CN105629535B - 贴片检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种贴片检测系统，用于液晶面板贴片的精度检测，其包括控制模块、CCD检测装置、定位基板、第一调节板及第二调节板，所述定位基板包括第一基板及与第一基板连接的第二基板，所述第一调节板侧面设有插槽，所述第一调节板滑动装于所述第一基板上并与所述第二基板相对设置，所述第二调节板一侧滑动装于第二基板上，另一侧插入所述插槽内并可沿着插槽滑动，所述CCD检测装置位于所述第一调节板及第二调节板的上方，所述控制模块控制所述第一调节板及第二调节板调节相对所述定位基板的位置并启动CCD检测装置进行位置检测。

Description

贴片检测系统
技术领域
本发明涉及液晶显示技术领域，特别涉及一种贴片检测系统。
背景技术
目前，液晶显示装置作为电子设备的显示部件已经广泛的应用于各种电子产品中，在液晶面板生产过程中，液晶面板位于彩膜基板与阵列基板的上下两个面需要贴上偏光片，而且需要对偏光片的位置进行精度检测，如偏贴的贴付精度和解析偏贴的贴付异物，以保证液晶面板的显示效果。通常，在偏光膜位置检测时，照射使用的底光需要较强的卤素灯才能穿透，但因底光较强时，在量测玻璃边缘的时候会导致边缘漏光影响而CCD检测装置的抓取效果和量测效果，故需要针对不同型号的面板来挡住卤素灯边缘漏光的治具。
发明内容
本发明的目的在于提供一种贴片检测系统，保证液晶面板偏光膜贴膜精度。
本发明提供一种贴片检测系统，用于液晶面板贴片的精度检测，所述贴片检测系统包括控制模块、CCD检测装置、定位基板、第一调节板及第二调节板，所述定位基板包括第一基板及与第一基板连接的第二基板，所述第一调节板侧面设有插槽，所述第一调节板滑动装于所述第一基板上并与所述第二基板相对设置，所述第二调节板一侧滑动装于第二基板上，另一侧插入所述插槽内并可沿着插槽滑动，所述CCD检测装置位于所述第一调节板及第二调节板的上方，所述控制模块控制所述第一调节板及第二调节板调节相对所述定位基板的位置并启动CCD检测装置进行位置检测。
其中，所述第一基板与所述第二基板垂直连接，所述第一调节板具有与所述第二基板相平行的第一围边，所述第二调节板具有与所述第一基板相平行的第二围边，所述贴片检测区由所述第一围边、第二围边、第一基板和第二基板共同限定形成。
其中，所述第一调节板具有弧形的第一围边，所述第二调节板具有弧形的第二围边，所述第一基板设有朝向第二围边的弧面，所述第二基板设有朝向第一围边的弧面，所述贴片检测区由所述第一围边、第二围边、第一基板和第二基板共同限定形成
其中，所述插槽设于所述第一调节板的第一围边。
其中，所述第一调节板及所述第二调节板上均设有滑轨或者滑槽，相应的所述第一基板及第二基板上设有滑槽或者滑轨，所述滑槽与所述滑轨滑动配合以实现所述第一调节板滑动装于所述第一基板，所述第二调节板滑动装于所述第二基板。
其中，所述第一调节板上及所述第二调节板上均设有滑块，相应的所述第一基板及第二基板上设有丝杆，所述滑块装于丝杆上通过丝杆转动以推动滑块滑动。
其中，所述第一基板及第二基板上沿着丝杆轴向设有刻度，用以记录所述滑块移动的距离。
其中，所述贴片检测系统还包括支撑台及检测灯，所述第一基板与第二基板装于所述支撑台上，所述检测灯朝向所述贴片检测区。
其中，所述第一调节板和第二调节板由遮光材料制成。
其中，所述第一基板和第二基板朝向所述贴片检测区的表面设有定位槽。
本申请所述的贴片检测系统可以测试不同尺寸的液晶面板的偏光片，而且通过自动控制调节板移动并使所述第二调节板一侧插入所述第一调节板的插槽内保证调节精度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例的贴片检测系统平面示意图。
图2是图1所述的贴片检测系统的定位基板与第一、第二调节板的平面示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1与图2，本发明佳实施方式提供一种贴片检测系统，用于检测液晶面板上的偏光贴片的粘贴位置精度的检测。所述贴片检测系统包括控制模块(图未示)、支撑台10、检测灯11，CCD(Charge-coupled Device)检测装置12，如带有CCD的摄像头、定位基板13、第一调节板14及第二调节板15。所述定位基板13包括第一基板131及与第一基板131连接的第二基板132，所述第一基板131与第二基板132装于所述支撑台10的表面上。所述检测灯11朝向贴片检测区16。所述第一调节板14侧面设有插槽(图未示)，所述第一调节板14滑动装于所述第一基板131上并与所述第二基板132相对设置，所述第二调节板15一侧滑动装于第二基板132上，另一侧插入所述插槽内并可沿着插槽滑动。所述CCD检测装置位于所述第一调节板14及第二调节板15的上方，所述控制模块控制所述第一调节板14及第二调节板15调节相对所述定位基板13的位置并启动CCD检测装置进行位置检测。
本实施例中，所述第一基板131和第二基板132朝向贴片检测区的表面设有定位槽(图未示)，所述定位槽用于收容待检测的液晶面板边缘，进而对待检测的液晶面板进行定位。第一调节板14和第二调节板15由遮光材料制成的薄板。本实施例中，所述第一基板131与所述第二基板132垂直连接，所述第一调节板14具有与所述第二基板15相平行的第一围边141，所述第二调节板15具有与所述第一基板131相平行的第二围边151，所述贴片检测区16由所述第一围边141、第二围边151、第一基板131和第二基板132共同限定形成。本实施例中的贴片检测区16为矩形区域，适合矩形的液晶面板使用。
在其它实施方式中，所述第一调节板14的第一围边为弧形，所述第二调节板15的第二围边为弧形，所述第一基板131设有朝向第二围边的弧面，所述第二基板设有朝向第一围边的弧面，所述贴片检测区由所述第一围边、第二围边、第一基板和第二基板共同限定形成的圆形或者椭圆形区域，以适合圆形或者椭圆形的液晶面板进行测试。
进一步的，所述插槽设于所述第一调节板14的第一围边141上。所述第二调节板15在第一基板131及第一调节板14上滑动并与所述第一调节板14在滑槽内部分重叠，在调节贴片检测区16大小时，所述第二调节板15插在第一调节板的插槽内，可以确保第二调节板15与第一调节板14相互滑动的精度，避免第二调节板15与第一调节板14产生倾斜，确保可以完全遮蔽液晶面板周缘带遮光部分，避免影响对检测区16内液晶面板的测量精度。还可以在插槽的槽口沿着第二调节板移动方向设置刻度，可以观测到第二调节板的移动位置。
进一步的，所述第一调节板14及所述第二调节板15上均设有滑轨(图未示)或者滑槽(图未示)，相应的所述第一基板131及第二基板132上设有滑槽(图未示)或者滑轨(图未示)，所述滑槽与所述滑轨滑动配合以实现第一调节板14滑动装于所述第一基板131，所述第二调节板15滑动装于所述第二基板132。具体的，所述第一调节板14及所述第二调节板15上均设有滑轨，相应的所述第一基板131及第二基板132的边缘上设有滑轨。
在其他实施例中(图未示)，所述第一调节板上及所述第二调节板上均设有滑块，相应的所述第一基板及第二基板上设有丝杆，所述滑块装于丝杆上通过丝杆转动以推动滑块滑动。通过控制模块控制丝杆移动推动所述滑块沿着丝杆移动，进而推动第一调节板及第二调节板相对移动。进一步的，所述第一基板及第二基板上沿着丝杆轴向设有刻度，用以记录所述滑块移动的距离，进而更进一步的精确所述第一调节板及第二调节板的移动精度，即使所述待测液晶面板装入检测区16进行检测过程中，也可以随时调节述第一调节板及第二调节板而不需要重新取出液晶面板再调节。
以上所揭露的仅为本发明较佳实施例而已，当然不能以此来限定本发明之权利范围，本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分流程，并依本发明权利要求所作的等同变化，仍属于发明所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种贴片检测系统，用于液晶面板贴片的精度检测，其特征在于，所述贴片检测系统包括控制模块、CCD检测装置、定位基板、第一调节板及第二调节板，所述定位基板包括第一基板及与第一基板连接的第二基板，所述第一调节板侧面设有插槽，所述第一调节板滑动装于所述第一基板上并与所述第二基板相对设置，所述第二调节板一侧滑动装于第二基板上，另一侧插入所述插槽内并可沿着插槽滑动，所述CCD检测装置位于所述第一调节板及第二调节板的上方，所述控制模块控制所述第一调节板及第二调节板调节相对所述定位基板的位置并启动CCD检测装置进行位置检测。
2.如权利要求1所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一基板与所述第二基板垂直连接，所述第一调节板具有与所述第二基板相平行的第一围边，所述第二调节板具有与所述第一基板相平行的第二围边，所述贴片检测区由所述第一围边、第二围边、第一基板和第二基板共同限定形成。
3.如权利要求1所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一调节板具有弧形的第一围边，所述第二调节板具有弧形的第二围边，所述第一基板设有朝向第二围边的弧面，所述第二基板设有朝向第一围边的弧面，所述贴片检测区由所述第一围边、第二围边、第一基板和第二基板共同限定形成。
4.如权利要求2或3所述的贴片检测系统，其特征在于，所述插槽设于所述第一调节板的第一围边。
5.如权利要求2或3任一项所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一调节板及所述第二调节板上均设有滑轨或者滑槽，相应的所述第一基板及第二基板上设有滑槽或者滑轨，所述滑槽与所述滑轨滑动配合以实现所述第一调节板滑动装于所述第一基板，所述第二调节板滑动装于所述第二基板。
6.如权利要求2或3任一项所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一调节板上及所述第二调节板上均设有滑块，相应的所述第一基板及第二基板上设有丝杆，所述滑块装于丝杆上通过丝杆转动以推动滑块滑动。
7.如权利要求6所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一基板及第二基板上沿着丝杆轴向设有刻度，用以记录所述滑块移动的距离。
8.如权利要求2或3所述的贴片检测系统，其特征在于，所述贴片检测系统还包括支撑台及检测灯，所述第一基板与第二基板装于所述支撑台上，所述检测灯朝向所述贴片检测区。
9.如权利要求2或3任一项所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一调节板和第二调节板由遮光材料制成。
10.如权利要求2或3所述的贴片检测系统，其特征在于，所述第一基板和第二基板朝向所述贴片检测区的表面设有定位槽。
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292406A (ja) * 1995-04-24 1996-11-05 Advantest Corp Ｌｃｄパネル検査装置
JP2001041850A (ja) * 1999-07-28 2001-02-16 Nec Corp 異方性薄膜の評価方法及び評価装置
US6697156B1 (en) * 2000-04-05 2004-02-24 John Karp Polarized material inspection apparatus
CN1866097A (zh) * 2005-05-16 2006-11-22 恩富技术株式会社 偏振光膜载体
CN1979261A (zh) * 2005-12-05 2007-06-13 恩富技术株式会社 偏振光膜检查装置及方法
CN102395919A (zh) * 2010-03-18 2012-03-28 住友化学株式会社 偏振片的贴合精度检查方法以及贴合精度检查装置
CN105157580A (zh) * 2015-08-06 2015-12-16 武汉华星光电技术有限公司 一种偏光片尺寸的检测方法及装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI249615B (en) * 2004-03-26 2006-02-21 Optimax Tech Corp Method and device for testing polarization sheet

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292406A (ja) * 1995-04-24 1996-11-05 Advantest Corp Ｌｃｄパネル検査装置
JP2001041850A (ja) * 1999-07-28 2001-02-16 Nec Corp 異方性薄膜の評価方法及び評価装置
US6697156B1 (en) * 2000-04-05 2004-02-24 John Karp Polarized material inspection apparatus
CN1866097A (zh) * 2005-05-16 2006-11-22 恩富技术株式会社 偏振光膜载体
CN1979261A (zh) * 2005-12-05 2007-06-13 恩富技术株式会社 偏振光膜检查装置及方法
CN102395919A (zh) * 2010-03-18 2012-03-28 住友化学株式会社 偏振片的贴合精度检查方法以及贴合精度检查装置
CN105157580A (zh) * 2015-08-06 2015-12-16 武汉华星光电技术有限公司 一种偏光片尺寸的检测方法及装置

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