KR960025796A - 반도체 기억장치 - Google Patents

반도체 기억장치 Download PDF

Info

Publication number
KR960025796A
KR960025796A KR1019950059596A KR19950059596A KR960025796A KR 960025796 A KR960025796 A KR 960025796A KR 1019950059596 A KR1019950059596 A KR 1019950059596A KR 19950059596 A KR19950059596 A KR 19950059596A KR 960025796 A KR960025796 A KR 960025796A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
address
data
precharge
cell array
bit line
Prior art date
Application number
KR1019950059596A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100228955B1 (ko
Inventor
야스오미 타나카
Original Assignee
우에시마 세이스케
야마하 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP33826894A external-priority patent/JP2773663B2/ja
Priority claimed from JP33963194A external-priority patent/JP2773665B2/ja
Priority claimed from JP16301095A external-priority patent/JPH08335397A/ja
Priority claimed from JP16300995A external-priority patent/JPH08335398A/ja
Application filed by 우에시마 세이스케, 야마하 가부시키가이샤 filed Critical 우에시마 세이스케
Publication of KR960025796A publication Critical patent/KR960025796A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100228955B1 publication Critical patent/KR100228955B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/24Bit-line control circuits

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Abstract

본 발명에 관한 반도체 기억장치는 데이터를 불휘발로 기억하는 메모리 셀 어레이와, 이 메모리 셀 어레이의 기억 데이터로부터 소망의 데이터를 선택하는 어드레스를 외부로부터 입력받는 어드레스 버퍼와, 상기 어드레스에 의거하여 상기 메모리 셀 어레이의 비트선 및/또는 워드선을 선택하는 디코더와, 상기 비트선의 데이터를 판독하는 센스 앰프를 가지고 있다. 특히, 상기 어드레스 버퍼는 입력단자가 공통접속되어 시분할에 의한 어드레스의 입력을 행하는 적어도 2계통의 클록 동기식의 어드레스 레지스터를 가지고 있다. 여기에서, 2계통의 어드레스 레지스터에 각각 유지된 연속하는 판독 타이밍에 관한 복수 어드레스 데이터의 같고 다름을 판정하여, 그 판정결과에 의거하여 어떤 어드레스 데이터의 같고 다름을 판정하여, 그 판정결과에 의거하여 어떤 어드레스의 데이터 판독을 행하고 있는 동안 다음에 액세스할 어드레스의 워드선 또는 비트선만을 선택적으로 프리챠지한다. 이에 따라 모든 비선택 워드선 또는 모든 비선택 비트선을 프리챠지하는 종래 방식에 비해서 데이터 판독 특성을 열화시키지 않고, 고속 액세스가 가능해진다.

Description

반도체 기억장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시예에 의한 마스크 ROM의 구성을 도시하는 블록도이다, 제3도는 어드레스 버퍼의 더욱 상세한 구성을 도시하는 블록도이다, 제4도는 제1실시예 중의 차어드레스 판정회로 내의 컬럼 어드레스부의 구성을 도시하는 도면이다. 제6도는 제1실시예 중의 컬럼 디코더의 구체적인 구성을 도시하는 도면이다. 제7도는 제1실시예 중의 로우 디코더의 구체적인 구성을 도시하는 도면이다.

Claims (6)

  1. 데이터를 불휘발로 기억하는 메모리 셀 어레이와, 이 메모리 셀 어레이의 기억 데이터로부터 소망의 데이터를 선택하는 어드레스를 외부로부터 입력받는 어드레스 버퍼와, 상기 어드레스에 의거하여 상기 메모리 셀 어레이의 비트선 및/ 또는 워드선을 선택하는 디코더와, 비트선의 데이터를 판독하는 센스 앰프를 가지는 반도체 기억장치에 있어서, 상기 어드레스 버퍼는 입력단자가 공통접속되어 시분할에 의한 어드레스의 입력을 행하는 적어도 2계통의 클록 동기식 어드레스 레지스터를 가지며, 또한 상기 2계통의 어드레스 레지스터에 각각 유지된 연속하는 판독 타이밍에 관한 복수의 어드레스 데이터의 같고 다름을 판정하는 판정수단과, 상기 판정수단의 판정결과에 의거하여 어떤 어드레스의 데이터 판독을 행하고 있는 동안, 다음에 액세스할 어드레스의 워드선만을 선택적으로 프리챠지하는 워드선 프리챠지 수단을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 판정수단은 상기 제2계통의 어드레스 레지스터가 각각 유지하는 복수의 어드레스 데이터의 불일치를 검출하여 프리챠지ㆍ인에이블 신호를 생성하는 논리 게이트 수단과, 해당 프리챠지ㆍ인에이블 신호에 의해 제어되어 상기 2계통의 어드레스 레지스터가 각각 유지하는 복수의 어드레스 데이터 중 차어드레스 데이터를 전송하는 전송수단을 가지며, 상기 워드선 프리챠지 수단은 상기 프리챠지ㆍ인에이블 신호에 의해 제어되고, 상기 차어드레스 데이터를 디코더하는 프리챠지용 로우 디코더와, 상기 디코더 출력에 의해 하나의 워드선을 선택하여 이것에 소정의 바이어스를 인가하는 프리챠지용 로우 셀렉터를 가지는 것을 특징으로 한다.
  3. 데이터를 불휘발로 기억하는 메모리 셀 어레이와, 이 메모리 셀 어레이의 기억 데이터로부터 소망의 데이터를 선택하는 어드레스를 외부로부터 입력받는 어드레스 버퍼와, 상기 어드레스에 의거하여 상기 메모리 셀 어레이의 비트선 및/또는 워드선을 선택하는 디코더와, 상기 비트선의 데이터를 판독하는 센스 앰프를 가지는 반도체 기억장치에 있어서, 상기 어드레스 버퍼는 입력단자가 공통접속되어 시분할에 의한 어드레스의 입력을 행하는 적어도 2계통의 클록 동기식의 어드레스 레지스터를 가지며, 또한 상기 2계통의 어드레스 레지스터에 각각 유지된 연속하는 판독 타이밍에 관한 복수의 어드레스 데이터의 같고 다름을 판정하는 판정수단과, 상기 판정수단의 판정결과에 의거하여 어떤 어드레스의 데이터 판독을 행하고 있는 동안, 다음에 액세스할 어드레스의 비트선만을 선택적으로 프리챠지하는 비트선 프리챠지 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 판정수단은 상기 2계통의 어드레스 레지스터가 각각 유지하는 복수의 어드레스 데이터의 불일치를 검출하여 프리챠지ㆍ인에이블 신호를 생성하는 논리 게이트 수단과, 상기 프리챠지ㆍ인에이블 신호에 의해 제거되어 상기 2계통의 어드레스 레지스터가 각각 유지하는 복수의 어드레스 데이터 중 차어드레스 데이터를 전송하는 전송수단을 가지며, 상기 비트선 프리챠지 수단은 상기 프리챠지ㆍ인에이블 신호에 의해 제어되고 상기 차어드레스 데이터를 디코더하는 프리챠지용 컬럼 디코더와, 상기 디코더 출력에 의해 하나의 비트선을 선택하는 프리챠지용 컬럼 셀렉터와, 선택된 비트선을 프리챠지하는 바이어스 회로를 가지는 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  5. 디코더를 기억하는 메모리 어레이와, 이 메모리 어레이의 기억데이터로부터 소망의 데이터를 선택하는 어드레스를 외부로부터 입력받는 어드레스 버퍼와, 이 어드레스 버퍼에 의해 입력된 어드레스에 의해 상기 메모리 어레이의 워드선 선택을 행하는 로우 디코더와, 상기 어드레스 버퍼에 의해 입력된 어드레스에 의해 상기 메모리 어레이의 비트선 선택을 행하는 컬럼 디코더와, 상기 선택된 비트선의 데이터를 판독하는 데이터 센스 회로를 가지는 반도체 기억장치에 있어서, 상기 어드레스 버퍼에 의해 입력된 어드레스 중의 로우 어드레스를 디코더하여 복수개 정도의 워드선 구동수단을 생성하는 프리 디코더와, 이 프리 디코더로부터 순차적으로 얻어지는 상기 복수개 정도의 워드선 구동신호를 클록에 동기해서 순차적으로 입력하여 유지하는 복수계통의 래치수단과, 이들 복수계통의 래치수단에 유지된 상기 복수개 정도의 워드선 구동신호를 클록에 동기하여 순차적으로 출력하여 워드선에 공급함으로써 워드선을 선택하는 선택수단을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
  6. 데이터를 기억하는 메모리 셀 어레이와, 클록에 동기하여 동작하는 어드레스 입력수단으로써 상기 메모리 셀 어레이의 기억 데이터로부터 소망의 데이터를 선택하는 어드레스를 입력하는 어드레스 입력수단과, 상기 클록에 동기하여 동작하는 데이터 출력수단으로써 상기 메모리 셀 어레이로부터 상기 어드레스에 의거하여 선택된 데이터를 판독하여 출력하는 데이터 출력수단과, 외부로부터 공급되는 칩 셀렉트 신호를 상기 클록에 동기하여 지연함으로써 활성화 신호를 생성하고, 상기 활성화신호에 의거하여 상기 어드레스 입력수단과 상기 데이터 출력수단을 소정시간 지연시켜 동작상태로 하는 활성화수단을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 기억장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950059596A 1994-12-27 1995-12-27 반도체 기억장치 KR100228955B1 (ko)

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP94-338268 1994-12-27
JP33826894A JP2773663B2 (ja) 1994-12-27 1994-12-27 半導体記憶装置
JP94-339631 1994-12-28
JP33963194A JP2773665B2 (ja) 1994-12-28 1994-12-28 半導体記憶装置
JP16301095A JPH08335397A (ja) 1995-06-06 1995-06-06 半導体記憶装置
JP16300995A JPH08335398A (ja) 1995-06-06 1995-06-06 半導体記憶装置
JP95-163009 1995-06-06
JP95-163010 1995-06-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960025796A true KR960025796A (ko) 1996-07-20
KR100228955B1 KR100228955B1 (ko) 1999-11-01

Family

ID=27473843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950059596A KR100228955B1 (ko) 1994-12-27 1995-12-27 반도체 기억장치

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR100228955B1 (ko)
TW (1) TW288122B (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072236A (ko) * 2002-03-04 2003-09-13 엔이씨 일렉트로닉스 코포레이션 다이내믹 램 및 그 동작 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072236A (ko) * 2002-03-04 2003-09-13 엔이씨 일렉트로닉스 코포레이션 다이내믹 램 및 그 동작 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR100228955B1 (ko) 1999-11-01
TW288122B (ko) 1996-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100501749B1 (ko) 파이프라인고속억세스플로우팅게이트메모리아키텍처및동작방법
US6636444B2 (en) Semiconductor memory device having improved data transfer rate without providing a register for holding write data
KR100253564B1 (ko) 고속 동작용 싱크로노스 디램
KR100902125B1 (ko) 저전력 디램 및 그 구동방법
US5826056A (en) Synchronous memory device and method of reading data from same
US6388937B2 (en) Semiconductor memory device
KR970051152A (ko) 고속 버스트 리드/라이트 동작에 적합한 데이타 버스 라인 구조를 갖는 반도체 메모리 장치
US4811295A (en) High speed serial input/output semiconductor memory
KR100282044B1 (ko) 반도체 메모리 장치
US6477082B2 (en) Burst access memory with zero wait states
JP3761327B2 (ja) 半導体読出専用メモリ装置
US5235543A (en) Dual port static memory with one cycle read-modify-write
US6055207A (en) Synchronous semiconductor memory device having a column disabling circuit
KR100247723B1 (ko) 디램 어레이
KR100639637B1 (ko) 반도체 기억 장치
KR100316513B1 (ko) 반도체메모리장치
KR100281399B1 (ko) 반도체 기억 장치
KR101384909B1 (ko) 클록 센스 증폭기를 구비한 메모리
KR100334574B1 (ko) 풀-페이지 모드를 갖는 버스트-타입의 반도체 메모리 장치
KR950010084A (ko) 반도체 메모리 장치
KR100333536B1 (ko) 센스앰프를이용하여테스트를수행하는메모리소자
KR960025796A (ko) 반도체 기억장치
KR100211483B1 (ko) 블록 기록 시스템을 이용하는 반도체 메모리
KR970060223A (ko) 반도체 기억 장치 및 그 제어 방법
JP3183167B2 (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100811

Year of fee payment: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee