KR950001900A - 비정질 실리콘 및 다결정 실리콘을 이용한 새로운 전극구조의 형성방법 - Google Patents
비정질 실리콘 및 다결정 실리콘을 이용한 새로운 전극구조의 형성방법 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 MOSEET 장치의 게이트전극을 형성하는 방법에 있어서 추가공정없이 동일 노안에서 연속적으로 비정질 실리콘막과 다결정 실리콘막을 증착하여 다양한 다층구조를 갖는 p+형 게이트 전극구조를 이용함으로써 그후 열처리시 B등이 확산에 의해 소자의 채널영역으로 침투하여 소자의 열화가 일어남을 방지하게 된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 다양한 구성을 갖춘 게이트 전극에 있어서 이온주입후 열처리에 따른 전극의 면저항율값의 변화를 도시하고 있다.
Claims (5)
- 반도체기판상에 게이트전극을 형성하는 방법에 있어서, 상기 반도체기판상에 게이트 산화막을 형성하는 단계, 상기 게이트 산화막위에 다결정 실리콘막을 형성하는 단계, 상기 다결정 실리콘막위에 비정질 실리콘막을 형성하는 단계, 및 상기 비정질 실리콘막위에 p형 불순물을 도핑한 후 열처리하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 p+형 게이트전극의 형성방법.
- 반도체기판상에 게이트전극을 형성하는 방법에 있어서, 상기 반도체기판상에 게이트 산화막을 형성하는 단계, 상기 게이트 산화막위에 비정질 실리콘막을 형성하는 단계, 상기 비정질 실리콘막위에 다결정 실리콘막을 형성하는 단계, 및 상기 다결정 실리콘막위에 p형 불순물을 도핑한 후 열처리하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 pt형 게이트전극의 형성방법.
- 반도체기판상에 게이트 전극을 형성하는 방법에 있어서, 상기 반도체기판상에 게이트 산화막을 형성하는 단계, 상기 게이트 산화막위에 제1 다결정 실리콘막을 형성하는 단계, 상기 제1 다결정 실리콘막위에 제2 다결정 실리콘막을 형성하는 단계, 및 상기 제 2다결정 실리콘막위에 p형 불순물을 도핑한 후 열처리하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 게이트전극의 형성방법.
- 제1항 내지 제3항에 있어서, 상기 비정질 실리콘막, 상기 다결정 실리콘, 및 상기 제1 및 제2 다결정 실리콘을 LPCVD방법으로 조작온도 550℃ 내지 650℃의 범위와 압력 200 내지 400m Torr의 영역에서 각각 증착하며 그 두께를 각각 2000Å 정도로 형성하는 것을 특징으로 하는 p+형 게이트전극의 형성방법.
- 반도체기판상에 게이트전극을 형성하는 방법에 있어서, 상기 반도체기판상에 게이트 산화막을 형성하는 단계, 상기 게이트 산화막위에 제 1 비정질 실리콘막을 형성하는 단계, 상기 제 1 비정질 실리콘막위에 다결정 실리콘막을 형성하는 단계, 상기 다결정 실리콘막위에 제 2 비정질 실리콘막을 형성하는 단계, 및 상기 제 2 비정질 실리콘막위에 p형 불순물을 도핑한 후 열처리하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 p+형 게이트전극의 형성방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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KR960015568B1 KR960015568B1 (ko) | 1996-11-18 |
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KR (1) | KR960015568B1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990054925A (ko) * | 1997-12-26 | 1999-07-15 | 김영환 | 모스형 전계효과 트랜지스터의 게이트전극 형성방법 |
KR100388463B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2003-06-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀얼 폴리실리콘 게이트 구조를 가지는 반도체 소자제조방법 |
KR100443794B1 (ko) * | 2001-12-26 | 2004-08-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 게이트 형성 방법 |
KR100448591B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 트랜지스터 제조 방법 |
-
1993
- 1993-06-19 KR KR1019930011255A patent/KR960015568B1/ko not_active IP Right Cessation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR19990054925A (ko) * | 1997-12-26 | 1999-07-15 | 김영환 | 모스형 전계효과 트랜지스터의 게이트전극 형성방법 |
KR100388463B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2003-06-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 듀얼 폴리실리콘 게이트 구조를 가지는 반도체 소자제조방법 |
KR100448591B1 (ko) * | 2001-12-22 | 2004-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 소자의 트랜지스터 제조 방법 |
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