KR960019764A - 자기정렬 쌍극자 트랜지스터의 제조방법 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract 3
- 208000012868 Overgrowth Diseases 0.000 claims abstract 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract 2
- 229910021341 titanium silicide Inorganic materials 0.000 claims abstract 2
- 239000010408 film Substances 0.000 claims 4
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 claims 3
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 abstract 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 abstract 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 abstract 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66007—Multistep manufacturing processes
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- H01L29/66234—Bipolar junction transistors [BJT]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/41—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
- H01L29/417—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions carrying the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/41708—Emitter or collector electrodes for bipolar transistors
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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Abstract
본 발명은 컴퓨터나 통신기기 등의 차세대 고속 정보처리 시스템에 널리 이용되고 있는 고속 쌍극자(bipolar) 트랜지스터에 관한 것으로서, 실리콘 에미터 전극을 선택적 단결정 과성장(epitaxial lateral overgr-owth)하여 에미터와 베이스가 자기정렬되게 하고 금속성 박막을 이용하여 베이스 기생저항을 크게 감소시킨 쌍극자 트랜지스터 제조방법에 관한 것이다.
본 발명은 비활성 베이스로 금속성 박막인 티타늄 실리사이드를 사용하기 때문에 소자의 기생 베이스 저항이 작으며, 에미터와 베이스를 자기정렬 시킴으로서 재현성이 높고 소자의 크기를 줄여 집적도를 높일 수 있는 장점이 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 쌍극자 트랜지스터의 구조를 나타낸 단면도,
제4도는 본 발명에 의한 쌍극자 트랜지스터의 제조방법을 순차적으로 나타낸 공정 단면도이다.
Claims (1)
- 실리콘 기판(41)에 고농도의 불순물을 이온주입하여 서브 콜렉터(42)를 형성하고, 콜렉터(43)와 소자격리를 위한 산화막(44)을 형성한 후 고농도 불순물을 이온주입하여 콜렉터 싱커(45)와 베이스 박막(46)을 형성하는 단계; 상기 베이스 박막(46) 위에 BSG(boro-silicate glass)막(67)을 도포한 후 패터닝 하여 비활성 베이스 영역과 활성영역을 정의하고 측벽 산화막(48)을 형성하여 에미터 활성영역을 정의하는 단계; 실리콘(49)을 선택적 단결정 과성장(epitaxial lateral overgr-owth)허여 실리콘 에미터와 에미터 전극을 동시에 성장시킨 후, 상기 실리콘(49)을 마스크로 하여 상기 BSG막(67)을 식각하여 에미터와 베이스를 자기정렬 시키는 단계; 및 상기 비활성 베이스 영역과 에미터 전극인 실리콘(49) 상부에 선택적으로 티타늄 실리사이드(50)를 형성하고, 절연막(51) 도포후 금속배선(52)하는 단계로 이루어진 자기정렬 쌍극자 트랜지스터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940031325A KR0163739B1 (ko) | 1994-11-26 | 1994-11-26 | 자기정렬 쌍극자 트랜지스터의 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019940031325A KR0163739B1 (ko) | 1994-11-26 | 1994-11-26 | 자기정렬 쌍극자 트랜지스터의 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR960019764A true KR960019764A (ko) | 1996-06-17 |
KR0163739B1 KR0163739B1 (ko) | 1998-12-01 |
Family
ID=19399104
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940031325A KR0163739B1 (ko) | 1994-11-26 | 1994-11-26 | 자기정렬 쌍극자 트랜지스터의 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR0163739B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7268376B2 (en) | 2002-09-19 | 2007-09-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bipolar transistor for increasing signal transfer efficiency and method of manufacturing the same |
-
1994
- 1994-11-26 KR KR1019940031325A patent/KR0163739B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7268376B2 (en) | 2002-09-19 | 2007-09-11 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Bipolar transistor for increasing signal transfer efficiency and method of manufacturing the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR0163739B1 (ko) | 1998-12-01 |
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