KR970051905A - 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 평탄화된 제1레지스트를 도포하고 하드베이크 하는 단계; 해상도 및 촛점 여유도가 충분한 두께의 제2레지스트로 패턴을 형성하고 하드베이크 하는 단계; 상기 제2레지스트 패턴 측벽에 상기 레지스트와 식각선택비를 갖는 박막으로 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 식각장벽으로 상기 제2레지스트 및 제1레지스트를 건식식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법에 관한 것으로, 종래와 동일한 장치를 가지고도 종래의 단층 레지스트를 이용한 방법의 해상한계를 넘어서는 미세패턴을 쉽게 형성할 수 있으므로 차세대 소자개발을 앞당길 수 있고, 생산에 적용시 공정능력 향상으로 수율 향상이 기대된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1a도 내지 제1f도는 본 발명의 일실시예에 따른 레지스트 패턴 형성 공정도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
101 : 하층 박막층 102 : 제1레지스트
103 : HMDS 104 : 제2레지스트
104a : 제2레지스트 패턴 105 : 스페이서용 박막층
105a : 스페이서
Claims (6)
- 평탄화된 제1레지스트를 도포하고 하드베이크 하는 단계; 해상도 및 촛점 여유도가 충분한 두께의 제2레지스트로 패턴을 형성하고 하드베이크 하는 단계; 상기 제2레지스트 패턴 측벽에 상기 레지스트와 식각선택비를 갖는 박막으로 스페이서를 형성하는 단계; 및 상기 스페이서를 식각장벽으로 상기 제2레지스트 및 제1레지스트르 건식식각하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.
- 제2항에 있어서; 상기 제1레지스트의 두께를 1㎛ 이상 두껍게 형성하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.
- 제1항에 있어서; 상기 제2레지스트의 두께를 3000Å 내지 5000Å으로 형성하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.
- 제1항에 있어서; 상기 스페이서용 박막을 1500Å 내지 3000Å으로 형성하는 것을 특징으로 하는 미세패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.
- 제1항에 있어서; 상기 제1, 제2레지스트의 하드베이크 온도는 150℃ 내지 300℃인 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.
- 제1항에 있어서; 상기 제1레지스트의 표면을 HMDS로 표면 처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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KR1019950062112A KR0172522B1 (ko) | 1995-12-28 | 1995-12-28 | 미세 패턴 형성을 위한 레지스트 패턴 형성 방법 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR19990054909A (ko) * | 1997-12-26 | 1999-07-15 | 김영환 | 이중 감광막을 이용한 미세 감광막패턴 형성방법 |
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1995
- 1995-12-28 KR KR1019950062112A patent/KR0172522B1/ko not_active IP Right Cessation
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