JPS63314403A - 平面の傾斜・距離検出装置 - Google Patents

平面の傾斜・距離検出装置

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JPS63314403A
JPS63314403A JP15044687A JP15044687A JPS63314403A JP S63314403 A JPS63314403 A JP S63314403A JP 15044687 A JP15044687 A JP 15044687A JP 15044687 A JP15044687 A JP 15044687A JP S63314403 A JPS63314403 A JP S63314403A
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JP
Japan
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light
inclination
measured
distance
laser beam
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JP15044687A
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Toru Suzuki
徹 鈴木
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 、本発明は、物体平面の3次元的な傾きを検出する平面
の傾斜・距離検出装置において、特に投光手段及び投光
装置に関する。
(従来の技術) 物体平面の距離や傾斜を検出する技術は、たとえば特開
昭59−203906号や特開昭60−67807号に
開示されている槌にレーザ等の光ビームを物体平面に照
射し、その反射光を撮像装置で受光する、非接触型の装
置が知られている。
この従来例を第8図、第9図に示す。
第8図に、物体平面までの距離を測定する方法の概略構
造図を示す。レーザ光は光源41より射出され、照射レ
ンズ42を通過して照射光軸43上を進み、被測定物体
44の表面上の点Xを照射する。X点からの反射光は照
射光軸と角度rをなす軸線45上に配されたレンズ46
により集光され、受光器47により検出される。距離測
定の原理は、被測定物体44と変位計48との距離がX
′〜X″間に変化する際、受光器47の受光面に入射す
る反射光の位置が変化するので、この変化を電気信号と
して検出することによっている。
第9図は、物体平面の傾きを知る方法を示す斜視図であ
り、50a、50bはスリット状の光像を放射する光源
、51は撮像装置、52は基台、53a、53bは光源
50a、50bから射出されたスリット状の結像された
光像、54は被測定物体である。
また、55は撮像装置51からの画像信号を2値化する
2値化回路、56は2値化回路55により出力されたス
リット状光源53a、53bの位置情報から被側定物体
54の平面の傾きを判断処理する判断処理部である。
上記、第8図、第9図の構成による装置にて、平面の距
離や傾きが検出されていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかるに、従来の平面の傾斜・距離検出装置では、被測
定物体からの反射光を受光する撮像装置の受光面の大き
さによる制約や、被測定物体の上下移動による投光源と
被測定物体との距離変化に伴う照射点の移動、スリット
状光像の移動で距離、・傾きの測定誤差が大きくなりす
ぎるという問題が生じていた。
(問題点を解決するための手段及び作用)本発明は、か
かる従来の問題点に鑑みなされたものであり、被測定物
体面に対して、投光手段が正対してなり、該被測定物体
面に対して撮像装置が斜めに配されている平面の傾斜・
距離検出装置にある。
さらに、前記投光手段が、少なくとも3個以上からなる
場合、被測定物体面に照射される光ビーム点3点により
平面の傾き及び距離を同時に測定し、又、前記投光手段
が、少なくとも1個以上からなる場合では、該投光手段
より射出される光ビームの経路内に、該光ビームを平行
に変移させる光学部品を配してなる平面の傾斜・距離検
出装置を提供することにある。
[実施例] 以下、図面、に基づいて本発明に係る実施例を詳説する
(実施例1) 本発明に係る第1の実施例を示す概略構成図を第1図に
示ず。図において、■はレーザ用電源、2はレーザ用電
源工のスイッチング回路、3a。
3b、3cはレーザ投光源、4a、4b、4cは各レー
ザ投光源より発せられた光ビーム、5は被測定物体、6
は集光レンズ、7はテレビカメラ等の撮像装置、8は撮
像素子、9は画像メモリ、10は処理回路、11は表示
装置である。先ず、本発明の動作について説明する。
レーザ用電源lによりレーザ発振出力が開始されると、
スイッチング回路2において、被測定物体5上に正対し
てなる3個のレーザ投光源3a、3b、3cに時間的遅
延をなして光ビーム4 a %4b、4cが発せられ被
測定物体5上の点P7、P2、P3、に照射される。光
ビーム4a、4b、4Cは弓、P2.23点で散乱され
、散乱光として集光レンズ6を介して撮像装置7にとり
こまれる。該散乱光は撮像素子8にて電気信号に変換さ
れ、画像メモリ9に送出される。ここで、3個のレーザ
投光源3a、3b、3cで発せられた光ビーム4a、4
b、4Cの散乱光による撮像素子8からの検出信号を画
像メモリ9に取り込む際には、レーザ投光源3a、3b
、3cに動作指令を出すスイッチング回路2にてレーザ
投光源3aの動作指令と同時にWJ像メモリ9に撮像素
子8からの検出信号を受信する動作指令を出す作用もな
している。また、レーザ投光源3b、3cについても同
様の作用をなす。画像メモリ9からの画像情報は処理回
路IOにて処理され、表示装置11にて距離と傾きを表
示する。
次に、距離、傾きを求める演算手段について説明する。
第2図に示す如く、レーザ投光源3aから発せられた光
ビーム4aは、被測定物体が5の位置に配されている場
合、該光ビームの散乱光は集光レンズ6を介して撮像素
子8上の点Q1に結像される。
また、被測定物体5が5′の位置に配された場合、光ビ
ーム4aは点線の経路にて撮像素子8上の点Q2に結像
される。撮像素子8上に結像された2点Q、とQ2との
位置差Xは、光ビーム4aの照射距離l、aの変化(L
a−La)に相関してなることから一1予じめ(La−
La)なる変化による撮像素子8の点Q7、Q2の変化
分を設定することでレーザ投光源3aと被測定物体5と
の距離を求める。レーザ投光源3b、3cについても同
様である。
被測定物体5の傾きについては、レーザ投光源3a、3
b、3cと被測定物体5との距離L a 。
Lb、Lcを測定する。ここで、レーザ投光源3a、3
b、3Cの配置されている位置を基準点となし、該レー
ザ投光源3a、3b、3Cの基準点で形成される面を基
準平面とすれば、L a = L b”=Lcなる被測
定物体5は傾きを有してない。他方1.a#Lb (≠
Lc)においては、傾きを有するので、被測定物体5面
上の点P5、R2,4から形成される平面は、前記基準
面に対して、点P0、R2、弓間の距離差により傾きを
算出する。
以上の演算手段は、第1図の処理回路10にて実施する
(実施例2) 本発明に係る第2の実施例を示す断面構成図を第4図に
示す。
なお、第1図と重複する装置については番号を同一とし
、また動作や作用については説明を省いた。
第4図において、20はパルスカウンタ、21はロータ
リーエンコーダ、22はモータ、23.24はギア、2
5はケース、26はガラス板、27はコリメートレンズ
、28は集光レンズ、29は光ビーム、30は照射光軸
である。
先ず動作について説明する。
モータ22よりロータリーエンコーダ21を介してギア
23が作動し、ギア23の回転によりギア24が連動す
る。ギア24には連動するケース25が固結されている
。該ケース25内には光ビームの照射光軸30に対して
αなる角度を有するガラス板26が配設され、ギア24
に連動するケース25の回転により、ガラス板26も回
転するように配されている。又、ケース25は光ビーム
の透過に際して光ビームを遮断しない構造になっている
。ロータリーエンコーダ21からの回転パルス信号はパ
ルスカウンタ20に送出され、回転角に対応するパルス
信号がパルスカウンタ20内に入力される。パルスカウ
ンタ20から、レーザ電源1及び画像メモリ9に信号を
送出し、該信号に基づいてレーザ電源1はレーザ投光源
3にレーザ発振指令を出す。又該信号に基づき画像メモ
リ9では撮像装置7からの信号をとりこむ。
第6図にパルスカウンタ20によるレーザ発振法及び画
像メモリの動作手順を示す。
ロータリエンコーダ21では、時間TaからTb間に3
60°の各回転角に対応するパルスが出力され、該出力
に基づいてパルスカウンタ20は任意の角度に対応する
時間Tb1、T b2、T b3の3回出力パルス信号
を出す。
パルスカウンタ20からの出力パルス信号T bf。
Tb2、Tb3に同期するようにレーザ電源1はレーザ
発振出力パルスTel、T c、z、T CJをレーザ
投光源3に送信し、第5図に示す如く、ガラスFj、2
6が照射光軸30を中心に一回転すると、第7図の如く
ガラス板26の屈折率により、照射光軸30より変移し
てなる光ビーム29は被測定物体5面上で軌線R上の任
意の点R1、R2、R3にて照射する作用を起動する。
一方、該軌線R上のR1、R2,、R3の3点からの反
射光を画像メモリ9にとり込むには、パルスカウンタ2
0のTblなる時間Tdjて揺像装置7からの信号のと
りこみを開始し、レーザ照射のための発信が終了する時
間Tbに同」する時間T a2で信号入力を終了する。
以上が、ガラス板26が1回転するときの動作手順であ
るが、この手順は2回転目、3回転目、・・・・と順次
繰り返し、実施例1で詳述した概念により平面の距離、
傾きを同定する。
本実施例では、光ビーム29を屈折し照射光軸30より
変移させる方法としてガラス板の例について述べたが、
ガラス以外の屈折率を有する光学部品であれば良く、又
使用する光学部品の屈折率の度合により第4図に示すα
なる角度を有する必要のないことはもちろんである。
さらに、本発明ではレーザを投光として主に述べてきた
が、レーザ以外の光ビームを発するものであれば何れで
も良く、本発明に十分適用できることは論をまたない。
(発明の効果) 本発明によれば、投光源と被測定物体とを正対させて被
測定物体平面上に複数の照射スポット点を形成すること
ができるため、被測定物体平面の距離を誤差なく測定で
き、かつ正確な平面傾斜角を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第7図は本発明に係る説明図、第8図第9図は
従来例を示す構成図である。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光ビームを形成する投光手段およびこれら光ビー
    ムの照射スポットを写す撮像装置で構成される平面の傾
    斜・距離検出装置において、前記投光手段が被測定体面
    上に複数の照射スポットを有し、かつ該投光手段と被測
    定体面上とが正対してなり、前記撮像装置が該被測定体
    面と斜角なる方位に配置してなることを特徴とする平面
    の傾斜・距離検出装置。
  2. (2)前記投光手段において、少なくとも3個以上の投
    光源からなることを特徴とする特許請求範囲第1項記載
    の平面の傾斜・距離検出装置。
  3. (3)前記投光手段において、少なくとも1個の投光源
    からなり、光ビームの照射経路内に該光ビームを平行に
    変移させる光学部品を配置したことを特徴とする特許請
    求範囲第1項記載の平面の傾斜・距離検出装置。
JP15044687A 1987-06-18 1987-06-18 平面の傾斜・距離検出装置 Pending JPS63314403A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5181079A (en) * 1988-08-16 1993-01-19 Dietmar Klinger Optoelectronic measurement arrangement
US5461479A (en) * 1992-09-30 1995-10-24 Comau S.P.A. Method for controlling the laying of a silicone string, particularly between the crankcase and the sump of an internal combustion engine
US5488470A (en) * 1992-11-10 1996-01-30 Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho Bending angle detector for use in a bending machine
JP2006003184A (ja) * 2004-06-17 2006-01-05 Niigata Prefecture 面法線計測方法及びその装置
JP2007198841A (ja) * 2006-01-25 2007-08-09 Soatec Inc 光学式測定方法及び光学式測定装置
US7800643B2 (en) 2005-06-28 2010-09-21 Fujitsu Limited Image obtaining apparatus
JP2013174596A (ja) * 2013-03-25 2013-09-05 Toshiba Corp 距離検出装置

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