KR970707712A - 집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method) - Google Patents

집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method)

Info

Publication number
KR970707712A
KR970707712A KR1019970702609A KR19970702609A KR970707712A KR 970707712 A KR970707712 A KR 970707712A KR 1019970702609 A KR1019970702609 A KR 1019970702609A KR 19970702609 A KR19970702609 A KR 19970702609A KR 970707712 A KR970707712 A KR 970707712A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
positioning
wall
positioning wall
integrated circuit
separating means
Prior art date
Application number
KR1019970702609A
Other languages
English (en)
Inventor
마사토 이토
Original Assignee
구와하라 가츠노부
시나노 일렉트로닉스 가부시끼가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 구와하라 가츠노부, 시나노 일렉트로닉스 가부시끼가이샤 filed Critical 구와하라 가츠노부
Publication of KR970707712A publication Critical patent/KR970707712A/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J15/00Gripping heads and other end effectors
    • B25J15/06Gripping heads and other end effectors with vacuum or magnetic holding means
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2891Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks related to sensing or controlling of force, position, temperature
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/02Feeding of components
    • H05K13/022Feeding of components with orientation of the elements
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0413Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws with orientation of the component while holding it; Drive mechanisms for gripping tools, e.g. lifting, lowering or turning of gripping tools
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0815Controlling of component placement on the substrate during or after manufacturing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

본 발명은 상하 동작 기구(60)를 위치 결정 기구내(10)에 설치하지 않는 IC의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 IC 핸들러(50)를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명의 집적 회로 핸들러(50)에 있어서, 위치결정벽체(72)는 테이블(68)을 둘러싸도록 설치되고, 대향하는 2쌍의 내벽면의 하부 영역(S)이 상기 IC(70)의 최외측 가장자리부에 대응한 거리 이격된 수직면(82)에 형성되며, 상부 영역(T)이 상방을 향함에 따라서 이격거리가 서서히 커지는 경사면(84)에 형성되어 있다. 탄성부재(20)는 수직 방향으로 이동 가능하게 설치된 상기 위치결정벽체(72)를 탄성적으로 보유한다. 상하 동작 기구(60)는 IC(70)를 상기 테이블(68)에 위치할 때에는 테이블(68)의 상면이 상기 상부 영역(T)내에 위치하도록, 위치 결정 기구(10)의 상방으로부터 상기 위치결정벽체(72)를 하방으로 밀어 내리고, 상기 IC(70) 테이블(68)상에 위치된 후에는 상기 위치결정벽체(72)를 상승시켜서, 상기 경사면(84)에서 IC(70)의 수평방향의 어긋남을 수정하면서 상기 수직면(82)에서 IC(70)를 위치 결정한다.

Description

집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명과 관계되는 제1실시예의 IC 핸들러의 위치 결정 기구를 나타내는 일부 절결측면도이고, 위치결정벽체하방으로 눌러지기 전의 상태를 나타내고, 제2도는 제1도의 위치결정벽체가 하방으로 눌러졌을 때의 상태를 나타내는 일부절결측면도이고, 제12도는 IC 핸들러가 일반적인 구성을 나타내는 블록도이다.

Claims (16)

  1. 상면에 IC가 위치되는 직사각형 테이블과, 상기 테이블을 둘러싸도록 설치되고, 대향하는 2쌍의 내벽면의 하부 영역이 상기 IC의 최외측 가장자리부에 대응한 거리 이격된 수직면에 형성되며, 상부 영역이 상방을 향하는 것에 따라서 이격거리가 서서히 커지는 경사면에 형성된 위치결정벽체와, 상기 테이블의 상면에 대하여 수직 방향으로 이동 가능하게 설치된 상기 위치결정벽체를 탄성적으로 보유하는 탄성부재를 포함하는 위치 결정 기구를 설치하며, 상기 IC를 상기 테이블에 위치할 때에는 테이블의 상면이 상기 상부 영역내에 위치하도록, 상기 위치 결정 기구의 상방에 위치하는 수단을 통해 상기 위치결정벽체를 상기 탄성부재의 탄성력에 저항하여 하방으로 밀려 내려가며, 상기 IC가 테이블의 상면에 위치된 후에는 상기 위치결정벽체를 탄성부재의 탄성력에 의해서 상승되며, 상기 경사면에서 IC의 수평방향의 어긋남을 수정하면서 상기 수직면에서 IC를 위치 결정하는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 IC를 상기 테이블의 상면으로 이송하는 이송 수단을 설치하고, 상기 이송 수단은 상기 IC를 보유한 상기 이송 수단이 상기 테이블을 향하여 하강할 때에, 상기 위치결정벽체를 상기 탄성부재의 탄성력에 저항하여 하방으로 밀려 내려가며, 상기 IC를 테이블의 상면에 위치한 후, 상기 이송 수단이 상승하는 것에 따라서 상기 위치결정벽체를 상기 탄성부재의 탄성력에 의해서 상승되는 것을 특징으로 하는 집적회로의 위치 결정 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 테이블내에 상기 상면으로 개구하는 통기구멍을 설치하며, 상기 위치결정벽체가 상승하여 상기 IC를 위치결정할 때에, 상기 통기구멍으로부터 압축공기를 IC의 이면을 향하여 내뿜는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 테이블내에 상기 상면으로 개구하는 통풍 구멍을 설치하고, 상기 위치결정벽체가 상승하여 상기 IC를 위치결정할 때에, 상기 통풍 구멍으로부터 압축공기를 IC의 안쪽면을 향하여 내뿜는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  5. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 2쌍의 내벽면의 상기 하부 영역의 하단에는 상기 IC의 패키지의 측면 하부에 따른 경사면을 갖는 제1가이드를 설치하고, 상기 패키지의 측면 하부와 접촉함으로써 상기 IC의 위치를 조정하는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  6. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 2쌍의 내벽면의 상기 하부 영역의 하단에는 상기 IC의 패키지의 측면 하부에 따른 경사면을 가지는 제1가이드를 설치하며, 상기 패키지의 측면 하부와 접촉함으로써 상기 IC의 위치를 조정하는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  7. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 위치결정벽체를 하방으로 누르고, 상기 내벽면 사이에서 위치결정된 상기 IC로 접근하여 보유하는 분리 적재수단과, 분리 전재수단과 위치결정벽체의 위치 관계를 소정의 위치관계로 조정하는 제2가이드를 설치하며, 상기 위치결정벽체가 상기 제2가이드로 접근하였을 때, 분리 적재수단과 위치결정벽체의 위치관계를 소정의 위치관계로 조정하는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  8. 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 위치결정벽체를 하방으로 눌러 이동하고, 상기 내벽면 사이에서 위치결정된 상기 IC로 접근하여 보유하는 분리 적재수단과, 분리 전재수단과 위치결정벽체의 위치관계를 소정의 위치관계로 조정하는 제2가이드를 설치하며, 상기 위치결정벽체가 상기 제2가이드로 접근하였을 때에, 분리 적재수단과 위치결정벽체의 위치관계를 소정의 위치관계로 조정하는 것을 특징으로 하는 집적 회로의 위치 결정 방법.
  9. 상면에 IC가 위치되는 직사각형 테이블과, 상기 테이블을 둘러싸도록 설치되고, 대향하는 2쌍의 내벽면의, 하부 영역이 상기 IC의 최외측 가장자리부에 대응한 거리로 이격한 수직면으로 형성되어, 상부 영역이 상방으로 향함에 따라서 이격거리가 서서히 커지는 경사면에 형성된 위치결정벽체를 포함하는 위치 결정 기구를 구비하는 집적 회로 핸들러에 있어서, 상기 테이블의 상면에 대하여 수직 방향으로 이동 가능하게 설치된 상기 위치결정벽체를 탄성적으로 보유하는 탄성부재와, 상기 IC를 상기 테이블에 얹어 놓을 때에는 테이블의 상면이 상기 상부 영역내에 위치하도록, 상기 위치결정벽체를 상기 위치 결정 기구의 상방으로부터, 상기 탄성부재의 탄성력에 저항하여 하방으로 밀어 내리며, 상기 IC가 테이블의 상면에 위치된 후에는 상기 위치결정벽체를 탄성부재의 탄성력에 의해서 상승시키어, 상기 경사면에서 IC의 수평방향의 어긋남을 수정하면서 상기 수직면에서 IC를 위치결정하는 상하 동작 기구를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  10. 제9항에 있어서, 상기 상하 동작 기구는 상기 IC를 상기 테이블의 상면으로 이송하는 이송 수단이고, 상기 이송 수단은 상기 IC를 보유한 상기 이송 수단이 상기 테이블을 향하여 하강할 때에, 상기 위치결정벽체를 상기 위치 결정 기구의 상방으로부터, 상기 탄성부재의 탄성력에 저항하여 하방으로 밀어 내리며, 상기 IC를 테이블의 상면에 위치한 후, 상기 이송 수단이 상승하는 것에 수반하여 상기 위치결정벽체를 상기 탄성부재의 탄성력에 의해서 상승시키는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  11. 제9항에 있어서, 상기 테이블내에는 상기 상면으로 개구하는 통풍 구멍이 설치되고, 상기 위치결정벽체가 상승하여 상기 IC를 위치결정할 때에는 상기 통풍 구멍으로부터 압축공기를 IC의 이면을 향하여 뿜어내는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  12. 제10항에 있어서, 상기 테이블내에는 상기 상면으로 개구하는 통풍 구멍이 설치되고, 상기 위치결정벽체가 상승하여 상기 IC를 위치결정할 때에는 상기 통풍 구멍으로부터 압축공기를 IC의 이면을 향하여 뿜어내는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  13. 제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 2쌍의 내벽면의 상기 하부 영역의 하단에는 상기 IC의 패키지의 측면 하부와 접촉 가능한 동시에, 상기 측면 하부에 따른 경사면을 가지며, 상기 IC의 위치를 조정하기 위한 제1가이드가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  14. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 2쌍의 내벽면의 상기 하부 영역의 하단에는 상기 IC의 패키지의 측면 하부와 접촉 가능한 동시에, 상기 측면 하부에 따른 경사면을 가지는 제1가이드가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  15. 제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 위치결정벽체를 하방으로 눌러 이동시키고, 상기 내벽면 사이에서 위치결정된 상기 IC로 접근하여 보유하는 분리 적재수단과, 상기 분리 적재수단과 상기 위치결정벽체가 접근하였을 때에, 분리 적재수단과 위치결정벽체를 소정의 위치 관계로 하기 위한 제2가이드를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
  16. 제11항 또는 제12항에 있어서, 상기 위치결정벽체를 하방으로 눌러 이동시키고, 상기 내벽면 사이에서 위치결정된 상기 IC로 접근하여 보유하는 분리 적재수단과, 상기 분리 적재수단과 상기 위치결정벽체가 접근하였을 때에, 분리 적재수단과 위치결정벽체를 소정의 위치 관계로 하기 위한 제2가이드를 구비하는 것을 특징으로 하는 집적 회로 핸들러.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970702609A 1995-12-27 1996-05-29 집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method) KR970707712A (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7340343A JP2983163B2 (ja) 1995-12-27 1995-12-27 Icハンドラ
JP95-340343 1995-12-27
PCT/JP1996/001455 WO1997024913A1 (fr) 1995-12-27 1996-05-29 Procede de postionnement de circuits integres et dispositif manipulateur de circuits integres fonctionnant selon ce procede

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970707712A true KR970707712A (ko) 1997-12-01

Family

ID=18336034

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970702609A KR970707712A (ko) 1995-12-27 1996-05-29 집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method)

Country Status (7)

Country Link
US (1) US5901829A (ko)
EP (1) EP0817559A4 (ko)
JP (1) JP2983163B2 (ko)
KR (1) KR970707712A (ko)
CN (1) CN1167564A (ko)
TW (1) TW305066B (ko)
WO (1) WO1997024913A1 (ko)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4299383B2 (ja) * 1998-06-25 2009-07-22 株式会社アドバンテスト Ic試験装置
AU1222299A (en) * 1998-12-02 2000-06-19 Ismeca Holding Sa Device for grasping and aligning an electronic component on a spindle
TW490564B (en) * 1999-02-01 2002-06-11 Mirae Corp A carrier handling apparatus for module IC handler, and method thereof
JP2002196039A (ja) * 2000-12-22 2002-07-10 Ando Electric Co Ltd キャリア位置ずれ検出機構
US7093704B2 (en) * 2004-08-17 2006-08-22 Micron Technology, Inc. Printed circuit board support
JP2008120586A (ja) * 2006-11-15 2008-05-29 Daifuku Co Ltd 物品収納装置
CN101234702B (zh) * 2008-03-04 2010-07-21 友达光电股份有限公司 传送装置、导正结构、传送及导正基板的方法
KR101384358B1 (ko) * 2008-03-18 2014-04-21 삼성전자주식회사 반도체 모듈 핸들링 시스템
CN101580073B (zh) 2008-05-12 2012-01-25 卡斯柯信号有限公司 计算机联锁系统码位级冗余方法
CN102059706B (zh) * 2009-11-16 2013-08-28 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 定位取料装置
KR102010275B1 (ko) * 2013-04-03 2019-08-13 (주)테크윙 반도체소자 테스트용 핸들러
CN106903066B (zh) * 2013-07-26 2019-06-21 泰克元有限公司 用于测试分选机的匹配板的推动件组件
US10041973B2 (en) * 2013-09-04 2018-08-07 Infineon Technologies Ag Method and apparatus for dynamic alignment of semiconductor devices
US9354114B2 (en) * 2013-11-19 2016-05-31 Shimadzu Corporation Spectrophotometer including photodiode array
WO2015163845A1 (en) * 2014-04-21 2015-10-29 Intel Corporation Alignment fixtures for integrated circuit packages
FR3052869B1 (fr) * 2016-06-17 2018-06-22 Unity Semiconductor Dispositif de positionnement d'une plaquette de circuit integre, et appareil d'inspection d'une plaquette de circuit integre comprenant un tel dispositif de positionnement
JP2019007783A (ja) * 2017-06-22 2019-01-17 株式会社テセック 電子部品用整列装置
CN112405412B (zh) * 2020-12-24 2022-03-08 湖州美奇医疗器械有限公司 一种传感器自动锁止入壳安装定位工装

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3776394A (en) * 1972-08-23 1973-12-04 Western Electric Co Methods and apparatus for imparting a desired orientation to an article
US4016968A (en) * 1975-09-05 1977-04-12 The Continental Group, Inc. Method and apparatus for orienting can ends
JPS6321893A (ja) * 1986-07-16 1988-01-29 日立電子エンジニアリング株式会社 部品搭載方式
JPS6415959A (en) * 1987-07-10 1989-01-19 Matsushita Electronics Corp Positioning device of semiconductor element
WO1996031108A1 (en) * 1995-03-28 1996-10-03 Philips Electronics N.V. Method of positioning a printed circuit board in a component placement machine, and component placement machine for this method
JPH09168928A (ja) * 1995-10-20 1997-06-30 Fuji Photo Film Co Ltd ワーク位置決め装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN1167564A (zh) 1997-12-10
JPH09178809A (ja) 1997-07-11
EP0817559A4 (en) 1999-11-03
TW305066B (en) 1997-05-11
EP0817559A1 (en) 1998-01-07
US5901829A (en) 1999-05-11
WO1997024913A1 (fr) 1997-07-10
JP2983163B2 (ja) 1999-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR970707712A (ko) 집적회로의 위치 결정 방법과 그것을 사용한 집적회로 핸들러(Method of positioning an IC and IC handler utilizing said method)
JP2006191121A5 (ko)
JPH03203181A (ja) Icソケット
KR20060059835A (ko) 위치결정 장치
KR960039106A (ko) 기판정렬장치 및 기판정렬방법
JPH06170674A (ja) ワーク位置決めピン
JPH06271059A (ja) パレットストッパ機構
JPH0227662B2 (ko)
EP0457443A2 (en) Connector
JPH0870198A (ja) 電子部品移載装置
KR930003139B1 (ko) 테이프 본딩장치
JPH01312862A (ja) 半導体装置のリード成形装置
US4226528A (en) Photographic enlarging easel
JPS6359000A (ja) プリント回路基板への電気部品の挿入装置
JPH0537486U (ja) ワークハンドリング装置
JPH054899Y2 (ko)
JPH08141988A (ja) 板状体の位置決め方法及び装置
JPH0321869Y2 (ko)
JPS61188032A (ja) ロボツト装置
KR950010011Y1 (ko) 테스트 사이트의 디바이스 리드 접속장치
KR20000051039A (ko) 패키지의 리드 절곡 장치
JP3018866U (ja) キャリアテープ
JP2024049792A (ja) 吸着装置
JPS635911B2 (ko)
KR920008217Y1 (ko) 편향요크 조립용 파레트 리프터

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
NORF Unpaid initial registration fee