KR970018036A - 반도체 장치의 콘택홀 형성방법 - Google Patents

반도체 장치의 콘택홀 형성방법 Download PDF

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KR970018036A
KR970018036A KR1019950029513A KR19950029513A KR970018036A KR 970018036 A KR970018036 A KR 970018036A KR 1019950029513 A KR1019950029513 A KR 1019950029513A KR 19950029513 A KR19950029513 A KR 19950029513A KR 970018036 A KR970018036 A KR 970018036A
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polymer
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KR1019950029513A
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신종찬
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

반도체장치의 콘택홀 형성방법을 개시한다. 제1도전층, 제1절연층. 제2도전층 및 제2절연층을 구비한 반도체기판 상에 콘택홀을 형성하는데 있어서, 상기 제2절연층상에 포토레지스트를 형성하여 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 포토레지스트를 마스크로하여 상기 제2절연층을 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 포토레지스트 및 제2절연층측벽에 폴리머를 증착하는 단계; 상기 폴리머, 포토레지스트 및 제2절연층을 마스크로 상기 제2도전층과 제1절연층을 패터닝하여 제2도전층을 관통하여 제1도전층을 노출하는 단계; 및 상기 포토레지스트와 상기 폴리머를 제거하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 콘택홀 형성방법을 제공한다.
따라서, 본 발명에 의하면, 종래 콘택홀이 가지던 제1도전층과 제2도전층 콘택홀 면적의 불균형으로 인한 반도체 소자의 특성저하를 방지할 수 있다.

Description

반도체 장치의 콘택홀 형성방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도 내지 제8도는 본 발명에 의한 콘택홀 형성방법을 나타낸 단면도와 평면도이다.

Claims (3)

  1. 제1도전층, 제1절연층, 제2도전층 및 제2절연층을 구비한 반도체기판 상에 콘택홀을 형성하는데 있어서, 상기 제2절연층상에 포토레지스트를 형성하여 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 포토레지스트를 마스크로하여 상기 제2절연층을 패터닝하는 단계; 상기 패터닝된 포토레지스트 및 제2절연층측벽에 폴리머를 증착하는 단계; 상기 폴리머, 포토레지스트 및 제2절연층을 마스크로 상기 제2도전층과 제1절연층을 패터닝하여 제2도전층을 관통하여 제1도전층을 노출하는 단계; 및 상기 포토레지스트와 상기 폴리머를 제거하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 콘택홀 형성방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 포토레지스트는 상기 제2절연층을 패터닝한 후 폴리머를 증착하기 전에 먼저 제거하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 콘택홀 형성방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 폴리머는 플라즈마 공정으로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 콘택홀 형성방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950029513A 1995-09-11 1995-09-11 반도체 장치의 콘택홀 형성방법 KR970018036A (ko)

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