KR950014976A - 반도체 장치의 제조 방법 - Google Patents

반도체 장치의 제조 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR950014976A
KR950014976A KR1019930024499A KR930024499A KR950014976A KR 950014976 A KR950014976 A KR 950014976A KR 1019930024499 A KR1019930024499 A KR 1019930024499A KR 930024499 A KR930024499 A KR 930024499A KR 950014976 A KR950014976 A KR 950014976A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
exposure mask
pattern
exposure
semiconductor device
film
Prior art date
Application number
KR1019930024499A
Other languages
English (en)
Inventor
문승찬
Original Assignee
김주용
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김주용, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김주용
Priority to KR1019930024499A priority Critical patent/KR950014976A/ko
Publication of KR950014976A publication Critical patent/KR950014976A/ko

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

본 발명은 반도체 장치의 제조 방법에 관한 것으로서, 패턴간의 스페이스가 작은 밀집된 섬상 패턴을 형성함에 있어, 기판상에 네가티브 감광막을 도포한 후, 상기 감광막을 직사각 형상의 노광영역들을 정의하는 광차단막패턴이 형성되어 있는 제1노광 마스크로 노광한 다음, 상기 제1노광 마스크의 노광영역들과 중복되지 않으며, 엇갈리게 위치하는 노광영역을 갖는 제2노광 마스크를 사용하여 이차로 중복노광한 후, 현상하여 감광막 패턴을 형성하였으므로, 하나의 노광 마스크로 형성되는 경우 보다 광간섭 효과 및 광회절 효과가 감소되어 기존의 스테퍼로도 매우 큰 공정 마진을 갖고 스페이서가 작은 밀집된 섬상 패턴을 형성할 수 있어, 소자의 설계상 유리할 뿐만 아니라 반도체 장치를 고집적화할 수 있다.

Description

반도체 장치의 제조 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래 기술에 따른 노광 마스크의 평면도,
제2도는 제1도의 노광 마스크를 통과한 광의 에너지 분포를 설명하기 위한 개략도,
제3도 (A) 및 (B)는 본 발명에 따른 제1 및 제2노광 마스크의 평면도.

Claims (2)

  1. 노광 마스크로 노광 공정을 진행하여 감광막 패턴을 형성하는 반도체 장치의 제조 방법에 있어서, 소정의 기판 상에 네가티브형 감광막을 형성하는 공정과, 상기 감광막의 패턴으로 예정된 부분중 인접하지 않은 일부만을 노광시키는 소정의 노광영역이 광차단막 패턴으로 형성되어 있는 제1노광마스크를 사용하여 상기 감광막을 선택적으로 노광하는 공정과, 상기 감광막의 패턴으로 예정된 부분중에서 상기 제1노광 마스크의 노광 영역과 중첩되지 않는 부분만을 노광시키는 노광영역이 광차단막 패턴으로 형성되어 있는 제2노광 마스크를 사용하여 노광한 후 강광막 패턴을 형성하는 공정을 구비하는 반도체 장치의 제조방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 네가티브형 감광막 대신에 실리레이션용 포지티브 감광막을 사용하고, 중복노광 공정후 선택적으로 실리레이션하여 감광막 패턴을 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930024499A 1993-11-17 1993-11-17 반도체 장치의 제조 방법 KR950014976A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930024499A KR950014976A (ko) 1993-11-17 1993-11-17 반도체 장치의 제조 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019930024499A KR950014976A (ko) 1993-11-17 1993-11-17 반도체 장치의 제조 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR950014976A true KR950014976A (ko) 1995-06-16

Family

ID=66825492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019930024499A KR950014976A (ko) 1993-11-17 1993-11-17 반도체 장치의 제조 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR950014976A (ko)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900007062A (ko) 하전입자 비임 노광법(charged particle beam exposure method)
KR940016868A (ko) 대형 다이(Die)의 광리소그래피 장치 및 그 방법
KR100190762B1 (ko) 사입사용 노광마스크
KR950025914A (ko) 반도체 소자의 미세패턴 형성방법
KR940016814A (ko) 노출방법, 그것에 사용하는 위상시프트마스크 및 그것을 사용한 반도체집적회로장치의 제조방법
JP2730861B2 (ja) エネルギー節約型フォトマスク
KR100253580B1 (ko) 스티칭 노광 공정에 사용되는 마스크
KR950021055A (ko) 하프톤형 위상반전 마스크 및 그 제조 방법
KR960005756A (ko) 반도체 소자 제조용 포토 마스크 제작 방법
JPH05243115A (ja) 半導体装置の製造方法
KR950014976A (ko) 반도체 장치의 제조 방법
KR950025852A (ko) 하프톤형 위상반전 마스크 및 그 제조 방법
KR960019486A (ko) 반도체소자의 콘택 마스크 제조방법
KR0146399B1 (ko) 반도체 패턴 형성 방법
KR200188671Y1 (ko) 노광빛난반사방지용포토마스크
JPH0812416B2 (ja) マスク
KR950012588A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR950015584A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR950015617A (ko) 반도체소자의 미세패턴 제조방법
KR950021040A (ko) 반도체 장치의 제조방법
KR970076077A (ko) 더미패턴을 사용하는 반도체소자의 제조방법
KR950014974A (ko) 반도체 장치의 제조 방법
KR100272656B1 (ko) 반도체 소자의 레티클 구조
KR0124967Y1 (ko) 반도체 장치의 미세패턴
KR100277933B1 (ko) 위상반전마스크제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application