KR940703994A - 벤딩기계용 굽힘각도 검출기(Bending Angle Detector for Bending Machine) - Google Patents

벤딩기계용 굽힘각도 검출기(Bending Angle Detector for Bending Machine)

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KR940703994A
KR940703994A KR1019940702369A KR19940702369A KR940703994A KR 940703994 A KR940703994 A KR 940703994A KR 1019940702369 A KR1019940702369 A KR 1019940702369A KR 19940702369 A KR19940702369 A KR 19940702369A KR 940703994 A KR940703994 A KR 940703994A
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Abstract

상이한 재료가 벤딩기계에 의해 굽힘가공되는 경우에도, 소재의 굽힘 각도를 고정밀도로 검출할 수 있는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기, 이 검출기는, 입체격자의 각각의 축선이 기준축선으로서 설정되는 공간좌표계와 촬상수단의 화상평면을 나타내는 평면좌표계와의 사이의 변환을 위해 사용되는 좌표변환매개변수가 공간에서 형성된 가상압체격자의 각각의 점의 화상으로부터 얻어지고, 공간 좌표계에서 벤트소재의 외부표면상에 비춰진 각각의 스폿광을 나타내는 선형방정식이 얻어지며, 3개의 프로젝터에 의해 3개의 스폿광을 비춤으로써 벤트소재의 외부표면상에 형성되는 3개의 명점의 공간좌표는 좌표변환매개변수와 각각의 스폿광에 대한 선형방정식으로부터 얻어지는 방식으로 굽힘각도를 검출한다. 3개의 스폿광은 2개의 슬릿광으로 대체될 수 있다.

Description

벤딩기계용 굽힘각도 검출기 ( Bendig Angle Detector for Bending Machine)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2 도는 프레스, 브레이크, 내의 측정 유니트의 배열을 나타내는 예시도, 제 3 도는 추후 설명될 화상처리 방법에 관한 블록도, 제 4 도는 후추 설명될 화상처리수행시의 캘리브레이션을 위한 측정 방법에 관한 예시도, 제 5 도는 추후 설명될, 화상처리 수행시 공간좌표계에서 명점의 좌표를 측정하는 개념에 관한 예시도, 제 6 도는 굽힘각도 검출과정의 플로우 챠트.

Claims (6)

  1. 쉬트 형상소재가 상부 벤더 및 하부벤더에 의해 특정각도로 굽힘 가공되는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기에 있어서, (a) 피사체 상에 스폿광을 비추고, 이에 따라 그 표면상에 명점을 형성시키는 프로젝터 수단과, (b)이 프로젝터 수단에 의해 명점이 형성된 표면상에서 피사체를 촬상하는 촬상수단과, (c) 피사체의 표면상의 격자패턴에 다수의 기준위치를 배열시킴으로써 형성되는 격자패턴을 특정피치로 이동시킴으로써 공간에 가상입체격자를 형성시키고, 이 입체 격자의 각각의 점을 촬상함으로써 얻어지는 복수의 화상으로부터, 압체격자의 각각의 축선이 기준축선으로서 설정되는 공간좌표계와 촬상수단의 화상평면을 나타내는 평면좌표계와의 사이의 변환을 위해 사용되는, 좌표변환매개변수를 계산하는 좌표변환매개변수계산수단과, (d) 공간좌표계에서, 입체격자의 격자패턴내에 형성된 적어도 2개의 명점의 위치로부터 프로젝터 수단에 의해 비춰진 각각의 스폿광을 나타내는 선형방정식을 계산하는 선형방정식계산수단과, (e) 외부표면상에 프로젝터수단에 의해 적어도 3개의 스폿광을 비춤으로서 적어도 3개의 명점이 형성되는 벤트소재를 촬상하며, 좌표변환매개 변수계산수단 및 선형방정식 계산수단에 의해 평면좌표계내의 각각의 촬상된 명점의 좌표값을 공간좌표계의 좌표값으로 변환시키는 좌표값변환수단 및, (f) 좌표값변환수단에 의해 공간좌표계로 변환된 3개의 명점의 좌표값으로부터 3개의 명점을 나타내는 평면방정식을 계산하며, 이에 따라 소재 굽힘가공각도를 얻어내는 굽힘각도계산수단로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
  2. 쉬트 형상소재가 상부 벤더 및 하부벤더에 의해 특정각도로 굽힘 가공되는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기에 있어서, (a) 피사체 상에 스폿광을 비추고, 이에따라 그 표면상에 명점을 형성시키는 프로젝터 수단과, (b)이 프로젝터 수단에 의해 명선이 형성된 표면상에서 피사체를 촬상하는 촬상수단과, (c) 피사체의 표면상의 격자패턴에 다수의 기준위치를 배열시킴으로써 형성되는 격자패턴을 특정피치로 이동시킴으로써 공간에 가상입체 격자를 형성시키고, 이 입체 격자의 각각의 점을 촬상함으로써 얻어지는 복수의 화상으로부터, 입체격자의 각각의 축선이 기준축선으로서 설정되는 공간좌표계와 촬상수단의 화상평면을 나타내는 평면좌표계와의 사이의 변환을 위해 사용되는, 좌표변환개변수를 계산하는 좌표변환매개변수계산수단과, (d) 공간좌표계에서, 입체격자의 격자패턴내에 형성된 적어도 2개의 명선의 위치로부터 프로젝터 수단에 의해 비춰진 각각의 슬릿광을 나타내는 평면방정식을 계산하는 평면방정식 계산수단과, (e) 외부표면상에 프로젝터 수단에 의해 적어도 2개의 슬릿광을 비춤으로써 적어도 2개의 명선이 형성되는 벤크소재를 촬상하며, 좌표변환매개 변수계산수단 및 평면방정식 계산수단에 의해 평면좌표계내의 각각의 촬상된 명선을 나타내는 공간좌표계의 선형방정식으로 변화시키는 좌표값 변환수단 및, (f) 좌표값 변환수단에 의해 공간 좌표계로 변환된 2개의 명선의 선형방정식으로부터 2개의 명선을 나타내는 평면방정식을 계산하며, 이에 따라 소재굽힘가공각도를 얻어내는 굽힘각도 계산수단으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 프로젝터 수단 및 촬상수단은 각각 소재의 벤드라인과 평행하게 이동하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
  4. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 프로젝터 수단 및 촬상수단 양자 모두 벤트소재의 2개의 외부표면의 각각에 대하여 구비되는 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
  5. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 프로젝터 수단은 투사각이 조정 가능한 단일의 프로젝터인 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
  6. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 프로젝터 수단은 벤트소재의 외부표면상에 비춰지는 라이트 비임의 개수에 상응하는 개수의 복수의 프로젝터인 것을 특징으로 하는 벤딩기계용 굽힘각도 검출기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940702369A 1992-11-10 1993-10-25 벤딩기계용 굽힘각도 검출기 KR100258327B1 (ko)

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