JP6178138B2 - 3次元形状計測装置 - Google Patents
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前記対象物に複数のスリット光セグメントを入射させることで前記スリット光が形成されるようにする入射系と、
前記軸を挟んで前記搬送の方向の上流側および下流側に配置され、前記形成されたスリット光の反射光をそれぞれ受光して前記カメラ部に導く出射系と、
を備え、
前記入射系は、スリット光を出射する単一の光源部(20)と、当該出射されるスリット光の長手方向の中央部に相当するスリット光セグメントを直接的に前記対象物に入射させるとともに、前記出射されるスリット光の長手方向の端部に相当するスリット光セグメントを反射させて前記対象物に入射させることで前記スリット光が前記対象物上に形成されるようにする光学部(21)と、を有し、
前記出射系は、前記入射系の前記光学部によって前記対象物に照射されたスリット光の反射光を、前記上流側および下流側で受容して前記カメラ部に向かうように反射する第2光学部(22)を有し、
前記光学部および前記第2光学部は、
前記光源部および前記対象物に対向する上面および下面と、前記光源部が出射するスリット光の長手方向に交差して対向する2側面と、前記照射されたスリット光の反射光が前記カメラ部に向かうようにするために傾いた状態で対向する他の2側面と、を含む一体のプリズムによって構成されており、
前記端部に対応するスリット光セグメントは、前記2側面に配置されたミラーまたは前記2側面とそれぞれの雰囲気とが形成する界面によって反射されて前記対象物に入射し、
前記対象物上に形成されたスリット光の反射光は前記他の2側面に配置されたミラーまたは前記他の2側面とそれぞれの雰囲気とが形成する界面によって前記カメラ部に向かうように反射される、
ことを特徴とする。
図1は、本発明の一実施形態に係る3次元形状計測装置の全体構成を示す模式的な側面図である。本実施形態の3次元形状計測装置は、概して、3次元形状計測の対象となる錠剤の形態の対象物Tを搬送する搬送部1と、対象物Tの表面形状を計測する3次元形状計測部2と、で構成される。
図2(a)および(b)は、入射系の構成のうち、光源部20の構成の2例を示す模式図である。光源部20は、光を発する光源S0と、その光のビーム形状を変換してスリット光の形状とするレンズ系L0と、で構成される。例えば、レンズ系L0は、搬送方向Cに対して交差する方向、例えば直交する方向(Y軸の方向)が長手方向となるスリット光を、同図(a)に示すようにシングルライン、または、同図(b)に示すように互いに平行なマルチラインなどの形態に変換することができる。なお、本実施形態では、搬送方向Cに対して直交する方向(Y軸の方向)が長手方向となるように対象物T上に形成されるスリット光としてシングルラインのスリット光を用いる例を説明するが、マルチラインのスリット光を用いて対象物Tの表面に現れるスリット光の反射光を複数本とすることで、対象物の3次元形状をさらに高精度に計測するようにすることもできる。
図4〜図8を用いて本実施形態の出射系およびその構成要素を説明する。
図8は、図1の構成のうち、カメラ部26および画像処理部27の構成例を示す模式図である。カメラ部26は、撮像面を有するカメラC6と、フォーカス,アイリス,倍率などを調節する機能を有するレンズ系L6と、を含む。スリット光の反射光が第5光学部25を介してカメラ部26に導かれて撮像されることで、搬送方向Cの上流側および下流側におけるスリット光の反射光のそれぞれの画像が取得される。そして、その画像は画像処理部27により画像処理され、搬送方向Cの上流側および下流側で得た対象物Tの3次元形状データが算出される。
以上の構成を有する本実施形態の効果を説明する。
なお、本発明は、上述した実施形態ないしはその変形例に限られることなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の構成を採用することができる。
2 3次元形状計測部
20 光源部
21、22、23、24、25 第1、第2、第3、第4、第5光学部
26 カメラ部
27 画像処理部
C 対象物搬送方向
M1A、M1B、M2A、M2B、M4A〜M4D ミラー
P1、P3A、P3B、P4、P4A、P4B、P5A、P5B、P12 プリズム
T 対象物
Claims (2)
- 相対的に搬送される対象物に対し、前記搬送の方向と交差する方向に長手方向の軸を有するスリット光を照射し、その反射光をカメラ部で撮像して取得した画像に基づいて前記対象物の表面形状を計測する3次元形状計測装置において、
前記対象物に複数のスリット光セグメントを入射させることで前記スリット光が形成されるようにする入射系と、
前記軸を挟んで前記搬送の方向の上流側および下流側に配置され、前記形成されたスリット光の反射光をそれぞれ受光して前記カメラ部に導く出射系と、
を備え、
前記入射系は、スリット光を出射する単一の光源部(20)と、当該出射されるスリット光の長手方向の中央部に相当するスリット光セグメントを直接的に前記対象物に入射させるとともに、前記出射されるスリット光の長手方向の端部に相当するスリット光セグメントを反射させて前記対象物に入射させることで前記スリット光が前記対象物上に形成されるようにする光学部(21)と、を有し、
前記出射系は、前記入射系の前記光学部によって前記対象物に照射されたスリット光の反射光を、前記上流側および下流側で受容して前記カメラ部に向かうように反射する第2光学部(22)を有し、
前記光学部および前記第2光学部は、
前記光源部および前記対象物に対向する上面および下面と、前記光源部が出射するスリット光の長手方向に交差して対向する2側面と、前記照射されたスリット光の反射光が前記カメラ部に向かうようにするために傾いた状態で対向する他の2側面と、を含む一体のプリズムによって構成されており、
前記端部に対応するスリット光セグメントは、前記2側面に配置されたミラーまたは前記2側面とそれぞれの雰囲気とが形成する界面によって反射されて前記対象物に入射し、
前記対象物上に形成されたスリット光の反射光は前記他の2側面に配置されたミラーまたは前記他の2側面とそれぞれの雰囲気とが形成する界面によって前記カメラ部に向かうように反射される、
ことを特徴とする3次元形状計測装置。 - 前記出射系は、前記カメラ部に対する光軸上に、前記画像の縦方向の解像度と横方向の解像度とが異なるようにする解像度変更部を有することを特徴とする請求項1に記載の3次元形状計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013143785A JP6178138B2 (ja) | 2013-07-09 | 2013-07-09 | 3次元形状計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013143785A JP6178138B2 (ja) | 2013-07-09 | 2013-07-09 | 3次元形状計測装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015017837A JP2015017837A (ja) | 2015-01-29 |
JP6178138B2 true JP6178138B2 (ja) | 2017-08-09 |
Family
ID=52438975
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013143785A Active JP6178138B2 (ja) | 2013-07-09 | 2013-07-09 | 3次元形状計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6178138B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017146174A (ja) * | 2016-02-17 | 2017-08-24 | 株式会社ナベル | 卵の表面検査装置 |
JP2019035725A (ja) * | 2017-08-22 | 2019-03-07 | 第一実業ビスウィル株式会社 | 外観検査装置 |
JP7332414B2 (ja) * | 2019-09-30 | 2023-08-23 | 池上通信機株式会社 | 小型物品の面計測装置 |
JP7348875B2 (ja) | 2020-04-09 | 2023-09-21 | 鹿島建設株式会社 | 墨出し方法及び墨出しシステム |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6098340A (ja) * | 1983-11-04 | 1985-06-01 | Sapporo Breweries Ltd | 壜検査装置 |
JPH07260444A (ja) * | 1994-03-24 | 1995-10-13 | Nippon Avionics Co Ltd | 光切断法による対象物の三次元計測方法およびその装置 |
US6046812A (en) * | 1997-05-29 | 2000-04-04 | Korea Atomic Energy Research Institute | Shape-measuring laser apparatus using anisotropic magnification optics |
JP2003207458A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-07-25 | Toshiba Corp | 撮影装置 |
US7098936B2 (en) * | 2003-03-11 | 2006-08-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Image display system and method including optical scaling |
JP5017628B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2012-09-05 | 株式会社ユタカ | 側面検査装置 |
JP5563372B2 (ja) * | 2010-05-20 | 2014-07-30 | 第一実業ビスウィル株式会社 | 外観検査装置 |
-
2013
- 2013-07-09 JP JP2013143785A patent/JP6178138B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015017837A (ja) | 2015-01-29 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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