KR980005013A - 동기 반도체 메모리 회로 - Google Patents

동기 반도체 메모리 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR980005013A
KR980005013A KR1019970026794A KR19970026794A KR980005013A KR 980005013 A KR980005013 A KR 980005013A KR 1019970026794 A KR1019970026794 A KR 1019970026794A KR 19970026794 A KR19970026794 A KR 19970026794A KR 980005013 A KR980005013 A KR 980005013A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
input
semiconductor memory
control signal
memory device
Prior art date
Application number
KR1019970026794A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100253443B1 (ko
Inventor
히로유키 타카하시
Original Assignee
가네꼬 히사시
닛폰 덴키 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 가네꼬 히사시, 닛폰 덴키 주식회사 filed Critical 가네꼬 히사시
Publication of KR980005013A publication Critical patent/KR980005013A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100253443B1 publication Critical patent/KR100253443B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/41Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger
    • G11C11/413Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing, timing or power reduction
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/06Address interface arrangements, e.g. address buffers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

동기 반도체 메모리 회로는 데이터를 더욱 빠르게 캡쳐링하고, 내부 데이터를 더욱 빠르게 전달할 수 있다. 입력레지스터(5A)의 매스터 래치 회로(11)의 출력은 레지스터의 출력 신호(A1)로서 역할을 하고, 종속 래치 회로(12)의 출력(RA)은 입력으로 피드백된다. 출력과 입력 신호(A) 사이를 접속하는 멀티플렉서(4A)는, 외부 입력 신호가 캡쳐링되는지 여부에 따라서 스위칭 신호(버스트 동작)을 제어하도록 입력 레지스터(5A) 앞에 배치된다. 동시에, 내부 펄스(CP2)는 클록 단부에 의해 발생되고 디코더 회로(7A)에 인가되어 펄스 형성 신호로서 사용된다.

Description

동기 반도체 메모리 회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1 실시예의 동기 반도체 메모리 회로를 도시한 회로도이다.

Claims (8)

  1. 반도체 메모리 소자에 있어서, 클록 제어 신호의 전압 이전 단부에서 입력 신호를 캡쳐링하는 매스터 래치회로와, 클록 제어 신호의 변환된 신호의 전압 이전 단부에서 매스터 래치 회로 내에서 래치된 입력 신호를 캡쳐링하는 종속 래치 회로를 갖는 다수개의 입력 레지스터, 상기 입력 레지스터의 종속 래치 회로의 외부 입력 신호 또는 출력 신호를 선택하고 입력 레지스터 중의 상응하는 하나에 그 출력을 공급하는 다수개의 멀티플렉서, 클록 제어 신호와 동기된 펄스 신호를 발생하는 펄스 발생 회로, 및 다수개의 입력 레지스터와 펄스 신호의 매스터 래치 회로의 출력 신호를 수신하는 디코더 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  2. 반도체 메모리 소자에 있어서, 클록 제어 신호의 전압 이전 단부에서 입력 신호를 캡쳐링하는 다수개의 입력 레지스터, 상기 클록 제어 신호와 동기된 펄스 신호를 발생하기 위한 펄스 발생 회로, 및 상기 다수개의 입력 레지스터와 상기 펄스 신호의 출력 신호를 수신하는 디코더 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  3. 제1항에 있어서, 상기 클록 제어 신호는 외부 입력 클록의 단부를 사용함으로써 내부적으로 발생되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  4. 제1항에 있어서, 상기 입력 신호는 어드레스 신호이고, 멀티플렉서의 제어신호는 어드레스 신호를 내부적으로 자동적으로 발생하기 위한 버스트 동작의 스위칭 신호이고, 디코더 회로는 어드레스 디코더 회로인 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  5. 제1항에 있어서, 상기 펄스 신호에 따라 논리 동작이 수행되기 전에 상기 디코더 회로의 일부는 상기 멀티플렉서 앞에 배치되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  6. 제5항에 있어서, 타이밍을 조정하기 위한 회로는 상기 멀티플렉서의 제어 신호의 입력 경로에 삽입되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  7. 제1항에 있어서, 상기 펄스 신호는 상기 입력 레지스터를 위한 클록 제어 신호로서 사용되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
  8. 제2항에 있어서, 상기 클록 제어 신호는 외부 입력 클록의 단부를 사용하여 내부적으로 발생되는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970026794A 1996-06-21 1997-06-21 동기 반도체 메모리 회로 KR100253443B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8161505A JP2910677B2 (ja) 1996-06-21 1996-06-21 同期式半導体記憶回路
JP96-161505 1996-06-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR980005013A true KR980005013A (ko) 1998-03-30
KR100253443B1 KR100253443B1 (ko) 2000-05-01

Family

ID=15736346

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970026794A KR100253443B1 (ko) 1996-06-21 1997-06-21 동기 반도체 메모리 회로

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5896341A (ko)
JP (1) JP2910677B2 (ko)
KR (1) KR100253443B1 (ko)
TW (1) TW470958B (ko)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3152174B2 (ja) * 1997-07-29 2001-04-03 日本電気株式会社 半導体記憶装置
CA2223119A1 (en) * 1997-11-28 1999-05-28 Mosaid Technologies Incorporated Address counter cell
JP2001101870A (ja) 1999-09-30 2001-04-13 Fujitsu Ltd 半導体集積回路
US6249463B1 (en) * 1999-12-08 2001-06-19 Stmicroelectronics S.R.L. Address latch enable signal control circuit for electronic memories
US6240028B1 (en) * 2000-06-08 2001-05-29 Micron Technology, Inc. Simplified peripheral logic for memory device
JP5226161B2 (ja) * 2001-02-23 2013-07-03 富士通セミコンダクター株式会社 半導体記憶装置および情報処理システム
KR100604904B1 (ko) * 2004-10-02 2006-07-28 삼성전자주식회사 스캔 입력을 갖는 플립 플롭 회로
KR100659159B1 (ko) * 2005-12-07 2006-12-19 삼성전자주식회사 메모리 모듈
US7791375B1 (en) * 2009-07-10 2010-09-07 Altera Corporation DQS re sync calibration
US9910819B2 (en) * 2013-03-11 2018-03-06 Microchip Technology Incorporated Two-wire serial interface and protocol

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH023177A (ja) * 1988-03-11 1990-01-08 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JP2760431B2 (ja) * 1988-12-21 1998-05-28 株式会社日立製作所 メモリ
JPH05144269A (ja) * 1991-11-19 1993-06-11 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置
US5497355A (en) * 1994-06-03 1996-03-05 Intel Corporation Synchronous address latching for memory arrays
JP3185568B2 (ja) * 1994-11-22 2001-07-11 日本電気株式会社 半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1011970A (ja) 1998-01-16
JP2910677B2 (ja) 1999-06-23
US5896341A (en) 1999-04-20
TW470958B (en) 2002-01-01
KR100253443B1 (ko) 2000-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970029850A (ko) 반도체 메모리 디바이스
KR100230120B1 (ko) 동기식 반도체 메모리
WO2006080065A1 (ja) 記憶装置、およびその制御方法
US6961278B2 (en) Synchronous self refresh exit control method and circuit in semiconductor memory device
KR980005013A (ko) 동기 반도체 메모리 회로
KR950006592A (ko) 전력 소비가 작은 파이프라인 프로세싱 장치
KR960024984A (ko) 동기식 메모리장치의 데이타신호 분배회로
KR850008567A (ko) 반도체 집적회로
TW530309B (en) Synchronous semiconductor memory device having a function for controlling sense amplifiers
KR101027686B1 (ko) 반도체 메모리 장치
KR970701397A (ko) Ic 카드 제어 회로 및 ic 카드 제어 시스템(ic card control circuit and ic card control system)
KR960038975A (ko) 확장 데이타 출력모드를 가진 반도체 메모리장치
US5912565A (en) Operation control circuit of power supply unit
KR100362201B1 (ko) 클럭제어 회로를 갖는 반도체메모리 장치
US6545940B2 (en) Semiconductor integrated circuit having enhanced acquisition of external signal
JP4198770B2 (ja) 半導体メモリ装置のデータ入力回路及びデータ入力方法
KR0182981B1 (ko) 외부신호를 샘플링하는 레지스터회로
KR0184479B1 (ko) 동기형 반도체 메모리장치의 클럭 서스펜션 보장회로
US6542415B2 (en) Kickb signal generator
KR100471402B1 (ko) 노이즈에의한오동작을방지하기위한입력버퍼
JPH11166959A (ja) スキャンパス回路
KR960042744A (ko) 반도체 메모리 장치
KR970019066A (ko) 동작 전류를 감소시킨 반도체 메모리장치의 데이타 입력 버퍼회로
KR970051169A (ko) 싱크로너스 메모리
KR100197440B1 (ko) 전전자 교환기의 딜레이를 이용한 인식 신호 발생회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20050110

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee