KR970053120A - 반도체장치의 제조방법 - Google Patents

반도체장치의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR970053120A
KR970053120A KR1019950059245A KR19950059245A KR970053120A KR 970053120 A KR970053120 A KR 970053120A KR 1019950059245 A KR1019950059245 A KR 1019950059245A KR 19950059245 A KR19950059245 A KR 19950059245A KR 970053120 A KR970053120 A KR 970053120A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
forming
photoresist
high temperature
oxide film
Prior art date
Application number
KR1019950059245A
Other languages
English (en)
Inventor
김경년
오석환
이창환
유영훈
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950059245A priority Critical patent/KR970053120A/ko
Publication of KR970053120A publication Critical patent/KR970053120A/ko

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 장치의 미세 패턴 형성에 사용되는 포토레지스트 제거 공정에서 하부막질에 포토레지스트 잔류물을 남기지 않는 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것으로, 반도체 기판에 소자분리영역을 형성한 후, 상기 반도체 기판상에 게이트산화막 및 게이트용 폴리실리콘막을 순차적으로 형성하는 공정과; 상기 게이트용 폴리실리콘막상에 ARC막을 형성하는 공정과; 상기 ARC막상에 고온산화막을 형성하는 공정과; 상기 고온산화막상에 포토레지스트를 도포하여 패터닝하는 공정과; 상기 포토레지스트 패턴을 마스크로 사용하여 상기 고온산화막 및 ARC막의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트를 제거하는 공정을 포함하고 있다. 이 방법에 의해서, 반도체 장치의 미세 패턴 형성 후 포토레지스트를 제거하는 공정에서 하부막질상에 포토레지스트 잔류물이 남지않도록 제거할 수 있다.

Description

반도체장치의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2A도 제2B도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 장치의 제조 방법을 보여주고 있는 순차 공정도.

Claims (1)

  1. 반도체 기판(10)에 소자분리영역(12)을 형성한 후, 상기 소자분리영역(12)을 포함하여 상기 반도체 기판(10)상에 게이트산화막(14) 및 게이트용 폴리실리콘막(16)을 순차적으로 형성하는 공정과; 상기 게이트용 폴리실리콘막(16)상에 ARC막(20)을 형성하는 공정과; 상기 ARC막(20)상에 고온산화막(18)을 형성하는 공정과; 상기 고온산화막(18)상에 포토레지스트 패턴(22)을 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트 패턴(22)을 마스크로 사용하여 상기 고온산화막(18) 및 ARC막(20)의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트 패턴(22)을마스크로 사용하여 상기 고온산화막(18) 및 ARC막(20)의 패턴을 형성하는 공정과; 상기 포토레지스트 패턴 (22)을 제거하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950059245A 1995-12-27 1995-12-27 반도체장치의 제조방법 KR970053120A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950059245A KR970053120A (ko) 1995-12-27 1995-12-27 반도체장치의 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950059245A KR970053120A (ko) 1995-12-27 1995-12-27 반도체장치의 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR970053120A true KR970053120A (ko) 1997-07-29

Family

ID=66619821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950059245A KR970053120A (ko) 1995-12-27 1995-12-27 반도체장치의 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR970053120A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990061111A (ko) * 1997-12-31 1999-07-26 김영환 반도체 소자의 제조방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990061111A (ko) * 1997-12-31 1999-07-26 김영환 반도체 소자의 제조방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950021728A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR970053120A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR940016887A (ko) 반도체 소자의 미세 게이트전극 형성방법
KR970054532A (ko) 반도체소자의 소자분리막 제조방법
KR970054601A (ko) 반도체 디바이스 제조공정의 금속층 패터닝(Patterning) 방법
KR960002703A (ko) 반도체 제조 방법
KR950021075A (ko) 반도체장치의 콘택홀 형성방법
KR950015577A (ko) 반도체소자의 제조방법
KR960005791A (ko) 반도체소자의 콘택홀 형성방법
KR970023813A (ko) 반도체 소자 제조 방법
KR950015575A (ko) 감광막패턴의 형성방법
KR960039420A (ko) 3극 필드 에미터 제조방법
KR950021761A (ko) 박막트랜지스터 제조방법
KR970051897A (ko) 반도체장치의 제조방법
KR960002501A (ko) 반도체 소자의 패턴 형성방법
KR950025927A (ko) 반도체장치 제조방법
KR970030305A (ko) 반도체장치의 제조방법(method of fabricating a semiconductor device)
KR970008475A (ko) 반도체 소자 격리영역 형성방법
KR970076073A (ko) 반도체장치의 포토레지스트 패턴 형성방법
KR960026300A (ko) 미세 패턴 제조방법
KR940018930A (ko) 반도체 소자의 평탄화 방법
KR970003561A (ko) 미세 패턴 형성방법
KR970054205A (ko) 고집적 마스 롬(mask rom) 제조 방법
KR960026555A (ko) 반도체 소자의 소자분리층 형성방법
KR950021763A (ko) 박막트랜지스터 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination