CN111964549B - 一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法 - Google Patents
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Abstract
Description
技术领域
本发明涉及独石电容器缺损判定技术领域,特别是指一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法。
背景技术
独石电容器具有容体比大,介电常数高,无极性,化学稳定性好,损耗小、耐压高,适合表面贴装等优点,广泛应用于民用及国防等各个领域。随着技术的发展,对独石电容器的容量和耐压要求越来越高,鉴于此,出现了大体积高容量或高耐压的独石电容器,如CT41L-5868-2C1-4KV-104M型独石电容器,其外形尺寸为15.5mm×17.8mm×6.0mm,耐压达4KV,容量达100nF。
由于工艺原因以及运输和安装过程中磕碰,大体积电容器比较容易出现边缘破损情况。独石电容器上下两面都有一定厚度的护片,左右两边有一定厚度的留边,护片和留边为保护层,对电容器内芯起到保护作用。如果边缘破损超过了护片或留边的尺度,电容器内芯失去了保护层,这种电容器肯定是要报废的。即使边缘破损未超过了护片或留边的尺度,如果缺损太深,护片和留边的保护效果也要大打折扣,这种电容器也需要报废。通常规定缺损在护片层的深度不大于护片层厚度的四分之三,在留边层的深度不应大于留边层厚度的五分之三。但在实际操作中,现有手段无法直接测量缺损深度。目前,亟需一种测量缺损深度的方案。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提出一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,用于确定大体积独石电容器的缺损是否在合格的范围内。
基于上述目的本发明提供的一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,独石电容器包括矩形的电容器内芯和包裹在电容器内芯外部的包封层,包封层包括设置在电容器内芯上下两边的护片和设置在电容器内芯左右两边的留边,留边的两边分别与护片接触,护片的厚度小于留边的厚度,检测缺损在棱边上占据的长度l,若该缺损在棱边上占据的长度l大于棱边长度L的十分之一,则该缺损过大,独石电容器不合格;若该缺损在棱边上占据的长度l小于或等于棱边长度L的十分之一,独石电容器初步合格;
分别测量缺损位于与其所在棱线相交的两个平面上距离棱线最远的距离;
分别比较测量的两个数值与护片的宽度或留边的宽度的关系;
护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;
其中,α为标记线到留边外表面的距离与留边外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
β为标记线到护片外表面的距离与护片外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
标记线为横截面上,以缺损所在的棱线上的点为原点,向横截面内部为正向的坐标为0.75A、0.6B的点的集合。
可选的,所述缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离b和缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离a的测量方法为:
将独石电容器放置在用体视显微镜的物镜下;
将物镜对准缺损部位,调节对焦;
采集缺损部位的图像;
测量a和b。
从上面所述可以看出,本发明提供的判定大体积独石电容器缺损的检测方法,通过测量缺损表现在护片上距离棱线的距离和表现在留边上距离棱线的距离来间接计算大体积独石电容器的缺损中最深处距离棱线的距离,有效确定电容器的缺损是否在合格的范围内。
附图说明
图1为本发明实施例判定大体积独石电容器缺损位置的示意图。
图2为本发明实施例判定大体积独石电容器缺损位置的立体示意图。
图3为本发明实施例判定大体积独石电容器缺损位置检测方法中α角和β角的位置示意图。
其中,A为护片的厚度,B为留边的厚度,a为缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离,b为缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离,α为标记线到留边外表面的距离与留边外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值,β为标记线到护片外表面的距离与护片外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值,l为缺损在棱边上占据的长度,L为棱边长度。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
需要说明的是,本发明实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量,可见“第一”“第二”仅为了表述的方便,不应理解为对本发明实施例的限定,后续实施例对此不再一一说明。
一种实施方式中,独石电容器的横截面为矩形,独石电容器的横截面上下两面都有一定宽度的护片,左右两边有一定宽度的留边,护片和留边为包封层,电容器内芯作为一个矩形的功效部分设置在包封层内部,包封层对电容器内芯起到保护作用。已知护片的宽度小于留边的宽度。一般来说,大体积独石电容器表面的缺损基本都落在电容器的棱边上。
一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,第一步,检测缺损在棱边上占据的长度l,若该缺损在棱边上占据的长度l大于棱边长度L的十分之一,则该缺损过大,将导致大体积独石电容器的可靠性大幅度降低。若该缺损在棱边上占据的长度l小于或等于棱边长度L的十分之一,则进入下一步;
第二步,分别测量缺损位于与其所在棱线相交的两个平面上距离棱线最远的距离;
第三步,分别比较测量的两个数值与护片的宽度或留边的宽度的关系;
护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;
其中,α为标记线到留边外表面的距离与留边外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
β为标记线到护片外表面的距离与护片外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
标记线为横截面上,以缺损所在的棱线上的点为原点,向横截面内部为正向的坐标为0.75A、0.6B的点的集合;
第四步,根据测量的两个数值与护片的宽度或留边的宽度的关系判断合格品与不合格品;
第五步,将不合格品与合格品分开放置,合格品入库,不合格品退回。
缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离b和缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离a的测量方法为:
将独石电容器放置在用体视显微镜,在物镜下,将物镜对准缺损部位,调节对焦,使缺损部位清晰显示,采集缺损部位的图像,然后用照相软件自带的测量功能测量a和b。
具体的可以使用型号为莱卡M205C显微镜,该显微镜能够将图像采集数据传输到电脑上显示。
另一种实施方式中:
CT41L-5868-2C1-4KV-104M型独石电容器,其外形尺寸为15.5mm×17.8mm×6.0mm,耐压达4KV,容量达100nF。对CT41L-5868-2C1-4KV-104M型独石电容器,其护片宽度为200μm,留边宽度为500μm。对CT41L-5868-2C1-4KV-104M型独石电容器,上、下护片面缺损位置距离护片外沿的距离不应大于150μm,左、右留边面缺损位置距离留边外沿的距离不应大于300μm,缺损长度不应大于棱长的1/10。当大体积独石电容器上存在缺损时,护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;
可见,应用本实施方式,能够通过测量缺损位置分别距离护片的边沿和留边的边沿的距离的数值来确定大体积独石电容器的可靠性和使用寿命是否合格,有效避免需要测量缺损深度的方法,通过间接测量缺损的位置距离来预估缺损的深度,有效地避免不可靠电容器被误使用的风险。
所属领域的普通技术人员应当理解:以上任何实施例的讨论仅为示例性的,并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子;在本发明的思路下,以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合,并存在如上所述的本发明的不同方面的许多其它变化,为了简明它们没有在细节中提供。因此,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何省略、修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (2)
1.一种判定大体积独石电容器缺损的检测方法,独石电容器包括矩形的电容器内芯和包裹在电容器内芯外部的包封层,包封层包括设置在电容器内芯上下两边的护片和设置在电容器内芯左右两边的留边,留边的两边分别与护片接触,护片的厚度小于留边的厚度,其特征在于,
检测缺损在棱边上占据的长度l,若该缺损在棱边上占据的长度l大于棱边长度L的十分之一,则该缺损过大,独石电容器不合格;若该缺损在棱边上占据的长度l小于或等于棱边长度L的十分之一,独石电容器初步合格;
分别测量缺损位于与其所在棱线相交的两个平面上距离棱线最远的距离;
分别比较测量的两个数值与护片的宽度或留边的宽度的关系;
护片的厚度为A,留边的厚度为B,缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离为b,缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离为a;
其中,α为标记线到留边外表面的距离与留边外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
β为标记线到护片外表面的距离与护片外表面上缺损到棱线最远的距离的点与标记线的连线两者在横截面上投影的角度值;
标记线为横截面上,以缺损所在的棱线上的点为原点,向横截面内部为正向的坐标为0.75A、0.6B的点的集合。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于:所述缺损在与护片平行的面上距离棱线最远的距离b和缺损在与留边平行的面上距离棱线最远的距离a的测量方法为:
将独石电容器放置在用体视显微镜的物镜下;
将物镜对准缺损部位,调节对焦;
采集缺损部位的图像;
测量a和b。
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