KR101124104B1 - 편광판의 접합정밀도 검사방법 및 접합정밀도 검사장치 - Google Patents

편광판의 접합정밀도 검사방법 및 접합정밀도 검사장치 Download PDF

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Abstract

길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판에 대해서, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있는 편광판의 접합정밀도 검사방법 및 편광판의 접합정밀도 검사장치를 제공한다. 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법은 액정패널(2)에 접합된 편광판(3)의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 관찰공정과, 상기 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 편광판(3)의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산공정을 포함한다.

Description

편광판의 접합정밀도 검사방법 및 접합정밀도 검사장치 {METHOD FOR INSPECTING POLARIZER BONDING PRECISION AND BONDING PRECISION INSPECTION APPARATUS}
본 발명은 편광판의 접합정밀도 검사방법 및 접합정밀도 검사장치에 관한 것이다.
편광판을 액정패널에 접합하여 이루어지는 액정표시장치의 제조공정에 있어서, 편광판을 액정패널에 접합한 후에는, 그 접합정밀도를 확인하기 위해서, 일반적으로 편광판과 액정패널과의 접합 어긋남을 검사하는 「어긋남 검사」가 행해지고 있다. 예를 들면, 캘리퍼(caliper) 등을 이용하여, 편광판이 접합된 액정패널에서의 편광판의 접합 어긋남량을 계측함으로써, 편광판과 액정패널과의 접합 어긋남이 검사되고 있다. 그러나, 이와 같이 접합 어긋남량을 직접 계측하는 방법에서는, 편광판이 접합된 액정패널의 전수(全數)에 대해서 「어긋남 검사」를 행하는 데에는 대단한 노력을 필요로 한다. 이 때문에, 카메라에 의한 자동검사도 행해지고 있다.
예를 들면, 특허문헌 1에는 액정패널 양면에 부착된 2매의 편광판의 부착위치 어긋남(접합 어긋남)을 검사하는 방법이 개시되어 있다. 특허문헌 1에 개시된 방법에서는, 액정패널의 네 모퉁이 중 어느 하나 또는 복수의 엣지부 부근을 액정패널 측면에 대해서 수직이 되는 방향으로부터 CCD 카메라에 의해 촬영하고, 촬영된 화상 중의 액정패널 단부로부터 편광판 단부까지의 거리를 화상처리에 의해 측정하고 있다.
[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 「특개2004-233184호 공보(2004년 8월 19일 공개)」
상술한 바와 같이, 특허문헌 1에 개시된 방법에서는, 편광판의 접합 어긋남을 검사할 수 있으므로, 편광판의 접합 어긋남에 기인하는 액정표시장치의 불량율을 감소시킬 수 있다. 그렇지만, 편광판의 접합 어긋남을 검사하는 것만으로는 편광판의 접합정밀도를 충분히 검사하는 것으로 되어 있다고는 말할 수 없는 경우가 있다.
예를 들면, 길이가 긴 편광판 원반(原反)으로부터 미리 액정패널의 형상에 맞추어 절단한 칩모양 편광판을 액정패널에 접합하는 칩접합방식인 경우는, 칩모양 편광판의 치수 및 직각도(直角度)는 그 출하(出荷)검사에서 보증되고 있다. 그러므로, 칩모양 편광판을 액정패널에 접합한 후에는, 편광판의 접합정밀도의 검사로서 편광판의 접합 어긋남만을 검사하면 충분하다.
한편, RTP(Roll to Panel) 접합방식(예를 들면, 일본국 특허4307510호 명세서 및 일본국 특허4346971호 명세서를 참조)에 의해서 편광판을 액정패널에 접합하는 경우에는, 그 접합공정에서 길이가 긴 편광판 원반을 액정패널의 형상에 맞추어 칩모양으로 절단하면서, 연속하는 공정에서 얻어진 칩모양 편광판을 액정패널에 접합하므로, 접합 후의 편광판의 치수 및 직각도의 정밀도가 보증되어 있지 않은 경우가 있다. 그러므로, 편광판의 접합 어긋남만을 검사하는 특허문헌 1의 방법은 RTP 접합방식에 의해서 접합된 편광판의 접합정밀도의 검사방법으로서는 충분하지 않다고 하는 과제를 가지고 있다.
편광판은, 통상, 액정패널의 표시영역 전체 면(표시화면이 되는 부위 전체 면)을 덮도록 하여, 당해 액정패널의 양면에 접합되어 있지만, 예를 들면, 편광판의 치수가 규정된 범위보다도 작은 경우는, 편광판의 단부에서의 광누출이 생긴다는 문제가 발생한다. 또, 편광판의 직각도가 규정된 범위 외인 경우는, 편광판의 축어긋남에 의해서 액정표시장치의 콘트라스트가 저하된다고 하는 문제가 발생한다. 이 때문에, RTP 접합방식인 경우도, 칩접합방식의 경우와 마찬가지로, 편광판의 치수 및 직각도의 정밀도에 대해서도 보증되고 있는 것이 바람직하다.
본 발명은 상기 문제점을 감안한 것으로서, 그 주된 목적은 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판에 대해서, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있는 편광판의 접합정밀도 검사방법 및 편광판의 접합정밀도 검사장치를 제공하는 것이다.
상기의 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법은, 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 방법으로서, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 관찰공정과, 상기 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산공정을 포함하는 것을 특징으로 하고 있다.
상기 구성에 의하면, 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰한 관찰데이터를 이용하여 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하므로, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있다. 이 때문에, 검사공정수를 삭감할 수 있다.
또한, 상술한 바와 같이, 특허문헌 1에 개시된 방법에서는, 단지, 접합 후의 편광판의 접합 어긋남만을 검사하는 것일 뿐이므로, 반드시 편광판의 네 모퉁이 모두를 검사할 필요는 없고, 1 모퉁이 또는 2 모퉁이를 검사하면 충분하다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치는, 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰한 관찰데이터를 이용하여 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비하고 있으므로, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있다. 이 때문에, 검사공정수를 삭감할 수 있다. 또, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치를 이용하면, 자동검사가 가능하게 된다. 이 때문에, 편광판의 접합정밀도 검사에 관한 노력 및 비용을 삭감할 수 있다. 또한, 전수검사가 가능하게 되므로, 모든 최종 제품에 있어서 편광판의 접합정밀도를 보증하는 것이 가능하게 된다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법은, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 관찰공정과, 상기 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산공정을 포함하는 구성이다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법에 의하면, 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰한 관찰데이터를 이용하여 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하므로, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있다. 이 때문에, 검사공정수를 삭감할 수 있다. 따라서, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법에 의하면, 편광판의 접합정밀도 검사에 관한 노력 및 비용을 삭감할 수 있다고 하는 효과를 발휘한다. 또, 편광판의 접합정밀도를 보증할 수 있으므로, 최종 제품의 생산성이나 수율을 증가시킬 수 있다고 하는 효과를 발휘한다.
또, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치는, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하기 위한 관찰수단과, 상기 관찰수단에 의해서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비하고 있는 구성이다.
상기 구성에 의하면, 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰한 관찰데이터를 이용하여 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비하고 있으므로, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 직각도를 검사할 수 있다. 이 때문에, 검사공정수를 삭감할 수 있다. 또, 자동검사가 가능하게 된다. 또한, 전수검사가 가능하게 되므로, 모든 최종 제품에 대해 편광판의 접합정밀도를 보증하는 것이 가능하게 된다. 따라서, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치에 의하면, 편광판의 접합정밀도 검사에 관한 노력 및 비용을 삭감할 수 있다고 하는 효과를 발휘한다. 또, 최종 제품의 생산성이나 수율을 증가시킬 수 있다고 하는 효과를 발휘한다.
본 발명의 다른 목적, 특징 및 우수한 점은, 이하에 설명하는 기재에 의해서 충분히 알 수 있을 것이다. 또, 본 발명의 이점은 첨부 도면을 참조한 다음의 설명으로 명백하게 될 것이다.
도 1은 본 발명에 관한 검사방법의 실시형태의 일례를 설명하는 것으로, 관찰수단의 개략적인 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 편광판의 「접합 어긋남량」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다.
도 3은 편광판의 「치수」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다.
도 4는 편광판의 「직각도」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다.
이하, 본 발명의 실시의 형태의 일례에 대해서, 상세하게 설명한다. 단, 본 발명은 이것에 한정되는 것이 아니고, 기술한 범위 내에서 여러 가지의 변형을 가한 형태로 실시할 수 있는 것이다. 또, 본 명세서 중에 기재된 학술문헌 및 특허문헌의 모두가 본 명세서 중에서 참고로서 원용된다. 또한, 본 명세서에서 특별히 기재하지 않는 한, 수치 범위를 나타내는 「A ~ B」는 「A 이상, B 이하」를 의미한다.
[1. 편광판의 접합정밀도 검사방법]
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법(이하, 「본 발명의 검사방법」이라고 함)은 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 방법으로서, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 관찰공정과, 상기 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산공정을 포함하는 구성이다.
본 명세서에 있어서, 상기 「편광판의 접합정밀도를 검사한다」란, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 검사하는 것을 의미하고 있다.
또, 본 발명의 검사방법의 검사대상이 되는 편광판은 길이가 긴 편광판 원반을 권출(卷出)하면서, 편광판의 권출방향(반송방향)에 대해서 소정의 길이(치수)가 되도록 편광판 원반을 칩모양으로 절단하면서, 연속하는 공정에서 얻어진 칩모양 편광판을 액정패널에 접합한 편광판, 즉, RTP 접합방식에 의해서 접합한 편광판이다.
이러한 길이가 긴 편광판 원반으로부터 절단한 편광판의 폭방향에 대해서는, 편광판 원반에서 소정의 길이(치수)가 되도록 정밀도 보증되어 있다. 한편, 길이가 긴 편광판 원반의 반송방향에 대해서는, 소정의 길이가 되도록 액정패널의 형상에 맞추어 그때마다 절단하므로, 길이가 긴 편광판 원반으로부터 절단한 편광판의 반송방향의 길이(치수)가 설정된 길이인지를 절단한 편광판마다 검사할 필요가 있다.
따라서, 본 발명에 있어서, 상기 「편광판의 치수」란, 특히 「편광판의 반송방향의 길이」를 나타낸다. 단, 당연한 것이지만, 본 발명의 검사방법에 의하면, 「편광판의 반송방향의 길이」뿐만이 아니고 「편광판의 폭방향의 길이」에 대해서도 검사할 수 있다.
또한, 길이가 긴 편광판 원반으로부터 절단한 편광판에 관해서는, 그 형상이 직사각형으로 되어 있는지 여부를 절단한 편광판마다 검사할 필요가 있다. 따라서, 본 발명에 있어서, 상기 「편광판의 직각도」란, 편광판의 각부(角部)에서의 직각의 정도, 즉, 편광판의 각부의 각도가 90°로부터 어느 정도의 오차인지를 나타내고 있다.
또, 본 발명에 있어서, 상기 「편광판의 접합 어긋남량」이란, 편광판의 접합 어긋남의 정도, 즉 액정패널에서의 소정의 접합위치로부터 어느 정도 어긋나 편광판이 접합되어 있는지를 나타내고 있다.
또한, 본 명세서에 있어서, 상기 「편광판 원반」이란, 칩모양으로 절단되기 전의 편광판이 의도된다. 상기 편광판의 구성으로서는 특별히 한정되는 것이 아니고, RTP 접합방식에 의해서 접합되는 종래 공지의 편광판이 의도된다. 예를 들면, 편광필름 중 적어도 한쪽의 면에 접착제층을 사이에 두고 보호필름이 접합되어 이루어지는 편광판, 편광필름의 보호필름이 접합되어 있지 않은 쪽의 면에 박리 가능한 박리필름이 점착층을 사이에 두고 더 접합되어 이루어지는 편광판 등을 들 수 있다.
(1-1. 관찰공정)
관찰공정은 액정패널에 접합한 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 공정이다. 또한, 상기 「편광판의 네 모퉁이」는 「편광판의 4개의 각부」를 의도하고 있다. 관찰공정에서 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 방법은 편광판의 4개의 각부 모두를 관찰할 수 있어, 모든 각부에 대한 정보를 취득할 수 있는 특별히 한정되지 않는다. 따라서, 편광판의 4개의 각부를 4단계로 1개씩 관찰해도 되고, 편광판의 4개의 각부를 1단계로 동시에 관찰해도 된다. 또, 편광판의 4개의 각부를 관찰하는 순서에 대해서도 특별히 한정되지 않는다. 편광판에서의 4개의 각부 가운데, 2개 이상의 각부를 동시에 관찰함으로써, 편광판의 네 모퉁이를 효율적으로 관찰할 수 있다.
(제1 실시형태)
본 발명에 관한 검사방법의 제1 실시형태에 대해서, 도 1을 참조하면서 설명한다. 도 1은 본 발명에 관한 검사방법의 제1 실시형태를 설명하는 것으로, 관찰수단의 개략적인 구성을 나타내는 도면이다.
도 1에 나타내는 바와 같이, 본 발명에 관한 검사방법의 제1 실시형태에서는, 관찰공정에서 액정패널(2)에 접합된 편광판(3)의 네 모퉁이 모두를 관찰하기 위한 수단(관찰수단)으로서, 편광판(3)의 4개의 각부를 각각 관찰하기 위한 4대의 카메라(1, …)를 이용한다. 4대의 카메라(1, …)는 액정패널(2)과 편광판(3)과의 접합면에 대해서 수직방향으로부터 편광판(3)의 각각의 각부를 촬영할 수 있는 위치에 배치되어 있다. 이와 같은 관찰수단을 이용하면, 관찰공정에서 편광판(3)의 4개의 각부를 동시에 관찰(촬영)할 수 있으므로, 편광판(3)의 네 모퉁이 모두를 효율적으로 관찰할 수 있다.
상기 「카메라」로서는, 목적에 따라, 예를 들면, 라인 카메라, 에어리어 카메라 등을 이용할 수 있다. 라인 카메라는 촬영의 정밀도가 편광판의 반송속도의 영향을 받기 때문에, 얻어진 화상데이터(관찰데이터)가 불선명이 될 가능성이 있지만, 편광판이 움직이고 있는 상태라도 편광판의 네 모퉁이를 촬영할 수 있다. 한편, 에어리어 카메라는 편광판의 네 모퉁이를 촬영하기 위해서 편광판을 정지시킬 필요가 있지만, 촬영의 정밀도가 높기 때문에, 보다 선명한 화상데이터(관찰데이터)를 얻을 수 있다. 이 때문에, 촬영의 정밀도를 고려하면, 상기 「카메라」로서 에어리어 카메라를 이용하는 것이 보다 바람직하다. 또한, 라인 카메라를 이용하여 편광판의 네 모퉁이를 관찰하는 경우는, 편광판을 고정하고, 편광판에 대해서 라인 카메라를 이동시키면서 편광판의 네 모퉁이를 관찰해도 되고, 라인 카메라를 고정하고, 라인 카메라에 대해서 편광판을 이동시키면서 편광판의 네 모퉁이를 관찰해도 되며, 편광판의 이동방향에 대해서 180°의 방향으로 라인 카메라를 이동시키면서 편광판의 네 모퉁이를 관찰해도 된다.
(제2 실시형태)
본 발명에 관한 검사방법의 제2 실시형태에 대해서 설명한다. 본 발명에 관한 검사방법의 제2 실시형태에서는, 관찰공정에서 관찰수단으로서 2대의 카메라를 이용하여, 2단계로 액정패널에 접합된 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 것 이외에는, 상술한 제1 실시형태와 동일하다.
본 발명에 관한 검사방법의 제2 실시형태에서는, 2대의 카메라는 액정패널과 편광판과의 접합면에 대해서 수직방향으로부터 편광판에서의 4개의 각부 가운데, 2개의 각부를 각각 촬영 가능한 위치에 배치되어 있다. 본 발명에 관한 검사방법의 제2 실시형태에서는, 우선, 관찰공정의 제1 단계에서 편광판에서의 4개의 각부 가운데, 2개의 각부를 2대의 카메라를 이용하여 각각 관찰한다. 그리고, 제2 단계에서 상기 제 1단계에서 관찰하지 않았던 나머지 2개의 각부를 각각 촬영 가능하도록 2대의 카메라의 위치 및/또는 편광판의 위치를 이동시켜, 나머지 2개의 각부를 관찰한다. 이와 같이, 편광판의 4개의 각부를 2단계로 관찰함으로써, 관찰수단으로서의 카메라를 4대 이용하지 않고 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰할 수 있다. 또한, 관찰공정에서는 최종적으로 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰할 수 있으면 되기 때문에, 편광판에서의 4개의 각부 가운데, 어느 각부를 제1 단계에서 관찰할지에 대해서는 특별히 한정되지 않는다. 그러나, 관찰공정의 제2 단계에서 제1 단계에서 관찰하지 않았던 나머지 2개의 각부를 각각 촬영 가능하도록 2대의 카메라의 위치 및/또는 편광판의 위치를 이동시키는 것을 고려하면, 예를 들면, 카메라를 고정하고, 카메라에 대해서 편광판을 이동시키면서 편광판의 네 모퉁이를 관찰하는 경우나, 편광판의 이동방향에 대해서 180°의 방향으로 라인 카메라를 이동시키면서 편광판의 네 모퉁이를 관찰하는 경우는, 편광판에서의 4개의 각부 가운데, 편광판의 이동방향을 향해 전방의 2개의 각부를 제1 단계에서 관찰하고, 편광판의 이동방향을 향하여 후방의 2개의 각부를 제2 단계에서 관찰함으로써, 편광판의 네 모퉁이 모두를 효율적으로 관찰할 수 있다.
(1-2. 연산공정)
연산공정은 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 공정이다. 여기서, 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 편광판의 「접합 어긋남량」, 「치수」 및 「직각도」를 산출하는 방법에 대해서, 도 2 ~ 4를 참조하면서 이하에 구체적으로 설명한다.
도 2는 편광판의 「접합 어긋남량」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다. 편광판의 「접합 어긋남량」은, 예를 들면, 액정패널(2)에서 편광판(3)의 4개의 각부(도 2에 나타내는 각부 A', B', C' 및 D')가 접합되어야 할 위치에 기준점(도 2에 나타내는 기준점 A, B, C 및 D)이 존재한다고 가정하고, 이러한 기준점 사이를 잇는 기준선(예를 들면, 도 2에 나타내는 기준선 AB 및 AD)과, 편광판(3)의 변(예를 들면, 도 2에 나타내는 변 A'B' 및 A'D')과의 거리로부터 산출할 수 있다.
예를 들면, 액정패널(2)의 기준점 A에 대한 편광판(3)의 각부 A'의 「접합 어긋남량」을 산출하는 경우는, 액정패널(2)의 기준선 AD와 편광판(3)의 변 A'D'와의 거리를 편광판(3)의 짧은 길이방향의 접합 어긋남량 a로서 산출할 수 있다. 마찬가지로, 액정패널(2)의 기준선 AB와 편광판(3)의 변 A'B'와의 거리를 편광판(3)의 긴 길이방향의 접합 어긋남량 b로서 산출할 수 있다.
도 3은 편광판의 「치수」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다. 편광판의 「치수」는, 예를 들면, 액정패널(2)에서 편광판(3)의 4개의 각부(도 3에 나타내는 각부 A', B', C' 및 D')가 접합되어야 할 위치에 기준점(도 3에 나타내는 기준점 A, B, C 및 D)이 존재한다고 가정하고, 액정패널(2)에서의 기존의 기준점간 거리(예를 들면, 도 3에 나타내는 기준점간 거리 L)와, 액정패널(2)의 기준점에 대한 편광판(3)의 각부의 「접합 어긋남량」으로부터 편광판(3)의 치수를 산출할 수 있다.
예를 들면, 편광판(3)의 짧은 길이방향의 「치수」(도 3에 나타내는 각부 A' 및 각부 B' 사이의 치수)을 산출하는 경우는, 액정패널(2)의 기준선 AD와 편광판(3)의 변 A'D'와의 거리를 접합 어긋남량 a로서 산출한다. 마찬가지로, 액정패널(2)의 기준선 BC와 편광판(3)의 변 B'C'와의 거리를 접합 어긋남량 c로서 산출한다. 그리고, 기준점간 거리 L로부터 접합 어긋남량 a 및 접합 어긋남량 c를 감산함으로써 편광판의 「치수」를 산출할 수 있다. 즉, 도 3에 나타내는 편광판(3)의 짧은 길이방향의 「치수」는 이하의 식 (1)을 이용하여 산출할 수 있다.
Figure 112011062062417-pct00001
도 4는 편광판의 「직각도」의 산출방법의 일례를 설명하는 도면이다. 편광판의 「직각도」는, 예를 들면, 액정패널(2)에서 편광판(3)의 4개의 각부(도 4에 나타내는 각부 A', B', C' 및 D')가 접합되어야 할 위치에 기준점(도 4에 나타내는 기준점 A, B, C 및 D)이 존재한다고 가정하고, 이러한 기준점 사이를 잇는 기준선과 편광판(3)의 변과의 평행도로부터 직각도를 산출할 수 있다.
예를 들면, 편광판(3)의 각부 A'의 「직각도」를 산출하는 경우는, 우선, 액정패널(2)의 기준선 AB와 편광판(3)의 변 A'B'와의 평행도 ab를 산출한다. 평행도 ab는 이하의 식 (2)를 이용하여 산출할 수 있다.
Figure 112011062062417-pct00002
또한, 식 (2)에서 「접합 어긋남량 b2」는 기준선 AB상의 임의의 점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 B1)으로부터 편광판(3)의 변 A'B'까지의 거리로서 산출된 것이다. 마찬가지로, 「접합 어긋남량 b1」은 기준선 AB상의 다른 임의의 점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 A1)으로부터 편광판(3)의 변 A'B'까지의 거리로서 산출된 것이다. 「기준거리 L1」은 기준선 AB상의 임의의 2점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 B1 및 점 A1) 사이의 거리이다.
동일하게 하여, 액정패널(2)의 기준선 AD와 편광판(3)의 변 A'D'와의 평행도 ad를 산출한다. 평행도 ad는 이하의 식 (3)을 이용하여 산출할 수 있다.
Figure 112011062062417-pct00003
또한, 식 (3)에서 「접합 어긋남량 a2」는 기준선 AD상의 임의의 점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 D2)으로부터 편광판(3)의 변 A'D'까지의 거리로서 산출된 것이다. 마찬가지로, 「접합 어긋남량 a1」는 기준선 AD상의 다른 임의의 점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 A2)으로부터 편광판(3)의 변 A'D'까지의 거리로서 산출된 것이다. 「기준 거리 L2」는 기준선 AD상의 임의의 2점(예를 들면, 도 4에 나타내는 점 D2 및 점 A2)간의 거리이다.
평행도 ab 및 평행도 ad로부터 편광판(3)의 각부 A'의 직각도 D를 산출한다. 직각도 D는 이하의 식 (4)를 이용하여 산출할 수 있다.
Figure 112011062062417-pct00004
본 발명의 일실시형태로서, 예를 들면, 상술한 산출방법에 따라서 편광판의 「접합 어긋남량」, 「치수」 및 「직각도」를 산출할 수 있는 연산 소프트를 구비한 연산수단을 이용하면, 편광판의 「접합 어긋남량」, 「치수」 및 「직각도」를 효율적으로 산출할 수 있다. 또한, 상기 「연산수단」으로서는, 상술한 산출방법에 따라서 편광판의 「접합 어긋남량」, 「치수」 및 「직각도」를 산출할 수 있는 기능이 있으면, 상술한 구성에 한정되는 것은 아니다.
(1-3. 그 외 공정)
본 발명의 검사방법은 상기 관찰공정 및 상기 연산공정 외에, 당해 연산공정에서 얻어진 결과를 이용하여, 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정공정을 더 포함하고 있어도 된다.
판정공정에서는 상기 연산공정에서 산출된 결과를 이용하여, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도가 소정 범위 내에 있으면, 편광판의 접합정밀도가 규정 내에 있는 합격품이라고 판정한다. 예를 들면, 상기 「접합 어긋남량」이 ±300㎛이며, 상기 「치수」가, 소정의 치수 ±300㎛ 이내이며, 또한 상기 「직각도」가 90°±0.05° 이내인 경우를 편광판의 접합정밀도가 규정 내에 있는 합격품이라고 판정한다. 한편, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도 중 어느 하나라도 상술한 소정 범위 외에 있으면, 편광판의 접합정밀도가 규정 외에 있는 불합격품으로 판정한다.
본 발명의 일실시형태로서, 예를 들면, 상기 연산공정에서 산출된 결과를 이용하여, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도가 상술한 소정 범위 내인 것을 판정하는 판정 소프트를 구비한 판정수단을 이용하면, 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 효율적으로 판정할 수 있다. 또한, 상기 「판정수단」으로서는 합격품과 불합격품을 판정하는 기능이 있으면, 상술한 구성에 한정되는 것은 아니다.
또, 본 발명의 검사방법은 상기 판정공정에서 판정된 합격 여부 결과를 이용하여, 합격품과 불합격품을 구분하는 구분공정을 더 포함하고 있어도 된다.
본 발명의 일실시형태로서, 예를 들면, 상기 판정공정에서 판정된 합격 여부 결과를 이용하여, 합격품과 불합격품을 구분하는 기능을 구비한 구분수단을 이용하면, 합격품과 불합격품을 효율적으로 구분할 수 있다. 또한, 상기 「구분수단」으로서는 합격품과 불합격품을 구분하는 기능이 있으면, 특별히 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 검사방법은 액정표시장치의 제조방법과 조합해도 된다. 구체적으로는, 액정표시장치의 제조방법에 있어서, 길이가 긴 편광판 원반을 권출하면서, 소정의 길이가 되도록 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 편광판을 접합하는 접합공정의 후에, 본 발명의 검사방법을 조합해도 된다. 액정표시장치의 제조방법에 본 발명의 검사방법을 조합함으로써, 편광판의 접합정밀도를 검사하면서 액정표시장치를 제조하므로, 편광판의 접합불량에 기인하는 액정표시장치의 불량율을 감소시킬 수 있다. 이 결과, 최종 제품의 생산성이나 수율을 증가시킬 수 있다.
[2. 편광판의 접합정밀도 검사장치]
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치(이하, 「본 발명의 검사장치」라고 함)는 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 검사장치로서, 상술한 본 발명의 검사방법을 구체화하기 위한 검사장치이다. 구체적으로는, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하기 위한 관찰수단과, 상기 관찰수단에 의해서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비한 구성이다.
본 발명의 검사장치는 상기 관찰수단 및 상기 연산수단 외에, 상기 연산수단에 의해서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정수단을 더 구비하고 있어도 된다. 당해 판정수단으로서, 예를 들면, 상기 연산수단에 의해서 산출된 결과를 이용하여, 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도가, 상술한 소정 범위 내인 것을 판정하는 판정 소프트를 구비한 판정수단을 이용하면, 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 효율적으로 판정할 수 있다.
또, 본 발명의 검사장치는 상기 판정수단에 의해서 판정된 합격 여부 결과를 이용하여, 합격품과 불합격품을 구분하는 구분수단을 더 구비하고 있어도 된다. 당해 구분수단으로서, 예를 들면, 상기 판정수단에 의해서 판정된 합격 여부 결과를 이용하여, 합격품과 불합격품을 구분하는 기능을 구비한 구분수단을 이용하면, 합격품과 불합격품을 효율적으로 구분할 수 있다.
또한, 상기 「관찰수단」, 상기 「연산수단」, 상기 「판정수단」 및 상기 「구분수단」에 대해서는 상기 「1. 편광판의 접합정밀도 검사방법」의 항에서 설명한 바와 같다.
또한, 본 발명의 검사장치는 액정표시장치의 제조장치에 조립하여도 된다. 구체적으로는, 액정표시장치의 제조장치에 있어서, 길이가 긴 편광판 원반을 소정의 길이가 되도록 절단하면서 액정패널에 편광판을 접합한 후에 편광판의 접합정밀도를 검사할 수 있도록 본 발명의 검사장치를 조립하여도 된다. 액정표시장치의 제조장치에 본 발명의 검사장치를 조립함으로써, 편광판의 접합정밀도를 검사하면서 액정표시장치를 제조할 수 있다. 이 경우, 상기 관찰수단으로서 라인 카메라를 이용하면, 액정표시장치의 제조장치에서 편광판이 접합된 액정패널을 반송하면서, 편광판의 네 모퉁이를 관찰(촬영)할 수 있다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법에서는, 상기 관찰공정에서는 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰하는 것이 바람직하다.
상기 구성에 의하면, 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰하므로, 편광판의 접합정밀도를 효율적으로 검사할 수 있다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사방법에서는 상기 연산공정에서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정공정을 더 포함하는 것이 바람직하다.
상기 판정공정에서는 상기 연산공정에서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하므로, 편광판의 접합정밀도가 보증된 합격품만을 선택하여, 다음의 공정으로 보낼 수 있다.
또, 상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치는 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 검사장치로서, 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하기 위한 관찰수단과, 상기 관찰수단에 의해서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하고 있다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치에서는, 상기 관찰수단은 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰하기 위한 수단인 것이 바람직하다.
상기 구성으로 하면, 관찰수단에 의해서, 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰할 수 있기 때문에, 접합정밀도를 효율적으로 검사할 수 있다.
본 발명에 관한 편광판의 접합정밀도 검사장치에서는, 상기 연산수단에 의해서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정수단을 더 구비하고 있는 것이 바람직하다.
상기 구성에 의하면, 판정수단에 의해서 합격품으로 판정된 편광판의 접합정밀도가 보증된 액정패널만을 선택하여, 다음의 공정으로 보낼 수 있다.
본 발명은 상술한 각 실시형태에 한정되는 것이 아니고, 청구항에 나타낸 범위에서 여러 가지의 변경이 가능하며, 다른 실시형태에 각각 개시된 기술적 수단을 적절히 조합하여 얻어지는 실시형태에 대해서도 본 발명의 기술적 범위에 포함된다.
[산업상의 이용 가능성]
본 발명에 의하면, 편광판의 접합정밀도를 보증할 수 있으므로, 최종 제품의 생산성이나 수율을 증가시킬 수 있다. 또, 편광판의 접합 어긋남량과 동시에, 편광판의 치수 및 편광판의 직각도를 검사할 수 있으므로, 검사공정수를 삭감할 수 있다. 이 결과, 접합정밀도 검사에 관한 노력 및 비용을 삭감할 수 있다. 그러므로, 본 발명은 편광판을 액정패널에 접합하여 노트형 퍼스널 컴퓨터나 휴대전화 등의 모바일기기, 또 대형 텔레비젼 등의 액정표시장치를 제조하는 각종 산업에서 광범위하게 이용될 수 있다.
1 에어리어 카메라(관찰수단) 2 액정패널
3 편광판

Claims (6)

  1. 길이가 긴 편광판 원반(原反)을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 방법으로서,
    상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하는 관찰공정과,
    상기 관찰공정에서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산공정을 포함하는 편광판의 접합정밀도 검사방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 관찰공정에서는 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰하는 편광판의 접합정밀도 검사방법.
  3. 청구항 1 또는 2에 있어서,
    상기 연산공정에서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정공정을 더 포함하는 편광판의 접합정밀도 검사방법.
  4. 길이가 긴 편광판 원반을 절단하면서 액정패널에 접합한 편광판의 접합정밀도를 검사하는 검사장치로서,
    상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 모두를 관찰하기 위한 관찰수단과,
    상기 관찰수단에 의해서 얻어진 관찰데이터를 이용하여, 상기 편광판의 접합 어긋남량, 치수 및 직각도를 산출하는 연산수단을 구비하고 있는 편광판의 접합정밀도 검사장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 관찰수단은 상기 액정패널에 접합한 상기 편광판의 네 모퉁이 가운데, 2개 이상을 동시에 관찰하기 위한 수단인 편광판의 접합정밀도 검사장치.
  6. 청구항 4 또는 5에 있어서,
    상기 연산수단에 의해서 얻어진 결과를 이용하여, 상기 편광판의 접합정밀도의 합격 여부를 판정하는 판정수단을 더 구비하고 있는 편광판의 접합정밀도 검사장치.
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