JP2014035241A - 3次元形状計測装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】スリット光を集光して対象物Kに照射するシリンドリカルレンズ23と、スリット光の長手方向軸を挟んで配置され、照射されたスリット光の反射光をそれぞれ受光して導く2つの光学部24,25と、対象物Kから2つの光学部24,25を介してそれぞれ導かれる2つの反射光の光路長が等しくなる位置に配置され、これら2つの反射光を正確に重畳させるハーフミラー26と、を備え、当該重畳した反射光をカメラ部28で撮像して画像を取得する。
【選択図】図1
Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る3次元形状計測装置の全体構成を示す模式図である。本実施形態の3次元形状計測装置は、概して、3次元形状計測の対象となる対象物Kを搬送する搬送部1と、対象物Kの表面形状を計測する表面形状計測部2とで構成される。
W(f)≒f・θ (1)
式(1)において、fはレンズの焦点距離、θはビーム拡がり角(全角)である。式(1)によれば、ビーム拡がり角θが一定の場合には、レンズの焦点距離fが短ければ短いほど焦点でのスポット径が小さくなる、と言い得る。
上記第1の実施形態においては、光源部21は対象物の搬送方向に対して交差する方向、例えば直交する方向に長手方向軸を有するスリット光をシングルラインの形態にて出射するものとした。これに対し、第2の実施形態においては、上記第1の実施形態と同様の全体的な構成を採用する一方で、スリット光を平行なマルチライン(例えば図3(b)に示すように3ライン)の形態にて出射する光源部21を用いる。このように光源部21が2視点を結ぶ方向(スリット光の長手方向が搬送方向に直交する場合には搬送方向)に対して長手方向軸が直交するマルチラインのスリット光を出射することによって対象物Kの表面に現れるスリット光の反射光を複数本にすることができ、対象物の表面形状をさらに高精度に計測することが可能となる。
本願発明の3次元形状計測の対象となる対象物Kとしては、医薬品(錠剤,カプセル等)、食品、電子部品、機械部品、鋼材および建材等が挙げられるが、これらに限定されるものではない。すなわち、上述したようなスリット光を対象物の表面に至近距離から集光するシリンドリカルレンズ、当該集光に先立ってスリット光の線幅を拡大するビームエキスパンダ、スリット光の2視点の反射光を正確に重畳させる第2および第3光学部並びにハーフミラー、対象物の形態に応じて横方向の解像度と縦方向の解像度とを異ならせることが可能な解像度変更部等を採用することにより、3次元形状計測の対象となる対象物の範囲を拡大することができるからである。
2 表面形状計測部
21 光源部
22 24、25、27 第1、第2、第3、第4光学部
23 シリンドリカルレンズ
26 ハーフミラー
28 カメラ部
29 画像処理部
30 ビームエキスパンダ
31 解像度変更部
K 対象物
Claims (4)
- 相対的に搬送される対象物に対し、前記搬送の方向と交差する方向に長手方向軸を有するスリット光を照射し、その反射光をカメラ部で撮像して取得した画像に基づいて前記対象物の表面形状を計測する3次元形状計測装置において、
前記スリット光を出射する光源部と、
当該出射されたスリット光を前記対象物に向けて導くための第1光学部と、
該第1光学部が導く前記スリット光を集光して前記対象物に照射するシリンドリカルレンズと、
前記スリット光の前記長手方向軸を挟んで前記搬送の方向の上流側および下流側に配置され、前記照射されたスリット光の反射光をそれぞれ受光して導く第2および第3光学部と、
前記対象物から前記第2光学部を介して導かれる反射光の光路長と前記対象物から前記第3光学部を介して導かれる反射光の光路長とが等しくなる位置に配置され、前記第2および第3光学部が導く前記反射光を重畳させるハーフミラーと、
当該重畳した反射光を前記カメラ部に導く第4光学部と、
を備えたことを特徴とする3次元形状計測装置。 - 前記光源部と前記第1光学部との間の光軸上に、前記光源部が出射したスリット光の線幅を拡大するビームエキスパンダが介挿されていることを特徴とする請求項1に記載の3次元形状計測装置。
- 前記第4光学部と前記カメラ部との間の光軸上に、前記画像の縦方向の解像度と横方向の解像度とが異なるようにすることが可能な解像度変更部が介挿されていることを特徴とする請求項1または2に記載の3次元形状計測装置。
- 前記光源部は、前記スリット光を複数本のマルチラインとして出射することを特徴とする請求項1ないし3のいずれかに記載の3次元形状計測装置。
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JP2012176012A JP2014035241A (ja) | 2012-08-08 | 2012-08-08 | 3次元形状計測装置 |
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2012
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