KR980006564A - 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents

고내압 모스 트랜지스터의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR980006564A
KR980006564A KR1019960025317A KR19960025317A KR980006564A KR 980006564 A KR980006564 A KR 980006564A KR 1019960025317 A KR1019960025317 A KR 1019960025317A KR 19960025317 A KR19960025317 A KR 19960025317A KR 980006564 A KR980006564 A KR 980006564A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
oxide film
forming
region
conductivity type
impurity region
Prior art date
Application number
KR1019960025317A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100192958B1 (ko
Inventor
채희일
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019960025317A priority Critical patent/KR100192958B1/ko
Publication of KR980006564A publication Critical patent/KR980006564A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100192958B1 publication Critical patent/KR100192958B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66007Multistep manufacturing processes
    • H01L29/66075Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
    • H01L29/66227Multistep manufacturing processes of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials the devices being controllable only by the electric current supplied or the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched, e.g. three-terminal devices
    • H01L29/66409Unipolar field-effect transistors
    • H01L29/66477Unipolar field-effect transistors with an insulated gate, i.e. MISFET
    • H01L29/66568Lateral single gate silicon transistors
    • H01L29/66575Lateral single gate silicon transistors where the source and drain or source and drain extensions are self-aligned to the sides of the gate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Insulated Gate Type Field-Effect Transistor (AREA)

Abstract

디플리션 트랜지스터를 갖는 고내압 모스 트랜지스터 제조방법에 관해 개시한다. 본 발명은 제1 도전형의 반도체 기판 상에 활성영역을 한정하는 필드산화막과 상기 필드 산하막의 하부에 상기 제1도전형과 반대의 제2도전형의 제1불순물 영역을 형성하는 단계와 상기 기판의 활성영역에 고내압 트랜지터용 제1 게이트 산화막 및 저압 트랜지스터용 제2 게이트 산화막을 형성하는 단계와 , 상기 제1 게이트 산화막 및 제2 게이트 산하막 상에 각각 제1 게이트 전극 및 제2 게이트 전극을 형성하는 단계와, 상기 제2 게이트 전극과 고내압 트랜지스터의 소오스 및 드레인 영역을 오픈하는 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계와, 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 상기 제2도전형의 불순물을 이온주입하여 상기 제2게이트 전극의 하부에 디폴리션 영역과 상기 제1불순물 영역과 인접한 기판의 표면 근방에 제2 불순물 영역을 형성하는 단계와, 상기 디폴리션 영역 및 제2불순물 영역과 인접한 기판 표면 근방에 제3 불순물 영역을 형성하는 단계를 포함한다. 본 발명은 사진공정 및 이온주입 공정 수를 줄임으로써 ROM 데이터를 변경한 후 결과를 기다리는 제조시간이 짧아 사용자의 요구에 신속한 대응이 가능하다.

Description

고내압 모스 트랜지스터의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제7도 내지 제8도는 본 발명에 의한 고내압 트랜지스터 제조방법을 나타낸 단면도.

Claims (3)

  1. 제1도전형의 반도체 기판 상에 활성영역을 한정하는 필드산화막과 상기 필드 산하막의 하부에 상기 제1도전형과 반대의 제2도전형의 제1불순물 영역을 형성하는 단계; 상기 기판의 할성영역에 고내압 트랜지스터용 제1게이트 산화막 및 저압 트랜지스터용 제2 게이트 산화막을 형성하는 단계; 상기 제1게이트 산화막 및 제2 게이트 산하막 상에 각각 제1 게이트 전극 및 제2 게이트 전극을 형성하는 단계; 상기 제2 게이트 전극의 하부기판에 디플리션영역과 고내압 트랜지스터의 소오스 및 드레인 영역에 제2불순물 영역들을 형성하는 단계; 상기 저압 및 고내압 트랜지스터의 각각의 소오스 및 드레인영역인 제3불순물 영역들을 상기 디플리션 영역 및 상기 제2불순물 영역들의 인접한 기판내에 형성하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 고내압 모스 트래지스터의 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 디플리션 영역 및 제2 불순물 영역은 100∼500Kev의 에너지와 1.0 E12(이온㎠)이상의 도즈량으로 이온주입하여 형성하는 것을 특징으로 하는 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 제1불순물영역은 기판농도보다 높고 제3 불순물영역보다 낮은 농도로 형성되는 것을 특징으로 하는 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법.
KR1019960025317A 1996-06-28 1996-06-28 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법 KR100192958B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960025317A KR100192958B1 (ko) 1996-06-28 1996-06-28 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960025317A KR100192958B1 (ko) 1996-06-28 1996-06-28 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR980006564A true KR980006564A (ko) 1998-03-30
KR100192958B1 KR100192958B1 (ko) 1999-07-01

Family

ID=19464433

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960025317A KR100192958B1 (ko) 1996-06-28 1996-06-28 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100192958B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR100192958B1 (ko) 1999-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR870001665A (ko) Rom 제조방법
JP2000196079A (ja) Mos半導体の製造方法
KR970077166A (ko) 반도체 기판에 삼중웰을 형성하는 방법
KR890005891A (ko) 반도체 집적회로 장치 및 그 제조방법
KR970018223A (ko) 반도체 집적 회로의 제조 방법
KR980006564A (ko) 고내압 모스 트랜지스터의 제조방법
KR980006533A (ko) 반도체 장치 및 그 제조방법
US5946564A (en) Methods of forming integrated circuitry and integrated circuitry
KR980006490A (ko) 반도체 소자 및 그의 제조방법
KR970067841A (ko) 반도체 소자 및 그의 제조방법
KR0167611B1 (ko) 트랜지스터 제조 방법
KR970067890A (ko) 반도체 소자의 제조방법
JPH02142189A (ja) 電界効果トランジスタ
JPS634668A (ja) Mos型半導体装置
KR970053886A (ko) 씨모오스(cmos) 소자 제조방법
KR900001063B1 (ko) 반도체 장치의 소자분리방법
KR930024161A (ko) 반도체 집적회로 장치 및 그 제조방법
KR970067715A (ko) 모스 트랜지스터의 제조방법
KR940004854A (ko) Ldd mosfet 제조방법
KR960026554A (ko) 반도체소자 제조방법
KR970054250A (ko) 마스크 롬의 제조방법
KR20050088687A (ko) 비대칭적인 소오스/드레인을 갖는 반도체 메모리 소자의제조방법
KR980005801A (ko) 고저항과 저저항의 저항층을 갖는 반도체 소자의 제조방법
KR980006252A (ko) 반도체 장치 제조방법
KR910015072A (ko) Mos 전계효과 트랜지스터 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070125

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee