KR987000694A - IC칩을 위한 온도 보상 회로(Temperature Compensation Circuit for IC Chip) - Google Patents

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노리유끼 마스다
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히로시게 오노
어드밴테스트 코포레이션
원본미기재
어드밴테스트 아메리카, 인크.
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Abstract

타켓 회로(11)에 제공되는 신호들의 수의 변화에 관계 없이 IC 칩 내의 열의 소산을 일정하게 유지시킬 수 있는 IC 칩을 위한 온도 보상 회로가 개시된다. 온도 보상 회로는 논리 신호를 타켓 회로(11)에 제공하기 위한 신호 검출 회로(15), 반도체 소자로 형성되는 히터 회로(13), 신호 검출 회로(11)이 타켓 회로(11)로의 논리 신호의 제공을 검출할 때마다 상기 히터(13)에 인가되는 전류를 스위칭하기 위한 스위치(15B)를 포함한다.

Description

IC칩을 위한 온도 보상 회로(Temperature Compensation Circuit for IC Chip)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 IC회로의 온도 보상 구조를 도시하는 회로도.

Claims (6)

  1. IC 칩을 위한 온도 보상 회로에 있어서, 논리 신호를 타겟 회로에 제공하기 위한 신호 검출 회로; 반도체 소자로 형성되는 히터; 및 상기 신호검출 회로가 상기 타겟 회로로의 논리 신호의 제공을 검출할 때마다 상기 히터에 인가되는 전류를 스위칭하기 위한 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC칩을 위한 온도 보상 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 히터가 다수의 반도체 트랜지스터들로 구성되는 것을 특징으로 하는 온도 보상 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 신호 검출 회로가 플립 플롭 회로 및 XOR(exclusive OR) 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 온도 보상 회로.
  4. 제1항에 있어서, 다수의 플립 플롭들이 직렬로 된 다수의 타겟 회로들에 대응하여 제공되는 것을 특징으로 하는 온도 보상 회로.
  5. IC 칩을 위한 온도 보상 회로에 있어서, 전자 장치를 위한 테스트 신호로서 사용될 펄스 신호를 전송하기 위한 제1 회로; 제1 회로의 회로 구조와 실제로 동일한 구조를 갖는 제2 회로로서, 히터로서 사용되고 상기 제1 회로와 근접하게 배열되는 제2 회로; 서로 다른 주파수들을 갖는 2개의 클럭 신호들이 제공되는 선택기로서, 상기 클럭 신호들중 하나를 선택하도록 제어되는 선택기; 상기 클럭 신호의 하나의 주기의 배수인 지연 시간을 생성시키기 위한 논리지연 회로; 선택된 클럭 신호가 상기 논리 지연 회로에 의해 결정되는 소정 주기 동안 통과하는 것을 방지하기 위한 마스크 회로로서, 자신의 출력을 상기 제1 회로에 제공하는 마스크 회로; 및 제1 및 제2 회로들에 제공되는 펄스수들의 합이 높은 주파수의 클럭 신호와 항상 동등하도록 제2 회로에 제공될 클럭 신호들의 수를 조절하기 위한 클럭수 조절 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC 칩을 위한 온도 보상 회로.
  6. 제5항에 있어서, 상기 클럭수 조절 회로가 다수의 플립 플롭들, XOR 게이트 및 AND 게이트를 포함하는 것을 특징으로 하는 IC칩을 위한 온도 보상 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970703606A 1994-11-29 1994-11-29 Ic 칩을 위한 온도 보상 회로 KR100307683B1 (ko)

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