JPS62501165A - 測定に使用する方法および装置 - Google Patents

測定に使用する方法および装置

Info

Publication number
JPS62501165A
JPS62501165A JP60505092A JP50509285A JPS62501165A JP S62501165 A JPS62501165 A JP S62501165A JP 60505092 A JP60505092 A JP 60505092A JP 50509285 A JP50509285 A JP 50509285A JP S62501165 A JPS62501165 A JP S62501165A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coordinate system
measuring method
information
measurement
generating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60505092A
Other languages
English (en)
Inventor
ロ−ゼン,デニス
リー,ジヨン・ウイリアム
Original Assignee
バーベツク・カレツジ
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by バーベツク・カレツジ filed Critical バーベツク・カレツジ
Publication of JPS62501165A publication Critical patent/JPS62501165A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は測定に使用する方法および装置に関するものである。この発明は、デ ジタル化テレビジョン型装置によシ見た時に平らな物体、または大きな物体の平 らな表面の測定にとくに用いられるが、それのみに限られるものではない。上か らテレビジョンカメラにより見られている製造ラインを通る物体の寸法と形を監 視するために、この発明をその1つの用途として使用できるように具体化するこ とが可能である。
画像解析を自動化する要求がますます増大しつつあシ、多くの用途においては、 その自動画像解析には画像を構成している物体の寸法と形を調べることが含まれ る。この種の検査にはコンピュータ制御が適当で、コンピュータによる解析に適 する形で画像を形成するためには画像をデジタル化せねばならない。そのデジタ ル化はテレビジョンカメラまたはそれに類似の装置でめられている画像を撮影し 、それを画素(以後ビクセルと呼ぶ)に分割することKよシ行うことができる。
それらのビクセルはある一定のパターンで理想m<は配置される。その一定のパ ターンのうちでは長方形のプレイまたは六角形のアレイが最も一般的であるが、 他のパターンも可能でおる。以下に説明する実施例においては、ビクセルの長方 形プレイを用いるが、測定格子を形成するために他の形状を適用するために配置 を容易に変えることができる。
デジタル化した画像で達成される解像力はビクセル・アレイの密度にある程度依 存する。最も一般的表装置は256 X 256ビクセルまたは512 X 5 12ピクセルの正方形アレイを用いるが、ある装置は4096X 4096ビク セルの長方形窓または正方形プレイを有する。しかし、通常使用できるレンズお よびカメラでは、真の光学的解像力が512 X 512ピクセルの2スタで達 成できる−ものより高いかどうかは疑問である。被写体と視野内の背景の間のコ ントラストが完全である理想的な場合においては、ある特定のビクセルは「オン 」または「オフ」である、す々わち、被写体の内側または外側であるとして記録 するから、デジタル化された画像の解像力はビクセル密度の逆数に正比例するも のと考えることができ、かつ、たとえば512 X 512ビク七ル・アレイに よシ検出される被写体の長さは約500分の1の限度でのみ決定できるものと考 えることができる。この結論には、長さの決定に用いる2個の点の位置に、この 場合には、単位ビクセル間距離までの誤差を含んでいるような点間の計算によシ 長さを決定するというやり方から達するものである。
以下に説明するこの発明の特定の実施例から、下記の3つのやり方のうちの少な くとも1つを用いることによシ、デジタル化された画像の線すなわち縁部の位置 を、プラスマイナス1単位距離(ビクセル間距離)よシもはるかに高確度で決定 することが可能であることがわかるであろう。
偵)線の位置の統計的な解析を行う丸めに多数の点を用いること。
@)まっすぐな線(tたは縁部)の場合には、線が1本の座標軸に対して非常に 小さい角度を成すように線を位置させること。
(c)引き続く測定の間でカメラと被写体または測定格子を小さく相対的な距離 (ビクセル間距離の何分の1かに等しい)だけ動かして、適切な回数(たとえば 10回)測定を繰返えすこと。
2つのまっすぐな線または縁部の間の距離(それはデジタル化された画像中の長 方形物体の長さまたは幅のことがある)をそれらの線または縁部のそれぞれの位 置の差として、2つの別々の小さい誤差の和である誤差の範囲内で得ることがで きる。線または縁部の位置がそれらのやシ方の1つで決定されると、隅の角度ま たは位置のような第2の特徴を高い確度で決定できる。更に、格子方形(ムtt le・)〔この点にビクセルが中心を置く〕と格子子(grid)(これはビク セル相互間に存在する〕との間の画像の差違を用いることによシ線の位置の計算 を簡単にできる。この簡単化は曲っている線または縁部の位置決定にとくに適用 される。まっすぐな線または縁部の場合には、線と座標軸の間の角度が既知であ ると、格子方形(tattle・)点から計算された線と格子子(grld ) 点から計算された線の間の位置の差を計算することは簡単である。いずれの場合 にも、この角度を設定することによシ、測定を副尺を用いることに類似するヤシ 方で行うことができることになシ、その角度を小さくするととKよシ測定を無限 に高い確度で行うことができる。もつとも、実際的な状況においては、それはビ クセル密度の約20倍、すなわち512 X 512ピクセル・アレイにおける 約10000分の1となることが予測できるものである。
以下、添附図面を参照して、この発明従って測定を行う方法を、例によシ、説明 することにする。
第1図はテレビジ1ンカメラによシ見た物体の画像をデジタル化することにより 得た画像の表現である。
第2図は第1図に示されている画像の一部のよシ詳しい表現でちる。
第3図は、物体の線図的側面図とともに本発明の実施に用いるブロック図を示し 、この添附図面の第3図を参照して、本発明を以下に例によって説明する。
第1図を参照して請求められていることは、側面1.2.3および4を有する画 像により表されているパネルの長さおよび幅と、それの側面の平行を監視するこ とである。
側面1の一部を示す第2図を参照して、黒丸5はパネルのデジタル化された画像 の内部「境界」を形成するビクセルの中心を示し、白丸Gは外部「境界」を示し 、線1はパネルの画像の真の縁部の場所を示す。それら2組の丸は格子方形(t attice )点を示すものと考えることができる。いずれの組の丸も線の位 置を計算するために使用できるが、その計算から得られた線は、パネルの縁部を 示す線1から、格子方形(ムttia・)−格子子(grld)のネットワーク の単位長の最大JQ/2倍までの量だけ離れることがある。しかし、格子子(g rid) 8 、9の交点を示す小さいX印7が真の縁部の線にまたがυ、格子 子(grld)点を通る最適な線の計算は画像の真の縁部の線1に非常に近いこ とが容易にわかる。線1が格子方形(ムttiae )点5,6または格子子( grid)点Tのどちらからめられても、誤差は使用した点の数と、真の縁部1 と格子方形(ムttlc・)−格子子(grld)のネットワーク8,90間の 角度とに依存する。点の数による変動を最小にするために十分な数の格子方形( tattice )点5,6または格子子(grid)点γを利用できるものと 仮定すると、格子方形(zattte・)点を基にした計算の場合には、線1の 位置決定誤差は、持衣昭fi250065 (3) 線が45度傾いている時の0.71単位から、線が格子方形(httie・)点 5.6の線に対して0度である時の0.50単位までに入る。しかし、格子子( grld)点を基にした計算の場合には、位置決定誤差は、格子子(grid) 線8,9に対する傾斜が45度の時の0゜71単位から、0度傾斜に近づくにつ れて直線的KOに近づく。もつとも、正しく0度では格子方形(tattice )点の計算の場合と同様に誤差は0.50単位である。この特定の実施例におい ては、この測定方法は、格子方形(tattice )−格子子(grid)の ネットワークでの平行から数度をこえない傾斜でパネルを観察することである。
側面の位置は単位の小さい割合以内で測定でき、パネルの寸法を高い確度で得る ことができる。これと同時に、それぞれの格子方形(htttc・)線または格 子子(grid)線に対する側面の傾きを測定でき、側面が平行であるか否かを 確かめられる。
検査する物体がまっすぐで々い側面で囲まれているものとすると、その物体を囲 んでいる縁部の房を数式で表すことができるならば、その物体の縁部を同じ方法 で許容限度内で監視できる。たとえば、半径が100単位の円を半径の1000 0分の1部、すなわち中心の位置に対して0.01単位内で測定できる。
この方法は円弧に適用できる(したがって曲率を得る)ことができるが、その確 度は得られる弧の長さに依存する。
寸法管検査する必要がある平ら々物体のセグメント(すなわち縁部の長さ)は、 テレビジ目ンカメラ装置によシ認識できる(または認識できるようKできる)特 殊なマークの間、または隅あるいはくぼみの間に通常存在する。物体の格子子( grtd)境界(内部または外部の格子方形(zattlae )境界ではなく て)を用いると、隅またはノードの識別が非常に容易となる。識別に達するには 多くの方法があるが、一連の格子子(grjd)境界素子を適切なデジタル−フ ィルタに通すことにより、結果を簡単かつ経済的に得ることができる。どのよう な方法によってでも点がひとたび識別されると、隣接する2つの点の間の縁部の 位置と、それに沿う距離と、縁部の形、またはセグメントの面積を、まっすぐ々 縁部(第2図におけるように)またはまがった縁部に対する格子子(trld) 点を用いて、上記のようKして計算できる。
次に、表面13の上に置かれている物体12が示されている第3図を参照する。
物体の上方には、カメラ14がちυこのカメラ14は物体12の映像の投影を受 ける感光素子のアレイを有する。物体の照明と抽出表面の色とは、カメラ中に結 ばれる映像が鮮鋭で、良くコントラストがついているようなものでおる。カメラ 中の感光素子は、デジタル化できる座標系の基礎を形成するめられているピクセ ル密度の7レイで配列される。カメラの出方は画像解析器およびコンピュータ1 5の入力端子へ与えられる。
適当な画像解析器およびコンピュータがアメリカ合衆国イリノイ州所在のビュー ラー社(Eu@b4er Ltd )によF) Omnim・tという商品名で 販売されている。
好適な実施例においては、解析が行われている間は、画像信号は解析器およびコ ンピュータ15に格納される。
解析によシ得られ、物体12の表現を座標系に関係づける情報は出力端子16か ら得られ、たとえばプリンタへ与えて、そこで記録することができる。
許容誤差が調べられる特定の用途国おいては、許容誤差をこえたことを指示する 警報器を作動させるために16からの出力信号が構成される。
光像をデジタルデータに変換するために、カメラ14のような手段からデジタル 化できる座標系を独立のものとすることができることがわかるでちろう。
座標系は物体12に関連するプレイとすることができ、デジタルデータに変換さ れる物体の表現は、位置が座標系アレイに対して既知の関係を有するような影と することができる。
まっすぐな線、または物体のまっすぐな縁部の長さまたは位置を測定する装置に おいては、座標軸に対して45度より小さい任意の角度で配鴛された線でこの方 法を使用することが可能ではあるが、その角度が10度よシ小さく、なるべく5 度よシ小さい時に良い結果が得られる。
ある物体の1つの表現部分から得たデジタルデータを512 X 512ビクセ ル嗜ラスクのような高解像力の座標系から得たデジタルデータに関係づけること によシ、物体についての情報を高い確度で発生することが可能である。
物体の表現の第2の部分から得たデジタルデータを座標系から得たデータに関係 づけることくよシ、物体についての第2の情報を同様な高い確度で発生すること 、および2つの部分の間の距離を決定するために2つの情報を互いに関係づける ことが可能である。
また、画像発生装置と、物体または測定用の格子子または格子方形(gridま たはzattiee)の間の相対運動を伴って、または伴うことなしに、それら の操作を何回か繰シ返えすことによシ、情報の統計的解析を行って、それの確度 を高くすることが可能である。
更に、まっすぐな縁部と座標系の軸(格子方形(ムtt1e・)または格子子( grid) )の間の角度関係を比較的小さい角度、すなわち、45度よシ小さ く、なるべく5度よシ小さく、配置することによシ、下記の解析が示すように、 極めて高い確度を連成することが可能である。
一対の平行またはほぼ平行な縁部を有する平らな物体のデジタル化した画像につ いて考える。先に概略を説明した方法で各縁部の位置を正確に決定できる。縁部 の式を記述する方法はたくさんあるが、計算を簡単にするために次の形をとるこ とができる。
xsinθH−ycoSθ12p1 この式においてδ1 は縁部とX軸の間の角度、plは座標譚点から線に降ろし た垂線の長さである。そうすると、デジタル化された画像から得られる縁部の計 算された位置は X 5iffθ’1− ycO3θ’1tRp’1となる。ここに、p’+−p ++δ、およびθ′1−θ1+C5であシ、δ1とε1は観測誤差である。同様 に、第2の縁部は次式のように計算される。
xsi11θ′2−yωSθ’2 δ2 p’2長方形パネルの監視においては 、第1の検査は側面の平行である。格子子(grld)点の適度な数(100よ υ少ない)で角度誤差’+ + ’2は0.02度よシ小さく碌る。この値はほ とんどの目的に対して十分に正確であって、10000分の5(すなわち、10 mにおいて5龍)よシ小さい割合で縁部を発散または収束させることができる。
縁部が平行の許容誤差内であると仮定すると、それらの縁部の距離はp/ z  −p/ +で与えられ、この計算における誤差はδrwan ”?”)る。δl =δ2−0.05であると、δT ! 0.07となる。δ値は絶対値であるか ら、p/2p/、はできるだけ大きくするとよい。したがって p / p/、 中200であると、誤差は約3000分の1であ〕、P’2 P’lがもっと大 きいと誤差はそれに応じて小さくなる。
長方形パネルの長さと幅を測定する場合には、たとえば対応する長さ測定値P’ 2 P’+が同じデジタル化された画像から得られるものとすると、たとえば幅 に対するp’2 p’+ を十分に大きくすることが可能ではないかもしれない 。その場合には、長さと幅を異なる倍率で別々に測定する必要があるがもじれな い。
この発明を特定の構成について説明したが、添附した請求の範囲の範囲内で改変 できることがわかるであろう。たとえば、画像発生装置、物体または座標系の間 に相対運動が存在する場合には、その運動中または運動後に情報を得ることがで きる。上記したのとは異なる向きから見たところ、たとえは側面から見たところ をとって解析できることがわかるであろう。
国際調査報告 ANNEX To 四E INTE:RNATrONAL 5EARCHREP ORT ON

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.デジタル化できる座標系を採用し、物体の特徴の少なくとも一部の表現を座 標系に関係づける第1の情報を発生する過程を含む物体の特徴の位置を測定する 測定方法。
  2. 2.請求の範囲第1項記載の測定方法であつて、物体の第2の特徴の少なくとも 一部の表現を座標系に関係づける第2の情報を発生する過程と、第1の情報と第 2の情報を比較して測定値を発生する過程とを含む測定方法。
  3. 3.請求の範囲第1項記載の測定方法であつて、特徴は座標系の軸に対して45 度より小さい角度で配置されたほぼまつすぐな線である測定方法。
  4. 4.請求の範囲第1〜3項のいずれかに記載の測定方法であつて、第1の情報を 発生する過程を複数回繰返えすことを含む測定方法。
  5. 5.請求の範囲第2項記載の測定方法であつて、第2の情報を発生する過程を複 数回繰返えすことを含む測定方法。
  6. 6.請求の範囲第4項または第5項記載の測定方法であつて、物体の移動中また は移動後に過程を複数回繰返えすことを含む方法。
  7. 7.物体または物体の表現を見る手段と、物体またはその表現をデジタル化でき る座標系に関係づける手段と、その関係の結果を解析して、それを表す出力を発 生する手段とを含む、請求の範囲第1項〜第6項のいずれかに記載の測定方法を 実施するために用いる装置。
JP60505092A 1984-11-20 1985-11-20 測定に使用する方法および装置 Pending JPS62501165A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB848429250A GB8429250D0 (en) 1984-11-20 1984-11-20 Measurement method
GB8429250 1984-11-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS62501165A true JPS62501165A (ja) 1987-05-07

Family

ID=10569970

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60505092A Pending JPS62501165A (ja) 1984-11-20 1985-11-20 測定に使用する方法および装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US4781463A (ja)
EP (1) EP0204744A1 (ja)
JP (1) JPS62501165A (ja)
GB (2) GB8429250D0 (ja)
WO (1) WO1986003287A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109631755A (zh) * 2018-12-03 2019-04-16 成都理工大学 大型隧洞结构面迹线激光测量仪

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE9017842U1 (ja) * 1989-10-31 1992-05-07 Friedrich Theysohn Gmbh, 3320 Salzgitter, De
JPH0739935B2 (ja) * 1990-07-02 1995-05-01 株式会社東芝 撮像素子
US5552822A (en) * 1993-11-12 1996-09-03 Nallakrishnan; Ravi Apparatus and method for setting depth of cut of micrometer surgical knife
DE19825829C2 (de) 1998-06-10 2000-07-27 Leica Microsystems Verfahren zur Bestimmung des Abstandes P einer Kante eines Strukturelementes auf einem Substrat
US6678425B1 (en) * 1999-12-06 2004-01-13 Xerox Corporation Method and apparatus for decoding angular orientation of lattice codes
CN1230660C (zh) * 2000-09-22 2005-12-07 沃思测量技术股份有限公司 借助坐标测量仪测量物体几何形状的方法
WO2008141665A1 (en) * 2007-05-23 2008-11-27 Trimble Jena Gmbh Leveling apparatus and method
DE102008062458B4 (de) * 2007-12-20 2016-01-14 Hochschule Magdeburg-Stendal (Fh) Messverfahren zur laserbasierten Vermessung von Werkstücken, Baugruppen und Werkzeugen
CN111964549B (zh) * 2020-07-08 2022-06-17 航天科工防御技术研究试验中心 一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH426388A (fr) * 1965-12-04 1966-12-15 Genevoise Instr Physique Dispositif hydraulique
DE2437250B2 (de) * 1974-08-02 1978-01-05 Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg Verfahren zum automatischen bestimmen eines bildobjektes
CH643959A5 (de) * 1978-04-14 1984-06-29 Siemens Ag Verfahren und vorrichtung zur automatischen lageerkennung von halbleiterchips.
US4459021A (en) * 1978-11-03 1984-07-10 The Perkin-Elmer Corporation Memory registration system
JPS5677704A (en) * 1979-11-30 1981-06-26 Hitachi Ltd Inspection system for surface defect of substance
US4379308A (en) * 1980-02-25 1983-04-05 Cooper Industries, Inc. Apparatus for determining the parameters of figures on a surface
JPS57165836A (en) * 1981-04-06 1982-10-13 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Method and apparatus for tracing and recording object to be traced
GB2102122B (en) * 1981-07-22 1985-05-15 Nat Res Dev Detecting defects in a pattern
EP0090395B1 (en) * 1982-03-31 1990-08-29 General Electric Company Method and apparatus for visual image processing and for sorting corner points in a visual image processing system
JPS5963725A (ja) * 1982-10-05 1984-04-11 Toshiba Corp パタ−ン検査装置
FR2540263B1 (fr) * 1983-01-31 1988-05-20 Commissariat Energie Atomique Procede de reconnaissance automatique d'une image a partir d'une image correspondante de reference
CA1303180C (en) * 1983-06-01 1992-06-09 Enn Vali Pattern tracer using matrix sensor
US4575751A (en) * 1983-11-15 1986-03-11 Rca Corporation Method and subsystem for plotting the perimeter of an object

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109631755A (zh) * 2018-12-03 2019-04-16 成都理工大学 大型隧洞结构面迹线激光测量仪

Also Published As

Publication number Publication date
GB8429250D0 (en) 1984-12-27
GB2169077A (en) 1986-07-02
GB2169077B (en) 1989-06-07
WO1986003287A1 (en) 1986-06-05
GB8528520D0 (en) 1985-12-24
US4781463A (en) 1988-11-01
EP0204744A1 (en) 1986-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102015000386B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen einer dreidimensionalen Form und nichtflüchtiges computerlesbares Speichermedium
KR101601331B1 (ko) 물체의 모양을 삼차원 측정하기 위한 시스템 및 방법
DE112014005911T5 (de) Dreidimensionaler Koordinatenscanner und Betriebsverfahren
US20100315422A1 (en) Method and apparatus for surface contour mapping
DE112014001470T5 (de) Diagnostizierung einer Mehrwegestörung und Entfernung einer Mehrwegestörung bei 3D-Scannern durch angeleitete Sondenuntersuchung
DE102015116047A1 (de) Prüfvorrichtung und Steuerverfahren für eine Prüfvorrichtung
US4776692A (en) Testing light transmitting articles
US5090811A (en) Optical radius gauge
US20200318946A1 (en) Three-dimensional measuring system
DE102006059416A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Steigerung der Mess-Genauigkeit digitaler 3D-Geometriemesssysteme
JPS62501165A (ja) 測定に使用する方法および装置
JP6035031B2 (ja) 複数の格子を用いた三次元形状計測装置
DE2855877A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur kontinuierlichen und beruehrungslosen messung der form von walz-, zieh- und stranggusserzeugnissen
US10801834B2 (en) Fringe projection for determining topography of a body
US10955236B2 (en) Three-dimensional measuring system
US8102516B2 (en) Test method for compound-eye distance measuring apparatus, test apparatus, and chart used for the same
US20160021305A1 (en) Method and apparatus for measuring optical systems and surfaces with optical ray metrology
JPS6230904A (ja) 物体の位置姿勢検出方式
CN110428458A (zh) 基于单帧密集形状编码的深度信息测量方法
RU164082U1 (ru) Устройство контроля линейных размеров трехмерных объектов
JP2002005622A (ja) 複数個の光切断式センサを備えた光学式形状計測装置における配置パラメータの検出方法
CN100480619C (zh) 正交表面形貌图中任意截线方向形成截面轮廓的方法
Jin et al. A Stereo Vision-Based Flexible Deflection Measurement System
CN117433447A (zh) 钢轨扣件三维几何检测系统
JPH0763527A (ja) 形状測定装置