され、一方がトラッキングエ
ラー検出用光検出器３７に導かれ、他方がナイフエッジ
３８を介してフォーカシングエラー検出用光検出器３９
に導かれる。そして、これらの制御光学系により、光ビ
ームスポットのオートトラッキングやオートフォーカシ
ングのためのエラー信号が生成される。
は、集光レンズ３５を介してビームスプリッタ３６へと
導かれ、ここで２つに分離され、一方がトラッキングエ
ラー検出用光検出器３７に導かれ、他方がナイフエッジ
３８を介してフォーカシングエラー検出用光検出器３９
に導かれる。そして、これらの制御光学系により、光ビ
ームスポットのオートトラッキングやオートフォーカシ
ングのためのエラー信号が生成される。
【０００５】再生光学系２７において、偏光ビームスプ
リッタ２６で反射された光束は、１／２波長板２８を通
過して偏光方向を４５°回転せしめられ、集光レンズ２
９により集光せしめられ、偏光ビームスプリッタ３０に
到達する。この偏光ビームスプリッタ３０の特性は、例
えば、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ偏光反射率０％、Ｓ偏
光透過率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光ビー
ムスプリッタ３０により２つに分割された光束はそれぞ
れ光検出器３１，３２に入射する。これら光検出器の検
出信号は差動アンプ３３で差動増幅され、再生信号３４
が生成される。
リッタ２６で反射された光束は、１／２波長板２８を通
過して偏光方向を４５°回転せしめられ、集光レンズ２
９により集光せしめられ、偏光ビームスプリッタ３０に
到達する。この偏光ビームスプリッタ３０の特性は、例
えば、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ偏光反射率０％、Ｓ偏
光透過率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光ビー
ムスプリッタ３０により２つに分割された光束はそれぞ
れ光検出器３１，３２に入射する。これら光検出器の検
出信号は差動アンプ３３で差動増幅され、再生信号３４
が生成される。
【０００６】垂直磁化の向きとして情報が記録された光
磁気記録媒体に直線偏光を照射すると、その反射光の偏
光方向は磁化の向きに応じて右回りまたは左回りのいず
れかに回転する。例えば、光磁気記録媒体に入射する直
線偏光の偏光方向を、図４に示す様に、Ｐ方向とする
と、下向き磁化の場合の反射光の偏光方向は角度＋θK
回転してＲ+ となり、上向き磁化の場合の反射光の偏光
方向は角度−θK 回転してＲ- となる。そこで、図４に
示す様に検光子の方向を設定すると、該検光子を透過す
る光は、Ｒ+ の場合はＡとなり、Ｒ- の場合はＢとな
る。これを光検出器で検出すると、光強度の差として情
報を得ることができる。図３の例では、偏光ビームスプ
リッタ３０が検光子の役目をしており、分離する一方の
光束に対してＰ方向から＋４５度の方向の検光子となり
他方の光束に対してＰ方向から−４５度の方向の検光子
となる。従って、光検出器３１と光検出器３２では、得
られる信号成分は逆相となるので、これらの信号を差動
増幅し検出することで、ノイズの軽減された再生信号を
得ることができる。
磁気記録媒体に直線偏光を照射すると、その反射光の偏
光方向は磁化の向きに応じて右回りまたは左回りのいず
れかに回転する。例えば、光磁気記録媒体に入射する直
線偏光の偏光方向を、図４に示す様に、Ｐ方向とする
と、下向き磁化の場合の反射光の偏光方向は角度＋θK
回転してＲ+ となり、上向き磁化の場合の反射光の偏光
方向は角度−θK 回転してＲ- となる。そこで、図４に
示す様に検光子の方向を設定すると、該検光子を透過す
る光は、Ｒ+ の場合はＡとなり、Ｒ- の場合はＢとな
る。これを光検出器で検出すると、光強度の差として情
報を得ることができる。図３の例では、偏光ビームスプ
リッタ３０が検光子の役目をしており、分離する一方の
光束に対してＰ方向から＋４５度の方向の検光子となり
他方の光束に対してＰ方向から−４５度の方向の検光子
となる。従って、光検出器３１と光検出器３２では、得
られる信号成分は逆相となるので、これらの信号を差動
増幅し検出することで、ノイズの軽減された再生信号を
得ることができる。
【０００７】ところで、近年、記憶容量を大きくするた
めに、情報ピットの中心位置間隔に意味をもたせるマー
ク間記録方式から、情報ピットの長さに意味をもたせる
マーク長記録方式へと移行しつつある。このマーク長記
録された情報の再生は、従来、光ヘッドで光学的に得ら
れるピットの信号を電気的に微分等の処理を施して、情
報ピットのエッジ部を検知することにより行われてい
た。これに対し、光学的に直接ピットエッジを検出する
再生方式が提案されている（特願平４−４７７８９
号）。この方式について、以下、図５〜図８を参照しな
がら説明する。
めに、情報ピットの中心位置間隔に意味をもたせるマー
ク間記録方式から、情報ピットの長さに意味をもたせる
マーク長記録方式へと移行しつつある。このマーク長記
録された情報の再生は、従来、光ヘッドで光学的に得ら
れるピットの信号を電気的に微分等の処理を施して、情
報ピットのエッジ部を検知することにより行われてい
た。これに対し、光学的に直接ピットエッジを検出する
再生方式が提案されている（特願平４−４７７８９
号）。この方式について、以下、図５〜図８を参照しな
がら説明する。
【０００８】図５には、この再生方式に用いる光ヘッド
の構成図が示されている。この図において、上記図３に
おけると同様の機能を有する部材には同一の符号が付さ
れている。対物レンズ２３は、ＮＡが０．５５程度のも
ので、大きな曲率の曲面をもつ。この曲面に半導体レー
ザ１９からの直線偏光が入射すると、曲面の各位置で異
なる方向に偏光面のわずかな回転が生ずる。その結果、
入射直線偏光の方向に直交する方向の偏光成分をみる
と、後述する様に、四葉のクローバ状の回折像が得られ
る。半導体レーザ１９からの光束はＰ偏光であり、対物
レンズ２３を経て光磁気ディスク２４に照射される。こ
の時のＰ偏光光束の偏光方向は、光磁気ディスク２４の
トラックと平行または垂直となる様に設定されている。
の構成図が示されている。この図において、上記図３に
おけると同様の機能を有する部材には同一の符号が付さ
れている。対物レンズ２３は、ＮＡが０．５５程度のも
ので、大きな曲率の曲面をもつ。この曲面に半導体レー
ザ１９からの直線偏光が入射すると、曲面の各位置で異
なる方向に偏光面のわずかな回転が生ずる。その結果、
入射直線偏光の方向に直交する方向の偏光成分をみる
と、後述する様に、四葉のクローバ状の回折像が得られ
る。半導体レーザ１９からの光束はＰ偏光であり、対物
レンズ２３を経て光磁気ディスク２４に照射される。こ
の時のＰ偏光光束の偏光方向は、光磁気ディスク２４の
トラックと平行または垂直となる様に設定されている。
【０００９】光磁気ディスク２４に入射した光束が反射
される際には、光磁気効果（カー効果やファラデー効
果）により、Ｓ偏光成分を生ずる。反射光束は、再び対
物レンズ２３を通って平行光束となる。この平行光束に
は、光磁気ディスク２４の光磁気効果により生じたＳ偏
光の他に、対物レンズ２３の曲面で生じたＳ偏光が含ま
れている。
される際には、光磁気効果（カー効果やファラデー効
果）により、Ｓ偏光成分を生ずる。反射光束は、再び対
物レンズ２３を通って平行光束となる。この平行光束に
は、光磁気ディスク２４の光磁気効果により生じたＳ偏
光の他に、対物レンズ２３の曲面で生じたＳ偏光が含ま
れている。
【００１０】この光磁気ディスク２４からの反射光束の
一部は、偏光ビームスプリッタ２２で反射され、偏光ビ
ームスプリッタ４０に導かれる。この偏光ビームスプリ
ッタ４０の特性は、例えば、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ
偏光反射率０％、Ｓ偏光透過率０％、Ｓ偏光反射率１０
０％である。これにより、Ｐ偏光光束は、偏光ビームス
プリッタ４０を透過して制御光学系へと導かれ、オート
フォーカシング及びオートトラッキング用のエラー信号
が生成される。一方、Ｓ偏光光束は、偏光ビームスプリ
ッタ４０で反射されて、再生光学系の集光レンズ４１へ
と導かれ、２分割光検出器４２の各検出面で検出され
る。これら各検出面の検出信号を差動アンプ４３で差動
増幅することにより、再生信号４４が生成される。尚、
２分割光検出器４２の分割線は光磁気ディスク２４のト
ラックに平行に設けてある。２分割光検出器４２に入射
する光は、光磁気効果により生じたＳ偏光光束及び対物
レンズ２３の曲面で生じたＳ偏光の光束である。
一部は、偏光ビームスプリッタ２２で反射され、偏光ビ
ームスプリッタ４０に導かれる。この偏光ビームスプリ
ッタ４０の特性は、例えば、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ
偏光反射率０％、Ｓ偏光透過率０％、Ｓ偏光反射率１０
０％である。これにより、Ｐ偏光光束は、偏光ビームス
プリッタ４０を透過して制御光学系へと導かれ、オート
フォーカシング及びオートトラッキング用のエラー信号
が生成される。一方、Ｓ偏光光束は、偏光ビームスプリ
ッタ４０で反射されて、再生光学系の集光レンズ４１へ
と導かれ、２分割光検出器４２の各検出面で検出され
る。これら各検出面の検出信号を差動アンプ４３で差動
増幅することにより、再生信号４４が生成される。尚、
２分割光検出器４２の分割線は光磁気ディスク２４のト
ラックに平行に設けてある。２分割光検出器４２に入射
する光は、光磁気効果により生じたＳ偏光光束及び対物
レンズ２３の曲面で生じたＳ偏光の光束である。
【００１１】光磁気効果により生ずるＳ偏光光束は、図
４からもわかる様に、上向き磁化で反射したＳ+ の光束
と下向き磁化で反射したＳ- の光束であり、両者の位相
差はπである。つまり、光スポット内に上向き磁化と下
向き磁化との境界（エッジ部）が入ってくると、深さλ
／４のピットの場合のエッジ部と同様な光の回折が生ず
る。このことについては、後述する。
４からもわかる様に、上向き磁化で反射したＳ+ の光束
と下向き磁化で反射したＳ- の光束であり、両者の位相
差はπである。つまり、光スポット内に上向き磁化と下
向き磁化との境界（エッジ部）が入ってくると、深さλ
／４のピットの場合のエッジ部と同様な光の回折が生ず
る。このことについては、後述する。
【００１２】また、対物レンズ２３の曲面で生ずるＳ偏
光光束については、次の様になる。図６において、４２
−１，４２−２は２分割光検出器４２の検出面を示し、
矢印Ａは光学的に対応する情報トラックの方向を示す。
また、図６の（ａ）は光磁気効果によって生ずるＳ+ の
光の分布を示し、図６の（ｂ）は対物レンズ２３の曲面
で生ずるＳ偏光回折光の分布を示している。図６（ｂ）
では四葉状の分布となり、それぞれ対向する葉の光の位
相は同一であり、隣り合う葉の位相差はπである。この
（ｂ）の分布は、光磁気ディスク２４上の磁化の向きに
関係なく、２分割光検出器４２上に現れる。
光光束については、次の様になる。図６において、４２
−１，４２−２は２分割光検出器４２の検出面を示し、
矢印Ａは光学的に対応する情報トラックの方向を示す。
また、図６の（ａ）は光磁気効果によって生ずるＳ+ の
光の分布を示し、図６の（ｂ）は対物レンズ２３の曲面
で生ずるＳ偏光回折光の分布を示している。図６（ｂ）
では四葉状の分布となり、それぞれ対向する葉の光の位
相は同一であり、隣り合う葉の位相差はπである。この
（ｂ）の分布は、光磁気ディスク２４上の磁化の向きに
関係なく、２分割光検出器４２上に現れる。
【００１３】図７は、図６（ｂ）のＢ−Ｂ’，Ｃ−Ｃ’
における断面での光の振幅を示したものである。図７の
（ａ）はＢ−Ｂ’における断面での光の振幅を示し、図
７の（ｂ）はＣ−Ｃ’における断面での光の振幅を示
す。
における断面での光の振幅を示したものである。図７の
（ａ）はＢ−Ｂ’における断面での光の振幅を示し、図
７の（ｂ）はＣ−Ｃ’における断面での光の振幅を示
す。
【００１４】図８を用いて、この再生方式を更に詳細に
説明する。
説明する。
【００１５】図８の（ａ）は再生用の光ビームスポット
と磁区との関係を示す図であり、４５は情報トラックで
あり、４６は磁界変調方式で記録された磁区である。
尚、記録方式は、光変調方式であってもよい。また、光
磁気ディスク２４は、初期状態において全面にわたって
下向きに磁化されていたものとする。従って、磁区４６
の磁化は上向きである。光ビームスポット４７は、この
様に磁区４６が記録された情報トラック４５上を、４
８，４９，５０，５１の様にＡ方向に走査する。図８の
（ｂ）は図８の（ａ）の光スポットの各位置における光
磁気効果により生じたＳ偏光の２分割光検出器４２上の
分布を示した図である。４２−１，４２−２は２分割光
検出器４２の各検出面を示す。光ビームスポットの４７
及び５１の位置では、スポット内の磁化の向きは全て下
向きであるので、光の回折は生じておらず、２分割光検
出器４２上の分布は円形となる。光ビームスポットの４
８及び５０の位置では、スポット内に磁区４６のエッジ
が位置し、上向き磁化と下向き磁化とが混在しているた
め、トラック４５に平行方向に光が回折され、２分割光
検出器４２上では図示する様な光の分布が得られる。こ
の時の左右の２つの分布領域の光の位相差はπである
が、光ビームスポットの４８の位置と５０の位置とで
は、左右の領域の位相関係は逆転している。また、光ビ
ームスポットの４９の位置では、スポット内の磁化は殆
ど上向きであるので、光の回折は実質上生じておらず、
図示する様な光の分布が得られる。尚、この光ビームス
ポットの４９の位置の位相と光ビームスポットの４７及
び５１の位置の位相とではπの差がある。
と磁区との関係を示す図であり、４５は情報トラックで
あり、４６は磁界変調方式で記録された磁区である。
尚、記録方式は、光変調方式であってもよい。また、光
磁気ディスク２４は、初期状態において全面にわたって
下向きに磁化されていたものとする。従って、磁区４６
の磁化は上向きである。光ビームスポット４７は、この
様に磁区４６が記録された情報トラック４５上を、４
８，４９，５０，５１の様にＡ方向に走査する。図８の
（ｂ）は図８の（ａ）の光スポットの各位置における光
磁気効果により生じたＳ偏光の２分割光検出器４２上の
分布を示した図である。４２−１，４２−２は２分割光
検出器４２の各検出面を示す。光ビームスポットの４７
及び５１の位置では、スポット内の磁化の向きは全て下
向きであるので、光の回折は生じておらず、２分割光検
出器４２上の分布は円形となる。光ビームスポットの４
８及び５０の位置では、スポット内に磁区４６のエッジ
が位置し、上向き磁化と下向き磁化とが混在しているた
め、トラック４５に平行方向に光が回折され、２分割光
検出器４２上では図示する様な光の分布が得られる。こ
の時の左右の２つの分布領域の光の位相差はπである
が、光ビームスポットの４８の位置と５０の位置とで
は、左右の領域の位相関係は逆転している。また、光ビ
ームスポットの４９の位置では、スポット内の磁化は殆
ど上向きであるので、光の回折は実質上生じておらず、
図示する様な光の分布が得られる。尚、この光ビームス
ポットの４９の位置の位相と光ビームスポットの４７及
び５１の位置の位相とではπの差がある。
【００１６】図８の（ｃ）は、図８の（ｂ）のＤ−Ｄ’
線での断面の光の振幅を各光ビームスポット位置で示し
たものである。図８の（ｄ）及び（ｅ）は、それぞれ図
８の（ｂ）に示した光の分布と図６の（ｂ）に示した光
の分布とを２分割光検出器４２上で干渉させた結果の光
強度分布を示した図であり、図８の（ｄ）は、Ｂ−Ｂ’
線における強度分布であり、図８の（ｅ）はＣ−Ｃ’線
における強度分布である。これら図８の（ｄ）及び
（ｅ）の分布でみると、光ビームスポットの４７，４９
及び５１の位置では、２分割光検出器４２上で左右の分
布はそれぞれ非対称となるが、検出面４２−１と４２−
２とで光量は同一である。これに対し、磁区４６のエッ
ジ位置に対応する光ビームスポットの４８及び５０の位
置では、２分割光検出器４２上で左右の分布はそれぞれ
対称となるが、検出面４２−１と４２−２とで光量に差
が生ずる。従って、検出面４２−１と４２−２との出力
を差動アンプ４３で差動増幅すると、図８の（ｆ）に示
す様に、検出面４２−１と４２−２とで光量が同一であ
る４７，４９，５１のスポット位置では再生信号は０で
あるのに対し、検出面４２−１と４２−２とで光量に差
が生ずる４８，５０のスポット位置では、正または負の
方向にピークをもつ再生信号が得られる。従って、この
再生信号の正負のピークの位置を検出することで、磁区
４６のエッジを直接検出することができる。
線での断面の光の振幅を各光ビームスポット位置で示し
たものである。図８の（ｄ）及び（ｅ）は、それぞれ図
８の（ｂ）に示した光の分布と図６の（ｂ）に示した光
の分布とを２分割光検出器４２上で干渉させた結果の光
強度分布を示した図であり、図８の（ｄ）は、Ｂ−Ｂ’
線における強度分布であり、図８の（ｅ）はＣ−Ｃ’線
における強度分布である。これら図８の（ｄ）及び
（ｅ）の分布でみると、光ビームスポットの４７，４９
及び５１の位置では、２分割光検出器４２上で左右の分
布はそれぞれ非対称となるが、検出面４２−１と４２−
２とで光量は同一である。これに対し、磁区４６のエッ
ジ位置に対応する光ビームスポットの４８及び５０の位
置では、２分割光検出器４２上で左右の分布はそれぞれ
対称となるが、検出面４２−１と４２−２とで光量に差
が生ずる。従って、検出面４２−１と４２−２との出力
を差動アンプ４３で差動増幅すると、図８の（ｆ）に示
す様に、検出面４２−１と４２−２とで光量が同一であ
る４７，４９，５１のスポット位置では再生信号は０で
あるのに対し、検出面４２−１と４２−２とで光量に差
が生ずる４８，５０のスポット位置では、正または負の
方向にピークをもつ再生信号が得られる。従って、この
再生信号の正負のピークの位置を検出することで、磁区
４６のエッジを直接検出することができる。
【００１７】かくして、磁区のエッジを直接的に検出す
ることができるとともに、図５に示されるように、光ヘ
ッドの特に再生光学系の構成を幾分簡単化することがで
きる。
ることができるとともに、図５に示されるように、光ヘ
ッドの特に再生光学系の構成を幾分簡単化することがで
きる。
【００１８】一方、光ヘッドを小型化する技術として、
図９に示す様に、オートフォーカシング及びオートトラ
ッキングに用いるエラー信号の検出を、半導体レーザ内
に設けた光検出器で行うものが提案されている。図９に
おいて、半導体レーザチップ５３から射出された光ビー
ムは、ホログラムが形成されているカバー５４を透過
し、記録媒体側へと導かれる。記録媒体で反射された光
ビームは同じ光路をたどって半導体レーザ５２へと戻っ
てくる。戻ってきた光の一部はカバー５４のホログラム
により偏向せしめられ、多分割光検出器５５へと導かれ
る。カバー５４のホログラムは格子周波数の異なる複数
の領域からなっており、各領域から対応する光検出面へ
と光ビームが導かれる。これにより、例えば、フォーカ
シングエラー信号はフーコー法により得られ、トラッキ
ングエラー信号はプッシュプル法により得られる。
図９に示す様に、オートフォーカシング及びオートトラ
ッキングに用いるエラー信号の検出を、半導体レーザ内
に設けた光検出器で行うものが提案されている。図９に
おいて、半導体レーザチップ５３から射出された光ビー
ムは、ホログラムが形成されているカバー５４を透過
し、記録媒体側へと導かれる。記録媒体で反射された光
ビームは同じ光路をたどって半導体レーザ５２へと戻っ
てくる。戻ってきた光の一部はカバー５４のホログラム
により偏向せしめられ、多分割光検出器５５へと導かれ
る。カバー５４のホログラムは格子周波数の異なる複数
の領域からなっており、各領域から対応する光検出面へ
と光ビームが導かれる。これにより、例えば、フォーカ
シングエラー信号はフーコー法により得られ、トラッキ
ングエラー信号はプッシュプル法により得られる。
【００１９】また、本出願人は、先に、光磁気記録媒体
の光磁気効果によって生ずる光と光磁気記録媒体に照射
される光ビームをスポット状に絞るためのレンズの曲面
での回折によって生ずる光とを干渉させ、その干渉光を
光検出器で検出することにより、記録情報を再生する光
ヘッドにおいて、光源からの光ビームを光磁気記録媒体
の方へと偏向させる手段として偏光ビームスプリッタを
用いてなり、エラー信号を検出する検出器を半導体レー
ザ内に備えたものを提案している（特願平５−３１１５
１３号）。図１０にその一例を示す。
の光磁気効果によって生ずる光と光磁気記録媒体に照射
される光ビームをスポット状に絞るためのレンズの曲面
での回折によって生ずる光とを干渉させ、その干渉光を
光検出器で検出することにより、記録情報を再生する光
ヘッドにおいて、光源からの光ビームを光磁気記録媒体
の方へと偏向させる手段として偏光ビームスプリッタを
用いてなり、エラー信号を検出する検出器を半導体レー
ザ内に備えたものを提案している（特願平５−３１１５
１３号）。図１０にその一例を示す。
【００２０】図１０において、１５は図９に関し説明し
たエラー信号検出機能付きの半導体レーザである。この
半導体レーザ１５から射出された光ビームは、コリメー
タレンズ３を経て平行光とされ、偏光ビームスプリッタ
４に導かれる。この偏向ビームスプリッタ４に入射する
光ビームはＳ偏光の偏光面に対してわずかに傾いた偏光
面をもつ直線偏光である。この偏光ビームスプリッタ４
の特性は、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ偏光反射率０％、
Ｓ偏光透過率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光
ビームスプリッタ４に入射する平行光はＳ偏光からわず
かに回転した偏光面の直線偏光であるから、そのわずか
な一部のＰ偏光成分光は、偏光ビームスプリッタ４を透
過し、光検出器５で検出される。この検出信号は、半導
体レーザ１５の出力のモニタに利用される。残りの大部
分のＳ偏光成分光は、偏光ビームスプリッタ４で反射さ
れ、光磁気ディスクの８の方へと９０°偏向せしめられ
る。偏向光ビームは対物レンズ６により微小光スポット
として光磁気ディスク８の情報トラック上に照射され
る。７はオートフォーカシング及びオートトラッキング
を行うための対物レンズ駆動コイルである。
たエラー信号検出機能付きの半導体レーザである。この
半導体レーザ１５から射出された光ビームは、コリメー
タレンズ３を経て平行光とされ、偏光ビームスプリッタ
４に導かれる。この偏向ビームスプリッタ４に入射する
光ビームはＳ偏光の偏光面に対してわずかに傾いた偏光
面をもつ直線偏光である。この偏光ビームスプリッタ４
の特性は、Ｐ偏光透過率１００％、Ｐ偏光反射率０％、
Ｓ偏光透過率０％、Ｓ偏光反射率１００％である。偏光
ビームスプリッタ４に入射する平行光はＳ偏光からわず
かに回転した偏光面の直線偏光であるから、そのわずか
な一部のＰ偏光成分光は、偏光ビームスプリッタ４を透
過し、光検出器５で検出される。この検出信号は、半導
体レーザ１５の出力のモニタに利用される。残りの大部
分のＳ偏光成分光は、偏光ビームスプリッタ４で反射さ
れ、光磁気ディスクの８の方へと９０°偏向せしめられ
る。偏向光ビームは対物レンズ６により微小光スポット
として光磁気ディスク８の情報トラック上に照射され
る。７はオートフォーカシング及びオートトラッキング
を行うための対物レンズ駆動コイルである。
【００２１】光磁気ディスク８からの反射光は対物レン
ズ６を経て再びほぼ平行光とされ、偏光ビームスプリッ
タ４に戻る。図５〜８に関し前述した様に、この反射光
は、光磁気ディスク８の光磁気効果で生じたＰ偏光と対
物レンズ６の曲面で生じたＰ偏光回折光とが含まれてい
る。これらのＰ偏光は、偏光ビームスプリッタ４を透過
し、２分割光検出器９により検出される。この２分割光
検出器９の分割線の方向は、光照射位置での光磁気ディ
スク８の情報トラックの方向と光学的に対応している。
この２分割光検出器９による光磁気情報の再生は、図５
〜８に関し前述したと同様な方法で行われる。
ズ６を経て再びほぼ平行光とされ、偏光ビームスプリッ
タ４に戻る。図５〜８に関し前述した様に、この反射光
は、光磁気ディスク８の光磁気効果で生じたＰ偏光と対
物レンズ６の曲面で生じたＰ偏光回折光とが含まれてい
る。これらのＰ偏光は、偏光ビームスプリッタ４を透過
し、２分割光検出器９により検出される。この２分割光
検出器９の分割線の方向は、光照射位置での光磁気ディ
スク８の情報トラックの方向と光学的に対応している。
この２分割光検出器９による光磁気情報の再生は、図５
〜８に関し前述したと同様な方法で行われる。
【００２２】光磁気ディスク８からの反射光のうちのＳ
偏光成分は、偏光ビームスプリッタ４で反射され、コリ
メータレンズ３を経て半導体レーザ１５に戻り、ここで
前述の様にオートフォーカシング及びオートトラッキン
グ用のエラー信号の検出が行われる。
偏光成分は、偏光ビームスプリッタ４で反射され、コリ
メータレンズ３を経て半導体レーザ１５に戻り、ここで
前述の様にオートフォーカシング及びオートトラッキン
グ用のエラー信号の検出が行われる。
【００２３】以上の様に、この例では、対物レンズによ
る四葉状の回折光を利用した再生方式を利用する光ヘッ
ドにおいて偏光ビームスプリッタ４を用い、更に半導体
レーザ内にエラー信号検出器を備えたことで、再生系の
構成が簡素化されている。
る四葉状の回折光を利用した再生方式を利用する光ヘッ
ドにおいて偏光ビームスプリッタ４を用い、更に半導体
レーザ内にエラー信号検出器を備えたことで、再生系の
構成が簡素化されている。
【００２４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、以上の
様な四葉状の回折光束を利用した再生方式の光ヘッドの
例では、更なる小型化が要求されている。
様な四葉状の回折光束を利用した再生方式の光ヘッドの
例では、更なる小型化が要求されている。
【００２５】本発明は、この様な技術的背景において、
小型化及び軽量化の可能な光磁気情報再生用の光ヘッド
を提供することを目的とするものである。
小型化及び軽量化の可能な光磁気情報再生用の光ヘッド
を提供することを目的とするものである。
【００２６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、上記目
的を達成するものとして、光源からの光ビームを対物レ
ンズを介して光磁気記録媒体にスポット照射し、その反
射光に基づき前記光磁気記録媒体の記録情報を再生する
光ヘッドであって、前記反射光のうちの所定の偏光成分
のみを分離する偏光分離ホログラム素子を備えており、
該偏光分離ホログラム素子で分離された光を記録情報を
再生するための情報再生用光検出器に導く様に構成して
なることを特徴とする光ヘッド、が提供される。
的を達成するものとして、光源からの光ビームを対物レ
ンズを介して光磁気記録媒体にスポット照射し、その反
射光に基づき前記光磁気記録媒体の記録情報を再生する
光ヘッドであって、前記反射光のうちの所定の偏光成分
のみを分離する偏光分離ホログラム素子を備えており、
該偏光分離ホログラム素子で分離された光を記録情報を
再生するための情報再生用光検出器に導く様に構成して
なることを特徴とする光ヘッド、が提供される。
【００２７】本発明の一態様においては、前記偏光分離
ホログラム素子は２つの偏光分離面を備えており、その
分割線の方向は前記光磁気記録媒体の情報トラックの方
向と対応しており、前記情報再生用光検出器は２つの検
出面を備えており、前記２つの偏光分離面で分離された
光を前記２つの検出面の対応するものへと導く様にして
なる。
ホログラム素子は２つの偏光分離面を備えており、その
分割線の方向は前記光磁気記録媒体の情報トラックの方
向と対応しており、前記情報再生用光検出器は２つの検
出面を備えており、前記２つの偏光分離面で分離された
光を前記２つの検出面の対応するものへと導く様にして
なる。
【００２８】本発明の一態様においては、前記所定の偏
光成分は前記光源から前記対物レンズへと向かう光の偏
光方向と直交する偏光方向の偏光成分である。
光成分は前記光源から前記対物レンズへと向かう光の偏
光方向と直交する偏光方向の偏光成分である。
【００２９】本発明の一態様においては、前記反射光の
うちの一部を分離する分離ホログラム素子を備えてお
り、該分離ホログラム素子で分離された光を光ビーム制
御信号を得るための制御信号用光検出器に導く様に構成
してなる。
うちの一部を分離する分離ホログラム素子を備えてお
り、該分離ホログラム素子で分離された光を光ビーム制
御信号を得るための制御信号用光検出器に導く様に構成
してなる。
【００３０】本発明の一態様においては、前記制御信号
用光検出器はオートフォーカシング及びオートトラッキ
ング用光検出器である。
用光検出器はオートフォーカシング及びオートトラッキ
ング用光検出器である。
【００３１】本発明の一態様においては、前記反射光の
うちの前記偏光分離ホログラム素子を透過した光を前記
分離ホログラム素子へと導く様にしてなる。
うちの前記偏光分離ホログラム素子を透過した光を前記
分離ホログラム素子へと導く様にしてなる。
【００３２】本発明の一態様においては、前記情報再生
用光検出器は前記光源を内蔵せる光源装置の内部に配置
されている。
用光検出器は前記光源を内蔵せる光源装置の内部に配置
されている。
【００３３】本発明の一態様においては、前記情報再生
用光検出器は前記光源と共通の基板上に形成されてい
る。
用光検出器は前記光源と共通の基板上に形成されてい
る。
【００３４】本発明の一態様においては、前記制御信号
用光検出器は前記光源を内蔵せる光源装置の内部に配置
されている。
用光検出器は前記光源を内蔵せる光源装置の内部に配置
されている。
【００３５】本発明の一態様においては、前記制御信号
用光検出器は前記光源と共通の基板上に形成されてい
る。
用光検出器は前記光源と共通の基板上に形成されてい
る。
【００３６】本発明の一態様においては、前記光源を内
蔵せる光源装置は透光性カバーを有しており、該透光性
カバーを介して前記光源から前記対物レンズへと光ビー
ムが進行する様にされている。
蔵せる光源装置は透光性カバーを有しており、該透光性
カバーを介して前記光源から前記対物レンズへと光ビー
ムが進行する様にされている。
【００３７】本発明の一態様においては、前記透光性カ
バーに前記分離ホログラム素子及び前記偏光分離ホログ
ラム素子のうちのいずれか一方が形成されている。
バーに前記分離ホログラム素子及び前記偏光分離ホログ
ラム素子のうちのいずれか一方が形成されている。
【００３８】本発明の一態様においては、前記光源と前
記情報再生用光検出器と前記制御信号用光検出器とをこ
れらが一直線上に位置しない様に配置してなる。
記情報再生用光検出器と前記制御信号用光検出器とをこ
れらが一直線上に位置しない様に配置してなる。
【００３９】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
しながら詳細に説明する。
しながら詳細に説明する。
【００４０】図１は本発明による光ヘッドの一実施例を
示す概略構成図である。
示す概略構成図である。
【００４１】図１において、１０１はオートフォーカシ
ング及びオートトラッキング用のエラー信号の検出手段
と、光磁気ディスクに記録された情報を再生するための
光検出器とを備えた半導体レーザ装置である。即ち、１
０２は光源としての半導体レーザチップであり、１１３
はオートフォーカシング及びオートトラッキング用のエ
ラー信号の検出手段たる多分割光検出器であり、１１
４，１１５は情報再生用の光検出器であり、これら半導
体レーザチップ１０２、多分割光検出器１１３及び情報
再生用光検出器１１４，１１５は、共通の基板１１６上
に形成されている。また、１０３は透光性を有するカバ
ーであり、その一部に分離ホログラム素子としてのホロ
グラム部１０４が形成されている。
ング及びオートトラッキング用のエラー信号の検出手段
と、光磁気ディスクに記録された情報を再生するための
光検出器とを備えた半導体レーザ装置である。即ち、１
０２は光源としての半導体レーザチップであり、１１３
はオートフォーカシング及びオートトラッキング用のエ
ラー信号の検出手段たる多分割光検出器であり、１１
４，１１５は情報再生用の光検出器であり、これら半導
体レーザチップ１０２、多分割光検出器１１３及び情報
再生用光検出器１１４，１１５は、共通の基板１１６上
に形成されている。また、１０３は透光性を有するカバ
ーであり、その一部に分離ホログラム素子としてのホロ
グラム部１０４が形成されている。
【００４２】ここで、互いに直交する直線偏光成分をＰ
偏光及びＳ偏光として、半導体レーザチップ１０２から
射出される光ビームをＰ偏光の光とする。ホログラム部
１０４の特性は、例えば８０％程度の光を透過し２０％
程度の光を回折させて分離するものであり、従って半導
体レーザチップ１０２からの光のうちの大半はホログラ
ム部１０４を透過する。
偏光及びＳ偏光として、半導体レーザチップ１０２から
射出される光ビームをＰ偏光の光とする。ホログラム部
１０４の特性は、例えば８０％程度の光を透過し２０％
程度の光を回折させて分離するものであり、従って半導
体レーザチップ１０２からの光のうちの大半はホログラ
ム部１０４を透過する。
【００４３】透光性カバー１０３を透過した光は、コリ
メータレンズ１０５を経て平行光束とされる。平行光束
は、偏光分離ホログラム素子１０６に至る。１１２は偏
光分離ホログラム素子１０６のホログラム部であり、そ
の理想的な特性は、Ｐ偏光の光をそのまま透過し、Ｓ偏
光の光を回折させて分離するものである。ホログラム部
１１２は２つの分離面１１２ａ，１１２ｂからなる。こ
れら２つのホログラム分離面の分割線は、光磁気ディス
ク上の情報トラック１０８に対して平行の方向（矢印Ａ
の方向）である。従って、コリメータレンズ１０５から
の光は偏光分離ホログラム素子１０６のホログラム部１
１２を透過し、対物レンズ１０７を経て、光磁気ディス
クのトラック１０８上に微小スポット１１０を形成す
る。１０９は磁区である。また、矢印Ａは光磁気ディス
ク上の情報トラック１０８に対して平行の方向を示して
いる。１１１はオートフォーカシング（矢印Ｂ方向）及
びオートトラッキング（矢印Ｃ方向）を行うための駆動
コイルである。
メータレンズ１０５を経て平行光束とされる。平行光束
は、偏光分離ホログラム素子１０６に至る。１１２は偏
光分離ホログラム素子１０６のホログラム部であり、そ
の理想的な特性は、Ｐ偏光の光をそのまま透過し、Ｓ偏
光の光を回折させて分離するものである。ホログラム部
１１２は２つの分離面１１２ａ，１１２ｂからなる。こ
れら２つのホログラム分離面の分割線は、光磁気ディス
ク上の情報トラック１０８に対して平行の方向（矢印Ａ
の方向）である。従って、コリメータレンズ１０５から
の光は偏光分離ホログラム素子１０６のホログラム部１
１２を透過し、対物レンズ１０７を経て、光磁気ディス
クのトラック１０８上に微小スポット１１０を形成す
る。１０９は磁区である。また、矢印Ａは光磁気ディス
ク上の情報トラック１０８に対して平行の方向を示して
いる。１１１はオートフォーカシング（矢印Ｂ方向）及
びオートトラッキング（矢印Ｃ方向）を行うための駆動
コイルである。
【００４４】光磁気ディスク１０８からの反射光は、対
物レンズ１０７を経て再び平行光束となり、偏光分離ホ
ログラム素子１０６に戻る。この偏光分離ホログラム素
子１０６は上記の如き構造及び特性をもつので、この偏
光分離ホログラム素子１０６において、光磁気ディスク
からの反射光のうちＰ偏光はそのまま透過し、コリメー
タレンズ１０５を経てカバー１０３上のホログラム部１
０４へと戻る。ホログラム部１０４は上記の如き特性を
もつので、コリメータレンズ１０５からのＰ偏光のうち
の一部は、ホログラム部１０４によって回折分離され、
多分割光検出器１１３に導かれる。多分割光検出器１１
３では、上記図５〜１０で説明した様にしてオートフォ
ーカシング及びオートトラッキング用のエラー信号の検
出がなされる。
物レンズ１０７を経て再び平行光束となり、偏光分離ホ
ログラム素子１０６に戻る。この偏光分離ホログラム素
子１０６は上記の如き構造及び特性をもつので、この偏
光分離ホログラム素子１０６において、光磁気ディスク
からの反射光のうちＰ偏光はそのまま透過し、コリメー
タレンズ１０５を経てカバー１０３上のホログラム部１
０４へと戻る。ホログラム部１０４は上記の如き特性を
もつので、コリメータレンズ１０５からのＰ偏光のうち
の一部は、ホログラム部１０４によって回折分離され、
多分割光検出器１１３に導かれる。多分割光検出器１１
３では、上記図５〜１０で説明した様にしてオートフォ
ーカシング及びオートトラッキング用のエラー信号の検
出がなされる。
【００４５】一方、偏光分離ホログラム素子１０６にお
いて、光磁気ディスクからの反射光のうち、Ｓ偏光の光
はホログラム部１１２によって回折分離され、２つの光
束となる。これら２つのＳ偏光光束は、コリメータレン
ズ１０５とカバー１０３を経て、光検出器１１４，１１
５に導かれる。ホログラム分離面１１２ａで分離される
光束は光検出器１１４に、ホログラム分離面１１２ｂで
分離される光束は光検出器１１５に、それぞれ導かれ、
検出される。光検出器１１４で検出される信号は、上記
図８の光検出器の一方の検出面（例えば４２−１）で得
られる信号と同等であり、また、光検出器１１５で検出
される信号は、上記図８の光検出器の他方の検出面（例
えば４２−２）で得られる信号と同等である。かくし
て、光検出器１１４，１１５で検出される個々の信号を
差動検出することで、上記図８に関し説明したと同様
に、磁区１０９のエッジ部でのみ正または負のピーク信
号が得られる。このピーク信号を検知することで、光磁
気ディスク上に記録された情報を再生することができ
る。情報再生信号の品質を考えると、それぞれの光束は
カバー１０３上のホログラム部１０４を通過しない様に
することが望ましい。また、個々のホログラムのゴース
ト光の影響を考えると、ホログラム部１０４の分離方向
とホログラム部１１２の分離方向とは同一でない方が望
ましい。本実施例では、図２に示されている様に、半導
体レーザチップ１０２と多分割光検出器１１３とを結ぶ
線が、半導体レーザチップ１０２と光検出器１１４，１
１５の中間とを結ぶ線と約９０度の角度をなす様に個々
のホログラム部の分離方向を選択している。
いて、光磁気ディスクからの反射光のうち、Ｓ偏光の光
はホログラム部１１２によって回折分離され、２つの光
束となる。これら２つのＳ偏光光束は、コリメータレン
ズ１０５とカバー１０３を経て、光検出器１１４，１１
５に導かれる。ホログラム分離面１１２ａで分離される
光束は光検出器１１４に、ホログラム分離面１１２ｂで
分離される光束は光検出器１１５に、それぞれ導かれ、
検出される。光検出器１１４で検出される信号は、上記
図８の光検出器の一方の検出面（例えば４２−１）で得
られる信号と同等であり、また、光検出器１１５で検出
される信号は、上記図８の光検出器の他方の検出面（例
えば４２−２）で得られる信号と同等である。かくし
て、光検出器１１４，１１５で検出される個々の信号を
差動検出することで、上記図８に関し説明したと同様
に、磁区１０９のエッジ部でのみ正または負のピーク信
号が得られる。このピーク信号を検知することで、光磁
気ディスク上に記録された情報を再生することができ
る。情報再生信号の品質を考えると、それぞれの光束は
カバー１０３上のホログラム部１０４を通過しない様に
することが望ましい。また、個々のホログラムのゴース
ト光の影響を考えると、ホログラム部１０４の分離方向
とホログラム部１１２の分離方向とは同一でない方が望
ましい。本実施例では、図２に示されている様に、半導
体レーザチップ１０２と多分割光検出器１１３とを結ぶ
線が、半導体レーザチップ１０２と光検出器１１４，１
１５の中間とを結ぶ線と約９０度の角度をなす様に個々
のホログラム部の分離方向を選択している。
【００４６】また、トラッキングによる光束のずれの影
響を考えると、対物レンズ１０７と偏光分離ホログラム
素子１０６とを同時に駆動してトラッキング及びフォー
カシングの制御を行う様にしてもよい。この際、光検出
器１１４，１１５の形状は、トラッキングによる光束の
ずれを考えて、トラッキング方向（Ｃ方向）に十分長い
ものとするのが好ましい。また、光源の波長変動の影響
を考慮し、光検出器１１４，１１５のＡ方向寸法は十分
長いものとし、多分割光検出器１１３の個々の検出面の
Ｃ方向寸法も十分長いものとするのが好ましい。
響を考えると、対物レンズ１０７と偏光分離ホログラム
素子１０６とを同時に駆動してトラッキング及びフォー
カシングの制御を行う様にしてもよい。この際、光検出
器１１４，１１５の形状は、トラッキングによる光束の
ずれを考えて、トラッキング方向（Ｃ方向）に十分長い
ものとするのが好ましい。また、光源の波長変動の影響
を考慮し、光検出器１１４，１１５のＡ方向寸法は十分
長いものとし、多分割光検出器１１３の個々の検出面の
Ｃ方向寸法も十分長いものとするのが好ましい。
【００４７】以上の様な実施例によれば、半導体レーザ
装置１０１内に情報再生用の光検出器１１４，１１５を
内蔵させているので、光ヘッドの小型軽量化に有利であ
る。更に、本実施例では、オートフォーカシング及びオ
ートトラッキング用の光検出器１１３も半導体レーザ装
置１０１内に内蔵されているので、一層の小型軽量化が
実現できる。
装置１０１内に情報再生用の光検出器１１４，１１５を
内蔵させているので、光ヘッドの小型軽量化に有利であ
る。更に、本実施例では、オートフォーカシング及びオ
ートトラッキング用の光検出器１１３も半導体レーザ装
置１０１内に内蔵されているので、一層の小型軽量化が
実現できる。
【００４８】尚、本発明は、上記実施例における偏光分
離ホログラム素子１０６に上記ホログラム部１０４と同
等の機能を有するホログラム部を形成し、且つ、上記半
導体レーザ装置１０１のカバー１０３に上記偏光分離ホ
ログラム素子１０６の上記ホログラム部１１２と同等の
機能を有するホログラム部を形成したものも包含する。
離ホログラム素子１０６に上記ホログラム部１０４と同
等の機能を有するホログラム部を形成し、且つ、上記半
導体レーザ装置１０１のカバー１０３に上記偏光分離ホ
ログラム素子１０６の上記ホログラム部１１２と同等の
機能を有するホログラム部を形成したものも包含する。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ヘッド
によれば、小型化及び軽量化が可能となる。
によれば、小型化及び軽量化が可能となる。
【図１】本発明による光ヘッドの一実施例を示す概略構
成図である。
成図である。
【図２】半導体レーザ装置における半導体レーザチップ
及び光検出器の配置を示す模式図である。
及び光検出器の配置を示す模式図である。
【図３】従来の光磁気記録再生装置の光ヘッドの概略構
成図である。
成図である。
【図４】光磁気信号検出の説明図である。
【図５】対物レンズの曲面で回折する光を利用して再生
信号を得る再生方式に用いる光ヘッドの構成図である。
信号を得る再生方式に用いる光ヘッドの構成図である。
【図６】光検出器上での光の分布を示す図である。
【図７】図６のＢ−Ｂ’線及びＣ−Ｃ’線における光の
振幅を示す図である。
振幅を示す図である。
【図８】図５の光ヘッドにおける情報再生方式を説明す
る図である。
る図である。
【図９】エラー信号検出機能付き半導体レーザの概略構
成図である。
成図である。
【図１０】光ヘッドを示す概略構成図である。
１０１ 半導体レーザ装置 １０２ 半導体レーザチップ １０３ カバー １０４ ホログラム部 １０５ コリメータレンズ １０６ ホログラム素子 １０７ 対物レンズ １０８ トラック １０９ 磁区 １１０ 光スポット １１１ 駆動コイル １１２ ホログラム部 １１２ａ，１１２ｂ 分離面 １１３ オートフォーカシング及びオートトラッキン
グ用光検出器 １１４，１１５ 情報再生用光検出器 １１６ 基板
グ用光検出器 １１４，１１５ 情報再生用光検出器 １１６ 基板
Claims (13)
- 【請求項１】 光源からの光ビームを対物レンズを介し
て光磁気記録媒体にスポット照射し、その反射光に基づ
き前記光磁気記録媒体の記録情報を再生する光ヘッドで
あって、前記反射光のうちの所定の偏光成分のみを分離
する偏光分離ホログラム素子を備えており、該偏光分離
ホログラム素子で分離された光を記録情報を再生するた
めの情報再生用光検出器に導く様に構成してなることを
特徴とする光ヘッド。 - 【請求項２】 前記偏光分離ホログラム素子は２つの偏
光分離面を備えており、その分割線の方向は前記光磁気
記録媒体の情報トラックの方向と対応しており、前記情
報再生用光検出器は２つの検出面を備えており、前記２
つの偏光分離面で分離された光を前記２つの検出面の対
応するものへと導く様にしてなることを特徴とする、請
求項１に記載の光ヘッド。 - 【請求項３】 前記所定の偏光成分は前記光源から前記
対物レンズへと向かう光の偏光方向と直交する偏光方向
の偏光成分であることを特徴とする、請求項１または２
に記載の光ヘッド。 - 【請求項４】 前記反射光のうちの一部を分離する分離
ホログラム素子を備えており、該分離ホログラム素子で
分離された光を光ビーム制御信号を得るための制御信号
用光検出器に導く様に構成してなることを特徴とする、
請求項１〜３のいずれかに記載の光ヘッド。 - 【請求項５】 前記制御信号用光検出器はオートフォー
カシング及びオートトラッキング用光検出器であること
を特徴とする、請求項４に記載の光ヘッド。 - 【請求項６】 前記反射光のうちの前記偏光分離ホログ
ラム素子を透過した光を前記分離ホログラム素子へと導
く様にしてなることを特徴とする、請求項４または５に
記載の光ヘッド。 - 【請求項７】 前記情報再生用光検出器は前記光源を内
蔵せる光源装置の内部に配置されていることを特徴とす
る、請求項１〜６のいずれかに記載の光ヘッド。 - 【請求項８】 前記情報再生用光検出器は前記光源と共
通の基板上に形成されていることを特徴とする、請求項
７に記載の光ヘッド。 - 【請求項９】 前記制御信号用光検出器は前記光源を内
蔵せる光源装置の内部に配置されていることを特徴とす
る、請求項１〜８のいずれかに記載の光ヘッド。 - 【請求項１０】 前記制御信号用光検出器は前記光源と
共通の基板上に形成されていることを特徴とする、請求
項９に記載の光ヘッド。 - 【請求項１１】 前記光源を内蔵せる光源装置は透光性
カバーを有しており、該透光性カバーを介して前記光源
から前記対物レンズへと光ビームが進行する様にされて
いることを特徴とする、請求項１〜１０のいずれかに記
載の光ヘッド。 - 【請求項１２】 前記透光性カバーに前記分離ホログラ
ム素子及び前記偏光分離ホログラム素子のうちのいずれ
か一方が形成されていることを特徴とする、請求項１１
に記載の光ヘッド。 - 【請求項１３】 前記光源と前記情報再生用光検出器と
前記制御信号用光検出器とをこれらが一直線上に位置し
ない様に配置してなることを特徴とする、請求項４〜１
２のいずれかに記載の光ヘッド。
Priority Applications (2)
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|---|---|---|---|
| JP11291295A JP3276132B2 (ja) | 1995-05-11 | 1995-05-11 | 光ヘッド |
| US08/639,895 US5717675A (en) | 1995-05-11 | 1996-04-26 | Optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11291295A JP3276132B2 (ja) | 1995-05-11 | 1995-05-11 | 光ヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08306091A true JPH08306091A (ja) | 1996-11-22 |
| JP3276132B2 JP3276132B2 (ja) | 2002-04-22 |
Family
ID=14598604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11291295A Expired - Fee Related JP3276132B2 (ja) | 1995-05-11 | 1995-05-11 | 光ヘッド |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5717675A (ja) |
| JP (1) | JP3276132B2 (ja) |
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| JP3662382B2 (ja) * | 1997-03-21 | 2005-06-22 | パイオニア株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JP3400939B2 (ja) * | 1998-02-03 | 2003-04-28 | 富士通株式会社 | 光ディスク用情報読み取り・書き込み装置 |
| KR100319855B1 (ko) * | 1998-11-03 | 2002-02-19 | 윤종용 | 홀로그램 그레이팅을 채용한 광픽업의 오차 신호 검출장치 |
| US6552317B1 (en) * | 1999-06-16 | 2003-04-22 | Kabushiki Kaisha Sankyo Seiki Seisakusho | Optical pickup device |
| KR100529322B1 (ko) * | 2003-06-02 | 2005-11-17 | 삼성전자주식회사 | 편광 홀로그램 소자를 구비하는 광픽업장치 |
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| JP3241781B2 (ja) * | 1991-08-22 | 2001-12-25 | 松下電器産業株式会社 | 光ヘッド装置および光情報記録装置、光情報再生装置 |
| JP3144587B2 (ja) * | 1992-02-05 | 2001-03-12 | キヤノン株式会社 | 光磁気情報再生装置 |
| JPH05298773A (ja) * | 1992-04-20 | 1993-11-12 | Canon Inc | 光学的情報記録再生装置 |
| JP3238497B2 (ja) * | 1992-11-12 | 2001-12-17 | 松下電器産業株式会社 | 光ピックアップヘッド装置 |
| JPH07169129A (ja) * | 1993-12-13 | 1995-07-04 | Canon Inc | 光ヘッド |
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1995
- 1995-05-11 JP JP11291295A patent/JP3276132B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-04-26 US US08/639,895 patent/US5717675A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3276132B2 (ja) | 2002-04-22 |
| US5717675A (en) | 1998-02-10 |
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