JPS5862571A - 光計測装置 - Google Patents
光計測装置Info
- Publication number
- JPS5862571A JPS5862571A JP56162253A JP16225381A JPS5862571A JP S5862571 A JPS5862571 A JP S5862571A JP 56162253 A JP56162253 A JP 56162253A JP 16225381 A JP16225381 A JP 16225381A JP S5862571 A JPS5862571 A JP S5862571A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- optical
- refractive index
- sensor section
- faraday element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/245—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using magneto-optical modulators, e.g. based on the Faraday or Cotton-Mouton effect
- G01R15/246—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using magneto-optical modulators, e.g. based on the Faraday or Cotton-Mouton effect based on the Faraday, i.e. linear magneto-optic, effect
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は光ファラデー素子を用いて電流および磁界等
を測定する光計測装置に関するものである。
を測定する光計測装置に関するものである。
従来この種の装置として第1図に示すものがあった。図
において、(1)は光源、(2)は光ファイバ、(3)
は光センサ部、(4) (4’ )はマイクロレンズ、
(5)は鉛ガラス等の光ファラデー素子、(6)は偏光
子、(7)は検光子、(8)は受光器を表わす。なお光
センサ部(3)は部品(4) (4’ )〜(7)によ
って構成さ口ている。
において、(1)は光源、(2)は光ファイバ、(3)
は光センサ部、(4) (4’ )はマイクロレンズ、
(5)は鉛ガラス等の光ファラデー素子、(6)は偏光
子、(7)は検光子、(8)は受光器を表わす。なお光
センサ部(3)は部品(4) (4’ )〜(7)によ
って構成さ口ている。
次に第1図の動作について説明する。光源(1)から出
射さnた光は光ファイバ(2)によって、光センサ部(
3)に導びかれる。光センサ部(3)では、光ファイバ
から出射された光はマイクロレンズ(4)によって平行
光線に変換され、偏光子(6)で10線偏光にされる。
射さnた光は光ファイバ(2)によって、光センサ部(
3)に導びかれる。光センサ部(3)では、光ファイバ
から出射された光はマイクロレンズ(4)によって平行
光線に変換され、偏光子(6)で10線偏光にされる。
光ファラデー素子(5)内を伝搬する直線偏光波の偏光
面は、光の進行方向と平行な外部磁界が存在する場合、
その磁界の強さに応じてファラテ一回転される。この回
転角は、検光子(7)で強度変調に友換され、マイクロ
レンズ(4’)、光ファイバ(2)を通して、受光器(
8)で光/篭気友換される。
面は、光の進行方向と平行な外部磁界が存在する場合、
その磁界の強さに応じてファラテ一回転される。この回
転角は、検光子(7)で強度変調に友換され、マイクロ
レンズ(4’)、光ファイバ(2)を通して、受光器(
8)で光/篭気友換される。
この電気出力を観測することによって、光ファラテー素
子(5)に近接した被測定磁界または電流を測定するこ
とができる。
子(5)に近接した被測定磁界または電流を測定するこ
とができる。
従来の光による電流、1a界計測装搬は以上のように構
成嘔れているので、測定感度を高めるために、鮎ガラス
等の光ファラデー素子(5)の光路長を長くすると光セ
ンサ部(3)での光の結合損失が大きくなり、逆に(強
度が低下する欠点があった。
成嘔れているので、測定感度を高めるために、鮎ガラス
等の光ファラデー素子(5)の光路長を長くすると光セ
ンサ部(3)での光の結合損失が大きくなり、逆に(強
度が低下する欠点があった。
この発明は上記のような従来のものの欠点を除去するた
めになさtまたもので、鉛ガラス等の光ファラ1−素子
内に屈折率分布をもたせることにより、光センサ部での
結合損失を小さくし、感度のよい光計測装置を提供する
ことを目的としている。
めになさtまたもので、鉛ガラス等の光ファラ1−素子
内に屈折率分布をもたせることにより、光センサ部での
結合損失を小さくし、感度のよい光計測装置を提供する
ことを目的としている。
以上、この発明の一実施例を図について説明す■
る。第2図において、(1)は光源、(2)は光ファイ
バ、(3)は光センサ部、(41(4’ )はマイクロ
レンズ、(9)は屈折牟分布梨鉛ガラス等の光ファラテ
ー素子、(6)は偏光子、(7)は検光子、(8月よ受
光器を表わす。
バ、(3)は光センサ部、(41(4’ )はマイクロ
レンズ、(9)は屈折牟分布梨鉛ガラス等の光ファラテ
ー素子、(6)は偏光子、(7)は検光子、(8月よ受
光器を表わす。
また、第8図において、01は屈折率分布型鉛ガラス等
の光フアラデー素子内を伝搬する光の軌跡を表わす。
の光フアラデー素子内を伝搬する光の軌跡を表わす。
次にこの発−〇一実施例による動作について説明する。
第2図において、光源(1)からの出射光は、光ファイ
バ(2)内に結合され、光センサ部(3)内に導びかれ
る。光センサ部では、まずマイクロレンズ(4)によっ
て平行ビームに変換され、偏光子(6)によって一方向
の電界成分のみ取シ出される。すなわち、偏光子(6)
からの出射光は直線偏光となる。磁場を加えられた光フ
ァラテー素子(9)内を光が伝搬すると、光の偏向面は
、磁場の強さに応じて一1転する。この同転角Δφは、
鉛ガラスのベエルテ定数V、光路長11磁界Hに比例し
、 Δ−= VIH(1) で表わされるので、光路長lは長い程同転角は大4・) きくなる。ところが、・光ファラデー素子として通常の
屈折率が均一な鉛ガラスを用いた場合、光路長lを長く
しすぎると、光センサ部(3)の中での損失が大きくな
シ、その結果、光センサ都の感度が通eC低下してし1
う。この先センサ部内での損失の原因は、光ファイバの
コア径が有限であるため、マイクロレンズ(4)からの
出射光が完全な平行ビームにならないことに起因してい
る。
バ(2)内に結合され、光センサ部(3)内に導びかれ
る。光センサ部では、まずマイクロレンズ(4)によっ
て平行ビームに変換され、偏光子(6)によって一方向
の電界成分のみ取シ出される。すなわち、偏光子(6)
からの出射光は直線偏光となる。磁場を加えられた光フ
ァラテー素子(9)内を光が伝搬すると、光の偏向面は
、磁場の強さに応じて一1転する。この同転角Δφは、
鉛ガラスのベエルテ定数V、光路長11磁界Hに比例し
、 Δ−= VIH(1) で表わされるので、光路長lは長い程同転角は大4・) きくなる。ところが、・光ファラデー素子として通常の
屈折率が均一な鉛ガラスを用いた場合、光路長lを長く
しすぎると、光センサ部(3)の中での損失が大きくな
シ、その結果、光センサ都の感度が通eC低下してし1
う。この先センサ部内での損失の原因は、光ファイバの
コア径が有限であるため、マイクロレンズ(4)からの
出射光が完全な平行ビームにならないことに起因してい
る。
この発明では、第2図、第8図に示さnているように、
光ファラテー素子(9)である鉛ガラス内の184 D
r 率か、鉛ガラスの中心軸で最大になり、中心軸から
辿さかるにつれて低くなるようにしである。
光ファラテー素子(9)である鉛ガラス内の184 D
r 率か、鉛ガラスの中心軸で最大になり、中心軸から
辿さかるにつれて低くなるようにしである。
峰のため、この中を伝搬する光は、第8図のようにほは
正弦波状に蛇行しながら進んで行く。その結果、マイク
ロレンズ(4′)からの出射光が完全な半行ビームでな
いことに起因する光の損失が低^へ避れ、光センサ部(
3)の感度を向上させることができる。この屈折率分布
は、はぼ2乗分作にしておけばよい。
正弦波状に蛇行しながら進んで行く。その結果、マイク
ロレンズ(4′)からの出射光が完全な半行ビームでな
いことに起因する光の損失が低^へ避れ、光センサ部(
3)の感度を向上させることができる。この屈折率分布
は、はぼ2乗分作にしておけばよい。
なお、上記実施例では光ファラテー素子として鉛カラス
を例にと多説明したが、その他の元ファラテー効果を有
する材料を用いてもよい。
を例にと多説明したが、その他の元ファラテー効果を有
する材料を用いてもよい。
nだ、上記実施例では、主にマルチモードファイバを用
いた例を示したが、第4図に示すように光ファイハトシ
て偏向面保持シングルモードファイバOpを用いること
にょ゛って、偏光子(6)、検光子(7)を光センサ部
(3)に配置せず、観測室側におくことによって、光セ
ンサの信頼性を高めることもできる。
いた例を示したが、第4図に示すように光ファイハトシ
て偏向面保持シングルモードファイバOpを用いること
にょ゛って、偏光子(6)、検光子(7)を光センサ部
(3)に配置せず、観測室側におくことによって、光セ
ンサの信頼性を高めることもできる。
以上のように、この発明によれば、光ファラデー素子に
屈折率分布をもたせることにょシ、光センサ内での損失
を低減することができ、その結果、感度を高めることが
できる。
屈折率分布をもたせることにょシ、光センサ内での損失
を低減することができ、その結果、感度を高めることが
できる。
第1図は従来の光計測装−jを示す概略図、第2図はこ
の発明の一実施例による光計測装置を軍す概略図、第8
内はとの発明に使用される屈折率分布型光フアラデー素
子内を伝搬する光の軌跡を示す図、第4図はこの発明の
他の実施例を示す光計測装置の概略図である。 図において、(1)は光源、(2月よ光ファイバ、(3
)は光センサ部、(4)はマイクロレンズ、(6)は偏
光子、(7月よ検光子、(8Jは受光器、(9)は屈折
率分布型光フアシデー素子、0υは飼同血保持シングル
モードファイバをボす。 tお、図中、同一符号は同−又は相当部分を小う。 代理人 葛 野 信 − 第114 第214 第314 y− 第1図
の発明の一実施例による光計測装置を軍す概略図、第8
内はとの発明に使用される屈折率分布型光フアラデー素
子内を伝搬する光の軌跡を示す図、第4図はこの発明の
他の実施例を示す光計測装置の概略図である。 図において、(1)は光源、(2月よ光ファイバ、(3
)は光センサ部、(4)はマイクロレンズ、(6)は偏
光子、(7月よ検光子、(8Jは受光器、(9)は屈折
率分布型光フアシデー素子、0υは飼同血保持シングル
モードファイバをボす。 tお、図中、同一符号は同−又は相当部分を小う。 代理人 葛 野 信 − 第114 第214 第314 y− 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (])光源からの光を偏光子、被計測媒体に近接して配
直さlる光ファラデー素子および検光子を介して受光器
で受けるようにした光計測装置において、−■二記光フ
ァラテー素子に屈折率分布をもたせることによシ、光源
からの光が光ファラデー素子内で発散しないようにした
光計111+1装置。 (2)光源および受光器と、−光子、検光子、光ファラ
デー素子からなる光センサ部とを、光ファイバで接続し
たことを特徴とする特ff詰*の範囲第1項記載の光計
測装置。 (,9光ファイバとして偏向量保持ファイバを使用する
ことにより、偏光子、検光子を蚊測部側に配置し、光セ
ンサ部には屈折率分布型光ファラデー系子のみをおくこ
とを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の光計j11
]装置。 (4)光ファラデー素子の屈折率分布はほぼ2乗分布に
してなる特許請求の範囲第1項乃至第8項のいずれかに
記載の光計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56162253A JPS5862571A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56162253A JPS5862571A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5862571A true JPS5862571A (ja) | 1983-04-14 |
Family
ID=15750910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56162253A Pending JPS5862571A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | 光計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5862571A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5940277A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存光フアイバ形磁界センサ |
JPS59122973A (ja) * | 1982-08-21 | 1984-07-16 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存光フアイバ形磁界センサ |
-
1981
- 1981-10-12 JP JP56162253A patent/JPS5862571A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59122973A (ja) * | 1982-08-21 | 1984-07-16 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存光フアイバ形磁界センサ |
JPS5940277A (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-05 | Hitachi Cable Ltd | 偏波面保存光フアイバ形磁界センサ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4563639A (en) | Temperature and/or electrical intensity measuring apparatus based on the Faraday effect | |
US5475489A (en) | Determination of induced change of polarization state of light | |
CA1208290A (en) | Magneto-optical converter | |
US5029273A (en) | Integrated optics Pockels cell voltage sensor | |
US4524322A (en) | Fiber optic system for measuring electric fields | |
CA2474200A1 (en) | Current measuring apparatus | |
KR0173672B1 (ko) | 전류 세기를 측정하기 위한 광 파이버 장치 | |
US11435415B2 (en) | Magnetic sensor element and magnetic sensor device | |
EP0774669A1 (en) | Optical fiber magnetic-field sensor | |
JPS5862571A (ja) | 光計測装置 | |
Yi et al. | A novel bulk-glass optical current transducer having an adjustable multiring closed-optical-path | |
JPH0322595B2 (ja) | ||
JPH01250039A (ja) | 液体屈折率測定装置 | |
JPH01292263A (ja) | 光ファイバ電流測定装置 | |
JPS5938663A (ja) | 光フアイバを用いた電流測定装置 | |
JPS5957170A (ja) | 電流測定装置 | |
JPH08327669A (ja) | 光磁界センサ | |
JPS63196865A (ja) | 光学式電流測定装置 | |
JPH02291985A (ja) | 磁界センサ | |
JP3355503B2 (ja) | 電界センサ | |
JPH05142266A (ja) | 電流測定装置 | |
JPH03506077A (ja) | リング干渉計 | |
JPH05142265A (ja) | 電流測定装置 | |
JP3355502B2 (ja) | 電界センサ | |
RU2429498C2 (ru) | Волоконно-оптическое измерительное устройство (варианты) |