KR960015590A - 저전력의 스테이틱 랜덤 억세스 메모리소자 - Google Patents
저전력의 스테이틱 랜덤 억세스 메모리소자 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 복수개의 어드레스천이감지신호들 및 데이타입력감지신호들과 칩선택감지신호 및 쓰기모드감지신호에 응답하여 상기 파워다운신호를 발생하는 파워다운타이머를 가지는 스테이틱 랜덤 억세스 메모리장치에 관한 것으로서, 전원전압의 상승에 응답하며 상기 파워다운신호를 구동하는 파워엎감지신호를 발생하는 파워엎감지부를 구비한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제5도는 본 발명에 따른 스테이틱 랜덤 억세스 메모리장치의 기능적 구성을 보여주는 블럭도.
Claims (5)
- 복수개의 어드레스천이감지신호를 및 데이타입력감지신호들과 칩선택감지신호 및 쓰기모드감지신호에 응답하여 상기 파워다운신호를 발생하는 파워다운타이머를 가지는 스테이틱 랜덤 억세스 메모리장치에 있어서, 전원전압의 상승에 응답하며 상기 파워다운신호를 구동하는 파워엎감지신호를 발생하는 파워엎감지부를 구비함을 특징으로 하는 스태이틱 랜덤 억세스 메모리장치.
- 제1항에 있어서, 상기 파워엎감지부가, 상기 전원전압과 제1노드에 연결된 캐패시터와, 상기 제1노드와 제2노드사이에 연결된 드레쉬홀드스위치와, 상기 파워엎감지신호가 발생되는 출력터미널과 상기 제2노드사이에 연결된 인버터체인과, 소정기간후에 상기 파워엎감지신호의 전압레벨을 안정시키는 수단을 구비함을 특징으로 하는 스태이틱 랜덤 억세스 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 드레쉬홀드스위치가, 게이트와 드레인이 상기 제2노드에 공통으로 접속되고 소오스가 상기 제1노드에 접속된 피채널 모스트랜지스터임을 특징으로 하는 스태이틱 랜덤 억세스 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 수단이 게이트가 상기 출력터미널에 접속되고 채널이 상기 전원전압과 상기 제2노드사이에 연결된 피채널 모스트랜지스터로 이루어짐을 특징으로 하는 스태이틱 랜덤 억세스 메모리장치.
- 제2항에 있어서, 상기 전원전압과 상기 제1노드사이에 연결되어 항상 턴온상태에 있는 피채널 모스트랜지스터와, 상기 제2노드와 접지전압 사이에 연결된 캐패시터를 더 구비함을 특징으로 하는 스태이틱 랜덤 억세스 메모리장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
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KR100468723B1 (ko) * | 2001-04-27 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 파워 다운 전압 제어 방법 및 장치 |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5724294A (en) * | 1996-12-30 | 1998-03-03 | Intel Corporation | Self-tracking sense amplifier strobing circuit and method |
KR100253282B1 (ko) * | 1997-04-01 | 2000-05-01 | 김영환 | 메모리소자의소모전력자동감소회로 |
FR2766594B1 (fr) * | 1997-07-24 | 2000-01-28 | Sgs Thomson Microelectronics | Dispositif de re-initialisation a commande externe pour une memoire non volatile en circuit integre |
KR100269313B1 (ko) * | 1997-11-07 | 2000-12-01 | 윤종용 | 대기시전류소모가적은반도체메모리장치 |
WO1999027537A1 (en) * | 1997-11-21 | 1999-06-03 | Macronix International Co., Ltd. | On chip voltage generation for low power integrated circuits |
US6002630A (en) * | 1997-11-21 | 1999-12-14 | Macronix International Co., Ltd. | On chip voltage generation for low power integrated circuits |
KR100272164B1 (ko) * | 1997-12-30 | 2000-11-15 | 윤종용 | 모드레지스터셋회로를갖는반도체장치 |
US6084446A (en) * | 1998-03-30 | 2000-07-04 | Macronix International Co., Ltd. | Power on reset circuit |
US6101143A (en) * | 1998-12-23 | 2000-08-08 | Xilinx, Inc. | SRAM shutdown circuit for FPGA to conserve power when FPGA is not in use |
US6240030B1 (en) | 1998-12-30 | 2001-05-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Integrated circuit devices having mode selection circuits that generate a mode signal based on the magnitude of a mode control signal when a power supply signal transitions from a first state to a second state |
JP3959341B2 (ja) * | 2002-02-18 | 2007-08-15 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
KR100560942B1 (ko) | 2004-12-30 | 2006-03-14 | 주식회사 하이닉스반도체 | Pvt 변화에 무관하게 안정적으로 동작하는 파워-업검출 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치 |
US7602222B2 (en) * | 2005-09-30 | 2009-10-13 | Mosaid Technologies Incorporated | Power up circuit with low power sleep mode operation |
JP6050804B2 (ja) * | 2014-11-28 | 2016-12-21 | 力晶科技股▲ふん▼有限公司 | 内部電源電圧補助回路、半導体記憶装置及び半導体装置 |
CN110060720A (zh) * | 2019-04-08 | 2019-07-26 | 苏州汇峰微电子有限公司 | 动态随机存储器的晶体管闩锁预防系统 |
Family Cites Families (6)
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---|---|---|---|---|
JPH0812756B2 (ja) * | 1987-06-22 | 1996-02-07 | 松下電子工業株式会社 | スタチックram回路 |
JPH01251496A (ja) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Toshiba Corp | スタティック型ランダムアクセスメモリ |
US5247164A (en) * | 1989-01-26 | 1993-09-21 | Hitachi Maxell, Ltd. | IC card and portable terminal |
JP3142414B2 (ja) * | 1993-05-06 | 2001-03-07 | 株式会社東芝 | 消費電流削減機能を有する半導体集積回路 |
US5329491A (en) * | 1993-06-30 | 1994-07-12 | Intel Corporation | Nonvolatile memory card with automatic power supply configuration |
US5363335A (en) * | 1993-09-28 | 1994-11-08 | Intel Corporation | Nonvolatile memory with automatic power supply configuration |
-
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100468723B1 (ko) * | 2001-04-27 | 2005-01-29 | 삼성전자주식회사 | 파워 다운 전압 제어 방법 및 장치 |
Also Published As
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US5646902A (en) | 1997-07-08 |
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