KR960013755B1 - 광자계센서 - Google Patents

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Abstract

내용 없음.

Description

광자계센서
제1도는 고장점을 자동적으로 검출하는 본 발명의 광자계센서의 일실시예를 나타내는 개략도.
제2도는 제1도의 선 Ⅱ -Ⅱ에 따른 개략단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부분의 설명
1 : 케이스 혹은 케이싱 2 : 광섬유봉(rod)
3 : 페룰(ferrule) 4 : 봉렌즈
5 : 편광자 6 : 자기광학소자(magnetroopticalelement)
7 : 검광자 8 : 기판
9,10 : 합성수지 접착제 11 : 자계
본 발명은 전력 공급선망, 전력배전선망, 및 변전소에서 고장점 검출 시스템을 구축하는데 주로 이용되는 광자계센서들(potical magnetic-field sensors)에 관한 것이다.
최근에, 전력공급장치에서 고장점(fault point)을 자동적으로 검출하기 위해, 광학적 단결정 예를 들면, BSO등을 이용하는 광자계센서들이 실제적으로 이용되는데, 전송기로부터 방출된 광빔은 자기광삭소자를 통해 전송되고 수신기에 의해 검출된다. 만약 단락 혹은 접지됨에 의해 전류가 급격하게 변하면, 전력 공급선 주위에 생선된 전계의 크기는 자기광학소자를 통해 전송된 광빔의 편광면을 충분히 변화시킬 수 있을 만큼 변하기 때문에, 전력공급선에서의 고장의 발생을 판단하기 위해 그 변화가 검출된다.
광자계센서에서, 편광자, 자기광학소자 및 검광자는 그들 광축이 서로 정렬되도록 하우징 케이스(housing case)내에 수용된다. 그러나, 그들은 자기광학소자와 편광자 혹은 검광자 사이에 공간을 가지므로, 광자계센서를 통해 전송될 때 많은 광빔이 손실된다. 그러므로, 지금까지, 전송기와 검출된 고장점간의 거리 및 수신기와 검출된 고장점간의 거리는 어느 정도 이상 증가될 수 없었다.
출원인은 일본국 특허출원 공개번호 제63-047,723호에 유리 등과 같은 중간체를 자기광학소자 및 광학부품들간의 공간에 삽입하고 그들을 서로 접착시켜 열팽창을 완화하는 기술을 공개했다. 또한 이 경우, 중간체 및 자기광학소자 혹은 광학부품들 사이의 접속부분에서 광빔량 혹은 광량의 손실은 주요한 문제중 하나였다. 변조속도에 대한 온도변화의 큰 영향은 또한 주요한 문제였다.
한편, 일본국 특허출원 공개 공보 제63-210,911에는 자기광학소자 및 광학부품들을 각각 개별적으로 중간체를 통하여 기판에 고정하는 기술이 개시되었다. 그러나 이경우에, 많은 광빔이 손실되고, 중간체에 접착된 자기광학소자의 표면이 변전소에서 온도변화에 의해 생성된 열응력에 기인하여 벗겨지는 경향이 있어 자기광학소자가 변위되고 이탈된다. 그러므로, 이 기술은 장기간 사용에 대한 내구성의 견지에서 여전히 문제점을 갖고 있다.
본 발명의 목적은 자기광학소자의 열팽창 및 수축에 의해 야기된 변조속도의 변화 뿐만 아니라 광량의 손실을 최소할 수 있고 자기광학소자의 변위와 이탈을 방지할 수 있는 광자계센서를 제공하는 것이다.
본 발명은 적어도 자기광학소자, 편광자, 검광자 및 기판을 포함하는 광자계센서에 있어서, 자기광학소자와 편광자간의 공간과 자기광학소자와 검광자간의 공간 각각에 합성수지 접착제가 충전되고, 자기광학소자, 편광자 및 검광자는 각각 기판에 접착 혹은 결합됨을 특징으로 하는 광자계센서이다.
이하 실시예와 관련하여 본 발명을 상세히 설명한다.
실시예 1
본 발명의 광자계센서의 일실시예를 나타내는 제1도 및 제2도를 참조하면, 입구부, 장치부 및 출구부는 거의 ⊃ 모양배치의 레이아웃으로 위치되는데, 이는 선택적으로 선형 혹은 유선 배치로 놓일 수 있다
구체적으로 설명하면, 케이스(1)내에 기판(8)이 고정되고 그 위에 입구 및 출구측 페룰(3)과 봉렌즈(4)가 각각 배치되고, 편광자(5), 자기광학소자(6) 및 검광자(7)순으로 연속적으로 배치되는 장치부가 고정된다. 이 실시예에서, 입구측 시준기(collimator) 및 출구측 시준기들은 각각 봉렌즈(4); 페룰(3) 및 광섬유(2)로 구성된다. 그러나, 페룰(3)은 양 시준기로부터 생략될 수 있다. 자기광학소자(6) 및 각각의 광학부품들의 위치결정은 기판(8)상에, 예를 들어, 홈 흑은 돌출부와 같은 소망의 패턴을 미리 제공함으로써 행해질 수 있다.
자기광학소자(6)와 편광자(5)간의 공간 및 자기광학소자(6)와 검광자(7)간의 공간은 그들을 서로 접착키거나 결합시키는 합성수지로 만들어진 접착제(9,10)에 의해 각각 충전된다. 접착제(9,10)로서, 바람직하게 자기광학소자(6), 편광자(5) 및 검광자(7)와 거의 동일한 굴절률을 갖는 냉경화형, 열경화형 흑은 자외선 경화형 수지가 이용된다. 바람직한 합성수지의 예로서, 에폭시계 수지 혹은 아크릴레이트계 수지등을 들 수 있다.
자기광학소자(6), 편광자(5) 및 검광자(7)들을 접착제에 의해 기판(8)에 접착된다.
바람직하게, 합성수지로 만들어진 접착제는 두께 0.001-0.5mm 공간(9,10)에 충전된다.
제1도에 나타낸 바와 같은 광자계센서에서, 봉렌즈(4)에서 방출된 입사광빔은 편광자(5)를 퉁과하여 선형 편광빔이 되고, 페러데이 회전을 받도륵 자기광학소자(6)를 통과한다. 그 회전된 광빔은 광빔의 광량이 페러데이의 회전에 따라 변화되는 검광자(7)를 통과한다. 광빔의 광량은 자기광학소자(6)에 영향을 미치는 자계(11)에 대응한다.
이 실시예의 광자계센서에 따르면, 자기광학소자(6)와 편광자(5)간의 공간 및 자기광학소자(6)와 검광자(7)간의 공간들은 각각 합성수지로 만들어진 접착제(9,10)로 충전되어, 그 공간들에서 광빔의 손실은 감소될 수 있다.
아울러, 자기광학소자(6)는 편광자(5)에 접착되고 자기광학소자(6)는 검광자(7)에 접착되며, 자기광학소자(6), 편광자(5) 및 검광자(7)는 각가 기판(8)에 접착되어, 자기광학소자(6)는 인접하는 광학부품들, 즉 편광자(5) 및 검광자(7)와 일체로 만들어지므로, 광자계선서는 온도변화에 높은 내성을 갖고, 장기간 사용할 때에 발생하는 자기광학소자(6)의 변위 및 이탈을 방지할 수 있다.
실시예 2 및 비교실시예 1 2
이 실시예에서, 보다 구체적인 실험예가 설명된다. 제1도에 배치에서, 편광자(5)로서 편광자 빔 스플리터(splitter), 및 검광자(7), 기판(8)으로서 알루미나 물질과 같은 세라믹 물질, 및 접착제(9,10)로서 열경화형 에폭시계 접착제가 사용된다. 자기광학소자(6), 편광자(5) 및 검광자(7)들을 각각 기판(8)에 접착시키기 위해 열경화형 에폭시계 접착제가 또한 사용된다. 열경화형 에폭시계 접착제를 진공 배기에 의해 미리 탈기포시켜 분배기(dispenser)에 의해 통상적으로 0.005-2.5mg/mm2의 바람직한 양으로, 본 실시예에서는 0.05mg/mm2로 자기광학소자(6)의 양단면에 공급한다.
다음, 편광자(5) 및 검광자(7)들은 자기광학소자(6)의 양단면에 접착되고, 동시에 편광자(5), 검광자(7) 및 자기광학소자(6)들은 열경화형 에폭시계 접착제에 의해 기판(8)에 접착된다. 양측에, 접착된 편광자(5) 및 검광자(7)를 갖는 자기광학소자(6)는 열경화형 에폭시 수지계 접착제(9,10)의 두께를 10μm의 일정두계로 하도륵 압착지그에 의해 양측에 1.5g/mm2의 압력이 가해진다. 압착된 자기광학소자(6), 압착지그에 의해 기판 (8) 상에 접착 및 압착된 편광자(5) 및 검광자는 거존기 및 서어머셋(htermoset)내에 놓이거나 82℃의 경화조건에서 90분동안 경화된다. 제1도의 편광자(5) 및 검광자(7)들은 일반적으로 각각 3-7mm의 수평두께와 3-7mm의 측폭을 가지며, 제1도의 자기광학소자(6)는 일반적으로 3-4mm의 수평두께를 갖는다. 이와 같은 방법으로, 본 실시예의 광자계센서가 얻어진다.
비교적인 광자계센서를 마련하기 위해, 자기광학소자(6)와 편광자(5)간의 공간과 자기광학소자(6)와 검광자(7)는 각각 접착제에 의해 봉렌즈(4)에 접착되는 비교실시예 1의 광자계센서를 얻는다.
다른 비교적인 광자계센서를 마련하기 위해, 자기광학소자(6), 편광자(5) 및 검광자(7)들은 각기 개별적으로 접착제에 의해 기판(8)에 접착되며, 자기광학소자(6)와 편광자(5)간의 공간 및 자기광학소자(6)와 검광자(7)간의 공간들을 광학유리 및 접착제(9, 10)에 의해 충전되지 않는 비교실시예 2의 광자계센서를 얻는다.
이들 3개의 광자계센서들을 광량의 손실, 변조속도의 온도의존성, 및 장기간 동안 사용된 자기광학소자의 상태에 관해, 아래의 측정방법들에 의해 측정된다.
광량의손실; LED 광빔은 광섬유(2)의 입사측단으로부터 입사되고 광섬유(2)의 출구측단으로부터 나오는 광빔의 양이 측정된다.
변조속도의 온도의존성; 각 광자계센서 50Hz 및 100 Oe의 교류자계가 인가되고, 등온조(isotherm tank)에 놓이며 8시간 동안 80℃로 가열 및 -2O℃로 냉각의 가열-냉각사이클의 3사이클을 거치게하여 -20℃ 내지 +80℃의 온도범위에서 변조속도의 온도 의존성을 측정한다. 이 결과는 25℃에서 출력에 대한 변화로서 다음식에 의해 표현된다.
출력은 광량/전압 변환기에 의해 전압으로써 검출된다.
장기간 사용된 자기광학소자(6)의 상태; 각 센서는 30분내 80℃로 가열과 -20℃로의 냉각의 가열-냉각 사이클을 1700사이클 반복하며, 그때 각 센서에 25℃에서 50Hz와 100 Oe의 교류자계를 인가하여 자기광학소자(6)의 변위에 기인하는 변조속도의 변화를 측정한다. 또한 센서의 패키지를 해체하여 자기광학소자(6)의 변위와 이탈을 관찰한다.
각 실험은 10개의 시험샘플에 대해 실시되며 그 평균값이 이용된다. 장기간동안 사용된 변조속도의 변화(초기값으로부터의 편차)는 다음식으로 표현된다.
초기상태는 비가열 및 비냉각 상태를 의미한다.
측정결과는 표1에 나타내었다.
* 나머지 6샘플의 평균값
본 발명의 광자계센서에 따르면, 자기광학소자와 편광자간의 공간 및 자기광학소자와 검광자간의 공간들은 각각 합성수지 접착제에 의해 충전되어, 상기 공간들에서 광량의 손실은 감소될 수 있다.
또한 자기광학소자, 편광자, 검광자는 각각 기판에 접착되어 편광자 및 검광자 뿐만 아니라 자기광학소자도 일체적으로 기판에 접착되므로, 센서의 변조속도의 온도의존성을 완화시킬 수 있으며 편광자 및 검광자로부터의 자기광학소자의 변위 및 이탈이 예방된다.
비록 본 발명의 특정한 값과 실시예를 참조로 설명되었지만, 본 발명은 그에 한정되지 않고, 다음의 특허청구의 범위에 규정되는 바의 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 많은 변화와 변형이 가능하다는 것은 물론 당업자에게 자명하다.

Claims (3)

  1. 자기광학소자, 검광자와 편광자로서, 상기 검광자와 편광자는 사아기 검광자, 상기 편광자 및 자기광학소자의 광축이 정렬되도록 상기 자기광학소자의 양쪽에 배치되고, 상기 검광자, 상기 편광자 및 상기 자기광학소자는 상기 기광학소자와 상기 검광자 사이의 공간 및 상기 자기광학소자와 상기 편광자사이의 공간에 배치된 합성수지와 함께 결합되는 검광자와 편광자, 기판으로서, 상기 검광자, 상기 편광자, 상기 자기광학소자 및 상기 기판이 일체적인 구조를 형성하도록 상기 검광자, 상기 편광자 및 상기 자기광학소자가 상기 기판의 한쪽면을 따라 배치되어 합성수지로 결합된 기판, 상기 편광자로 광을 통과시키기 위하여 상기 기판의 상부면에 위치하여 고정된 제1봉렌즈와 제1페룰과, 상기 검광자로부터 광을 수신하기 위하여 상기 기판의 상기 상부면상에 위치하여 고정된 제2봉렌즈와 제2페룰로서, 상기 기판은 상기 제1과 제2봉렌즈와 상기 제1과 제2페룰을 위치시키고 수용하기 위하여 상기 상부면을 따라 미리 정해진 패턴을 가지는 제1봉렌즈와 제1페룰 및 제2봉렌즈와 제2페룰, 상기 기판이 케이싱에 고정되도록 상기 일체적인 구조를 하우징하는 보호 케이싱을 구비하는 고장점 검출 시스템의 광자계센서.
  2. 제1항에 있어서, 상기 공간에 배치된 합성수지는 0.001-0.5mm의 두께를 갖는 광자계센서.
  3. 제1항에 있어서, 상기 미리 정해진 패턴은 상기 제1과 제2봉렌즈와 상기 제1과 제2페룰을 수용하기 위한 홈을 구비하는 광자계센서.
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