JP3135153U - 表面検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】被検査物を位置決めした状態で置く検査台、検査台の上に置かれた被検査物の表面近傍からその表面に沿うように光を被検査物に照射する直線状の第一光源、第一光源に対向する被検査物の表面近傍位置に配置されその表面に沿うように第一光源から照射された光が到達する被検査物の表面に光を被検査物に照射する直線状の第二光源、第一光源から照射された光の光量と第二光源から照射された光の光量とがほぼ等しくなる非検査物表面のその全幅に亘る直線状の領域を被検査物にほぼ垂直な方向からの画像として撮影する撮影手段、及び第一光源と第二光源と撮影手段とを被検査物の全長に亘って同時に移動させている間に撮影手段が撮影した領域に存在する凸部の位置を撮影した画像に基づいて特定する位置特定手段を備えてなる。
【選択図】図1
Description
22b…検査台
23b…第一光源
23c…第二光源
23f…カメラユニット
BP…バンプ
Claims (4)
- 被検査物を位置決めした状態で置く検査台、
検査台の上に置かれた被検査物の表面近傍からその表面に沿うように光を被検査物に照射する直線状の第一光源、
第一光源に対向する被検査物の表面近傍位置に配置されその表面に沿うように第一光源から照射された光が到達する被検査物の表面に光を被検査物に照射する直線状の第二光源、
第一光源から照射された光の光量と第二光源から照射された光の光量とがほぼ等しくなる非検査物表面のその全幅に亘る直線状の領域を被検査物にほぼ垂直な方向からの画像として撮影する撮影手段、及び
第一光源と第二光源と撮影手段とを被検査物の全長に亘って同時に移動させている間に撮影手段が撮影した領域に存在する凸部の位置を撮影した画像に基づいて特定する位置特定手段を備えてなる表面検査装置。 - 第一光源と第二光源とから照射されて被検査物の表面にて反射した光の進行方向を変更する変更手段をさらに備えてなり、変更手段にて進行方向の変更された光が入射するように撮影手段を配置する請求項1記載の表面検査装置。
- 撮影手段が、ラインセンサを備えてなる請求項1又は2記載の表面検査装置。
- 変更手段が、被検査物の全幅から反射される光を反射する長尺の鏡である請求項1、2又は3記載の表面検査装置。
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JP2007004749U JP3135153U (ja) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | 表面検査装置 |
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JP3135153U true JP3135153U (ja) | 2007-09-06 |
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JP (1) | JP3135153U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014035241A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Ikegami Tsushinki Co Ltd | 3次元形状計測装置 |
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2007
- 2007-06-22 JP JP2007004749U patent/JP3135153U/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2014035241A (ja) * | 2012-08-08 | 2014-02-24 | Ikegami Tsushinki Co Ltd | 3次元形状計測装置 |
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