KR970048485A - 표시 장치용 측정 패턴 - Google Patents
표시 장치용 측정 패턴 Download PDFInfo
- Publication number
- KR970048485A KR970048485A KR1019950047984A KR19950047984A KR970048485A KR 970048485 A KR970048485 A KR 970048485A KR 1019950047984 A KR1019950047984 A KR 1019950047984A KR 19950047984 A KR19950047984 A KR 19950047984A KR 970048485 A KR970048485 A KR 970048485A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- thin film
- display device
- terminal
- wires
- source terminal
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
Abstract
이 발명은 표시 장치용 측정 패턴에 관한 것으로, 다수의 배선을 포함하는 표시 장치용 측정 패턴으로서, 상기 다수의 배선의 한쪽을 단락시키는 제1패드와; 상기 다수의 배선의 다른 한쪽에 게이트 단자가 각각 연결되고, 최상단의 소스 단자와 최하단의 드레인 단자를 제외하고는 상단의 드레인 단자와 하단의 소스단자가 연결되어 배열된 다수의 박막 트랜지스터와; 상기 최상단 박막 트랜지스터의 소스 단자에 연결되는 제2패드와; 상기 최하단 박막 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 제3패드로 구성되어, 배선별로 개별적인 프로빙(Probing)을 할 필요가 없으며, 소자에 관계없이 3개의 점에 대한 프로빙만으로 배선의 개방 유무를 측정하여, 정확한 판정으로 생산 비용의 절감 및 품질 개선을 추구할 수 있는 효과를 가진 표시 장치용 측정 패턴에 관한 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 이 발명의 실시예에 따른 박막 트랜지스터를 형성시킨 표시 장치용 측정 패턴을 나타내는 도면이고,
제3도는 이 발명의 실시예에 따른 표시 장치용 측정 패턴의 등가 회로를 나타내는 도면이고,
제4도는 이 발명의 실시예에 따른 배선의 개발 및 단락시 표시 장치용 측정 패턴을 나타내는 도면이다.
Claims (1)
- 다수의 배선을 포함하는 표시 장치용 측정 패턴으로서, 상기 다수의 배선의 한쪽을 단락시키는 제1패드와; 상기 다수의 배선의 다른 한쪽에 게이트 단자가 각각 연결되고, 최상단의 소스 단자와 최하단의 드레인 단자를 제외하고는 상단의 드레인 단자와 하단의 소스단자가 연결되어 배열된 다수의 박막 트랜지스터와; 상기 최상단 박막 트랜지스터의 소스 단자에 연결되는 제2패드와; 상기 최하단 박막 트랜지스터의 드레인 단자에 연결되는 제3패드를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치용 측정 패턴.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950047984A KR0154835B1 (ko) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 표시 장치용 측정 패턴 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019950047984A KR0154835B1 (ko) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 표시 장치용 측정 패턴 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR970048485A true KR970048485A (ko) | 1997-07-29 |
KR0154835B1 KR0154835B1 (ko) | 1998-12-15 |
Family
ID=19438745
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950047984A KR0154835B1 (ko) | 1995-12-08 | 1995-12-08 | 표시 장치용 측정 패턴 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0154835B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101016576B1 (ko) * | 2003-12-24 | 2011-02-22 | 삼성전자주식회사 | 박막트랜지스터기판 |
-
1995
- 1995-12-08 KR KR1019950047984A patent/KR0154835B1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0154835B1 (ko) | 1998-12-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR970007432A (ko) | 화소 간 기생 용량 차이가 없는 액정 표시 장치용 기판 | |
KR910001975A (ko) | 반도체장치 및 그 번인방법 | |
KR970004096A (ko) | 표시장치 및 이것에 사용되는 ic칩 | |
KR970071021A (ko) | 매트릭스 구조를 이용한 신호선의 단선 단락 검사장치 및 검사방법 | |
KR960019802A (ko) | 반도체장치 | |
KR900015142A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
KR840003869A (ko) | 화살 표시장치 | |
KR880010641A (ko) | 양면메모리 보드 | |
KR920010872A (ko) | 멀티칩 모듈 | |
KR920005341A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR970048485A (ko) | 표시 장치용 측정 패턴 | |
KR910010688A (ko) | 반도체장치 | |
KR910013524A (ko) | 반도체집적회로장치 | |
KR950001318A (ko) | 반도체집적회로의테스트회로 | |
KR920010813A (ko) | 반도체 장치 | |
KR850002679A (ko) | 대규모 집적회로 실장의 다중신호 경로 분배 시스템 | |
KR910017624A (ko) | 반도체집적회로장치 | |
KR950020965A (ko) | 반도체 장치 | |
KR900019214A (ko) | 반도체장치 | |
KR910017628A (ko) | 반도체 기억장치 | |
KR970053226A (ko) | 반도체 칩 구조 | |
KR900019198A (ko) | 반도체 집적회로장치 | |
KR920007093A (ko) | 하이브리드형 반도체장치 | |
KR850006786A (ko) | 다층 배선을 가진 반도체 집적회로 | |
KR960024597A (ko) | 액정표시장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20080701 Year of fee payment: 11 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |