KR980005979A - 반도체 웨이퍼 - Google Patents

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KR980005979A
KR980005979A KR1019960026382A KR19960026382A KR980005979A KR 980005979 A KR980005979 A KR 980005979A KR 1019960026382 A KR1019960026382 A KR 1019960026382A KR 19960026382 A KR19960026382 A KR 19960026382A KR 980005979 A KR980005979 A KR 980005979A
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KR
South Korea
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pads
clock
address
pad
semiconductor wafer
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Application number
KR1019960026382A
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English (en)
Inventor
이경섭
이호재
배휘철
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
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Abstract

본 발명은 프로브 테스트시 프로브 카드를 단순화할 수 있는 반도체 웨이퍼를 개시한다. 개시된 본 발명의 웨이퍼는 다수개의 클락 패드와 어드레스 패드가 소정개씩 구비된 다이들을 포함하는 반도체 웨이퍼에 있어서, 각 다이내의 클락 패드는 동일한 클락이 인가되는 클락 패드들끼리 연결되고, 상기 각 다이내의 어드레스 패드는 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드들끼리 연결되며, 이 동일한 클락이 인가되는 패드들간을 연결한 라인은 별도로 형성된 해당 공통 클랙 패드에 연결되고, 상기 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드간을 연결한 라인은 별도로 형성된 해당 어드레스 패드에 연결되는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 웨이퍼
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 반도체 웨이퍼의 일부분을 개략적으로 나타낸 평면도.

Claims (6)

  1. 클락 패드와 어드레스 패드가 소정개씩 구비된 다이들을 포함하는 반도체 웨이퍼에 있어서, 상기 각 다이내의 클락 패드는, 동일한 클락이 인가되는 클락 패드끼리 연결되고, 이 동일한 클락이 인가되는 클락 패드간을 연결하는 라인은 별도로 형성된 해당하는 공통 클랙 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
  2. 제1항에 있어서, 상기 별도로 형성된 공통 클락 패드는 웨이퍼의 스크라이브 라인에 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
  3. 다수개의 클락 패드와 어드레스 패드가 소정개씩 구비된 다이들을 포함하는 반도체 웨이퍼에 있어서, 상기 각 다이내의 어드레스 패드는, 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드들끼리 연결되고, 이 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드간을 연결하는 라인은 별도로 형성된 해당하는 공통 어드레스 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
  4. 제3항에 있어서, 상기 별도로 형성된 공통 어드레스 패드는 웨이퍼의 스크라이브 라인에 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
  5. 다수개의 클락 패드와 어드레스 패드가 소정개씩 구비된 다이들을 포함하는 반도체 웨이퍼에 있어서, 상기 각 다이내의 클락 패드는 동일한 클락이 인가되는 클락 패드들끼리 연결되고, 상기 각 다이내의 어드레스 패드는 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드들끼리 연결되며, 이 동일한 클락이 인가되는 패드들간을 연결한 라인은 별도로 형성된 해당 공통 클락 패드에 연결되고, 상기 동일한 신호가 인가되는 어드레스 패드간을 연결한 라인은 별도로 형성된 해당 어드레스 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
  6. 제5항에 있어서, 상기 별도로 형성된 클락 패드는 웨이퍼의 스크라이브 라인에 형성되고, 별도로 형성된 어드레스 패드는 상기 클락 패드가 형성되지 않은 스크라이브 라인에 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960026382A 1996-06-29 1996-06-29 반도체 웨이퍼 KR980005979A (ko)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62123733A (ja) * 1985-11-22 1987-06-05 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 半導体ウエハ
JPH0394441A (ja) * 1989-09-06 1991-04-19 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JPH04103398A (ja) * 1990-08-23 1992-04-06 Toshiba Corp 半導体メモリカード
KR960018595A (ko) * 1994-11-24 1996-06-17 문정환 웨이퍼 번인 소자 및 번인 테스트방법

Patent Citations (4)

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