KR920015539A - 싱글 폴리 이이피롬 셀 및 그 제조방법 - Google Patents

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최정혁
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    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
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Abstract

내용 없음

Description

싱글 폴리 이이피롬 셀 및 그 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제7도는 본 발명에 따른 제조공정도.

Claims (12)

  1. 두개의 선택 트랜지스터와, 하나의 센스 트랜지스터를 구비하는 싱글 폴리 이이피롬 셀에 있어서, 제1도전형의 반도체 기판(80)에 형성된 제2도전형의 제1도우핑영역(68)과, 상기 도우핑 영역(68)상면에 형성된 제1터널링 절연막(102)과, 상기 제1터널링 절연막(102)의 상면을 덮고 상기 기판(80)의 상부에서 신장된 도전층(76)으로 구성된 제1캐패시터(28)와, 상기 기판(80)에서 상기 제1도우핑 영역(68)과는 소정거리 이격되어 형성된 제2도전형의 제2도우핑 영역(70)과, 상기 도전층(76)과, 상기 도전층(76) 및 제2도우핑 영역(70)사이에 개재되고 산화막-질화막-산화막으로 이루어진 제2터널링 절연막(94)으로 구성된 제2캐패시터(30)를 구비함을 특징으로 하는 싱글 폴리 이피롬 셀.
  2. 제1항에 있어서, 상기 도전층(76)이 상기 센스 트랜지스터의 게이트에 접촉됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  3. 제2항에 있어서, 상기 제1캐패시터(28)를 이루는 도전층(72)이 상기 제1터널링 절연막(102)의 영역내에 형성됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제2터널링 절연막(94)이 상기 제2도우핑영역(70)과 상기 도전층(76)이 겹쳐지는 영역내에 형성됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  5. 제1항에 있어서, 상기 도전층이 다결정 실리콘임을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  6. 제1항에 있어서, 상기 도전층이 실리사이드층으로 형성될수 있음을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  7. 제1항에 있어서, 상기 제1터널링 절연막(102)이 산화막임을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀.
  8. 서로 이웃하여 세로방향으로 신장된 제1및 제2엑티브 라인(62,64)과, 상기 제1및 제2엑티브 라인(62,64)상부에 걸쳐 가로방향으로 신장된 워드라인(66)을 구비하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법에 있어서, 상기 제1엑티브 라인(62)과 제2엑티브 라인(64)사이에 해당하는 영역에 필드산화막(84)이 형성된 제1도전형의 반도체기판(80)상면에 제1절연막(86)과 제2절연막(88)을 적층하여 형성한 후 패턴을 형성하여 제2엑티브 라인에 해당하는 소정의 영역내에 상기 제1 및 제2절연막 (86,88)를 잔류시키는 제1공정과, 상기 제2절연막(88)상에서 포화될 때까지 상기 기판(80) 상면에 제3절연막(92)을 형성한 후 상기 기판(80)에 전면에 제2도전형의 불순물을 이온주입하여 상기 제1및 제2절연막(86,88)하부에 제2도우핑 영역(70)을 형성하는 제2공정과, 상기 제3절연막(92)을 제거한 후 상기 기판(80)상면에 제4절연막(93)을 형성하여 제1절연막-제2절연막-제4절연막으로 이루어지는 제2터널링 절연막(94)을 완성함과 동시에 게이트 절연막을 형성하는 제3공정과, 제1터널링 절연막이 형성될 영역의 상기 제4절연막(93)을 상기 기판(80)의 표면이 노출될 때까지 식각한후, 상기 노출된 기판 하면에 제2도전형의 불순물을 이온 주입하여 제1도우핑 영역(68)을 형성하는 제4공정과, 상기 노출된 기판 상면에 제5절연막(102)과 도전층(76)을 순차적으로 형성한후 상기 도전층의 패턴을 형성하여 제1및 제2선택 트랜지스터 및 센스 트랜지스터의 게이트와 제1및 제2캐패시터를 위한 하향돌출부(72) 및 상향돌출부(74)를 형성하는 제5공정을 구비함을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제2공정의 이온 주입 공정이 이온 주입 영역과 비이온 주입 영역 상면의 절연막의 두께 차이를 이용하여, 이온 주입 영역상의 절연막의 두께만을 투과할수 있을 정도의 에너지로 상기 기판(80)전면에 실시됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 제1및 제3및 제4절연막(86,92,93)이 실리콘 산화막이고, 제2절연막(88)이 실리콘 질화막임을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 제1절연막(86)이 열산화 공정 또는 화학기상 증착법에 의해 형성됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법.
  12. 제10항에 있어서, 상기 제2절연막(88)이 화학기상 증착법에 의해 형성됨을 특징으로 하는 싱글 폴리 이이피롬 셀의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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